多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置与流程

1.本发明涉及飞秒激光器技术，尤其涉及一种多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置。


背景技术：

2.紫外飞秒激光一般通过腔外倍频产生，具有飞秒激光高峰值功率和紫外光短波长的特点，因此激光器内部光学器件非常容易损坏，从而影响飞秒激光器寿命。紫外光谐波分离器是激光器中比较容易损坏的光学元件，其是一种镀紫外光反射其它光透射的分光膜的分束镜。
3.现有技术中，通常是通过飞秒激光器的运行时间来判断飞秒激光器是否可以继续使用，如果没有达到期限，就继续控制飞秒激光器进行工作。
4.在实现以上发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：飞秒激光器需要高精度工作，尤其是容易损坏的紫外光谐波分离器，在期限内，如果紫外光谐波分离器损失值超出阈值，会严重影响飞秒激光器的工作。
5.因此，如何有效控制飞秒激光器的工作成为了急需解决的问题。


技术实现要素：

6.本发明实施例提供一种多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置，可以判断飞秒激光器的工作状态，有效控制飞秒激光器工作。
7.本发明实施例的第一方面，提供一种多种波长的飞秒激光器的控制方法，包括：根据检测设备分别获取前一时间点和当前时间点经过谐波分离器后的透过光的光束质量，并基于所述光束质量和基准光束质量值分别获取前一时间点和当前时间点的光束质量损伤值；根据时长预测模型对预设极限损伤值、前一时间点和当前时间点之间的间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长；获取在所述间隔时长内所述谐波分离器的实际使用时长和预设使用时长，根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值；基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长；基于所述谐波分离器的剩余时长控制所述飞秒激光器的运行时长。
8.可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在根据时长预测模型对预设极限损伤值、所述间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长的步骤中，具体包括：基于所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值的差值，生成剩余损伤量；基于当前时间点的光束质量损伤值和前一时间点的光束质量损伤值的差值与所
述间隔时长的比值，生成损伤率；根据所述时长预测模型对所述剩余损伤量和所述损伤率进行处理，生成所述初步时长。
9.可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值的步骤中，具体包括：获取在所述间隔时长内的预设使用时长和实际使用时长，并生成预设使用时长和实际使用时长的时长差值；根据所述时长差值生成所述时长偏移值。
10.可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长，包括：其中，t代表剩余时长，k1代表损伤率的权重,k2代表初步时长的权重，k3代表偏移值的权重，t1代表前一时间点，t2代表当前时间点，s1代表前一时间点的光束质量损伤值，s2代表当前时间点的光束质量损伤值，g代表预设极限损伤值, n代表在所述间隔时长内的预设使用时长，r代表实际使用时长，代表常数，h为与损耗率相关的常数，c代表非零常数，为大于1的常数，a2为小于1的常数。
11.可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在获取所述谐波分离器的剩余时长之后，还包括：获取所述谐波分离器的总使用时长和总使用次数，根据所述总使用时长和所述总使用次数生成总使用量；根据时间序列模型对所述剩余时长、所述总使用量、所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值，生成预测测试次数；根据所述预测测试次数和所述剩余时长，生成多个测试时间点，基于所述测试时间点触发所述检测设备工作。
12.可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在根据时间序列模型对所述剩余时长、所述总使用量、所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值，生成预测测试次数的步骤中，具体包括：基于总使用时长和总使用次数获取所述谐波分离器的总使用量，并根据所述总使用量和预设使用量生成调整值；根据所述调整值对用于指示检测间隔的预设损耗间隔进行调整，生成实时损耗间隔；基于所述实时损耗间隔和剩余损伤量，生成预测测试次数。
