技术特征：
技术总结
本发明涉及一种太阳能硅片的表面缺陷分选设备，包含抓取部件、环形轨道、检测部件、分拣装置、驱动系统和控制系统，其中分拣装置包含至少一个机械手和若干个料盘。采用本装置能够通过所述吸盘对所述硅片的一次取放及旋转即可实现对所述硅片正、反面的拍摄，以便对所述硅片进行外观尺寸及瑕疵的检测，无需将所述硅片进行翻面，简化抓取机构的结构，操作过程短，效率高，检测方便，减少机械损耗，通过所述机械手将不同等级的所述硅片对应放置，进一步提高效率，准确性更好，避免硅片产品额外损失，提高外观质量，降低成本。
技术研发人员：曹志明;张春雷;席劲松;谭平;唐星;赵成龙
受保护的技术使用者：成都福誉科技有限公司
技术研发日：2017.05.31
技术公布日：2017.07.21