一种提高具体器件模型参数提取精度的方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电路仿真建模技术领域，更具体的说，是涉及一种提高具体器件模型参数提取精度的方法及系统。
【背景技术】
[0002]传统的电路仿真对同一类参数化器件单元PCell采用同一器件模型，其忽略了器件电学工作条件，如工作时的电压范围、电流范围和频率范围等。如此，提取同一类参数化器件单元PCell的器件模型需要在所有器件的最大工作电压范围、电流范围和频率范围内进行，为了确保模型在全域范围内的最大误差最小，牺牲了器件模型在某些区域内的模型参数的提取精度，其结果是电路仿真精度的降低，电路仿真精度的降低在极深纳米工艺下的集成电路仿真将会表现得更为明显。
[0003]为此，有必要从模型参数提取的角度提高电路仿真精度。现有技术中代工厂提取器件模型参数所用的测试图形，制造出实际器件，利用测试仪器获取器件的1-V、c-ν电学数据；根据Ι-v和c-ν特性测量数据确定的器件工作电学范围；在上述的器件工作电学范围内提取器件的模型参数值；最后输出器件模型卡，其中包含器件模型各参数得值。传统方法中，对同一类器件采用的是同一个器件模型卡，忽略了电路设计中器件工作的电学范围，对此器件模型的提取隐含了器件特性测量时器件工作的最大电学范围，如此在一个大的电学范围内提取器件模型参数值必然降低了器件模型的提取精度，进而也降低了电路仿真的精度，传统方法中采用同一 PCell的器件共享同一器件模型卡，PCell和器件模型卡之间关系为一对一的对应关系。
[0004]因此，本发明提供一种提高具体器件模型参数提取精度的方法及系统，在一个大的电学范围内提取器件模型参数值降低了器件模型的提取精度，进而也降低了电路仿真的精度，是本领域技术人员亟待解决的问题。
【发明内容】
[0005]有鉴于此，本发明提供了一种提高具体器件模型参数提取精度的方法及系统，以克服现有技术中由于对同一类器件采用的是同一个器件模型卡，忽略了电路设计中器件工作的电学范围，对此器件模型的提取隐含了器件特性测量时器件工作的最大电学范围，如此在一个大的电学范围内提取器件模型参数值必然降低了器件模型的提取精度，进而降低了电路仿真的精度的问题。
[0006]为实现上述目的，本发明提供如下技术方案:
[0007]—种提高具体器件模型参数提取精度的方法，包括:
[0008]S1:获取所述器件的特性测量数据；
[0009]S2:根据所述特性测量数据确定所述器件的工作电学范围；
[0010]S3:将所述工作电学范围划分为至少两个工作电学子范围；
[0011]S4:在每个所述工作电学子范围内分别提取器件模型参数，并写入不同的模型卡;
[0012]S5:建立每一类器件模型卡的对应关系表，所述器件模型卡包括所述工作电学子范围的下限和上限以及对应的器件模型卡名；
[0013]S6:输入器件的工作电学范围搜索合适所述器件模型卡名的程序函数。
[0014]优选的，还包括:
[0015]S7:根据所述程序函数输出所述器件的每一个所述工作电学子范围对应的所述器件模型卡名。
[0016]优选的，所述步骤S3后还包括:
[0017]S8:对所述工作电学子范围进行预设规则的排序。
[0018]其中，所述特性测量数据包括电流、电压和频率。
[0019]其中，所述工作电学范围为电压、电流和频率构成的矢量空间。
[0020]其中，所述工作电学子范围之间可存在重叠区域或其中一个工作电学子范围对其他多个工作电学子范围存在包含关系。
[0021]本发明还公开了一种提高具体器件模型参数提取精度的系统，包括:
[0022]获取单元，用于获取所述器件的特性测量数据；
[0023]确定单元，用于根据所述特性测量数据确定所述器件的工作电学范围；
[0024]划分单元，用于将所述工作电学范围划分为至少两个工作电学子范围；
[0025]提取单元，用于在每个所述工作电学子范围内分别提取器件模型参数，并写入不同的模型卡；
[0026]建立单元，用于建立每一类器件模型卡的对应关系表，所述器件模型卡包括所述工作电学子范围的下限和上限以及对应的器件模型卡名；