13.可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，基于所述实时损耗间隔和剩余损伤量，生成预测测试次数，包括：其中，代表预测测试次数，j代表每检测一次的所隔的预设损耗间隔，代表j的调整值，y代表预设使用量，z1代表总使用时长, z2代表总使用次数，k5代表z1的权重，k6代表z2的权重，为常数，为小于1的常数，b2为大于1的常数。
14.本发明实施例的第二方面，提供一种多种波长的飞秒激光器的控制装置，包括：检测模块，用于根据检测设备分别获取前一时间点和当前时间点经过谐波分离器后的透过光的光束质量，并基于所述光束质量和基准光束质量值分别获取前一时间点和当前时间点的光束质量损伤值；初步时长模块，用于根据时长预测模型对预设极限损伤值、前一时间点和当前时间点之间的间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长；偏移模块，用于获取在所述间隔时长内所述谐波分离器的实际使用时长和预设使用时长，根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值；结果模块，用于基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长；控制模块，用于基于所述谐波分离器的剩余时长控制所述飞秒激光器的运行时长。
15.本发明实施例的第三方面，提供一种多种波长的飞秒激光器的控制设备，包括：存储器、处理器以及计算机程序，所述计算机程序存储在所述存储器中，所述处理器运行所述计算机程序执行本发明第一方面及第一方面各种可能涉及的所述方法。
16.本发明实施例的第四方面，提供一种可读存储介质，所述可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现本发明第一方面及第一方面各种可能涉及的所述方法。
17.本发明提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置，通过对飞秒激光器中经常损坏的谐波分离器进行损耗测试，来预测出谐波分离器的剩余工作时长，从而预测出飞秒激光器的工作时长，协助用户有效控制飞秒激光器运行，防止飞秒激光器的使用事故发生。另外，本发明还可以对测试时间进行预测，协助用户根据预测的时间来对谐波分离器进行测试，并且测试时间会进行更新。
附图说明
18.图1为本方案用于体现应用场景的示意图；图2是本发明实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制方法示意图；图3是本发明实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制装置的结构示意图；图4是本发明实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
19.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
20.本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等（如果存在）是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
21.应当理解，在本发明的各种实施例中，各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
22.应当理解，在本发明中，“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
23.应当理解，在本发明中，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“包含a、b和c”、“包含a、b、c”是指a、b、c三者都包含，“包含a、b或c”是指包含a、b、c三者之一，“包含a、b和/或c”是指包含a、b、c三者中任1个或任2个或3个。
24.应当理解，在本发明中，“与a对应的b”、“与a相对应的b”、“a与b相对应”或者“b与a相对应”，表示b与a相关联，根据a可以确定b。根据a确定b并不意味着仅仅根据a确定b，还可以根据a和/或其他信息确定b。a与b的匹配，是a与b的相似度大于或等于预设的阈值。
25.取决于语境，如在此所使用的“若”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”或“响应于检测”。
26.下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
