线与各感测线的交越处分别形成感测点，且各驱动线及各感测线分别电性连设至驱动及感测电路，又驱动及感测电路电性连设有处理器，处理器再电性连设至存储器，其特征在于包括步骤如下: (AOl)驱动及感测电路取得所有感测点的电容性耦合量，并以所有电容性耦合量与其相对应感测点的位置信息构成有二维感测信息； (A02)处理器对二维感测信息中，所有相邻二条或二条以上的驱动线与所有相邻二条或二条以上的感测线交越所形成的感测点及其相对应的电容性耦合量分别做为一局部二维感测信息； (A03)处理器分别对所有局部二维感测信息进行运算以分别得到有平整度值，以供将所有平整度值及其相对应的局部二维感测信息位置信息组成一平整度信息； (A04)处理器将平整度信息中各平整度值分别与预设平整度负比对值、预设平整度正比对值、预设下限值及预设上限值进行比较，用以判断感测面板是否具有瑕疵。
2.如权利要求1所述的触控装置检测方法，其特征在于，该(A04)步骤中，若平整度信息中各平整度值介于预设平整度负比对值及预设平整度正比对值之间，则处理器判断该感测面板为良品。
3.如权利要求1所述的触控装置检测方法，其特征在于，该(A04)步骤中，若平整度信息中有平整度值介于预设下限值及预设平整度负比对值之间，或介于预设平整度正比对值及预设上限值之间时，则处理器判断该平整度值所属的局部二维感测信息所产生的瑕疵位于容许范围内，即该感测面板为次良品，并将该平整度值储存于存储器内。
4.如权利要求1所述的触控装置检测方法，其特征在于，该(A04)步骤中，若平整度信息中有平整度值小于预设下限值或大于预设上限值时，则处理器判断该感测面板为瑕疵品O
5.如权利要求1所述的触控装置检测方法，其特征在于，该(A03)步骤中: 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量及第二电容性耦合量； 对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值； 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第三电容性耦合量及第四电容性耦合量； 对第三电容性耦合量及第四电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值； 将第一差值及第二差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
6.如权利要求1所述的触控装置检测方法，其特征在于，该(A03)步骤中: 经由第一感测线、第二感测线及第三感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量、第二电容性耦合量及第三电容性耦合量； 对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值； 对第二电容性耦合量及第三电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值； 对第一差值及第二差值进行差动运算，以得到有第三差值； 经由第一感测线、第二感测线及第三感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第四电容性耦合量、第五电容性耦合量及第六电容性耦合量； 对第四电容性耦合量及第五电容性耦合量进行差动运算，以得到有第四差值； 对第五电容性耦合量及第六电容性耦合量进行差动运算，以得到有第五差值； 对第四差值及第五差值进行差动运算，以得到有第六差值； 将第三差值及第六差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
7.如权利要求1所述的触控装置检测方法，其特征在于，该(A03)步骤中: 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量及第二电容性耦合量； 对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值； 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第三电容性耦合量及第四电容性耦合量； 对第三电容性耦合量及第四电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值； 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第三驱动线的第五电容性耦合量及第六电容性耦合量； 对第五电容性耦合量及第六电容性耦合量进行差动运算，以得到有第三差值； 对第一差值及第二差值沿第二轴向进行差动运算得到第四差值； 对第二差值及第三差值沿第二轴向进行差动运算得到第五差值； 对第四差值及第五差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
8.—种互电容式触控装置，其特征在于，包含: 一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多条感测线； 一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以取得二维感测信息； 一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以对二维感测信息运算得到有平整度信息，及透过该平整度信息判断感测面板是否有瑕疵； 一存储器，电性连接于处理器，用以储存平整度值。
9.如权利要求8所述的触控装置，其特征在于，该感测面板包含一个或一个以上的感测层，当感测面板包含单一感测层时，感测面板的多条驱动线及多条感测线为配置在同一感测层；而当感测面板包含多个感测层时，多条驱动线及多条感测线为配置在不同感测层上。
10.如权利要求8所述的触控装置，其特征在于，该感测面板上的各驱动线及各感测线分别为沿第一轴向平行排列及沿第二轴向平行排列，且各感测线与各驱动线呈交越状，且驱动线可为正交或非正交于感测线。
11.如权利要求8所述的触控装置，其特征在于，该驱动及感测电路可包含独立的驱动芯片及独立的感测芯片，且驱动芯片与各驱动线形成电性连接，而感测芯片与各感测线形成电性连接；或驱动及感测电路亦可将驱动及感测功能整合为一体的单一芯片。
12.—种互电容式触控装置，其特征在于，包含: 一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多条感测线； 一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量及第二电容性耦合量; 对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值； 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第三电容性耦合量及第四电容性耦合量； 对第三电容性耦合量及第四电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值； 一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以将第一差值及第二差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
13.—种互电容式触控装置，其特征在于，包含: 一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多条感测线； 一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以经由第一感测线、第二感测线及第三感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量、第二电容性耦合量及第三电容性耦合量； 对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值； 对第二电容性耦合量及第三电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值； 对第一差值及第二差值进行差动运算，以得到有第三差值； 经由第一感测线、第二感测线及第三感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第四电容性耦合量、第五电容性耦合量及第六电容性耦合量； 对第四电容性耦合量及第五电容性耦合量进行差动运算，以得到有第四差值； 对第五电容性耦合量及第六电容性耦合量进行差动运算，以得到有第五差值； 对第四差值及第五差值进行差动运算，以得到有第六差值； 一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以将第三差值及第六差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
14.一种互电容式触控装置，其特征在于，包含: 一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多条感测线； 一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量及第二电容性耦合量; 对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值； 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第三电容性耦合量及第四电容性耦合量； 对第三电容性耦合量及第四电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值； 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第三驱动线的第五电容性耦合量及第六电容性耦合量； 对第五电容性耦合量及第六电容性耦合量进行差动运算，以得到有第三差值； 一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以对第一差值及第二差值沿第二轴向进行差动运算得到第四差值；对第二差值及第三差值沿第二轴向进行差动运算得到第五差值；对第四差值及第五差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
【专利摘要】本发明为有关一种触控装置检测方法，是供应用于互电容式触控装置的感测面板的瑕疵检测，且透过感测面板内布设的多条驱动线及感测线分别电性连接于驱动及感测单元，进而于检测过程中，利用驱动及感测单元取于多条驱动线及感测线之间取得二维感测信息，并由触控装置内部的处理器对二维感测信息进行运算，以得到有多个平整度值所组成的平整度信息，再进一步以平整度信息中各平整度值来判断感测面板是否有发生异常现象的区域，由此淘汰制程中的触控装置瑕疵品，达到提升触控装置的产品良率的目的。
【IPC分类】G06F3-044
【公开号】CN104750332
【申请号】CN201410426330
【发明人】张钦富, 叶尚泰
【申请人】禾瑞亚科技股份有限公司
【公开日】2015年7月1日
【申请日】2014年8月27日
【公告号】US20150185276