一种天线测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于天线测试设备技术领域，尤其涉及一种天线测试装置。
【背景技术】
[0002]目前，对于寄生天线常常采用直接用探针接触馈点的形式进行天线测试，天线是需要pattern和环境共同作用才能向空间辐射能量，两者缺一不可，然而在天线厂商实际生产过程中，天线的pattern是由终端厂商设计完成，属于既定的条件，为了实现能量向空中辐射的目的，工程人员只能通过改变环境来实现。
[0003]但是，存在个别天线pattern所处环境出现pattern的寄生部分不向外福射的情形，其已成为天线生产射频端测试工装设计的隐患，若无法通过射频测试数据有效监控天线pattern尺寸，那么可能造成天线不良品流到下一个生产环节，产生不良的连锁反应。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的在于提供一种天线测试装置，旨在解决现有技术中存在个别天线pattern所处环境出现pattern的寄生部分不向外福射的情形，若无法通过射频测试数据有效监控天线pattern尺寸，那么可能造成天线不良品流到下一个生产环节，产生不良的连锁反应的问题。
[0005]本实用新型是这样实现的，一种天线测试装置，所述天线测试装置包括测试电路板和压板，其中:
[0006]所述测试电路板上设有第一探针、第二探针、第三探针、第四探针、第五探针、第六探针以及第七探针，所述压板上分别设有与所述测试电路板上的第一探针、第二探针、第三探针、第四探针、第五探针、第六探针以及第七探针相对应的探针孔，所述压板穿过所述探针孔后安装在所述测试电路板上；
[0007]所述第七探针设置在靠近所述第六探针的位置，所述第七探针的底端连接所述测试电路板的接地部，所述第七探针的末端穿过所述压板后连接有耦合片机构，所述耦合片机构从所述第七探针末端开始朝向所述第六探针成U型延伸，并将所述第六探针包围在所述耦合片机构形成的U型区域内。
[0008]作为一种改进的方案，所述第一探针和第二探针、第三探针和第四探针以及第五探针和第六探针分别采用由上到下的布置方式。
[0009]作为一种改进的方案，所述测试电路板上还设有与所述测试电路板的接地部连接的第八探针，对应地，所述压板上设有与所述第八探针相对应的探针孔，所述第八探针的末端穿过所述压板后也连接有包围所述第五探针的所述耦合片机构。
[0010]作为一种改进的方案，所述测试电路板上还设有与所述测试电路板的接地部连接的第九探针，对应地，所述压板上设有与所述第九探针相对应的探针孔，所述第九探针的末端穿过所述压板后也连接有包围所述第一探针的所述耦合片机构。
[0011]作为一种改进的方案，所述测试电路板上还设有与所述测试电路板的接地部连接的第十探针，对应地，所述压板上设有与所述第十探针相对应的探针孔，所述第十探针的末端穿过所述压板后也连接有包围所述第二探针的所述耦合片机构。
[0012]作为一种改进的方案，所述测试电路板上还设有与所述测试电路板的接地部连接的第十一探针，对应地，所述压板上设有与所述第十一探针相对应的探针孔，所述第十一探针的末端穿过所述压板后也连接有包围所述第三探针的所述耦合片机构。
[0013]作为一种改进的方案，所述测试电路板上还设有与所述测试电路板的接地部连接的第十二探针，对应地，所述压板上设有与所述第十二探针相对应的探针孔，所述第十二探针的末端穿过所述压板后也连接有包围所述第四探针的所述耦合片机构。
[0014]作为一种改进的方案，所述压板上设有若干个定位孔。
[0015]作为一种改进的方案，所述耦合片机构为延伸铁片。
[0016]由于天线测试装置包括测试电路板和压板，测试电路板上设有第一探针、第二探针、第三探针、第四探针、第五探针、第六探针以及第七探针，第七探针设置在靠近第六探针的位置，第七探针的底端连接测试电路板的接地部，第七探针的末端穿过压板后连接有耦合片机构，耦合片机构从第七探针末端开始朝向第六探针成U型延伸，并将第六探针包围在親合片机构形成的u型区域内，从而实现親合片机构与天线pattern的短臂的親合，使该天线pattern的短臂向外福射能量，完成对天线pattern的测试，提高了天线的产品良率。
【附图说明】
[0017]图1是本实用新型提供的天线测试装置的结构示意图；
[0018]其中，1-测试电路板，2-压板，3-第一探针，4-第二探针，5-第三探针，6_第四探针，7-第五探针，8-第六探针，9-第七探针，10-耦合片机构，11-U型区域。
【具体实施方式】
[0019]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0020]图1示出了本实用新型提供的天线测试装置的结构示意图，为了便于说明，图中仅给出了与本实用新型相关的部分。
[0021]天线测试装置包括测试电路板1和压板2，其中:
[0022]测试电路板1安装在测试机架(图中未示出)上，测试电路板1上设有第一探针
3、第二探针4、第三探针5、第四探针6、第五探针7、第六探针8以及第七探针9，压板2上分别设有与测试电路板1上的第一探针3、第二探针4、第三探针5、第四探针6、第五探针7、第六探针8以及第七探针9相对应的探针孔(图中未标记)，压板2穿过探针孔后安装在测试电路板1上；
[0023]第一探针3和第二探针4位于电路板与压板2结合区域的右上角，第三探针5和第四探针6位于电路板与压板2结合区域的右下角，第五探针7和第六探针8位于电路板与压板2结合区域的右下角，第七探针9设置在靠近第六探针8的位置，第七探针9的底端连接测试电路板1的接地部，第七探针9的末端穿过压板2后连接有耦合片机构10，耦合片机构10从第七探针9末端开始朝向第六探针8成U型延伸，并将第六探针8包围在耦合片机构10形成的U型区域11内。
[0024]在该实施例中，第一探针3和第二探针4、第三探针5和第四探针6以及第五探针7和第六探针8分别采用由上到下的布置方式，如图1所示，该种布置方式便于对天线pattern的测试。
[0025]其中，压板2上还设有若干个定位孔(图中未示出)，在此不再