存储设备测试方法、装置、电视机以及存储介质与流程

本发明涉及存储技术领域，特别涉及一种存储设备测试方法、装置、电视机以及计算机可读存储介质。

背景技术：

emmc(embeddedmultimediacard)是一种嵌入式的存储设备，由于其可靠性较好，emmc已经非常广泛的使用在各种的智能设备上。

随着供应链变更以及电视机更新换代，电视机厂商经常会更换电视机的emmc。在对电视机的emmc设备进行替换之前，需要按照emmc器件的规格书，配置新的emmc自身的参数，以对新的emmc芯片进行全面测试，并在验证新的emmc没有问题后才能导入试产。

目前，emmc兼容性测试就是用仪器测试一下待使用的emmc信号的质量及时序测试，以获得测试结果，基于测试结果确定待使用的emmc是否合格。

但是，采用现有的测试方法，获得的待使用的emmc的测试结果准确率较低。

技术实现要素：

本发明的主要目的是提供一种存储设备测试方法、装置、电视机以及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中采用现有的测试方法，获得的待使用的emmc的测试结果准确率较低的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出一种存储设备测试方法，用于电视机，所述方法包括以下步骤：

对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；

对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；

对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；

对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；

基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。

可选的，所述对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果的步骤，包括：

在获取到目标多媒体文件时，将所述目标多媒体文件存储到所述待检测存储设备；

在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度；

基于所述写入速度和所述播放状态，获得所述稳定性测试结果。

可选的，所述在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度的步骤之前，所述方法还包括：

关闭所述电视机的红外遥控功能。

可选的，所述对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果的步骤，包括：

获取所述待检测存储设备数据分区的预置存储空间；

基于所述预置存储空间，确定有效块数；

基于所述有效块数，配置预设写速测试脚本和预设读速测试脚本，以获得获得写速测试脚本和读速测试脚本；

利用所述写速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得写速测试结果；

利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果；

基于所述读速测试结果和所述写速测试结果，获得所述性能测试结果。

可选的，所述利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果的步骤，包括：

在所述电视机重启之后，利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果。

可选的，所述对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果的步骤，包括：

在所述电视机处于低温环境内时，利用老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第一子老化测试结果；

在所述电视机处于高温环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第二子老化测试结果；

在所述电视机处于温度循环环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第三子老化测试结果；

基于所述第一子老化测试结果、所述第二子老化测试结果和所述第三子老化测试结果，获得所述老化测试结果。

可选的，所述对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果的步骤，包括：

在对所述待检测存储设备写入数据时，断开所述待检测存储设备与电源的连接；

重新连接所述待检测存储设备与所述电源；

检测所述待检测存储设备中数据的描述信息；

基于所述描述信息，获得所述掉电可靠性测试结果。

此外，为实现上述目的，本发明还提出了一种存储设备测试装置，用于电视机，所述装置包括：

第一测试模块，用于对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；

第二测试模块，用于对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；

第三测试模块，用于对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；

第四测试模块，用于对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；

获得模块，用于基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。

此外，为实现上述目的，本发明还提出了一种电视机，所述电视机包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被所述处理器执行时实现如上述任一项所述的存储设备测试方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如上述任一项所述的存储设备测试方法的步骤。

本发明技术方案提出了一种存储设备测试方法，用于电视机，通过对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。

采用现有的测试方法，获得的测试结果只包括待检测的存储设备的信号指令和时序信息，测试过程的测试项目较少，测试结果包括的信息不全面，使得测试结果的准确率较低。而采用本发明的存储设备测试方法，基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果，测试过程中涉及多个测试项目，测试结果报的信息较全面，使得测试结果的准确率较高。所以，利用本发明的存储设备测试方法，提高了存储设备测试的准确率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的电视机结构示意图；

图2为本发明存储设备测试方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明存储设备测试装置第一实施例的结构框图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的电视机结构示意图。

通常，电视机包括：至少一个处理器301、存储器302以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备测试程序，所述存储设备测试程序配置为实现如前所述的存储设备测试方法的步骤。

处理器301可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器301可以采用dsp(digitalsignalprocessing，数字信号处理)、fpga(field－programmablegatearray，现场可编程门阵列)、pla(programmablelogicarray，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器301也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称cpu(centralprocessingunit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器301可以在集成有gpu(graphicsprocessingunit，图像处理器)，gpu用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。处理器301还可以包括ai(artificialintelligence，人工智能)处理器，该ai处理器用于处理有关存储设备测试方法操作，使得存储设备测试方法模型可以自主训练学习，提高效率和准确度。

