技术特征：
技术总结
本发明公开了一种测试内存Rank Margin优化方法及系统，涉及硬件优化测试技术领域，解决现有技术中测试需要拆机安装串口线等设备，过程较繁琐，影响测试效率的问题。采用的技术方案为：方法包括以下步骤：修改待测机台的BIOS设置选项；通过另外一台测试机的BMC远程打开待测机台的sol日志，并将sol日志信息记录到文件；将待测机台关机，再开机，将自动记录sol日志；将sol日志下载导出，确认信息；本发明无需拆机连接任何硬件外部设备，具有使用便捷、测试方便灵活、可靠性高、测试速度快和效率高的优点。
技术研发人员：杨永峰
受保护的技术使用者：郑州云海信息技术有限公司
技术研发日：2018.05.22
技术公布日：2018.12.07