93]如果W?ly-b>1则V=1
[0094]如果W?ly-b《-1则V=-1 (15) 阳0巧]否则，SVM不能预测输出。
[0096] 应认识到的是，已组装产品16仅仅是可W与本文所述的方法和系统一起使用W 在产品被组装之后检测已组装产品中的组装故障的已组装产品的一个示例。对于那些产品 而言是成功组装或制造还是不成功组装或制造的度量将取决于产品。
[0097] 虽然上文描述了使用力传感器来获得已组装产品16与测试平台18的顶层27之 间的交互印记，但应认识到的是，可W使用其它类型的传感器来测量制品与其周围环境之 间的交互。一个此类传感器是位移传感器。在上文所述的屏蔽罐示例中，失败组装通常具有 凸起的拐角或边缘。当其被抵靠着柔顺对象按压时，该柔顺对象与被成功组装的那些组装 情况相比将变形较多。因此可W使用位移传感器来获得制品与柔顺对象之间的交互印记。 当使用位移传感器时，也可W遵循上文所述的程序和算法W训练SVM并使用SVM来检测制 品的成功或失败。来自位移传感器的交互印记可W是沿着一个或多个轴位置的测量结果和 /或围绕那些轴的重新定向。
[0098] 还应认识到的是，交互印记可W是来自力传感器和位移传感器的交互印记的组 厶1=1〇
[0099] 现在参考图10a和10b，其中示出了用于优化被用来测试制品的运动W改善在成 功制品的交互信号与失败制品的交互信号之间的差异的相关性的流程图1000。
[0100] 图10a中所示的方框1002和1004是针对N个产品中的每一个进行重复的两个操 作。在方框1002处，针对N个产品中的每一个执行测试运动，并收集从执行该运动得到的 受力印记。在方框1004处，记录用于N个产品中的每一个的组装的成功或失败类别。 阳101] 当针对N个产品完成方框1002和1004中的所有操作时，流程前进至针对N个产 品中的每一个执行的第二组的两个操作。在方框1006处，对用于N个产品中的每一个的受 力印记进行后处理。在方框1008处，针对N个产品中的每一个从用于N个产品中的每一个 的经后处理的受力印记提取特征向量。 阳102] 当针对N个产品中的每一个完成方框1006和1008中的所有操作时，流程前进至 方框1010,其中针对N个产品训练SVM。 阳103] 在已在方框1010处训练SVM之后，例程前进至图10b中所示的方框1012,在那里 针对N个产品改变测试运动。测试运动的改变可W例如且在没有限制的情况下是相对于图 6a和化中所示的测试运动相关，通过摇摆运动抵靠着测试平台顶层27按压插口 30的不同 位置。替换地，改变诸如速度、角度等测试运动参数，或者从W测试平台18的不同位置和取 向安装就位的不同力传感器中读取诸如速度、角度等测试运动参数。 阳104] 流程然后前进至方框1014和1016,所述方框为针对N个产品中的每一个进行重复 的两个操作。在方框1014和1016处执行的操作分别与在方框1002和1004处执行的操作 相同，只是运些操作是针对用于N个产品中的每一个的已改变测试运动。
[0105] 当针对N个产品完成方框1002和1004中的所有操作时，流程前进至针对N个产 品中的每一个执行的方框1018和1020处的第二组的两个操作。在方框1018和1020处执 行的操作分别与在方框1006和1008处执行的操作相同，只是运些操作是用于针对用于N 个产品中的每一个的已改变测试运动所提取的特征向量。 阳106] 在用于N个产品的操作1020完成时，流程前进至方框1022,其中SVM被训练。如 可W认识到的，此已训练SVM是针对已在方框1012处具有已改变测试运动的N个产品。 阳107] 流程然后前进至方框1024,在方框，确定是否必须优化测试运动W改善相关性。流 程1000的目标是使在成功制品的交互信号与失败制品的交互印记之间的差异的相关性最 小化。如果必须改善相关性，则必须优化测试运动，并且流程返回到方框1012,在该方框，测 试运动被再次改变。如果不必改善相关性差异，则流程前进至方框1026,并且SVM的训练完 成。当相关性差异满足用于该差异的预定准则时，该差的最小化结束。
[0108] 该预定准则例如且在没有限制的情况下可W是改善相关性的值低于预置阔值 (运意味着优化测试运动可W生成关于成功和失败组装之间的力传感器印记的明确差 异）；或者在执行所有不同的测试运动之后，没有关于相关性的值的减小（运意味着优化测 试运动在用W生成在关于成功组装和失败组装之间的力传感器印记的差异的所有测试运 动之中是最佳的）；或者产品的总体测试数目超过预置数目；或者用W生产用于优化的N个 产品的总时间超过预置时间。
