技术特征：
技术总结
本发明提供了一种红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统，包括：对每个核函数训练单核SVR，得到输入抗干扰性能指标值和输出综合性能评估值之间的映射关系；获取训练样本，并初始化每个训练样本的权值，初始化回归器F(x)＝0；对每个单核SVR计算回归误差，并选择回归误差最小的最优SVR；计算最优学习器H(j)的权值β(j)，更新回归器F←F+β(j)H(j)；根据最优学习器的权值β(j)更新训练样本的权值，然后归一化所有最优学习器的权值β(j)；返回回归误差计算，直到达到迭代次数。本发明能够在抗干扰评估指标体系下得到综合的抗干扰性能值。
技术研发人员：洪泽华;陆志沣;葛辰杰;乔宇;马潮;余海鸣
受保护的技术使用者：上海机电工程研究所
技术研发日：2018.09.30
技术公布日：2019.02.01