图像校正方法及装置、X射线摄影设备与流程

文档序号:11144760阅读:1372来源:国知局
图像校正方法及装置、X射线摄影设备与制造工艺

本发明涉及图像处理技术领域,特别涉及一种图像校正方法及装置、X射线摄影设备。



背景技术:

数字X射线(Digital Radiography,DR)摄影设备是计算机数字图像处理技术与X射线放射技术相结合而形成的一种先进的医疗系统。数字X射线摄影设备因其辐射剂量小、影像质量高、疾病的检出率和诊断的准确性较高而被广泛的应用。

X射线穿过人体后会产生散射线,进而会导致图像变模糊,降低了图像的对比度,不利于医生对病灶的观察和诊断,因此通常用防散射的滤线栅来消除散射线对图像的影响。对于DR设备而言,滤线栅的每根铅条都向射线源焦点倾斜一定角度,所有铅条的延长面能相交于一条直线上,这条直线到滤线栅表面的距离为滤线栅的焦距。当射线源焦点、滤线栅中心和探测器的中心三者在一条直线上(也称为DR设备处于对中状态),且DR设备的源像距(SID,Source Image Distance)等于滤线栅的焦距时,DR设备采集到的图像的质量较好,然而对于DR设备而言不可能配备多个不同焦距的滤线栅,因此在实际应用中,一个滤线栅会使用在法规中允许的不同SID范围内。当滤线栅在偏离焦距的SID下使用时(也称之为滤线栅使用在离焦状态),探测器采集到的图像会不均匀,图像中间的灰度高于两边的灰度。此外,当滤线栅使用在不对中的情况下时,也会出现图像不均匀现象,而且射线源的焦点、滤线栅中心以及探测器的中心很难保证在一条直线上。当滤线栅使用在离焦和对中状态不太好的情况下时,图像不均匀的现象会加剧。因此需要根据滤线栅的衰减情况来对采集到的图像进行校正。

现有技术通常通过采集无负载图像来获得不同SID下的滤线栅的校正系数,然后利用对应的校正系数对在该SID下采集到的图像进行校正。但是实际使用时DR设备的状况和获取滤线栅校正系数时DR设备的状况可能不一致,如DR设备使用一段时间后SID会有所偏差等,此外实际使用中DR设备的对中也具有一定得难度,因此采用现有方式校正后,最终的校正达不到预期的效果。

因此,如何对采集到的图像进行校正,以消除滤线栅在离焦状态和/或DR设备处于未对中情况下带来的影响,获得均匀的符合实际临床需求的图像,成为目前亟待解决的问题之一。



技术实现要素:

本发明要解决的问题是提供一种图像校正方法,以使得以校正后的图像灰度均匀,质量符合实际的临床需求。

为解决上述问题,本发明技术方案提供一种图像校正方法,包括:

获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值,确定列的最大灰度值的变化趋势,所述图像中列的方向与滤线栅铅条所在方向平行;

基于所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势获取目标灰度值;

基于所述目标灰度值对所述图像进行校正。

可选的,所述获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值包括:

获取所述图像中每列像素点中的最大灰度值;

以所述图像中每列像素点中的最大灰度值大于预设灰度值的图像列所在的区域为直接曝光区域;所述预设灰度值关联于所述图像的最大灰度值。

可选的,确定所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势,包括:

以所述图像中每列像素点中的最大灰度值小于预设灰度值的图像列的列坐标及该列坐标下对应的列像素点中的最大灰度值确定第一数据点;

选取初始分割点,以预定步长更新所述初始分割点直至更新后的分割点的列坐标不小于预设列坐标,所述预设列坐标关联于所述图像的最大列坐标;

对列坐标小于所述初始分割点更新过程中获得的每一个分割点的列坐标的第一数据点进行拟合,以获得多条第一曲线;

对多条第一曲线以与拟合该多条第一曲线时对应的分割点所在列坐标为对称轴生成与其对称的多条第二曲线,以多条第一曲线及与其对应的多条第二曲线所组成的多条曲线为第一最大灰度值变化曲线;