存储器302可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器302还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中，存储器302中的非暂态的计算机可读存储介质用于存储至少一个指令，该至少一个指令用于被处理器301所执行以实现本申请中方法实施例提供的存储设备测试方法。

在一些实施例中，终端还可选包括有：通信接口303和至少一个外围设备。处理器301、存储器302和通信接口303之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与通信接口303相连。具体地，外围设备包括：射频电路304、显示屏305和电源306中的至少一种。

通信接口303可被用于将i/o(input/output，输入/输出)相关的至少一个外围设备连接到处理器301和存储器302。在一些实施例中，处理器301、存储器302和通信接口303被集成在同一芯片或电路板上；在一些其他实施例中，处理器301、存储器302和通信接口303中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现，本实施例对此不加以限定。

射频电路304用于接收和发射rf(radiofrequency，射频)信号，也称电磁信号。射频电路304通过电磁信号与通信网络以及其他通信设备进行通信。射频电路304将电信号转换为电磁信号进行发送，或者，将接收到的电磁信号转换为电信号。可选地，射频电路304包括：天线系统、rf收发器、一个或多个放大器、调谐器、振荡器、数字信号处理器、编解码芯片组、用户身份模块卡等等。射频电路304可以通过至少一种无线通信协议来与其它终端进行通信。该无线通信协议包括但不限于：城域网、各代移动通信网络(2g、3g、4g及5g)、无线局域网和/或wifi(wirelessfidelity，无线保真)网络。在一些实施例中，射频电路304还可以包括nfc(nearfieldcommunication，近距离无线通信)有关的电路，本申请对此不加以限定。

显示屏305用于显示ui(userinterface，用户界面)。该ui可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。当显示屏305是触摸显示屏时，显示屏305还具有采集在显示屏305的表面或表面上方的触摸信号的能力。该触摸信号可以作为控制信号输入至处理器301进行处理。此时，显示屏305还可以用于提供虚拟按钮和/或虚拟键盘，也称软按钮和/或软键盘。在一些实施例中，显示屏305可以为一个，电子设备的前面板；在另一些实施例中，显示屏305可以为至少两个，分别设置在电子设备的不同表面或呈折叠设计；在再一些实施例中，显示屏305可以是柔性显示屏，设置在电子设备的弯曲表面上或折叠面上。甚至，显示屏305还可以设置成非矩形的不规则图形，也即异形屏。显示屏305可以采用lcd(liquidcrystaldisplay，液晶显示屏)、oled(organiclight-emittingdiode,有机发光二极管)等材质制备。

电源306用于为电子设备中的各个组件进行供电。电源306可以是交流电、直流电、一次性电池或可充电电池。当电源306包括可充电电池时，该可充电电池可以支持有线充电或无线充电。该可充电电池还可以用于支持快充技术。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对电视机的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

此外，本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如上文所述的存储设备测试方法的步骤。因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本申请所涉及的计算机可读存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述。确定为示例，程序指令可被部署为在一个电视机上执行，或者在位于一个地点的多个电视机上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个电视机备上执行。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，上述的计算机可读存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-onlymemory，rom)或随机存储记忆体(randomaccessmemory，ram)等。

基于上述硬件结构，提出本发明存储设备测试方法的实施例。

参照图2，图2为本发明存储设备测试方法第一实施例的流程示意图，所述方法用于电视机，所述方法包括以下步骤：

步骤s11：对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果。

需要说明的是，本发明的执行主体是电视机，电视机安装有存储设备测试程序，电视机执行存储设备测试程序时，实现本发明的存储设备测试方法。其中，本发明的待检测的存储设备是指待检测的emmc。

通常，同一品牌同一型号的emmc，其各项指标是相同的，只需要在其中取出一部分进行抽样测试即可。通常，将待检测emmc安装于电视机，电视机执行本发明的存储设备测试方法，以实现对待检测emmc的检测。

具体的，所述对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果的步骤，包括：在获取到目标多媒体文件时，将所述目标多媒体文件存储到所述待检测存储设备；在所述目标多媒体文件处于播放状态，且利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入时，获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度；基于所述写入速度和所述播放状态，获得所述稳定性测试结果。

