互补纳米线半导体器件及其制备方法与流程

文档序号:11235690阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明提供一种互补纳米线半导体器件及其制备方法,包括:提供一衬底,衬底上形成有NMOS有源区域、PMOS有源区域及浅沟槽隔离区域;在NMOS有源区域和PMOS有源区域上选择性外延生长锗晶体材料,以形成第一多边体外延线;选择性蚀刻衬底,使该第一多边体外延线悬空于衬底上方;在NMOS有源区域上方的第一多边体外延线的周围区域选择性外延生长III-V族半导体晶体材料,以形成第二多边体外延线;沉积介电材料于第一多边体外延线及第二多边体外延线,介电材料覆盖第一多边体外延线及第二多边体外延线;及沉积导电材料于介电材料,以形成包围第一多边体外延线及第二多边体外延线的栅极电极,其中第一多边体外延线作为第一纳米线,第二多边体外延线作为第二纳米线。

技术研发人员:肖德元
受保护的技术使用者:上海新昇半导体科技有限公司
技术研发日:2016.03.03
技术公布日:2017.09.12
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