电子电路的再利用与验证方法
【技术领域】
[0001] 本发明关于一种电子电路设计方法，特别是关于一种验证先前电子电路中的元件 可否被再利用于新电子电路中的方法。
【背景技术】
[0002] 随着半导体科技以及电子电路设计技术的快速发展，业界中已经设计出各种不同 且复杂的印刷电路板（Printed Circuit Boards，PCBs)。印刷电路板由如电阻、电容、晶体 管等电子元件的连接，利用金属互连件将上述元件连接至集成电路（Integrated Circuit， IC)，以及将导电线、垫片以及其他部件布设印刷在一基板上而形成。
[0003] 因应复杂的电子电路设计以及设计时程需求，电子设计自动化（Electronic Design Automation，EDA)软件与电子计算机辅助设计（Electrical Computer Aided Design，ECAD)软件在电子电路设计、测试以及验证中被广泛地使用。
[0004] 在电路设计中，各个元件皆赋予独特的元件编号（如U1、R1、C27等），各个元件及 其接脚可由图形符号逻辑性地表示，各个接脚可赋予独特的数字代号以及使用叙述。电路 设计者将各个元件的接脚逻辑性地相连接，以形成用于执行特定功能的电子电路，如执行 数据位传输、进行两个数据位之间的比较、以及放大功率等功能。电子电路的元件及其接脚 之间的连接可藉由EDA与ECAD软件导出的文本文件来表示。
[0005] 此外，元件编号及其接脚代号通常是内建在EDA与ECAD软件之中，由不同制造商 所提供的同样元件通常具有同样的形式、配适度及功能，因而会以公司料号进行编号。因 此，相同的电路设计很有可能会因为同样的元件编号而使用不同制造商所提供的元件。
[0006] 在设计新电路时，由于先前电路设计中的某些部分可在相关应用中提供所需的功 能，电路设计者可选择将先前电路设计中的所述些部分再利用。此外，新电路很有可能仅改 变了先前电路设计中的一小部分设计。
[0007] 惟，在将先前电路设计中再利用的部分精确地复制到新电路设计中的同时，必须 确保新电路能正常运作。藉由人工方式来检查先前电路设计中的再利用部分是否被正确复 制，不但耗时费力，且很容易在检查时漏掉而发生错误。
[0008] 为了能够达到减少设计错误以及缩短新电路设计时程的目的，需要一种能够将新 电路设计与先前电路设计自动进行比较的方法。
【发明内容】
[0009] 为了解决现有技术中的上述缺点，本发明的一目的在于提供一种电子电路的再利 用与检验方法，使得先前的电路设计可以正确地被再利用于新电路设计中。
[0010] 为了达成上述的目的，本发明提供一种再利用与检验电子电路的方法，所述方法 包括了下述步骤：将新电路设计的公司料号与前电路设计的公司料号进行比较；判定新电 路设计的公司料号与前电路设计的公司料号是否相同；若所述新电路设计的公司料号与所 述前电路设计的公司料号相符，汇报所述新电路设计与所述前电路设计具有相同的公司料 号；判定新电路设计的电路指纹与前电路设计的电路指纹是否吻合；以及，若新电路设计 的电路指纹与前电路设计的电路指纹吻合，则确认并且汇报前电路设计于新电路设计中再 利用，其中，所述电路指纹为元件间的连接关系。
[0011] 较佳地，所述电路指纹为一主动元件及/或一集成电路与多个被动元件、接地及/ 或电源的连接关系。
[0012] 较佳地，本发明所提供的方法可以进一步包括下述步骤：产生包括前电路设计的 公司料号的一第一数据库，产生所述第一数据库的步骤在比较新电路设计的公司料号与前 电路设计的公司料号的步骤之前进行。
[0013] 较佳地，本发明所提供的方法可以进一步包括下述步骤：产生与前电路设计的多 个接脚相对应的多个连接字符串；以及产生一第二数据库，所述第二数据库包括与前电路 设计的所述多个接脚相对应的所述多个连接字符串。
[0014] 较佳地，本发明所提供的方法可以进一步包括下述步骤：若所述新电路设计的公 司料号与所述前电路设计的公司料号不相符，汇报所述新电路设计与所述前电路设计具有 不同的公司料号。
[0015] 较佳地，在判定所述新电路设计的电路指纹与所述前电路设计的电路指纹是否吻 合的步骤之后，若新电路设计的电路指纹与前电路设计的电路指纹相吻合，汇报新电路设 计与前电路设计具有相同的接脚。
[0016] 较佳地，在判定所述新电路设计的电路指纹与所述前电路设计的电路指纹是否吻 合的步骤之后，若新电路设计的电路指纹与前电路设计的电路指纹不吻合，汇报新电路设 计与前电路设计具有不同的接脚。
[0017] 较佳地，本发明所提供的方法可以进一步包括下述步骤：若所述新电路设计的电 路指纹与所述前电路设计的电路指纹不吻合，显示两个电路设计中之元件的连接不同处。
[0018] 较佳地，所述多个连接字符串根据一元件的接脚与其他元件之连接关系而产生的 一系列的数字、符号及字母的组合，其中，所述符号包括下划线符合、冒号、以及竖线符号， 例如"_" ： 以及"|"。
[0019] 较佳地，所述元件可为一主动元件、一集成电路及一被动元件的其中之一，但并非 仅限于此。
[0020] 较佳地，新电路设计的电路指纹以及前电路设计的电路指纹根据多个连接字符串 并藉由哈希函数算法中的任一种，例如循环冗余校验（Cyclical Redundancy Check, CRC) 方法，来产生。
[0021] 较佳地，所述电路指纹包括所述主动元件、所述集成电路、以及所述多个被动元件 之公司料号、接脚、以及其连接关系的信息。
[0022] 较佳地，由于所述多个被动元件具有两个接脚，即使在被反向放置时，也不会改变 所述电子电路的整体效能。
[0023] 较佳地，若所述主动元件或所述集成电路与一被动元件相连接，则可透过所述被 动元件与另一主动元件的连接来追踪所述被动元件的数值。
[0024] 较佳地，所述电路指纹是由一系列的数字及字母的组合来表示。
[0025] 较佳地，所述电子电路可包括多个主动元件、多个被动元件、多个集成电路及复数 条接线，但并非仅限于此。
[0026] 较佳地，所述多个集成电路可为微电路（microcircuit)、微芯片（microchip)或 芯片（chip)，但并非仅限于此。
[0027] 较佳地，根据本发明的一示例性实施例，本发明的方法可以由程序语言中的任一 种以及哈希函数算法（Hash Function Algorithm)中的任一种来进行。
[0028] 较佳地，根据本发明的一示例性实施例，本发明所使用的程序语言可以为Java、C 家族的程序语言或者其他类似的程序语言，但并非仅限于此。
[0029] 较佳地，根据本发明的一示例性实施例，本发明所使用的一种哈希函数可以为讯 息摘要算法函数第五版（Message-Digest Algorithm Function, MD5)，举例来说，用于产生 128位（16字符）的哈希值或类似的数值，惟，本发明所使用的哈希函数并不限于此。
[0030] 如上所述，本发明所提供之电子电路的再利用与验证方法，可以带来下述的优点： 透过各个电子元件的电路指纹，先前电路设计可以在新电路设计中被再利用；如此一来，便 能缩短新电路设计的时程，并且能减少产品的成本。
【附图说明】
[0031] 熟悉本领域的技术人士在配合附图研读下文中所述的较佳实施例后能够对其充 分了解并且可据以实施，其中，本发明的图式包括：
[0032] 图1为显示根据本发明的较佳实施例的利