1与所述光耦合器101相连接。
[0048]具体的，所述光親卡槽插座201可以为容纳多个光親合器的光親卡槽插座。可选的，所述光耦卡槽插座201为16针孔的卡槽插座，S卩，可以插4个所述光耦合器101，这样，本实用新型提供的光耦传输比自动测试装置便可以一次性测试4路光耦合器，能有效提高效率。
[0049]可选的，如图2所示，本实用新型实施例提供的光耦传输比自动测试装置，还可以包括:
[0050]显示所述光耦合器101的光耦传输比的显示模块202;
[0051 ] 具体的，所述主控芯片101控制所述显示模块202显示由所述主控芯片101计算得到的所述光親合器1I的光親传输比。
[0052]可选的，本实用新型实施例提供的光耦传输比自动测试装置，所述显示模块为液晶显不t旲块。
[0053]具体的，本实用新型实施例提供的光耦传输比自动测试装置，还包括:
[0054]与所述主控芯片相连接的USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口；
[0055]具体的，相关技术人员可以通过所述USB接口与计算机实现连接，通过计算机为所述主控芯片106设置所述预设测试条件。
[0056]可选的，本实用新型实施例提供的光耦传输比自动测试装置，所述主控芯片106为DSP(digital signal processing，数字信号处理)芯片。
[0057]另外，可以理解的是，本实用新型提供的光耦传输比自动测试装置，也可以测试不同输入电流下所述光耦合器101的光耦传输比。具体的，所述主控芯片106通过调整输出PWM波的占空比，实现调节所述光耦合器101的输入电流，此时，所述主控芯片106不必再设置预设测试条件，根据所述光耦合器101的输入电流的变化，实时计算相应输入电流值下的光耦传输比即可。由于本实用新型主要解决的是如何测试得到光耦合器光耦传输比的精确值的问题，因此，对测试不同输入电流下光耦合器的光耦传输比的技术方案，不再详细阐述。
[0058]另外，本实用新型提供的技术方案，还公开一种光耦传输比自动测试系统。
[0059]请参阅图3，图3为本实用新型实施例提供的一种光耦传输比自动测试系统的结构图。如图3所示，该系统包括:
[0060]上述本实用新型任意一个实施例提供的光耦传输比自动测试装置301，以及与所述光耦传输比自动测试装置301相连接，调整所述预设测试条件，显示所述光耦合器光耦传输比的计算机302。
[0061]具体的，所述光耦传输比自动测试装置301与所述计算机302通过USB线相连接，也就是说，所述光耦传输比自动测试装置301设置有USB接口，所述USB接口与所述主控芯片相连接。
[0062]另外，可以理解的是，由于所述光耦传输比自动测试装置301与所述计算机302通过USB线相连接，所述光耦传输比自动测试装置301可以接受所述计算机302的控制实现更多功能，比如通过获取光耦传输比自动测试装置301测试得到的不同输入电流下光耦合器的光耦传输比，在计算机上显示与光耦合器输入电流相对应的光耦传输比的曲线图等。
[0063]另外，由于上文已对本实用新型任意一个实施例提供的光耦传输比自动测试装置进行了详细的阐述，故针对光耦传输比自动测试装置的具体内容，此处不再赘述。
[0064]经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本实用新型提供了一种光耦传输比自动测试装置和系统。本实用新型提供的光耦传输比自动测试装置，包括:与光耦合器相连接，为所述光耦合器提供输入电压信号的可控电源;与所述可控电源相连接，调节所述可控电源输出电压信号的PWM波滤波电路;与所述光耦合器相连接，采集所述光耦合器的初级和次级电流信号，将所述初级和次级电流信号转换为初级和次级电压信号的电流信号转换电路;与所述电流信号转换电路相连接，将所述初级和次级电压信号由模拟信号转换为数字信号的模数转换电路;与所述PWM波滤波电路和所述模数转换电路相连接，持续调整PWM波的占空比，直至所述初级和次级电压信号满足预设测试条件时，计算所述光耦合器光耦传输比的主控芯片。即，本实用新型提供的技术方案，主控芯片通过调整输出PWM波的占空比，实现调节所述可控电源输出电压信号，从而实现光耦合器初级和次级的电压信号相应的变化，主控芯片分析光耦合器初级和次级电压信号是否满足预设测试条件，如不满足，继续调整输出HVM波的占空比，直至光耦合器初级和次级电压信号满足预设测试条件，此时，再计算光耦合器的光耦传输比，从而保证计算得到的光耦合器的光耦传输比更加准确。因此，本实用新型提供的技术方案，能够准确的测试光耦合器的光耦传输比，从而满足电路设计者的需求。
