技术特征：
1.一种电子元件的功能测试设备，包括：一第一电源供应器，经配置以产生一第一供应电压；一第二电源供应器，经配置以产生一第二供应电压，该第二供应电压不同于该第一供应电压；以及一继电器系统，经配置以电性耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件，其中该第一供应电压施加到该电子元件在一第一持续时间，该第二供应电压施加到该电子元件在一第二持续时间，而该第二持续时间小于该第一持续时间。2.如权利要求1所述的功能测试设备，其中该功能测试设备提供有多个数据线、多个位址线以及多个控制线，而所述多个数据线、所述多个位址线以及所述多个控制线电性耦接到该电子元件。3.如权利要求1所述的功能测试设备，其中该继电器系统包括一继电器以及一微控制器，该继电器是由一继电器开关以及一磁化线圈所组成，该磁化线圈磁性耦接到该继电器开关，该微控制器经配置以控制该继电器开关的多个操作。4.如权利要求3所述的功能测试设备，其中该继电器系统还包括一电源以及一控制开关，该控制开关插置在该电源与该磁化线圈之间，其中该微控制器经配置以关闭或开启该控制开关，以控制该继电器开关的操作。5.如权利要求4所述的功能测试设备，其中该微控制器经配置以控制该控制开关的一截止状态的一第一时间区间以及该控制开关的一导通状态的一第二时间区间。6.如权利要求4所述的功能测试设备，还包括一电源管理电容器，其中该电源管理电容器的一端子电性耦接到该继电器开关与该电子元件，以及该电源管理电容器的另一端子为接地，其中当该继电器系统耦接该第一电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器通过该第一供应电压进行充电；当该继电器系统耦接该第二电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器通过该第二供应电压进行充电；以及当该继电器系统并未耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件时，该电源管理电容器放电以便为该电子元件供电。7.如权利要求6所述的功能测试设备，其中该继电器开关包括一共用接触点、一常闭接触点、一常开接触点以及一开关臂，该共用接触点电性耦接到该电子元件，该常闭接触点电性耦接到该第一电源供应器，该常开接触点电性耦接到该第二电源供应器，其中该开关臂通过该共用接触点弹簧加压，并连接该共用接触点到该常闭接触点。8.如权利要求7所述的功能测试设备，其中当该开关臂连接该共用接触点到该常闭接触点时，该第一供应电压施加到该电子元件。9.如权利要求7所述的功能测试设备，其中当该开关臂连接该共用接触点到该常开接触点时，该第二供应电压施加到该电子元件。10.如权利要求7所述的功能测试设备，其中当该开关臂连接该共用接触电到该常闭接触点时，该电源管理电容器通过该第一电源供应器进行充电；以及当该开关臂连接该共用接触点到该常开接触点时，该电源管理电容器通过该第二电源供应器进行充电。11.如权利要求7所述的功能测试设备，其中当该开关臂并未连接该共用接触点到该常闭接触点与该常开接触点其中任何一个时，该电源管理电容器放电以便为该电子元件供电。
12.如权利要求7所述的功能测试设备，其中该电源管理电容器具有一电容值，是介于20微法拉到220微法拉之间。13.一种电子元件的测试方法，包括：耦接一电子元件到一功能测试设备，该功能测试设备包括一第一电源供应器、一第二电源供应器、一电源管理电容器以及一继电器开关，该继电器开关耦接到该电子元件，其中该第一电源供应器用于提供一第一供应电压，以及该第二电源供应器用于提供一第二供应电压，而该第二供应电压不同于该第一供应电压；操作该继电器开关在一第一关闭状态，以施加该第一供应电压到该电子元件；以及操作该继电器开关在一第二关闭状态，以施加该第二供应电压到该电子元件；其中该第一供应电压施加到该电子元件在一第一持续时间，以及该第二供应电压施加到该电子元件在一第二持续时间，而该第二持续时间小于该第一持续时间。14.如权利要求13所述的测试方法，还包括：当该继电器开关操作在该第一关闭状态时，以该第一供应电压对该电源管理电容器进行充电；当该继电器开关操作在该第二关闭状态时，以该第二供应电压对该电源管理电容器进行充电；以及当该继电器开关操作在一开启状态时，该电源管理电容器放电以便为该电子元件供电。15.如权利要求14所述的测试方法，其中该继电器开关操作在该开启状态的一第三持续时间，小于该第一持续时间。16.如权利要求15所述的测试方法，其中该第三持续时间小于该第二持续时间。17.如权利要求16所述的测试方法，其中当该继电器开关操作在该开启状态时，该电子元件并未通过该第一供应电压或该第二供应电压进行供电。18.如权利要求17所述的测试方法，其中该继电器开关从该第一关闭状态经由该开启状态而变动到该第二关闭状态，以及该继电器开关从该第二关闭状态经由该开启状态而变动到该第一关闭状态。19.如权利要求17所述的测试方法，其中该第一持续时间与该第二持续时间是由一微控制器所控制，该微控制器耦接到该继电器开关以及一磁化线圈，该磁化线圈磁性耦接到该继电器开关。
技术总结
本公开提供一种电子元件的功能测试设备以及该电子元件的测试方法。该功能测试设备具有一第一电源供应器、一第二电源供应器以及一继电器系统。该第一电源供应器经配置以产生一第一供应电压。该第二电源供应器经配置以产生一第二供应电压，该第二供应电压不同于该第一供应电压。该继电器系统经配置以电性耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件，其中该第一供应电压施加到该电子元件一第一持续时间，以及该第二供应电压施加到该电子元件一第二持续时间，该第二持续时间小于该第一持续时间。一持续时间。一持续时间。
技术研发人员：杨吴德
受保护的技术使用者：南亚科技股份有限公司
技术研发日：2021.08.17
技术公布日：2022/4/12