一种ic卡模拟测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及1C卡测试技术领域，特别是涉及一种1C卡模拟测试系统。
【背景技术】
[0002]在开发读卡器时，需要对读卡器中的1C卡进行读写访问，以对1C卡读卡器进行检测，因此需要专门的设备来模拟1C卡，目前国内常用的该类设备基本为进口设备，虽然功能较为齐全，但是价格昂贵，设备的市场价基本在10万元以上，对众多的中小企业来说是一笔巨大的开支。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种1C卡模拟测试系统，成本低廉、结构简单。
[0004]本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种1C卡模拟测试系统，包括1C卡读卡器、1C卡仿真测试装置、第一 PC机和第二 PC机，1C卡读卡器包括第一单片机和1C卡座，1C卡仿真测试装置包括第二单片机，第一 PC机通过第一单片机与1C卡座连接，1C卡座与第二单片机连接，第二单片机与第二 PC机连接。
[0005]所述1C卡仿真测试装置还包括第一晶振电路和第二晶振电路。
[0006]所述第一晶振电路包括第一晶振、第一电容和第二电容，第一晶振的两端分别与第二单片机的外部振荡器输入端和外部振荡器输出端连接，第一电容的第一端接地，第一电容的第二端接单片机的外部振荡器输入端，第二电容的第一端接地，第二电容的第二端接第二单片机的外部振荡器输出端。
[0007]所述第二晶振电路包括第二晶振、第三电容、第四电容、第一电阻和第二电阻，第二晶振的一端通过第一电阻与第二单片机的LSE振荡器输入端连接，第二晶振的另一端通过第二电阻与第二单片机的LSE振荡器输出端连接，第三电容的第一端接地，第三电容的第二端通过第一电阻与第二单片机的LSE振荡器输入端连接，第四电容的第一端接地，第四电容的第二端通过第二电阻与第二单片机的LSE振荡器输出端连接。
[0008]所述第二单片机的第一数据输入输出端与1C卡座的复位信号端连接，第二单片机的第二数据输入输出端与1C卡座的数据输入输出端连接。
[0009]所述1C卡仿真测试装置还包括复位电路，复位电路包括第五电容、第三电阻和第一开关，第五电容的一端接第二单片机的复位端，第五电容的另一端接地，第三电阻的一端接外部电源，第三电阻的另一端接单片机的复位端，第一开关与第五电容并联。
[0010]所述1C卡仿真测试装置还包括USB转串口电路，USB转串口电路包括MIN1-USB接口、PL2303HX芯片、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第六电容、第七电容、第八电容、第九电容、第十电容、第i^一电容和第三晶振。
[0011]所述MIN1-USB接口的电源端通过第四电阻接5V电源，MIN1-USB接口的接地端接地，MIN1-USB接口的D-信号端通过第五电阻与PL2303HX芯片的D-信号端连接，MIN1-USB接口的D+信号端通过第六电阻与PL2303HX芯片的D+信号端连接。
[0012]所述MIN1-USB接口的D+信号端通过第七电阻与PL2303HX芯片的电源输出端连接，PL2303HX芯片的电源输出端通过第六电容接地，第七电容与第六电容并联。
[0013]所述PL2303HX芯片的USB电源端接5V电源，PL2303HX芯片的USB电源端通过第八电容与PL2303HX芯片的USB接地端连接，PL2303HX芯片的USB接地端接地。
[0014]所述第三晶振的两端分别与PL2303HX芯片的晶振输入端和PL2303HX芯片的晶振输出端连接，第九电容的一端接地，第九电容的另一端接PL2303HX芯片的晶振输入端，第十电容的一端接地，第十电容的另一端接PL2303HX芯片的晶振输出端。
[0015]所述PL2303HX芯片的RS232电源端接3.3V电源，PL2303HX芯片的RS232接地端接地，PL2303HX芯片的RS232电源端通过第^^一电容与PL2303HX芯片的RS232接地端连接。
[0016]所述PL2303HX芯片的串口数据输入端与第二单片机的第三数据输入输出端连接，PL2303HX芯片的串口数据输出端与单片机的第四数据输入输出端连接。
[0017]所述1C卡仿真测试装置还包括多个状态显示电路，状态显示电路包括发光二极管和第八电阻，发光二极管的阴极接地，发光二极管的阳极通过第八电阻与第二单片机的第五数据输入输出端口连接。
[0018]所述第一单片机和第二单片机均为STM32系列单片机。
[0019]本实用新型的有益效果是:
[0020](1)本实用新型结构简单，价格便宜，特别适用于众多的中小企业；
[0021](2)本实用新型中通过USB转串口电路，使得1C卡仿真测试装置能够连接到PC机上；
[0022](3)本实用新型中设有状态指示电路，能够显示1C卡仿真测试装置的不同测试结果，便于操作者直观的了解测试结果。
【附图说明】
[0023]图1为本实用新型一种1C卡模拟测试系统的结构框图；
[0024]图2为本实用新型中1C卡仿真测试装置的电路图；
[0025]图3为本实用新型中USB转串口电路的电路图。
【具体实施方式】
[0026]下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。
[0027]如图1、图2和图3所示，一种1C卡模拟测试系统，包括1C卡读卡器、1C卡仿真测试装置、第一 PC机和第二 PC机，1C卡读卡器包括第一单片机和1C卡座，1C卡仿真测试装置包括第二单片机，第一 PC机通过第一单片机与1C卡座连接，1C卡座与第二单片机连接，第二单片机与第二PC机连接。
[0028]所述1C卡仿真测试装置还包括第一晶振电路和第二晶振电路。
[0029]所述第一晶振电路包括第一晶振、第一电容和第二电容，第一晶振的两端分别与第二单片机的外部振荡器输入端和外部振荡器输出端连接，第一电容的第一端接地，第一电容的第二端接单片机的外部振荡器输入端，第二电容的第一端接地，第二电容的第二端接第二单片机的外部振荡器输出端。
[0030]所述第二晶振电路包括第二晶振、第三电容、第四电容、第一电阻和第二电阻，第二晶振的一端通过第一电阻与第二单片机的LSE振荡器输入端连接，第二晶振的另一端通过第二电阻与第二单片机的LSE振荡器输出端连接，第三电容的第一端接地，第三电容的第二端通过第一电阻与第二单片机的LSE振荡器输入端连接，第四电容的第一端接地，第四电容的第二端通过第二电阻与第二单片机的LSE振荡器输出端连接。
[0031]所述第二单片机的第一数据输入输出端与1C卡座的复位信号端连接，第二单片机的第二数据输入输出端与1C卡座的数据输入输出端连接。
[0032]所述1C卡仿真测试装置还包括复位电路，复位电路包括第五电容、第三电阻和第一开关，第五电容的一端接第二单片机的复位端，