需要说明的是，本发明的目标多媒体文件通常是视频文件，即在播放待检测存储设备存储的视频文件时，利用写入脚本对所述待检测存储设备进行数据写入，并获取所述目标多媒体报文件的播放状态和所述待检测存储设备的写入速度。

具体应用中，首先，用touch/data/emmc_write.sh命名在/data目录下新建一个emmc_write.sh脚本文件；然后，用chmod777/data/emmc_write.sh命令修改文件权限；之后，更改emmc_write.sh脚本文件如下：

count＝0计测试次数为0

echo"startemmcwritetest..............."重复“开始emmc写入测试”

while[$count！＝5000]当累计测试次数＝5000时

do

letcount＝count+1测试次数+1

echo"emmcwritecount>>>>>>>>>>>>$count"

ddif＝/dev/zeroof＝/data/data/1bs＝1024000count＝25000把/data/data清空操作

sync

done

echo"emmcwritetestpass..............."

再之后，把视频文件拷贝到/storage/emulated/0/目录下，/storage/emulated/0/为虚拟sd卡分区，不是真的把挂载sd卡到电视，是用emmc的data分区做的虚拟sd卡分区；之后，进入本地媒体单曲循环播放此视频文件；为了避免测试过程中受到干扰，通过该命令：stopandroid_ir_user，关闭电视机的红外功能，然后执行脚本emmc_write.sh。运行5000次，在运行过程中确定视频播放是否正常(图像，声音是否正常，是否有出现卡顿现象)，待检测emmc的写速度是否有比较大的差异，并以此来获得待检测emmc的稳定性测试结果。

当视频播放正常，且待检测emmc的写速度差异不大时，待检测emmc的稳定性测试结果为稳定性较好(或稳定性合格等)。

步骤s12：对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果。

具体的，所述对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果的步骤，包括：获取所述待检测存储设备数据分区的预置存储空间；基于所述预置存储空间，确定有效块数；基于所述有效块数，配置预设写速测试脚本和预设读速测试脚本，以获得获得写速测试脚本和读速测试脚本；利用所述写速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得写速测试结果；利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果；基于所述读速测试结果和所述写速测试结果，获得所述性能测试结果。其中，所述利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果的步骤，包括：在所述电视机重启之后，利用所述读速测试脚本对所述待检测存储设备进行测试，以获得读速测试结果。

具体应用中，使用df命令查看待检测存储设备的data分区(数据分区)的大小(预置存储空间的大小)，然后，修改读写命令的count值，使得bs的值乘上count的值接近data分区的大小，以32gemmc为例，data分区大概25g。使用如下命令进行写速度测试，记录写速度(count的值随分区大小改变，例如，data分区大小为25g，则count值为25000，data分区大小为50g，则count值为50000。需要利用count值对预设读速测试脚本和预设写速测试脚本进行配置，另外，本申请中的预设读速测试脚本和预设写速测试脚本均可以用通等功能的测试命令代替)，命令为：ddif＝/dev/zeroof＝/data/data/1bs＝1024000count＝25000(此命令为写操作，把/data/data清空操作)；然后，重启电视使用如下命令进行读速度测试，记录读速度(count的值随分区大小而改变)，命令为：ddof＝/dev/nullif＝/data/data/1bs＝1024000count＝25000。其中，一般进行读写性能测试时，先进行写性能测试，进行写测试时候，重启电视机后，再进行读测试，而且读写的文件大小要尽量大，尽可能接emmc的data分区的大小，这样测出来的数据才是比较准确的。

步骤s13：对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果。

具体的，在所述电视机处于低温环境内时，利用老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第一子老化测试结果；在所述电视机处于高温环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行所述预设时长的测试，以获得第二子老化测试结果；在所述电视机处于温度循环环境内时，利用所述老化测试脚本，对所述待检测存储设备进行预设时长的测试，以获得第三子老化测试结果；基于所述第一子老化测试结果、所述第二子老化测试结果和所述第三子老化测试结果，获得所述老化测试结果。

需要说明的是，在对待检测存储设备进行老化测试时，需要涉及到低温环境、高温环境和温度循环环境，其中，高温环境可以是90摄氏度，低温环境可以是-35摄氏度，温度循环环境用户可以基于实际需求确定，具体参数本发明不做限制。另外，预设时长可以是7天。

