一种半导体外壳定位装架结构的制作方法

文档序号:18179752发布日期:2019-07-17 05:08阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种半导体外壳定位装架结构,其特征在于:包括陶瓷体、封口环和直柱形本体,封口环叠置于陶瓷体上方且两者面贴合,直柱形本体穿过封口环并嵌入陶瓷体设有的内腔中,直柱形本体分别与封口环和陶瓷体的内腔形状匹配,封口环外部用于套装侧置式焊料环,侧置式焊料环叠置于陶瓷体上方。

2.如权利要求1所述的一种半导体外壳定位装架结构,其特征在于:所述直柱形本体上端设有倒角。

3.如权利要求2所述的一种半导体外壳定位装架结构,其特征在于:所述倒角为圆倒角。

4.如权利要求1所述的一种半导体外壳定位装架结构,其特征在于:所述侧置式焊料环与封口环之间的间隙0.1~0.2mm。

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