一种高介电常数栅介质‑金属栅极的IGBT的制作方法

文档序号:12191517阅读:来源:国知局

技术特征:

1. 一种高介电常数栅介质-金属栅极的IGBT,其特征在于: 器件的栅极介质为铪硅氧氮化物(HfSiON);HfSiON栅极介质和外延层之间有一层SiON界面层;器件的栅极为TaN金属栅极。

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