[0065]另外，由于本实用新型提供的技术方案能够精确地测得光耦合器的光耦传输比，因此，还可以用于光耦合器产品的出厂检查和进厂筛选，应用范围广，可靠性高。
[0066]最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0067]本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
[0068]对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【主权项】
1.一种光耦传输比自动测试装置，其特征在于，包括: 与光親合器相连接，为所述光親合器提供输入电压信号的可控电源； 与所述可控电源相连接，调节所述可控电源输出电压信号的脉冲宽度调制PWM波滤波电路； 与所述光耦合器相连接，采集所述光耦合器的初级和次级电流信号，将所述初级和次级电流信号转换为初级和次级电压信号的电流信号转换电路； 与所述电流信号转换电路相连接，将所述初级和次级电压信号由模拟信号转换为数字信号的模数转换电路； 与所述脉冲宽度调制pmi波滤波电路和所述模数转换电路相连接，持续调整脉冲宽度调制PWM波的占空比，直至所述初级和次级电压信号满足预设测试条件时，计算所述光耦合器光耦传输比的主控芯片。2.根据权利要求1所述的光耦传输比自动测试装置，其特征在于，还包括: 光耦卡槽插座;所述光耦合器插在所述光耦卡槽插座上，所述可控电源和所述电流信号转换电路通过所述光耦卡槽插座与所述光耦合器相连接。3.根据权利要求2所述的光耦传输比自动测试装置，其特征在于，所述光耦卡槽插座为16针孔的光耦卡槽插座。4.根据权利要求1所述的光耦传输比自动测试装置，其特征在于，所述主控芯片为数字信号处理DSP芯片。5.根据权利要求1?4任一项所述的光耦传输比自动测试装置，其特征在于，还包括: 显示所述光耦合器光耦传输比的显示模块。6.根据权利要求5所述的光耦传输比自动测试装置，其特征在于，所述显示模块为液晶显示模块。7.根据权利要求1?4任一项所述的光耦传输比自动测试装置，其特征在于，还包括: 与所述主控芯片相连接的通用串行总线USB接口。8.根据权利要求5所述的光耦传输比自动测试装置，其特征在于，还包括: 与所述主控芯片相连接的通用串行总线USB接口。9.根据权利要求6所述的光耦传输比自动测试装置，其特征在于，还包括: 与所述主控芯片相连接的通用串行总线USB接口。10.一种光耦传输比自动测试系统，其特征在于，包括: 权利要求7所述的光耦传输比自动测试装置；以及与所述光耦传输比自动测试装置相连接，调整所述预设测试条件，显示所述光耦合器光耦传输比的计算机。
【专利摘要】本实用新型公开一种光耦传输比自动测试装置和系统。装置包括：与光耦合器相连接，为光耦合器提供输入电压信号的可控电源；与可控电源相连接，调节可控电源输出电压信号的PWM波滤波电路；与光耦合器相连接，采集光耦合器的初级和次级电流信号，将初级和次级电流信号转换为初级和次级电压信号的电流信号转换电路；与电流信号转换电路相连接，将初级和次级电压信号由模拟信号转换为数字信号的模数转换电路；与PWM波滤波电路和模数转换电路相连接，持续调整PWM波的占空比，直至初级和次级电压信号满足预设测试条件时，计算光耦合器光耦传输比的主控芯片。本实用新型提供的技术方案，能够准确的测试光耦合器的光耦传输比。
【IPC分类】G05B19/042
【公开号】CN205210610
【申请号】CN201521029496
【发明人】黄彦东, 韩雪松, 陈强, 谷建柱, 张健
【申请人】北京铁路信号有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年12月10日