[0109] 应理解的是，（一个或多个）示例性实施例的W上描述意图仅仅说明本发明而不 是穷尽本发明。在不脱离由所附权利要求书定义的本发明的精神或其范围的情况下，技术 人员将能够对公开主题的（一个或多个）实施例进行添加、删除和/或修改。
【主权项】
1. 一种用于检测生产制品的自动化过程的成功的方法，包括： 使用所述自动化过程来生产统计上数目很大的成功制品和失败制品； 使所述成功制品和所述失败制品中的每个制品与测试平台相交互，以测量指示所述成 功制品和所述失败制品的交互印记； 计算在所述成功制品的所述交互印记与所述失败制品的所述交互印记之间的差异的 相关性； 获得针对在所述成功制品和所述失败制品被生产之后所生产的附加制品的交互印记； 以及 相对于所计算的所述成功制品和所述失败制品交互印记的所述相关性，来分析针对在 所述成功制品和所述失败制品被生产之后所生产的所述附加制品而获得的所述交互印记， 以自动地将在所述成功制品和所述失败制品被生产之后所生产的所述附加制品分类为成 功或失败。2. 根据权利要求1所述的方法，其中所述交互使所述制品与安装在所述测试平台上面 的力传感器接触，以获得受力印记。3. 根据权利要求1所述的方法，其中通过使用位移传感器来测量所述制品的位移来获 得所述交互印记。4. 根据权利要求1所述的方法，其中所述相关性计算使用支持向量机（SVM)。5. 根据权利要求1所述的方法，其中在计算在所述成功制品的所述交互印记与所述失 败制品的所述交互印记之间的所述差异的所述相关性之前，将所述成功制品和所述失败制 品的所述交互印记进行归一化。6. 根据权利要求1所述的方法，其中在计算在所述成功制品的所述交互印记与所述失 败制品的所述交互印记之间的所述差异的所述相关性之前，使用主分量分析（PCA)。7. -种用于检测生产制品的自动化过程的成功的方法： 计算在统计上数目很大的成功制品的交互印记与统计上数目很大的失败制品的交互 印记之间的差异的相关性； 获得针对在成功制品的交互印记与失败制品的交互印记之间的所述差异的所述相关 性被计算之后所生产的制品的交互印记；以及 相对于所计算的所述成功制品和所述失败制品交互印记的所述相关性，来分析针对在 成功制品的交互印记和失败制品的交互印记之间的差异的所述相关性被计算之后所生产 的所述制品而获得的所述交互印记，以自动地将在成功制品的交互印记与失败制品的交互 印记之间的差异的所述相关性被计算之后所生产的所述制品分类为成功或失败。8. -种用于通过测试使用生产制品的自动化过程而生产的统计上数目很大的成功制 品和失败制品来检测所述自动化过程的成功的方法，所述方法包括： 使所述成功制品和所述失败制品中的每个制品与测试平台相交互，以测量指示所述成 功制品和所述失败制品的交互印记； 计算在所述成功制品的所述交互印记与所述失败制品的所述交互印记之间的差异的 相关性；以及 通过改变每个所述成功制品和所述失败制品与所述测试平台的所述交互而在所述交 互步骤中具有改变的情况下，重复所述生产、所述交互和所述计算的步骤，以使得在所述成 功制品的所述交互印记和所述失败制品的所述交互印记之间的所述差异的所述相关性最 小化。9.根据权利要求8所述的方法，其中在所述交互步骤中具有变化的情况下重复所述生 产、所述交互和所述计算的步骤以使所述相关性差异最小化在所述最小化满足用于所述相 关性差异的预定准则时结束。
【专利摘要】本公开描述了一种用于检测生产制品的自动化过程的成功的技术。通过自动化过程来生产统计上数目很大的成功和失败的制品。使这些制品中的每一个与测试平台相交互，以测量指示成功制品和失败制品的交互印记。计算在交互印记之间的差异的相关性。然后获得针对在早先制造的制品之后通过该过程所制造的制品的交互印记。相对于所计算的相关性差异来分析新的交互印记，以自动地将附加制品分类为成功或失败。还描述了一种用于优化被用来测试制品的运动的技术，以改善在成功制品的交互信号与失败制品的交互信号之间的差异的相关性。
【IPC分类】G05B23/02, G05B19/418, G01R31/28
【公开号】CN105229548
【申请号】CN201480028747
【发明人】汪建军, T·A·福尔布里吉, J·豪林, G·罗萨诺, D·A·鲍尔内, 张飚, A·R·加尔西亚
【申请人】Abb技术有限公司
【公开日】2016年1月6日
【申请日】2014年3月26日
【公告号】WO2014160760A2, WO2014160760A3