27.参见图1，为本方案的应用场景，众所周知，一台典型的飞秒激光器的主要结构包括泵浦源、增益介质和光谐振腔、紫外光谐波分离器等组成部分，其中，紫外光谐波分离器是激光器中比较容易损坏的光学元件，其是一种镀紫外光反射其它光透射的分光膜的分束
镜。谐波分离器也称高调波分离器，也有人将谐波分离器或二向色分束镜，称为“分光镜”或“滤光镜”， 是分束镜的一种，如图1所示，谐波分离器可以将入射光分离为反射光和透过光，正常情况下（谐波分离器未损坏），透过光中几乎不混有反射波长的光线，但反射光会混有透过波长的光线，即透过光的光束质量较高；在异常情况下（谐波分离器损坏），透过光中混有反射波长的光线，但反射光也会混有透过波长的光线，导致透过光的光束质量较低，从而影响激光器的正常运行状况。
28.本方案的发明构思为通过对飞秒激光器中极易被损坏的光学部件谐波分离器进行检测，来预测出该光学部件的剩余时长，从而协助用户预测出飞秒激光器还可以使用多久，进而控制用户使用飞秒激光器的计划，防止在飞秒激光器损坏后用户还在使用，或者说，在飞秒激光器还未损坏时，就放弃使用。
29.为了实现以上发明构思，参见图2，是本发明实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制方法示意图，图2所示方法的执行主体可以是软件和/或硬件装置。本技术的执行主体可以包括但不限于以下中的至少一个：用户设备、网络设备等。其中，用户设备可以包括但不限于计算机、智能手机、个人数字助理（personal digital assistant，简称：pda）及上述提及的电子设备等。网络设备可以包括但不限于单个网络服务器、多个网络服务器组成的服务器组或基于云计算的由大量计算机或网络服务器构成的云，其中，云计算是分布式计算的一种，由一群松散耦合的计算机组成的一个超级虚拟计算机。本实施例对此不做限制。该多种波长的飞秒激光器的控制方法包括步骤s101至步骤s105，具体如下：s101，根据检测设备分别获取前一时间点和当前时间点经过谐波分离器后的透过光的光束质量，并基于所述光束质量和基准光束质量值分别获取前一时间点和当前时间点的光束质量损伤值。
30.s102，根据时长预测模型对预设极限损伤值、前一时间点和当前时间点之间的间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长。
31.具体的，检测设备例如可以是用于产生激光的准分子激光源，所产生的激光入射到谐波分离器上，被分为反射光和透过光，检测设备还需要包括光束质量分析仪，来对透过光进行光束质量的分析，以通过光束质量的分析判断当前状态的谐波分离器是否处于正常状态。
32.可以理解的是，当谐波分离器损坏，其光束质量较差，会超出设定值，导致飞秒激光器无法继续使用，当谐波分离器未损坏时，其光束质量处于设定值内，飞秒激光器可以正常使用。
33.需要说明的是，本方案需要根据分析的光束质量获取前一时间点和当前时间点的光束质量损伤值，以及前一时间点和当前时间点之间的间隔时长。
34.可以理解的是，在得到每个时间点的光束质量后，可以将光束质量与基准光束质量值进行比较，判断出每个时间点的光束质量损伤值。
35.示例性的，基准光束质量值例如可以是99%，在前一时间点光束质量例如可以是98%，当前时间点的光束质量例如可以是96%，那么前一时间点光束质量损伤值为1%，当前时间点的光束质量损伤值为3%，其他时间点的光束质量损伤值计算原理类似，在此不再赘述。
36.其中，还可以设置有预设极限损伤值，例如可以是15%，可以理解的是，当某个时间点的光束质量损伤值为16%时，其超过了预设极限损伤值，说明谐波分离器损坏，此时，飞秒
激光器不得继续使用，否则会出现飞秒激光器的重大失误。
37.具体的，本方案设置有时长预测模型，来对一些数据进行处理，得到初步时长，该初步时长为谐波分离器的初步剩余时长。可以理解的是，本步骤的初步时长只是对一些影响较大的参数处理获取到的，不够精准。
38.在一些实施例中，步骤s102可以是步骤s1021-步骤s1023：s1021，基于所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值的差值，生成剩余损伤量。
39.例如，可以是利用来计算出剩余损伤量，其中，g代表预设极限损伤值, s2代表当前时间点的光束质量损伤值。具体例如，预设极限损伤值可以是15%，当前时间点的光束质量损伤值为1%，则剩余损伤量为15%；再例如，当前时间点的光束质量损伤值为2%，则剩余损伤量为14%。
40.s1022，基于当前时间点的光束质量损伤值和前一时间点的光束质量损伤值的差值与所述间隔时长的比值，生成损伤率。
41.可以理解的是，为了计算出初步时长，本方案需要计算出损伤率，然后利用当前时间点的光束质量损伤值和前一时间点的光束质量损伤值的差值来比值间隔时长，即可计算出损伤率。
42.需要说明的是，同样一台飞秒激光器，不同人去使用，其损伤率是不同的，例如，a用户其使用习惯不好，或者其使用时长较长，那么其损伤率较高，而如果b用户使用习惯较好，且使用时长较短，那么其损伤率会较小，本方案可以计算出符合用户的损伤率，更贴合用户所使用的飞秒激光器。
