一种大功率半导体生产用测试仪的制作方法

本实用新型涉及半导体生产技术领域，尤其涉及一种大功率半导体生产用测试仪。

背景技术：

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。半导体在生产成型后需要对其性能进行测试，而半导体的电阻率又是其最重要的性能之一。

现有的半导体测试仪只能对半导体常温下的电阻率进行测试，而温度是半导体电阻率的主要影响因素，需要对不同温度下半导体的电阻率均进行测试才能对其电阻率有一个综合的了解和分析；且现有的半导体测试仪在测试半导体不同部位的电阻率时，需要手动移动半导体或测试探针，操作较为麻烦，费时费力。

针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种大功率半导体生产用测试仪。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种大功率半导体生产用测试仪，包括主体和夹持座，所述主体顶部的两侧内壁焊接有同一个横梁，所述横梁顶部一侧焊接有第一电动伸缩杆，所述第一电动伸缩杆的伸缩端焊接有套环，所述套环套接于横梁上，所述套环底部焊接有第二电动伸缩杆，所述第二电动伸缩杆底部设有夹持座，所述第二电动伸缩杆的伸缩端伸入夹持座内部，所述第二电动伸缩杆的伸缩端和夹持座接触不连接，所述夹持座两侧内壁均焊接有弹簧，所述弹簧另一端均焊接有夹持臂，所述夹持臂中部均贯穿有固定轴，所述固定轴和夹持臂转动连接，所述固定轴的两端和夹持座内壁焊接连接，所述夹持臂底部焊接有检测探针。

优选的，所述夹持座顶部两侧焊接有支撑杆，且支撑杆顶部和套环底部焊接连接。

优选的，所述检测探针呈“l”型，所述检测探针顶部伸入夹持臂内部，所述检测探针顶部电性连接有同一个导线。

优选的，所述主体外壳内部中空，所述主体外壳内部均匀镶嵌有电热丝。

优选的，所述主体内部底部焊接有检测台，且检测台两端均焊接有下固定块，所述下固定块顶部设有上固定块，所述上固定块和下固定块通过锁紧螺栓固定。

优选的，所述主体的一侧内壁上设有温度计，所述主体顶部的中部设有显示屏，所述显示屏和主体镶嵌连接，所述显示屏和检测探针电性连接。

优选的，所述主体顶部的一侧设有两个开关按钮，且两个开关按钮分别和第一电动伸缩杆和第二电动伸缩杆电性连接，开关按钮一侧设有调节旋钮，且调节旋钮和电热丝电性连接。

本实用新型的有益效果为：

1.本实用新型通过电热丝对半导体进行加热，再用温度计测量主体内部温度实时显示在显示屏上，用检测探针对半导体的电阻率进行检测，可以测量半导体不同温度下的电阻率，可对该半导体的电阻率进行综合的分析，分析更全面、检测数据更可靠。

2.本实用新型通过第一电动伸缩杆使检测探针左右移动，可实现对半导体各个位置的检测，无需人工手动移动检测探针或半导体，省时省力，检测效率高。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种大功率半导体生产用测试仪的内部示意图；

图2为本实用新型提出的一种大功率半导体生产用测试仪的夹持座结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种大功率半导体生产用测试仪的外部示意图；

图4为本实用新型提出的一种大功率半导体生产用测试仪的半导体固定示意图。

图中：1、第一电动伸缩杆；2、套环；3、第二电动伸缩杆；4、温度计；5、夹持座；6、上固定块；7、检测探针；8、主体；9、横梁；10、电热丝；11、下固定块；12、夹持臂；13、固定轴；14、导线；15、弹簧；16、显示屏。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-4，一种大功率半导体生产用测试仪，包括主体8和夹持座5，主体8顶部的两侧内壁焊接有同一个横梁9，横梁9顶部一侧焊接有第一电动伸缩杆1，第一电动伸缩杆1的伸缩端焊接有套环2，第一电动伸缩杆1可使套环2在横梁9上移动，套环2套接于横梁9上，套环2底部焊接有第二电动伸缩杆3，第二电动伸缩杆3底部设有夹持座5，第二电动伸缩杆3的伸缩端伸入夹持座5内部，第二电动伸缩杆3的伸缩端和夹持座5接触不连接，夹持座5两侧内壁均焊接有弹簧15，弹簧15另一端均焊接有夹持臂12，第二电动伸缩杆3的伸缩端伸出可挤开两个夹持臂12的顶端，夹持臂12中部均贯穿有固定轴13，固定轴13使夹持臂12只能周向转动不能水平移动，固定轴13和夹持臂12转动连接，固定轴13的两端和夹持座5内壁焊接连接，夹持臂12底部焊接有检测探针7，检测探针7对半导体的电阻率进行检测。

本实用新型中，夹持座5顶部两侧焊接有支撑杆，且支撑杆顶部和套环2底部焊接连接，支撑杆对夹持座5起支撑作用。检测探针7呈“l”型，检测探针7顶部伸入夹持臂12内部，检测探针7顶部电性连接有同一个导线14，导线14使检测探针7和半导体间形成回路。主体8外壳内部中空，主体8外壳内部均匀镶嵌有电热丝10，电热丝10对主体8内部进行加热。主体8内部底部焊接有检测台，且检测台两端均焊接有下固定块11，下固定块11顶部设有上固定块6，上固定块6和下固定块11通过锁紧螺栓固定，上固定块6和下固定块11将半导体夹持在中部进行固定。主体8的一侧内壁上设有温度计4，主体8顶部的中部设有显示屏16，显示屏16和主体8镶嵌连接，显示屏16和检测探针7电性连接，温度计4测试的温度和检测探针7检测出的电阻率实时显示在显示屏16上。主体8顶部的一侧设有两个开关按钮，且两个开关按钮分别和第一电动伸缩杆1和第二电动伸缩杆3电性连接，两个开关按钮控制第一电动伸缩杆1和第二电动伸缩杆3的开关，开关按钮一侧设有调节旋钮，且调节旋钮和电热丝10电性连接，调节旋钮可以调节电热丝10加热的温度。

工作原理：用把手打开侧门，将半导体两端分别放置在两个下固定块11上，放上上固定块6，拧紧锁紧螺栓固定好半导体，关上侧门；按下第一个开关按钮，启动第一电动伸缩杆1，使检测探针7移动至第一个检测位置后关闭第一电动伸缩杆1，按下第二个开关按钮，启动第二电动伸缩杆3使其伸缩端挤开夹持臂12的顶端，从而使两个检测探针7相互靠近分别接触到半导体两侧进行检测，检测数据实时显示在显示屏16上，再次启动第一电动伸缩杆1使检测探针7移动至下一个检测位置，重复操作对半导体的全部位置进行检测；常温下检测完毕后，再利用调节旋钮调节电热丝10的加热温度，重复上述操作检测不同温度下半导体的电阻率。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点，对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型，因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内，不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。