[0027]搜索单元，用于输入器件的工作电学范围搜索合适所述器件模型卡名的程序函数。
[0028]优选的，该系统还包括:
[0029]输出单元，用于根据所述程序函数输出所述器件的每一个所述工作电学子范围对应的所述器件模型卡名。
[0030]优选的，所述划分单元后还包括:
[0031]排序单元，用于对所述工作电学子范围进行预设规则的排序。
[0032]经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本发明公开了一种提高具体器件模型参数提取精度的方法及系统，该方法包括:获取器件的特性测量数据；根据特性测量数据确定器件的工作电学范围；将工作电学范围划分为至少两个工作电学子范围；在每个工作电学子范围内分别提取器件模型参数，并写入不同的模型卡；建立每一类器件模型卡的对应关系表，器件模型卡包括工作电学子范围的下限和上限以及对应的器件模型卡名；输入器件的工作电学范围搜索合适器件模型卡名的程序函数；根据程序函数输出器件的每一个所述工作电学子范围对应的所述器件模型卡名。该方法通过缩小针对具体器件的模型参数提取范围，在较小的电学范围内提取参数，提高针对具体器件的模型参数提取精度，进而也提闻了电路仿真精度。
【附图说明】
[0033]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0034]图1为本发明实施例公开的一种提高具体器件模型参数提取精度的方法流程图；
[0035]图2为本发明实施例公开的PCell与器件模型卡之间的一对多的对应关系图；
[0036]图3为本发明实施例公开的所述工作电学范围划分示意图；
[0037]图4为本发明实施例公开的电学子范围之间重叠区域示意图；
[0038]图5为本发明实施例公开的电学子范围包含其他子范围区域示意图；
[0039]图6为本发明实施例公开的一种提高具体器件模型参数提取精度的方法进一步流程图；
[0040]图7为本发明实施例公开的一种提高具体器件模型参数提取精度的系统结构示意图；
[0041]图8为本发明实施例公开的一种提高具体器件模型参数提取精度的系统进一步结构示意图。
【具体实施方式】
[0042]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0043]本发明公开了一种提高具体器件模型参数提取精度的方法及系统，该方法包括:获取器件的特性测量数据；根据特性测量数据确定器件的工作电学范围；将工作电学范围划分为至少两个工作电学子范围；在每个工作电学子范围内分别提取器件模型参数，并写入不同的模型卡；建立每一类器件模型卡的对应关系表，器件模型卡包括工作电学子范围的下限和上限以及对应的器件模型卡名；输入器件的工作电学范围搜索合适器件模型卡名的程序函数；根据程序函数输出器件的每一个所述工作电学子范围对应的所述器件模型卡名。该方法通过缩小针对具体器件的模型参数提取范围，在较小的电学范围内提取参数，提闻针对具体器件的t旲型参数提取精度，进而也提闻了电路仿真精度。
[0044]请参阅附图1，为本发明实施例公开的一种提高具体器件模型参数提取精度的方法流程图。本发明实施例公开了一种提高具体器件模型参数提取精度的方法，该方法的具体流程步骤包括:
[0045]步骤S1:获取器件的特性测量数据；
[0046]优选的，所述特性测量数据包括电流、电压和频率。代工厂设计提取器件模型参数所用的测试图形，制造出实际器件，利用测试仪器获取器件的1-v、c-v电学数据。
[0047]步骤S2:根据特性测量数据确定器件的工作电学范围；
[0048]优选的，上述所述工作电学范围为电压、电流和频率构成的矢量空间。根据1-V和C-ν特性测量数据确定的器件工作电学范围；对上述器件工作电学范围进行细分得到若干电学子范围。对于工作电学范围进行划分PCell与器件模型卡之间的关系从传统的一对一对应关系变一对多的对应关系，如图2所示，为本发明实施例公开的PCell与器件模型卡之间的一对多的对应关系图。
[0049]步骤S3:将工作电学范围划分为至少两个工作电学子范围；
[0050]步骤S4:在每个工作电学子范围内分别提取