位置传感器的制造方法
【专利说明】位置传感器
[0001]技术区域
[0002]本发明涉及一种以光学方式检测位置的位置传感器。
【背景技术】
[0003]以往，提出了一种以光学方式探测按压位置的位置传感器(例如参照专利文献1)。关于该位置传感器，沿纵横方向配置作为光路的多个芯，通过用包层覆盖这些芯的周缘部来形成片状的光波导，使来自发光元件的光射入到上述各芯的一个端面，并利用受光元件在各芯的另一个端面感测在各芯内传播的光。而且，当用手指等按压该片状的位置传感器的表面的一部分时，该按压部分的芯被挤压(按压方向的芯的截面积变小)，在该按压部分的芯中，光传播量减少，上述受光元件处的光感测量降低，因此能够探测上述按压位置。
[0004]S卩，在以这种方式纵横配置的芯内传播光的状态下，表示上述受光元件从上述各芯接收光的受光强度的曲线图通常如图6的(a)所示那样，上述受光侧的横边部的中央部和纵边部的中央部变强。在此，各芯按其排列顺序与受光元件的受光部的各像素连接。
[0005]在该状态下，例如如果在上述位置传感器的中央部分用笔、手指等输入文字等，则位置传感器的表面的一部分被该笔尖、指尖等按压，在该按压部分，上述受光元件处的受光强度变弱，上述曲线图也如图6的(b)所示那样，与上述按压部分对应的部分下降。
[0006]而且，为了探测进行了输入的上述笔尖、指尖等的位置(坐标)，需要识别上述受光强度变弱的部分(按压部分)。因此，如图6的(c)所示，设定上述受光强度的阈值，通过使受光强度比该阈值弱来探测上述笔尖、指尖等的位置(坐标)。
[0007]专利文献1:日本特开平8-234895号公报
【发明内容】
_8] 发明要解决的问题
[0009]然而，在上述情况下，受光强度比阈值弱的部分并非仅仅是上述按压部分，在图6的(c)所示的4处粗箭头部分D也存在受光强度比阈值弱的部分。因此，无法正确地探测上述笔尖、指尖的位置。
[0010]因此，本发明人在开始使用时进行一次如图7的(a)所示那样将图6的(a)所示的具有强弱的受光强度设为基准(100%)的处理(参照值获取)，相对于该使用开始时的参照值获取重新设定阈值(例如，相对于上述受光强度的基准为50%的值)。通过这样，如图7的(b)所示，只有被上述笔尖、指尖等按压的按压部分比上述新阈值小，能够正确地探测上述笔尖、指尖等的位置。
[0011]然而，即使是这样的位置传感器，根据情况也存在上述笔尖、指尖的探测不正确的情形。因此，本发明人研究其原因，结果得知其原因是:在输入时，如果拿着上述笔等的手放在上述片状的位置传感器上等，则上述光波导变形，进行了上述参照值获取的受光强度杂乱，尽管没有用上述笔尖、指尖等进行输入也出现低于上述新阈值的部分。得知上述位置传感器在该点上有改善的余地。
[0012]本发明是鉴于这种情况而完成的，其目的在于提供一种即使受光元件处的受光强度杂乱也能够维持笔尖、指尖等的按压位置的探测正确性的位置传感器。
_3] 用于解决问题的方案
[0014]为了实现上述目的，本发明的位置传感器采用以下结构:具备下述片状的光波导(A)、与该光波导的芯的一个端面相连接的发光元件、与上述芯的另一端面相连接的受光元件，由上述发光元件发出的光经由上述光波导的芯而被上述受光元件接收，将与上述光波导的格子状的芯部分对应的上包层的表面部分作为输入区域，根据由向该输入区域的任意部位的按压导致的上述芯的光传播量的变化来确定该按压的部位，该位置传感器的特征在于，具备:基准化单元，其从该位置传感器的使用开始时起以规定的时间间隔间歇性地将上述受光元件从上述芯接收光的受光强度设定为固定基准值；以及基准化中止单元，其在上述受光元件感测到由上述按压导致的上述芯的光传播量的变化时，中止由上述基准化单元进行的基准值设定。