对所述第一数据点以中心点所在列坐标为对称轴进行对称,以获得第二数据点,所述中心点的列坐标为所述图像最大列坐标的二分之一;

对列坐标小于所述分割点更新过程中获得的每一个分割点的列坐标的第二数据点进行拟合,以获得多条第三曲线;

对多条第三曲线以与拟合该多条第三曲线时对应的分割点所在列坐标为对称轴生成与其对称的多条第四曲线,以多条第三曲线及与其对应的多条第四曲线所组成的多条曲线为第二最大灰度值变化曲线;

以所述第一最大灰度值变化曲线和所述第二最大灰度值变化曲线为所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势。

可选的,所述基于所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势确定目标灰度值包括:

确定所述第一最大灰度值变化曲线中与所述第一数据点最接近的第一最大灰度值变化曲线为第一目标曲线;

确定所述第二最大灰度值变化曲线中与所述第二数据点最接近的第二最大灰度值变化曲线为第二目标曲线;

当所述第一目标曲线与所述第一数据点的接近程度大于所述第二目标曲线与所述第二数据点的接近程度时,以所述第一目标曲线为目标曲线;

当所述第二目标曲线与所述第二数据点的接近程度大于所述第一目标曲线与所述第一数据点的接近程度时,以与所述第二目标曲线对应的分割点的列坐标所在列为对称轴对称的曲线为目标曲线;

确定所述目标曲线上对应的最大灰度值为目标灰度值。

可选的,所述确定所述第一最大灰度值变化曲线中与所述第一数据点最接近的第一最大灰度值变化曲线为第一目标曲线包括:确定所述第一数据点的每一个列坐标对应的灰度值与该列坐标下第一最大灰度值变化曲线上对应的灰度值之差的绝对值的和为最小时的第一最大灰度值变化曲线为第一目标曲线;

所述确定所述第二最大灰度值变化曲线中与所述第二数据点最接近的第二最大灰度值变化曲线为第二目标曲线包括:确定所述第二数据点的每一个列坐标对应的灰度值与该列坐标下第二最大灰度值变化曲线上对应的灰度值之差的绝对值的和为最小时的第二最大灰度值变化曲线为第二目标曲线。

可选的,所述第一目标曲线与所述第一数据点的接近程度是指:以所述第一数据点的每一个列坐标对应的灰度值与该列坐标下第一目标曲线上对应的灰度值之差的绝对值的和;

所述第二目标曲线与所述第二数据点的接近程度是指:以所述第二数据点的每一个列坐标对应的灰度值与该列坐标下第二目标曲线上对应的灰度值之差的绝对值的和。

可选的,所述基于所述目标灰度值对所述图像进行校正包括:将所述图像中的像素点的灰度值调整至所述目标灰度值。

可选的,所述将所述图像中的像素点的灰度值调整至所述目标灰度值包括:

以所述目标灰度值对所述目标曲线进行归一化;

基于归一化的目标曲线以获得滤线栅的校正系数;

以所述滤线栅的校正系数乘以所述图像以对所述图像进行校正。

为解决上述问题,本发明技术方案还提供一种图像校正装置,包括

获取单元,用于获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值,确定列的最大灰度值的变化趋势,所述图像中列的方向与滤线栅铅条所在方向平行;

目标灰度值获取单元,用于基于所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势获取目标灰度值;

校正单元,用于基于所述目标灰度值对所述图像进行校正。

为解决上述问题,本发明技术方案还提供一种X射线摄影设备,包括上述的图像校正装置。

与现有技术相比,本发明技术方案具有以下优点:

通过获取图像的直接曝光区域中与滤线栅铅条所在方向平行的列的最大灰度值的变化趋势来获取目标灰度值,进而基于所述目标灰度值对所述图像进行校正。由于根据采集到的图像的实际情况进行校正,而不是以预先设定好的条件下获得的滤线栅校正系数进行校正,因此避免了实际情况和预先设定条件有偏差而导致的校正效果较差,校正后的图像仍不符合实际的临床需求的现象,在简化了校正步骤的同时,也使得最终获得的校正后的图像灰度均匀符合实际的临床需求,进而也能避免漏诊或者误诊现象的发生。另外,以所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势来获取目标灰度值,避免了在获得目标灰度值的过程中目标区域的影响,进而在以该目标灰度值对图像进行校正时,能够更好的消除由于滤线栅处于离焦状态和/或设备不对中时带来的影响,提高了校正效果,校正后的图像的灰度值均匀,可达到预期的效果。

