一种三十二路选通测量电路及设备的制作方法

1.本实用新型涉及测试技术领域，尤其是涉及一种三十二路选通测量电路及设备。


背景技术：

2.随着制造自动化的程度不断提高，对于生产产品的电压及电阻测试已慢慢的转入了自动化，而现有的测试方式为将测试点通过切换，连接到一台测量设备上进行测试，这种测试方式这种测试方式需要控制通道切换设备和测量设备进行配合使用，测试速度慢，效率低，而且设备成本较高，并且常规的切换过程都是使用继电器的切换方法，长时间工作后，很容易出现接触不良，导致测试结果不准确的情况。


技术实现要素：

3.为了克服背景技术中的不足，本实用新型提供了以下技术方案：
4.第一方面，本实用新型提供一种三十二路选通测量电路，包括：计算机、mcu电路、选通切换电路、分压电路以及电阻测量供电电路；
5.所述计算机与所述mcu电路连接，所述计算机用于控制所述mcu电路；
6.所述分压电路分别与所述mcu电路、选通切换电路以及电阻测量供电电路连接；
7.所述选通切换电路与被测产品连接。
8.进一步地，所述选通切换电路包括32路测量通道。
9.进一步地，每一路所述测量通道都包括光耦mos管以及与所述光耦mos管连接的第一mos管和第二mos管，所述第一mos管的源极与被测产品连接，所述第一mos管的漏极与所述第二mos管的源极连接，所述第二mos管的漏极与所述分压电路连接。
10.进一步地，所述mcu电路包括主控芯片和对接端口，所述主控芯片通过所述对接端口与测量通道连接。
11.进一步地，所述主控芯片型号为stm32g431cbu6。
12.进一步地，所述分压电路包括第一运算放大器，所述第一运算放大器用于单端对地直流电压的测量。
13.进一步地，所述分压电路还包括第二运算放大器，所述第二运算放大器与所述第一运算放大器连接，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器用于交流电压的测量。
14.第二方面，本实用新型提供一种三十二路选通测量设备，包括如第一方面任一项所述的三十二路选通测量电路。
15.本技术采用以上技术方案，至少具备以下有益效果：
16.本实用新型提供的一种三十二路选通测量电路，包括：计算机、mcu电路、选通切换电路、分压电路以及电阻测量供电电路；所述计算机与所述mcu电路连接，所述计算机用于控制所述mcu电路；所述分压电路分别与所述mcu电路、选通切换电路以及电阻测量供电电路连接；所述选通切换电路与被测产品连接。通过三十二路选通对于电压、电阻的测量可以直接由单片机完成，大大提高了测试效率。
附图说明
17.图1为本实用新型一个实施例中一种三十二路选通测量电路结构框图。
18.图2为本实用新型一个实施例中选通切换电路图。
19.图3为本实用新型一个实施例中mcu电路图。
20.图4为本实用新型一个实施例中分压电路图。
21.图5为本实用新型一个实施例中电阻测量供电电路。
22.图6为本实用新型一个实施例中模块供电电路。
具体实施方式
23.通过下面的实施例可以详细的解释本实用新型，公开本实用新型的目的旨在保护本实用新型范围内的一切技术改进。
24.本实用新型未详述部分为现有技术，尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，具体实现该技术方案方法和途径很多，以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
25.针对相关技术，通常会有多个点的电压或电阻需要进行测试，现有的测试方式为将测试点通过切换，连接到一台测量设备上进行测试，这种测试方式需要控制通道切换设备和测量设备进行配合使用，测试速度慢，效率低，而且设备成本较高，并且常规的切换过程都是使用继电器的切换方法，长时间工作后，很容易出现接触不良，导致测试结果不准确的情况。本实用新型提供一种三十二路选通测量电路，图1为本实用新型一个实施例中一种三十二路选通测量电路结构示意图，如图1所示，包括：计算机1、mcu电路2、选通切换电路3、分压电路4以及电阻测量供电电路5；
26.所述计算机1与所述mcu电路2连接，所述计算机1用于控制所述mcu电路2；
27.所述分压电路4分别与所述mcu电路2、选通切换电路3以及电阻测量供电电路5连接；
28.所述选通切换电路3与被测产品连接。
29.本实用新型技术方案的工作原理为，被测产品的测试端连接于通道切换电路的端口上，电压测试时，通过计算机通知mcu电路控制要测试的通道连接到分压电路，最后再连接致mcu电路上进行测量分析并给出结果反馈给计算机；电阻测试时，通过计算机通知mcu电路控制电阻测量供电电路进行供电，再控制要测试的通道连接到分压电路，最后再连接致mcu电路上进行测量分析并给出结果反馈给计算机。
30.可以理解为，本实用新型提供的一种三十二路选通测量电路，包括：计算机、mcu电路、选通切换电路、分压电路以及电阻测量供电电路；所述计算机与所述mcu电路连接，所述计算机用于控制所述mcu电路；所述分压电路分别与所述mcu电路、选通切换电路以及电阻测量供电电路连接；所述选通切换电路与被测产品连接。通过三十二路选通对于电压、电阻的测量可以直接由单片机完成，大大提高了测试效率。
31.在一个实施例中，请参阅图2，图2是本实用新型一个实施例中选通切换电路图，如图2所示，
32.所述选通切换电路包括32路测量通道。
33.具体地，每一路所述测量通道都包括光耦mos管以及与所述光耦mos管连接的第一mos管和第二mos管，所述第一mos管的源极与被测产品连接，所述第一mos管的漏极与所述第二mos管的源极连接，所述第二mos管的漏极与所述分压电路连接。
