PCIE外插卡的批量测试装置及方法与流程

本发明涉及pcie外插卡测试技术领域,具体地说是pcie外插卡的批量测试装置及方法。

背景技术：

pci-express(peripheralcomponentinterconnectexpress)是一种高速串行计算机扩展总线标准，可以简写为pcie、pci-e或pcie，由英特尔在2001年提出的。它的主要优势就是数据传输速率高，目前最高的16x2.0版本可达到10gb/s，而且还有相当大的发展潜力。

pcie因其高速可靠的传输效率、热插拔以及服务质量(qos)等功能，使其在服务器外插卡中得到了极大的应用，常用的pcie扩展卡包括网卡、主机配适器hba卡、主机通道配适器hca卡等。

由于pcie扩展卡没有供电和主数据处理器，测试时需要依靠主板和外插电源支持才能完成，又由于pcie扩展卡种类繁多且数量巨大，现有的测试平台只能测试单一种类和数量极少的pcie扩展卡，使测试效率低且测试成本增加。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种pcie外插卡的批量测试装置及方法，用于解决现有pcie外插卡测试效率低、成本高的问题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种pcie外插卡的批量测试装置，包括依次连接的处理模块、数据传输模块和测试模块，处理模块包括多个通过qpi互联的cpu，每个cpu上设置多个pcie测试槽；所述处理模块用于对测试数据进行处理；所述数据传输模块用于测试模块与处理模块之间的数据传输，所述测试模块包括分别与数据传输模块连接的网卡测试单元和存储测试单元；所述网卡测试单元用于对网卡的测试，存储测试单元用于对存储卡的测试。

进一步地，所述每个cpu上设置两个pcie×16测试槽和一个pcie×8测试槽。

进一步地，所述pcie×16测试槽还连接pcie转接板，所述pcie转接板用于将一个pcie×16测试槽转化为两个pcie×8测试槽。

进一步地，所述网卡测试单元包括电连接的网络通信芯片和网口，所述存储卡测试单元包括电连接的存储池模块和光纤接口。

进一步地，所述测试装置还包括存储模块和显示模块，所述显示模块连接处理模块，显示模块包括指示灯，用于显示测试结果；所述存储模块连接数据传输模块，用于存储测试结果。。

pcie外插卡的批量测试方法，包括以下步骤：

将测试卡插入主板上对应的pcie测试槽；

根据测试卡的类型进行相应测试；

显示并记录测试结果。

进一步地，所述测试卡包括网卡，对网卡进行相应测试的具体步骤为：

通过网络发送、接收数据；

查看数据传输的时间并判断改时间是否符合要求。

进一步地，所述测试卡包括存储卡，对存储卡进行测试的步骤为：

向存储卡读取或写入数据；

计算读取或写入的速度并判断该速度是否符合要求。

进一步地，所述显示并记录测试结果包括通过指示灯的颜色显示测试卡是否通过测试和通过log文件存储并记录测试结果。

发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：

1、测试装置通过在主板上集成多个处理器，增加pcie测试槽的数量，并集成网卡测试单元和存储卡测试单元，实现多种类、多数量pcie外插卡的批量测试，提高测试效率，节省测试成本。

2、在测试装置的主板上集成显示模块，显示模块通过变换指示灯的颜色，直观的显示pcie外插卡是否通过测试，对每个测试卡的测试过程和结果进行记录并保存，方便后续的查看和分析。

附图说明

图1是本发明测试装置的结构示意图。

图2是本发明方法的流程图。

具体实施方式

为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。

如图1所示，本发明提供的pcie外插卡的批量测试装置，包括处理模块1、数据传输模块2、测试模块6、显示模块3和存储模块4，处理模块1分别连接存储模块4和数据传输模块2，数据传输模块2还分别连接测试模块6和显示模块3；处理模块1包括多个通过qpi互联的cpu，每个cpu上设置多个pcie测试槽，测试模块6包括分别与数据传输模块2连接的网卡测试单元61和存储测试单元62。

处理模块1用于对测试数据的处理，数据传输模块2用于处理模块和测试模块间数据的传输，测试模块6用于对待测卡进行测试，其中网卡测试单元61用于对网卡的测试，存储卡测试单元62用于对存储卡的测试。

本发明的一种实施例：处理模块1包括4个互联的cpu，每个cpu上设置两个pcie×16测试槽和一个pcie×8测试槽。其中可通过pcie转接板将一个pcie×16测试槽转换为两个pcie×8测试槽，适用于多数量、不同pcie外插卡的批量测试，提高测试效率，多卡同时测试，节省测试资源。

网卡测试单元61包括电连接的网络通信芯片和网口，测试时，网口与网线连接，向网络存储芯片传输lan信号，网络通信芯片连接数据传输模块2，将信号通过数据传输模块2发送个处理模块1。数据连接模块2包括南桥芯片。

存储卡测试单元62包括电连接的存储池模块和光纤插口，测试时，光纤插口与光纤线连接，向存储池模块发送光纤信号，通过数据传输模块2将光线信号发送给处理模块1。

显示模块3包括控制器和指示灯，数据传输模块2将测试结果发送给控制器，根据测试结果，控制器控制指示灯发出不同颜色的指示信号，如测试通过显示绿色，测试未通过显示红色。

存储模块4包括存储器，处理模块1将测试结果和测试过程的数据均发送给存储模块4，存储模块将每个测试卡的测试信息生成一个log文件，便于后续测查看和分析。

如图2所示，本发明提供了一种利用上述测试装置进行pcie外插卡批量测试的方法，包括以下步骤：

s1，将测试卡插入主板上对应的pcie测试槽；

s2，根据测试卡的类型进行相应测试；

s3，显示并记录测试结果。

测试卡包括网卡和存储卡。

对网卡进行测试具体为：将网线连接网口，启动网络测试软件；通过网络发送、接收数据；查看数据传输的时间并判断该数据传输时间是否符合要求。

对存储卡进行测试具体为：将光纤线连接光纤口，启动存储测试软件，通过存储池模块向硬盘读取或写入数据，计算读取或写入数据的速度并判断该速度是否符合要求。

步骤s3中显示并记录测试结果包括通过指示灯的颜色显示测试卡是否通过测试和通过log文件存储并记录测试结果。

以上所述只是本发明的优选实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也被视为本发明的保护范围。