一种通过STDF文件处理晶圆首测和重测信息的方法与流程

一种通过stdf文件处理晶圆首测和重测信息的方法
技术领域
1.本发明属于晶圆测试领域，特别涉及一种通过stdf文件处理晶圆首测和重测信息的方法。


背景技术：

2.晶圆测试的主要目的是对测试出的坏的芯片不封装，以此降低封装成本。在晶圆测试领域，探针卡(probe card)是晶圆与测试机之间的媒介。探针卡通常直接放在探针台prober上并用接线连接测试机。探针卡的目的是提供芯片与测试机之间的连结，并完成晶圆测试。图1示意了现有技术中晶圆测试环节的有关设备以及map图。
3.本领域晶圆测试数据的最主要的数据规范则是stdf(standard test data file)，即标准测试数据文件，1985年由teradyne公司发布，到目前为止已经经过了30多年的发展，已非常成熟。stdf文件包含了summary信息和所有测试项的测试结果。由于stdf文件采用统一格式/规范保存着cp或ft芯片测试所能产生的所有类型的测试数据，其解决了芯片测试行业不同品牌测试机所生成的测试数据格式不统一的问题，所以在半导体行业，无论是测试机供应商，还是芯片测试公司，抑或是芯片设计公司都非常重视对stdf文件的使用。
4.然而，恰恰是stdf包含所有类型的测试数据以及属于二进制文件而非明文字符的特点，随着晶圆测试的进行，stdf文件的大小可能上gb。现有技术中，如果作业人员想要通过stdf文件统计分析晶圆首测和重测的情况，则需要通过解析软件加载stdf文件，此时可能因为文件过大造成文件加载中断，即使反复多次后加载stdf文件成功，也只能根据解析软件对stdf文件该二进制文件的每一个die的测试信息的读取，在大量的数据中挑选其中涉及晶圆首测和重测的数据，然后再根据这些挑选出的数据进一步利用其他分析工具进行分析或者利用其他工具根据这些挑选出的数据建立map，但是，这不仅需要多个不同的操作，耗时过长而且极可能视觉疲劳而导致挑选数据时出错。
5.如下表1示例性的示意了第4版stdf文件规范中mir(master information record)的数据字段：
[0006][0007]
表1
[0008]
除了上述表1示例的mir之外，stdf文件中还包括mpr、ptr、ftr、mrr等等。正是因此，stdf文件几乎无所不包并且很可能随着晶圆测试作业导致文件大小过大，人工加载stdf文件至解析软件后即使能够以明文阅读其中信息，也很可能遇到反复多次才能加载成功而浪费时间，或者因为视觉疲劳导致查看数据时看错数据。
[0009]
因此，本领域亟需一种根据stdf文件建立高效且不容易出错的处理首测和重测信息的技术方案。


