1.一种检测和定位设备，其包括多个光学传感器(q1、q2、q3、q4)，所述多个光学传感器具有共同限定所述检测和定位设备的场的场，每个传感器具有多个光电二极管(qi1、qi2、qi3、qi4)，所述多个光电二极管具有共同限定所述传感器的场的场，所述传感器以如下方式被连接到控制单元(10)：每个传感器提供对应于来自所述光电传感器中的至少两个光电二极管的信号之和的第一信号，所述第一信号对应于所有所述光电二极管(qi1、qi2、qi3、qi4)减去一个的信号之和，并且每个传感器提供第二信号，所述第二信号由来自没有考虑用于形成所述第一信号的光电二极管(qi1、qi2、qi3、qi4)的信号来形成。
2.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制单元(10)被布置成从每个传感器(q1、q2、q3、q4)的第一信号中减去其第二信号。
3.如权利要求1或权利要求2所述的设备，其特征在于，所述控制单元(10)被布置成求取每个传感器(q1、q2、q3、q4)的所述第一信号和所述第二信号的和。
4.如任何前述权利要求所述的设备，其特征在于，产生所述第一信号的各光电二极管(qi1、qi2、qi3、qi4)以永久方式彼此连接。
5.如权利要求1到4中任一项所述的设备，其特征在于，每个传感器的所述光电二极管(qi1、qi2、qi3、qi4)通过开关(20.1、20.2、20.3、20.4)以如下方式彼此连接：使得能够将所述光电二极管(qi1、qi2、qi3、qi4)中的任一者连接在一起，并且所述开关被连接到所述控制单元(10)从而由此被控制。
6.如权利要求5所述的设备，其特征在于，所述控制单元(10)被布置成以如下方式控制所述开关：从而改变提供所述第一信号的光电二极管((qi1、qi2、qi3、qi4)。
7.如权利要求5或权利要求6所述的设备，其特征在于，所述控制单元(10)被布置成周期性地按排列来改变所述光电二极管(qi1、qi2、qi3、qi4)，并过滤获得的测量。
8.如任何前述权利要求所述的设备，其特征在于，对于每个传感器(q1、q2、q3、q4)，所述光电二极管(qi1、qi2、qi3、qi4)数量为4。