34.在一个实施例中，请参阅图3，图3是本实用新型一个实施例中mcu电路图，如图3所示，所述mcu电路包括主控芯片和对接端口，所述主控芯片通过所述对接端口与测量通道连接。主控芯片型号为stm32g431cbu6。
35.在一个实施例中，请参阅图4，图4是本实用新型一个实施例中分压电路图，如图4所示，所述分压电路包括第一运算放大器，所述第一运算放大器用于单端对地直流电压的测量。
36.一些实施例中，所述分压电路还包括第二运算放大器，所述第二运算放大器与所述第一运算放大器连接，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器用于交流电压的测量。
37.在一个实施例中，测量单端对地直流电压原理为：
38.以测量measch1连接的对地电压为例，被测电压的地连接于mcu电路中的对接端口上j2的e_gnd(21、22pin)端，另一端接在mcu电路中的对接端口上j2的measch1(59pin)端,此时单片机u3控制芯片的pb7端为低电平，三极管q50导通，光藕mos管u50的第一脚为高电平，单片机u3再控制芯片的pb14端为低电平，此时光藕mos管u50的1、2脚导通并控制后端mos管导通，使measch1连接到meascoma上；若需要对此测试电压加上200ω的假负载，则单片机u3控制芯片的pa12端为低电平,通过排阻pr52的第一电阻使光藕mos管u91的1、2脚导通并控制后端mos管导通，则meascoma通过假负载r51对地连接，假负载接入成功；接着单片机u3控制芯片的pa11端为低电平,通过排阻pr52的第二电阻使光藕mos管u92的1、2脚导通并控制后端mos管导通，此时meascoma连接到分压电阻r61、r63、r65上，其中r61的一端通过tvs二极管d60对地连接，防止高压通过，损坏电路。通过分压的被测电压再连接到运算放大器u90a的第3脚，此时可再通过单片机u3控制芯片的pa4或pa5端为高电平，控制mos管q60的对地接通，变更运放-端的分压电阻，控制测量的档位。经过分压的被测电压从运放的1脚输出，连接到单片机u3的pa2端，进行分析，测量，并输出结果。
39.在一个实施例中，测量交流电压原理为：
40.以测量measch1、measch2连接的交流电压为例，被测交流电压分别连接于对接端口上j2的measch1(59pin)、measch2(57pin)端,此时单片机u3控制芯片的pb7端为低电平，三极管q50导通，光藕mos管u50、u51的第一脚为高电平，单片机u3再控制芯片的pb14和pc6端为低电平，此时光藕mos管u50和u51的1、2脚导通并控制后端mos管导通，使measch1连接到meascoma上，使measch2连接到meascomb上；接着单片机u3控制芯片的pa11和pa8端为低电平,通过排阻pr52的第二和第四电阻使光藕mos管u92和u94的1、2脚导通并控制后端mos管导通，此时meascoma连接到分压电阻r61、r63、r65上，meascomb连接到分压电阻r62、r63、r64上,其中r61和r62的一端通过tvs二极管d60对地连接，防止高压通过，损坏电路。通过分压的被测电压再连接到运算放大器u90a的第3脚和运算放大器u90b的第5脚，此时可再通过单片机u3控制芯片的pa4或pa5端为高电平，控制mos管q60和q61的对地接通，变更运放-端的分压电阻，控制测量的档位。经过分压的被测电压从运放的1脚和7脚输出，连接到单片机
u3的pa2和pa3端，进行分析，测量，并输出结果
41.在一个实施例中，请参阅图5，图5是本实用新型一个实施例中电阻测量供电电路，测量电阻的原理为：
42.以测量measch1、measch2连接的电阻为例，被测电阻的两端分别连接于对接端口上j2的measch1(59pin)、measch2(57pin)端,此时单片机u3控制芯片的pb7端为低电平，三极管q50导通，光藕mos管u50、u51的第一脚为高电平，单片机u3再控制芯片的pb14和pc6端为低电平，此时光藕mos管u50和u51的1、2脚导通并控制后端mos管导通，使measch1连接到meascoma上，使measch2连接到meascomb上；接着单片机u3控制芯片的pa11和pa8端为低电平,通过排阻pr52的第二和第四电阻使光藕mos管u92和u94的1、2脚导通并控制后端mos管导通，此时单片机u3再控制芯片的pa0和pa1为低电平，使三极管q65和q66分别导通，允许3.3v电压通过ntc热敏电阻再分别经过二极管d62和d63及限流电阻r81和r82,再分别连接到u92和u94的第三脚；然后meascoma连接到分压电阻r61、r63、r65上，meascomb连接到分压电阻r62、r63、r64上,其中r61和r62的一端通过tvs二极管d60对地连接，防止高压通过，损坏电路。通过分压的被测电压再连接到运算放大器u90a的第3脚和运算放大器u90b的第5脚，此时可再通过单片机u3控制芯片的pa4或pa5端为高电平，控制mos管q60和q61的对地接通，变更运放-端的分压电阻，控制测量的档位。经过分压的被测电压从运放的1脚和7脚输出，连接到单片机u3的pa2和pa3端，进行分析，测量，并输出结果。
43.请参阅图6，图6是本实用新型一个实施例中模块供电电路。
44.本实用新型还提供一种三十二路选通测量设备，包括上任一项所述的三十二路选通测量电路。
45.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“具体示例”、或“一部分实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
46.尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。