备份cell替换电路验证方法、装置、存储介质和终端与流程

1.本发明涉及非易失存储器验证技术领域，尤其涉及的是一种备份cell替换电路验证方法、装置、存储介质和终端。


背景技术：

2.在非易失存储器中，存储单元备份电路是用来替换掉存储器中失效的bit，通常由模拟工程师设计。对存储单元备份电路的验证，传统的验证方法一般是模拟工程师通过hspice电路（hspice主要通过电路网表(netlist)来实现电路描述、激励添加、输出控制等功能）仿真，无论是模块级还是系统级都只是手动给激励，手动检查替换情况，人工操作导致验证覆盖情形少，仿真速度慢。
3.因此，现有的技术还有待于改进和发展。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种备份cell替换电路验证方法、装置、存储介质和终端，旨在解决现有的存储单元备份电路通过hspice电路仿真需要人工操作验证，导致验证覆盖率低，仿真速度慢的问题。
5.本发明的技术方案如下：一种备份cell替换电路验证方法，其中，具体包括以下步骤：s1：提取备份cell替换电路并转换为verilog代码；s2：打开备份cell替换电路使能；s3：随机生成需要进行数据配置替换的地址；s4：对待测设计的失效cell替换完成后，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址进行仿真验证，得到仿真结果；s5：根据仿真结果判断仿真验证是否成功，若成功，执行s6，若不成功，执行s8；s6：根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址判断该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号，是则执行s7，否则执行s8；s7：备份cell替换电路验证成功，输出验证结果；s8：备份cell替换电路验证不成功，输出验证结果。
6.所述的备份cell替换电路验证方法，其中，所述s1中，通过软件提取备份cell替换电路转换为verilog代码。
7.所述的备份cell替换电路验证方法，其中，通过chipsmith软件提取备份cell替换电路转换为verilog代码。
8.所述的备份cell替换电路验证方法，其中，所述s4和s5具体包括以下步骤：s01：根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，对参考模型和待测设计分别发送写指令；s02：根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，对参考模型和待测设计分别发
送读指令，读出参考模型和待测设计写入的数据；s03：判断参考模型读出的数据和待测设计读出的数据是否一致，是则执行s6，否则执行s8。
9.所述的备份cell替换电路验证方法，其中，所述s6中，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，通过断言验证判断该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号。
10.一种备份cell替换电路验证装置，其中，包括：电路提取模块，提取备份cell替换电路并转换为verilog代码；使能打开模块，打开备份cell替换电路使能；地址生成模块，随机生成需要进行数据配置替换的地址；仿真验证模块，对待测设计的失效cell替换完成后，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址进行仿真验证，得到仿真结果；第一判断模块，根据仿真结果判断仿真验证是否成功；第二判断模块，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址判断该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号；验证结果输出模块，输出验证结果。
11.所述的备份cell替换电路验证装置，其中，所述仿真验证模块包括：写指令发送模块，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，对参考模型和待测设计分别发送写指令；读指令发送模块，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，对参考模型和待测设计分别发送读指令，读出参考模型和待测设计写入的数据；第三判断模块，判断参考模型读出的数据和待测设计读出的数据是否一致。
12.所述的备份cell替换电路验证装置，其中，所述第二判断模块采用断言验证判断模块。
13.一种存储介质，其中，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述任一项所述的方法。
14.一种终端，其中，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，用于执行上述任一项所述的方法。
15.本发明的有益效果：本发明通过提供一种备份cell替换电路验证方法、装置、存储介质和终端，通过打开备份cell替换电路使能启动转换为verilog代码的备份cell替换电路，备份cell替换电路根据随机生成需要进行数据配置替换的地址对待测设计中对应地址的失效cell进行替换，然后分别对待测设计和参考模型先发送写指令，然后再发送读指令，判断参考模型读出的数据和待测设计读出的数据是否一致，若一致，则再根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址通过断言验证该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号，若是，则说明备份cell替换电路对待测设计中失效cell的替换是成功的，反之，则替换不成功；本技术方案通过将备份cell替换电路转成verilog代码，系统可以自动随机生成需要进行数据配置替换的地址，以及对替换情况进行自动检查，代替人工操作，极大地提高了仿真速度；而且系统可以随机大量生成替换激励，大大增加了验证覆盖率。
附图说明
16.图1是本发明中备份cell替换电路验证方法的步骤流程图。
17.图2是本发明中备份cell替换电路验证装置的示意图。
18.图3是本发明中终端的示意图。
具体实施方式
19.下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
20.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
21.如图1所示，一种备份cell替换电路验证方法，具体包括以下步骤：s1：提取备份cell替换电路并转换为verilog（verilog一般指verilog hdl。verilog hdl是一种硬件描述语言，以文本形式来描述数字系统硬件的结构和行为的语言，用它可以表示逻辑电路图、逻辑表达式，还可以表示数字逻辑系统所完成的逻辑功能）代码；s2：打开备份cell替换电路使能；s3：随机生成需要进行数据配置替换的地址；s4：对待测设计的失效cell替换完成后，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址进行仿真验证，得到仿真结果；s5：根据仿真结果判断仿真验证是否成功，若成功，执行s6，若不成功，执行s8；s6：根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址判断该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号，是则执行s7，否则执行s8；s7：备份cell替换电路验证成功，输出验证结果；s8：备份cell替换电路验证不成功，输出验证结果。