进一步地,在获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值时,以所述图像中每列像素点中的最大灰度值大于预设灰度值的图像列所在的区域为直接曝光区域。以较简单的方式实现了获取直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值。另外由于不需要对所述图像中的直接曝光区域进行检测,因此简化了获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值的过程,进而也简化了校正的步骤,在一定程度上提高了校正速度。

进一步地,在基于所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势确定目标灰度值时,在所述第一目标曲线与所述第一数据点的接近程度大于所述第二目标曲线与所述第二数据点的接近程度时,以所述第一目标曲线为目标曲线;在所述第二目标曲线与所述第二数据点的接近程度大于所述第一目标曲线与所述第一数据点的接近程度时,以与所述第二目标曲线对应的分割点所在列坐标为对称轴对称的曲线为目标曲线;通过这种方式获得的目标曲线精确度高,进而基于该目标曲线获得的目标灰度值的准确度也较高,以该目标灰度值进行校正时,校正后的图像质量符合实际的临床需求。

附图说明

图1是本发明实施方式的图像校正方法的流程示意图;

图2是本发明实施例的采集到的图像的示意图;

图3是本发明实施例的拟合获得的多条第一最大灰度值变化曲线与第一数据点的关系示意图;

图4是本发明实施例的拟合获得的多条第二最大灰度值变化曲线与第二数据点的关系示意图;

图5是本发明实施例的滤线栅校正系数曲线的示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做各种改变。因此本发明不受下面公开的具体实施方式的限制。

正如现有技术中所描述的,现有技术在校正由滤线栅离焦和/或系统未对中引起的图像灰度不均匀时,需提前在预先设定好的条件下获取滤线栅校正系数,进而通过该校正系数对实际采集到的图像进行校正,由于实际情况和预先设定好的条件有所偏差,导致校正效果不好,且该校正方法步骤繁琐。

因此,发明人提出直接对采集到的图像的直接曝光区域进行分析,以获得滤线栅校正系数,进而根据该校正系数对采集到的图像进行校正,根据实际采集到的图像来确定滤线栅校正系数,可避免实际情况和预先设定好的条件不符导致的校正效果较差,校正后的图像灰度均匀且能符合实际的临床需求。

请参见图1,图1是本发明实施方式的图像校正方法的流程示意图,如图1所示,所述图像校正方法包括:

S101:获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值,确定列的最大灰度值的变化趋势,所述图像中列的方向与滤线栅铅条所在方向平行;

S102:基于所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势获取目标灰度值;

S103:基于所述目标灰度值对所述图像进行校正。

以下结合具体的实施例对本发明实施方式的图像校正方法进行详细的说明。

本领域技术人员知晓,滤线栅通常放置在X射线成像单元之前,所述X射线成像单元可以为探测器,由规整排列的具有不同X射线衰减性能的材料构成,以减小成像单元接受到的散射辐射,从而改善采集到的X射线图像的对比度。滤线栅的内部通常由多个薄铅条相互排列而成,两条铅条间用易透X射线的物质填充定位,并粘合在一起。填充物可以是木屑、纸或者铝片等。使用时,非散射X射线都可以正常的穿过滤线栅,而大部分的散射线则会被铅条吸收,只有很少的一部分散射线能穿过滤线栅到达X射线成像单元。为了能够获得滤线栅中每一个铅条在实际情况下对X射线的衰减程度,本实施例中以与滤线栅的铅条方向平行的图像列为基准来获取不同铅条对成像单元的影响程度。

执行S101,获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值,确定列的最大灰度值的变化趋势,所述图像中列的方向与滤线栅铅条所在方向平行。

本实施例中,采集到的图像中包括直接曝光区域和目标区域,参见图2,图2本发明实施例的采集到的图像的示意图,图中白色的区域为直接曝光区域,其余的部分为目标区域,此处为人体区域。本实施例中,具体地通过如下方式获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值:

考虑到目标区域的灰度低,直接曝光区域的灰度高,为了能够尽可能准确的获取所述图像中的直接曝光区域,本实施例中,先获取所述图像中每一列像素点的灰度值中灰度值最大的那个灰度值,也即每一列像素点的最大灰度值(对于图2而言,图像中的列沿竖直方向),然后在所有的图像列中选取最大灰度值大于预设灰度值的图像列所在的区域为直接曝光区域,最后在选取了的直接曝光区域中,获取每一列像素点中的最大灰度值。所述预设灰度值与所述图像的最大灰度值相关,本实施例中所述预设灰度值的范围为[0.4Gmax,0.6Gmax],Gmax为所述图像的最大灰度值。

接下来,根据获取的所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值来确定列的最大灰度值变化趋势。以通过上述方式获得的直接曝光区域中的列坐标值为横坐标,与该列坐标值对应的列像素点中的最大灰度值为纵坐标确定第一数据点。参见图3,图3中示意了第一数据点,选取初始分割点,本实施例中所述初始分割点的列坐标关联于所述图像的最大列坐标,所述初始分割点的列坐标的范围为其中Cmax为所述图像的最大列坐标,参见图3,图3中示出的图像的最大列坐标为3000,所述初始分割点的列坐标可以为1500,以预定步长更新所述初始分割点,每更新一次都会得到一个分割点,直至最后更新获得的分割点的列坐标不小于预设列坐标,本实施例所述预设列坐标可以为Cmax,所述预定步长、预设列坐标可以根据实际需求而定。所述预定步长可以为100个像素点,也即对所述初始分割点以100的步长进行更新,以获得分割点1600、1700……3000。在获得一系列的分割点后,对于列坐标小于每一个分割点的列坐标的第一数据点进行拟合,可以获得多条第一曲线,本实施例中采用线性拟合,如图3中所示,且在拟合过程中,每以小于一个分割点的列坐标的第一数据点拟合一次,就以以该分割点的列坐标所在的列为对称轴生成与第一曲线对称的第二曲线,分割点每更新一次,就会拟合出一条第一曲线,相应的也会生成一条与第一曲线以分割点的列坐标为对称轴对称的第二曲线,将第一曲线和第二曲线组合(第一曲线和第二曲线相交)以获得第一最大灰度值曲线,随着分割点的更新则获得了多条第一最大灰度值曲线。

为了保证最后获得的目标曲线的准确度较高,对所述第一数据点以中心点所在列坐标为对称轴进行对称,以获得第二数据点,所述中心点的列坐标为所述图像最大列坐标的二分之一。参见图4,图4中所示的第二数据点为图3中所示的第一数据点以中心点的列坐标(列坐标为1500)所在列为对称轴对称获得的,同样地,对于列坐标小于所述分割点更新过程中获得的每一个分割点的列坐标的第二数据点进行拟合,参见图4,以初始分割点为1500为例,则对列坐标小于1500的第二数据点线性拟合,以获得第三曲线,以1500所在的列为对称轴对称以获得第四曲线,以所述第三曲线和第四曲线的组合为第二最大灰度值变化曲线。若以步长100更新初始分割点以得到分割点,则就是对列坐标小于1600的第二数据点线性拟合,以获得第三曲线,以1600所在的列为对称轴对称以获得第四曲线,以此时获得的所述第三曲线和第四曲线的组合为第二最大灰度值变换曲线。以此类推,可以获得多条第二最大灰度值变化曲线。

上述获得的第一最大灰度值变化曲线和第二最大灰度值变化曲线则为所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势。在获取了所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值变化趋势后,即多条第一最大灰度值变化曲线和多条第二最大灰度值变化曲线后,执行S102,以多条第一最大灰度值变化曲线和多条第二最大灰度值变化曲线来获得目标灰度值。本实施例中,具体地:

先确定所述第一最大灰度值变化曲线中与所述第一数据点最接近的第一最大灰度值变化曲线为第一目标曲线,也即确定图3中哪一条第一最大灰度值变化曲线与第一数据点最接近。本实施例中通过计算所述第一数据点的每一个列坐标对应的灰度值与该列坐标下第一最大灰度值变化曲线上对应的灰度值之差的绝对值的和来衡量第一最大灰度值变化曲线与第一数据点的接近程度。当某一条第一最大灰度值变化曲线与第一数据点之间对应点(列坐标相同的点)的灰度值之差的绝对值的和最小时,该第一最大灰度值变化曲线为第一目标曲线。

类似地,确定所述第二最大灰度值变化曲线中与所述第二数据点最接近的第二最大灰度值变化曲线为第二目标曲线时,就是找到一条第二最大灰度值变化曲线,其与第二数据点之间对应点(列坐标相同的点)的灰度值之差的绝对值的和最小,该第二最大灰度值变化曲线为第二目标曲线。

通过上述过程获得了第一目标曲线和第一数据点之间对应点的灰度值之差的绝对值的和S1,其表征了第一目标曲线和第一数据点之间的接近程度,同样地也获得了第二目标曲线和第二数据点之间对应点的灰度值之差的绝对值的和S2,其也表征了第二目标曲线和第二数据点之间的接近程度,若S1<S2则以所述第一目标曲线为目标曲线;若S2<S1,则以在获得该第二目标曲线时对应的分割点的列坐标所在列为对称轴对称的曲线为目标曲线,举例来说,第二目标曲线为以1600为分割点获得的,则以1600所在列为对称轴将所述第二目标曲线进行对称以获得目标曲线。

至此,通过上述方式获得了目标曲线,所述目标曲线上对应的最大灰度值即为目标灰度值。

实际应用时,可以通过数组的方式来实现确定所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势及目标曲线,具体地:

首先,以所述图像中每列像素点中的最大灰度值为元素生成第一数组,所述第一数组中包含了目标区域和直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值,每一个灰度值也对应一个列坐标。

然后,将所述第一数组中灰度值小于预设灰度值的元素的值置为零以生成第二数组,所述第二数组中的非零元素即为所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值。以所述第二数组中的非零元素及与该非零元素对应的列坐标来确定第一数据点(直接曝光区域中图像列的列坐标与该列坐标对应的最大灰度值所确定的数据点)。

同样地,选取初始分割点,以图3中的1500为例,对第二数组中列坐标小于1500的第一数据点进行拟合,获得第一曲线,并以1500所在的列为对称轴对称获得第二曲线,第一曲线和第二曲线组成了第一最大灰度值变化曲线。以1600为分割点对列坐标小于1600的第一数据点进行线性拟合,获得与该分割点对应的第一曲线和第二曲线,也即获得了与该分割点对应的第一最大灰度值变化曲线。依此类推,获得了多条第一最大灰度值变化曲线。对第二数组中的元素以列坐标为1500时对应的元素为中心点进行对称获得第三数组,第三数组中每一个灰度值与其对应的列坐标形成第二数据点。同样地,以1500为初始分割点,对第三数组中列作标小于1500的第二数据点进行线性拟合,获得第三曲线,并以1500所在的列为对称轴对称获得第四曲线,第三曲线和第四曲线组成了第二最大灰度值变化曲线。以1600为分割点对列坐标小于1600的第二数据点进行线性拟合,获得与该分割点对应的第三曲线和第四曲线,也即获得了与该分割点对应的第二最大灰度值变化曲线。依此类推,获得了多条第二最大灰度值变化曲线。

确定多条第一最大灰度值变化曲线中与第一数据点最接近的曲线为第一目标曲线,多条第二最大灰度值变化曲线中与第二数据点最接近的曲线为第二目标曲线,如何根据第一目标曲线和第二目标曲线获取目标曲线与上述相同,此处不再赘述。

执行S103,基于所述目标灰度值对所述图像进行校正,本实施例中就是将所述图像中的像素点的灰度值调整至所述目标灰度值,具体地:

首先以所述目标灰度值对所述目标曲线进行归一化以获得滤线栅的校正系数,对所述目标曲线进行归一化,就是对目标曲线上对应的点的横坐标(表示图像列的坐标)保持不变,纵坐标(表示了图像列坐标下对应的最大灰度值)均除以目标灰度值。本实施例中通过如下公式获得滤线栅的校正系数:

其中,x是图像的列坐标、Ggoal是目标灰度值,Lgoal(x)为目标曲线。

通过上述方式获得了滤线栅校正系数后,则可以通该校正系数对所述图像进行校正。参见图5,图5是是本发明实施例的滤线栅校正系数曲线的示意图。实际应用中,还可以对获得的滤线栅校正系数曲线进行滤波,以使得所述滤线栅校正曲线较平滑,滤除滤线栅校正系数曲线上可能存在的噪声点。

在获取了滤线栅校正系数后,本实施例中通过如下公式对所述图像的灰度值进行校正:

其中,x是图像的列坐标,OriginalData(x)是图像中列坐标为x的像素点的灰度值,B(x)为滤线栅校正系数,CorrectedData(x)为校正后的图像中列坐标为x的像素点的灰度值。

至此,本实施例中通过获得的滤线栅校正系数,实现了将图像中每列像素点的灰度值进行校正的目的,校正后的图像灰度均匀,符合实际的临床需求。

对应上述的图像校正方法,本发明实施方式还提供一种图像校正装置,所述图像校正装置包括:

获取单元,用于获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值,确定列的最大灰度值的变化趋势,所述图像中列的方向与滤线栅铅条所在方向平行;

目标灰度值获取单元,用于基于所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势获取目标灰度值;

校正单元,用于基于所述目标灰度值对所述图像进行校正。

所述图像校正装置的实施可以参见上述的图像校正方法的实施,此处不再赘述。

本发明实施例还提供一种X射线摄影设备,包括上述的图像校正装置。

综上所述,本发明实施方式提供的图像校正方法及装置,至少具有如下有益效果:

通过获取图像的直接曝光区域中与滤线栅铅条所在方向平行的列的最大灰度值的变化趋势来获取目标灰度值,进而基于所述目标灰度值对所述图像进行校正。由于根据采集到的图像的实际情况进行校正,而不是以预先设定好的条件下获得的滤线栅校正系数进行校正,因此避免了实际情况和预先设定条件有偏差而导致的校正效果较差,校正后的图像仍不符合实际的临床需求的现象,在简化了校正步骤的同时,也使得最终获得的校正后的图像灰度均匀符合实际的临床需求,进而也能避免漏诊或者误诊现象的发生。另外,以所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势来获取目标灰度值,避免了在获得目标灰度值的过程中目标区域的影响,进而在以该目标灰度值对图像进行校正时,能够更好的消除由于滤线栅处于离焦状态和/或设备不对中时带来的影响,提高了校正效果,校正后的图像的灰度值均匀,可达到预期的效果。

进一步地,在获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值时,以所述图像中每列像素点中的最大灰度值大于预设灰度值的图像列所在的区域为直接曝光区域。以较简单的方式实现了获取直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值。另外由于不需要对所述图像中的直接曝光区域进行检测,因此简化了获取所述图像的直接曝光区域中每列像素点中的最大灰度值的过程,进而也简化了校正的步骤,在一定程度上提高了校正速度。

进一步地,在基于所述图像的直接曝光区域中列的最大灰度值的变化趋势确定目标灰度值时,在所述第一目标曲线与所述第一数据点的接近程度大于所述第二目标曲线与所述第二数据点的接近程度时,以所述第一目标曲线为目标曲线;在所述第二目标曲线与所述第二数据点的接近程度大于所述第一目标曲线与所述第一数据点的接近程度时,以与所述第二目标曲线对应的分割点所在列坐标为对称轴对称的曲线为目标曲线;通过这种方式获得的目标曲线精确度高,进而基于该目标曲线获得的目标灰度值的准确度也较高,以该目标灰度值进行校正时,校正后的图像质量符合实际的临床需求。

本发明虽然已以较佳实施例公开如上,但其并不是用来限定本发明,任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内,都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出可能的变动和修改,因此,凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰,均属于本发明技术方案的保护范围。

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