具体应用中，创建一个mmc.sh脚本，更改如下：

sleep10

count＝1

whiletrue

do

echo".write.............$count"

sync

ddof＝/data/mmc_testif＝/dev/block/mmcblk0p8

sync

count＝$(($count+1))

echo"..read...........$count"

sync

ddif＝/dev/block/mmcblk0p8of＝/dev/ram1

sync

count＝$(($count+1))

rm/data/mmc_test

然后，更改mmc.sh脚本的执行权限，chmod777/data/mmc.sh；再之后，将电视放入设定温度的温箱内，进行老化(高温环境、低温环境和温度循环环境)测试，执行脚本上述mmc.sh，并保存log文件(日志文件)，以基于日志文件，获得老化测试结果。若测试过程中未出现emmc报错和电视系统异常等问题，老化测试结果为待检测存储设备老化测试合格。

步骤s14：对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果。

具体的，所述对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果的步骤，包括：在对所述待检测存储设备写入数据时，断开所述待检测存储设备与电源的连接；重新连接所述待检测存储设备与所述电源；检测所述待检测存储设备中数据的描述信息；基于所述描述信息，获得所述掉电可靠性测试结果。

需要说明的是，所述描述信息即为待检测存储中的数据完整性描述，即，当描述信息为数据完整时，待检测存储设备的掉电可靠性测试结果为掉电可靠性较好(或待检测存储设备的掉电可靠性测试合格)；当描述信息为数据不完整时，待检测存储设备的掉电可靠性测试结果为掉电可靠性较差(或待检测存储设备的掉电可靠性测试不合格)。

具体应用中，device/hisilicon/bigfish/sdk/source/boot/fastboot/include/configs/s5.h文件中增加如下的宏定义，这个宏定义就是打开emmc掉电可靠性测试的开关#defineconfig_emmc_hw_test；修改完后，重新编译boot，烧录编译生成的fastboot-burn.bin，将电视机串口和电脑相连；重新电视机开关电源后，自动进入循环5000次的emmc掉电可靠性测试。

测试过程中需保存log信息(日志信息),测试时间较长，测试停止后请确保不要重新开关电源，否则可能看不到最终的测试结果。测试停止后如果有“err:emmctestfail”打印，或者未满5000次循环测试就停止，则不合格。测试5000次完成后，会有“emmctestcomplete,noerror.”这样的打印，则测试合格。

另外，errorconditions(意外情况，以block块为单位进行读、写和擦除操作)包括两种：crcandillegalcommand，如果发送给某地址的设备的命令的crc检测错误，则不会执行这条命令，也不会回应；time-outconditions，读、写和擦除操作的超时时间，一般超时时间是典型时间的10倍，emmc规格书中规定了每种操作的超时时间。

步骤s15：基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。

将上文所述的多个测试结果进行整合，获得最终的测试结果，测试结果包括上述四个项目分别对应的测试结果。

在上述四个项目的测试结果均为合格时，最终的测试结果也为合格；当上述四个项目的测试结果有至少一项不合格时，最终的测试结果为不合格，测试结果会包括具体合格项和不合格项的具体信息。

本发明技术方案提出了一种存储设备测试方法，用于电视机，通过对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。

采用现有的测试方法，获得的测试结果只包括待检测的存储设备的信号指令和时序信息，测试过程的测试项目较少，测试结果包括的信息不全面，使得测试结果的准确率较低。而采用本发明的存储设备测试方法，基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果，测试过程中涉及多个测试项目，测试结果报的信息较全面，使得测试结果的准确率较高。所以，利用本发明的存储设备测试方法，提高了存储设备测试的准确率。

参照图3，图3为本发明存储设备测试装置第一实施例的结构框图，所述装置用于电视机，所述装置包括：

第一测试模块10，用于对待检测存储设备进行稳定性测试，以获得稳定性测试结果；

第二测试模块20，用于对所述待检测存储设备进行读写速度测试，以获得性能测试结果；

第三测试模块30，用于对所述待检测存储设备进行老化测试，以获得老化测试结果；

第四测试模块40，用于对所述待检测存储设备进行掉电可靠性测试，以获得可靠性测试结果；

获得模块50，用于基于所述稳定性测试结果、所述性能测试结果、所述老化测试结果和所述掉电可靠性测试结果，获得所述测试结果。

以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。