22.在某些具体实施例中，所述s1中，通过软件提取备份cell替换电路转换为verilog代码，如采用chipsmith软件实现备份cell替换电路的提取。
23.在某些具体实施例中，所述s4和s5具体包括以下步骤：s01：根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，对参考模型和待测设计分别发送写指令；s02：根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，对参考模型和待测设计分别发送读指令，读出参考模型和待测设计写入的数据；s03：判断参考模型读出的数据和待测设计读出的数据是否一致，是则执行s7，否则执行s9。
24.在某些具体实施例中，所述s6中，通过编写断言（编写代码时，我们总是会做出一些假设，断言就是用于在代码中捕捉这些假设；断言表示为一些布尔表达式）实现。
25.其中，通过打开备份cell替换电路使能启动转换为verilog代码的备份cell替换电路，备份cell替换电路根据随机生成需要进行数据配置替换的地址对待测设计中对应地址的失效cell进行替换，然后分别对待测设计和参考模型先发送写指令，然后再发送读指令，判断参考模型读出的数据和待测设计读出的数据是否一致，若一致，则再根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址通过断言验证该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号，若是，则说明备份cell替换电路对待测设计中失效cell的替换是成功的，反之，则替换不成功。
26.如图2所示，一种备份cell替换电路验证装置，包括：电路提取模块101，提取备份cell替换电路并转换为verilog代码；使能打开模块102，打开备份cell替换电路使能；地址生成模块103，随机生成需要进行数据配置替换的地址；仿真验证模块104，对待测设计的失效cell替换完成后，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址进行仿真验证，得到仿真结果；第一判断模块105，根据仿真结果判断仿真验证是否成功；第二判断模块106，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址判断该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号；验证结果输出模块107，输出验证结果。
27.在某些具体实施例中，所述仿真验证模块104包括：写指令发送模块，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，对参考模型和待测设计分别发送写指令；读指令发送模块，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址，对参考模型和待测设计分别发送读指令，读出参考模型和待测设计写入的数据；第三判断模块，判断参考模型读出的数据和待测设计读出的数据是否一致。
28.请参照图3，本发明实施例还提供一种终端。如示，终端300包括处理器301和存储器302。其中，处理器301与存储器302电性连接。处理器301是终端300的控制中心，利用各种接口和线路连接整个终端的各个部分，通过运行或调用存储在存储器302内的计算机程序，以及调用存储在存储器302内的数据，执行终端的各种功能和处理数据，从而对终端300进行整体监控。
29.在本实施例中，终端300中的处理器301会按照如下的步骤，将一个或一个以上的计算机程序的进程对应的指令加载到存储器302中，并由处理器301来运行存储在存储器302中的计算机程序，从而实现各种功能：s1：提取备份cell替换电路并转换为verilog代码；s2：打开备份cell替换电路使能；s3：随机生成需要进行数据配置替换的地址；s4：对待测设计的失效cell替换完成后，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址进行仿真验证，得到仿真结果；s5：根据仿真结果判断仿真验证是否成功，若成功，执行s6，若不成功，执行s8；s6：根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址判断该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号，是则执行s7，否则执行s8；s7：备份cell替换电路验证成功，输出验证结果；s8：备份cell替换电路验证不成功，输出验证结果。
30.存储器302可用于存储计算机程序和数据。存储器302存储的计算机程序中包含有可在处理器中执行的指令。计算机程序可以组成各种功能模块。处理器301通过调用存储在
存储器302的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理。
31.本申请实施例提供一种存储介质，所述计算机程序被处理器执行时，执行上述实施例的任一可选的实现方式中的方法，以实现以下功能：s1：提取备份cell替换电路并转换为verilog代码；s2：打开备份cell替换电路使能；s3：随机生成需要进行数据配置替换的地址；s4：对待测设计的失效cell替换完成后，根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址进行仿真验证，得到仿真结果；s5：根据仿真结果判断仿真验证是否成功，若成功，执行s6，若不成功，执行s8；s6：根据所述随机生成需要进行数据配置替换的地址判断该地址是否在对应的时刻产生了替换使能信号，是则执行s7，否则执行s8；s7：备份cell替换电路验证成功，输出验证结果；s8：备份cell替换电路验证不成功，输出验证结果。其中，存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器（static random access memory, 简称sram），电可擦除可编程只读存储器（electrically erasable programmable read-only memory, 简称eeprom），可擦除可编程只读存储器（erasable programmable read only memory, 简称eprom），可编程只读存储器（programmable red-only memory, 简称prom），只读存储器（read-only memory, 简称rom），磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
32.在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
33.另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
34.再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
35.在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
36.以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。