技术实现要素：

[0010]
有鉴于此，本发明提出一种通过stdf文件处理晶圆首测和重测信息的方法，所述方法包括如下步骤：
[0011]
s100、根据stdf文件的存储路径链接到所述stdf文件；
[0012]
s200、根据所述存储路径读取所述stdf文件，按照stdf文件的规范寻找首测和重测所对应的字段并读取其数据，所述字段至少包括关于测试时间的字段，关于bin的字段，关于die坐标的字段；
[0013]
s300、根据所述字段的数据，输出晶圆首测和晶圆重测的信息。
[0014]
优选的，
[0015]
步骤s300中，输出信息时，生成对应的map图。
[0016]
优选的，
[0017]
所述map图展示对应的首测区域的坐标、重测区域的坐标，及其相对应的bin值。
[0018]
优选的，
[0019]
首测的map图以可视化的方式显示在重测的map图的上方，二者以上下排列的方式呈现给作业人员。
[0020]
优选的，
[0021]
步骤s200中，在读取的过程中，跳过与所述字段无关的所有字段以加速读取stdf文件中对首测和重测有用的数据。
[0022]
优选的，
[0023]
步骤s200中，在读取的过程中，采取防止大文件读取溢出的方式来读取。
[0024]
优选的，
[0025]
所述map图包括如下数据：原始象限、目前象限、最小坐标minxy、最大坐标maxxy，角度，bin类型。
[0026]
本发明具备如下技术效果：
[0027]
通过上述方案，本发明摒弃了现有技术中直接加载完整的stdf文件可能需要多次加载以及需要结合人工作业和多种不同分析软件的方法，相比现有技术，本发明更加快捷方便，且不容易出错，方便作业人员进行晶圆首测和重测信息的统计和分析。
附图说明
[0028]
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0029]
图1是现有技术中晶圆测试环节的工作示意图；
[0030]
图2是本发明的一个实施例中解释的处理装置及其模块的示意图；
[0031]
图3是本发明的一个实施例中所述方法通过相应的装置读取stdf时的示意图；
[0032]
图4是本发明的一个实施例中所述方法通过相应的装置执行时的示意图；
[0033]
图5是本发明的一个实施例中所述方法通过相应的装置执行时的示意图。
具体实施方式
[0034]
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图图1至图5，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0035]
因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0036]
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一
个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0037]
在本发明的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[0038]
此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0039]
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明的实施例中的特征可以相互结合。
[0040]
在一个实施例中，本发明揭示了一种通过stdf文件处理晶圆首测和重测信息的方法，所述方法包括如下步骤：
[0041]
s100、根据stdf文件的存储路径链接到所述stdf文件；
[0042]
s200、根据所述存储路径读取所述stdf文件，按照stdf文件的规范寻找首测和重测所对应的字段并读取其数据，所述字段至少包括关于测试时间的字段，关于bin的字段，关于die坐标的字段；
[0043]
s300、根据所述字段的数据，输出晶圆首测和晶圆重测的信息。
[0044]
对于该实施例而言，即使stdf文件较大，本发明也只是寻找特定的一些字段，并根据这些字段的数据进行信息的处理，这不仅能避免现有技术中直接加载stdf文件可能导致加载出错的问题，而且充分利用数据处理技术来改善本领域中依靠人工和多种软件处理首测和重测信息的低效问题。
[0045]
优选的，
[0046]
步骤s300中，输出信息时，生成对应的map图。
[0047]
优选的，
[0048]
所述map图展示对应的首测区域的坐标、重测区域的坐标，及其相对应的bin值。
[0049]
优选的，
[0050]
首测的map图以可视化的方式显示在重测的map图的上方，二者以上下排列的方式呈现给作业人员。
[0051]
优选的，
[0052]
步骤s200中，在读取的过程中，跳过与所述字段无关的所有字段以加速读取stdf文件中对首测和重测有用的数据。
[0053]
优选的，
[0054]
步骤s200中，在读取的过程中，采取防止大文件读取溢出的方式来读取。
[0055]
优选的，
[0056]
所述map图包括如下数据：原始象限、目前象限、最小坐标minxy、最大坐标maxxy，角度，bin类型。
[0057]
更优选的，
[0058]
防止大文件读取溢出的方式包括：根据stdf文件的规范，读取头文件后，逐行读取的方式；和/或，根据stdf文件的规范将stdf文件分割为多个小文件的方式；和/或，根据stdf文件的规范，以多个线程读取完所有所述字段且按线程池异步处理的方式；和/或，根据stdf文件的规范，以流的方式读取stdf所有字段的同时对不需的字段进行过滤的方式以
便得到所有所述字段等。
[0059]
更优选的，
[0060]
步骤s200在后台进行。
[0061]
参见图2，其揭示了本发明的一种通过stdf文件处理晶圆首测和重测信息的装置，所述装置包括：
[0062]
读入并分析模块，用于根据所述存储路径读取所述stdf文件，按照stdf文件的规范寻找首测和重测所对应的字段并读取其数据，所述字段至少包括关于测试时间的字段，关于bin的字段，关于die坐标的字段；
[0063]
输出展示模块，用于根据所述字段的数据，输出晶圆首测和晶圆重测的信息并展示。
[0064]
进一步参见图3，图4，其示意了所述装置在执行本发明的方法时，有关的用户交互和结果展示。其中，为了免除输入文件存储路径的麻烦，在该装置中，可以通过选择文件功能选中指定的stdf文件，然后选择load功能，从而读取文件并在图4中输出。能够发现，当没有重测信息时，则只显示首测map图。
[0065]
进一步参见图5，若读取stdf文件后，显示二张图的map，则说明当前的stdf文件所对应的实物晶圆部分区域有发生重测试情况并以图5的方式显示，其中，上方的区域1为首测的map图；下方的区域2为发生重测试的区域。
[0066]
优选的，
[0067]
所述首测、重测的map图可进一步导出为excel文件格式。
[0068]
之所以优选excel文件格式，恰恰充分利用了excel的如下特点：每个单元格的位置可以对应map图的坐标，单元格中的内容可以代表测试结果，且单元格可以被不同颜色高亮。
[0069]
综上，本发明揭示的所述方法，摒弃了现有技术中直接加载完整的stdf文件可能需要多次加载以及需要结合人工作业和多种不同分析软件的方法，相比现有技术，本发明更加快捷方便，且不容易出错，方便作业人员进行晶圆首测和重测信息的统计和分析。
[0070]
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。