[0015]片状的光波导(A)是在片状的下包层的表面将多个线状的芯配置形成为格子状，并将上包层以覆盖这些芯的状态形成为片状而得到的。
_6] 发明的效果
[0017]本发明的位置传感器具备从该位置传感器的使用开始时起以规定的时间间隔间歇性地将受光元件从芯接收光的受光强度设定为固定基准值的基准化单元，因此，对于本发明的位置传感器，即使例如将手放在位置传感器上等而导致光波导变形、受光元件处的受光强度杂乱，也会在规定时间内再次将受光强度设定为固定基准值。以规定的时间间隔反复进行该设定。由此，即使如上所述那样受光元件处的受光强度杂乱，也会在规定时间内再次将受光强度设定为固定基准值，在用笔、手指等进行输入时，只有被其前端(笔尖、指尖等)按压的按压部分的受光强度变小，能够正确地探测其按压位置。而且，本发明的位置传感器具备基准化中止单元，因此，当如上所述那样探测到笔尖、指尖等的按压位置时，中止将上述受光强度设定为固定基准值的设定。由此，能够防止由于将上述受光强度设定为固定基准值而消除所探测到的上述按压位置的位置数据。
[0018]特别是，在利用上述基准化单元将受光强度设定为固定基准值的规定的时间间隔在50ms?5000ms的范围内的情况下，能够在通常使用本发明的位置传感器时适当地进行输入。
【附图说明】
[0019]图1示意地表示本发明的位置传感器的一个实施方式，(a)是其俯视图，(b)是其主要部位的放大截面图。
[0020]图2的(a)是表示通常状态下的上述位置传感器的受光元件处的受光强度的曲线图，(b)是表示对(a)进行基准化处理后的光的强度比的曲线图，(c)是表示在(b)中探测到按压位置的状态的曲线图。
[0021]图3是表示上述位置传感器的CPU中的程序的流程图的一例的说明图。
[0022]图4的(a)?(f)是示意地表示上述位置传感器中的格子状的芯的交叉方式的放大俯视图。
[0023]图5的(a)、(b)是示意地表示上述格子状的芯的交叉部处的光的行进路径的放大俯视图。
[0024]图6的(a)是表示通常状态下的以往的位置传感器的受光元件处的受光强度的曲线图，(b)是表示在(a)中探测到按压位置的状态的曲线图，(c)是表示在(b)中设定了阈值的状态的曲线图。
[0025]图7的(a)是表示对上述图6的(a)进行基准化处理后的光的强度比的曲线图，(b)是表示在(a)中探测到按压位置的状态的曲线图。
【具体实施方式】
[0026]接着，基于附图来详细地说明本发明的实施方式。
[0027]图1的(a)是表示本发明的位置传感器的一个实施方式的俯视图，图1的(b)是将其中央部的截面放大后的图。该实施方式的位置传感器具备:四边形片状的光波导W，其是用四边形片状的下包层1和上包层3夹持格子状的芯2而得到的；发光元件4，其与构成上述格子状的芯2的线状的芯2的一个端面相连接；以及受光元件5，其与上述线状的芯2的另一个端面相连接。而且，从上述发光元件4发出的光在上述芯2中经过并被上述受光元件5接收。而且，与格子状的芯2的部分对应的上包层3的表面部分成为输入区域。此夕卜，在图1的(a)中，用虚线表示芯2，虚线的粗细表示芯2的粗细。另外，在图1的(a)中，省略芯2的数量地进行图示。而且，图1的(a)的箭头表示光的行进方向。
[0028]而且，该实施方式的位置传感器不仅在使用开始时进行在上述以往的位置传感器中进行的、将受光元件5从各芯2接收光的受光强度设定为固定基准值的基准化处理(参照值获取)(参照图7)，还从使用开始时起以规定的时间间隔间歇性地进行上述基准化处理。而且，当在用笔、手指等输入时受光元件5感测到由其笔尖、指尖等的按压造成的上述芯2的光传