43.示例性的，可以采用来计算出损伤率，t1代表前一时间点，t2代表当前时间点，s1代表前一时间点的光束质量损伤值，s2代表当前时间点的光束质量损伤值。
44.例如，t2
‑ꢀ
t1为30天，s2
‑ꢀ
s1为2%，那么损伤率可以是1/15。另外，需要说明的是，t1和t2可以是以天为单位，也可以是以小时为单位，具体可以根据实际需要进行调整换算。
45.s1023，根据所述时长预测模型对所述剩余损伤量和所述损伤率进行处理，生成所述初步时长。
46.可以理解的是，在得到剩余损伤量和损伤率后，可以计算出初步时长。
47.在一些实施例中，可以基于以下公式对所述剩余损伤量和所述损伤率进行处理，生成所述初步时长，其中，代表初步时长，t1代表前一时间点，t2代表当前时间点，s1代表前一时间点的光束质量损伤值，s2代表当前时间点的光束质量损伤值，g代表预设极限损伤值,k1
代表所述损伤率的权重,h为与损耗率相关的常数，为小于1的常数，a2为大于1的常数。
48.需要说明的是，以上的k1为损伤率的权重，来对损伤率进行修正，可以根据实际情况将其修大或者修小。
49.示例性的，损伤率可以是1/10，剩余损伤量为2%，则初步时长可以是2天。
50.s103，获取在所述间隔时长内所述谐波分离器的预设使用时长和实际使用时长，根据时长偏移模型对预设使用时长和实际使用时长进行处理，生成时长偏移值。
51.具体的，在间隔时长内，如果在谐波分离器使用时间较短时，其损耗可能会越慢，需要对初步时长进行偏移，将初步时长修大；在间隔时长内，谐波分离器使用时间越长，其损耗可能会越快，需要对初步时长的值进行偏移，将初步时长修小，以贴合用户情况来计算出较精准的预测时长。
52.在一些实施例中，在根据时长偏移模型对预设使用时长和实际使用时长进行处理，生成时长偏移值的步骤中，具体包括：获取在所述间隔时长内的预设使用时长和实际使用时长，并生成预设使用时长和实际使用时长的时长差值；根据所述时长差值生成所述时长偏移值。
53.其中，计算公式可以如下：其中，代表偏移值，n代表在所述间隔时长内的预设使用时长，r代表实际使用时长，代表系数，c代表非零常数。
54.需要说明的是，c为确保a是一个正数的常数值，确保a为非负数。
55.s104，基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长。
56.具体的，在步骤s102和步骤s103得到初步时长和时长偏移值后，可以对初步时长进行便宜调整，以得到较为精准的剩余时长。
57.在一些实施例中，基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长，可以包括：其中，t代表剩余时长，k1代表损伤率的权重,k2代表初步时长的权重，k3代表偏移值的权重，t1代表前一时间点，t2代表当前时间点，s1代表前一时间点的光束质量损伤值，s2代表当前时间点的光束质量损伤值，g代表预设极限损伤值, n代表在所述间隔时长内的
预设使用时长，r代表实际使用时长，代表常数，c代表非零常数，h为与损耗率相关的常数，为大于1的常数，a2为小于1的常数。
58.可以理解的是，以上是k2代表初步时长的权重,k3代表偏移值的权重,可以根据用户的实际情况进行调整。
59.s105，基于所述谐波分离器的剩余时长控制所述飞秒激光器的运行时长。
60.可以理解的是，例如，谐波分离器的剩余时长为100天，那么用户就可以知道飞秒激光器的运行时长大概还有100天，可以在100天内有效控制飞秒激光器进行正常工作；再例如，谐波分离器的剩余时长为0天，那么用户就可以知道飞秒激光器的运行时长大概还有0天，说明该飞秒激光器已经无法正常工作，用户可以及时的发现，如果用户未发现，那么可能会出现飞秒激光器的使用事故，因此，可以通过以上实施例来实现对飞秒激光器的有效控制。
61.需要说明的是，本方案只是以飞秒激光器中非常容易损坏的且经常损坏的谐波分离器来进行预测，当然，飞秒激光器中也会有其他器件损坏，但是不常发生，例如，电源损坏等等，本方案只是从一个侧面来对飞秒激光器的剩余使用时长进行预测，协助用户来对飞秒激光器控制，并不是只用本方案一个部件的预测来达到精准预测的效果。
62.在上述实施例的基础上，本方案提出一种预测测试时间的方案，协助用户进行下次对谐波分离器进行测试的时间点，或者可以控制检测设备按照获取到的时间点自动完成测试，具体方案参照下文。
63.本方案在获取所述谐波分离器的剩余时长之后，还包括步骤s201-s203：s201，获取所述谐波分离器的总使用时长和总使用次数，根据所述总使用时长和所述总使用次数生成总使用量。
64.具体的，本步骤通过获取到谐波分离器的总使用时长和总使用次数，来综合算出谐波分离器的总使用量。可以理解的是，谐波分离器的总使用量越大，其损耗率会越快。
65.在实际应用中，总使用时长统计的可以是谐波分离器运行了多长时间，例如可以是10天，也可以是240h，总使用次数例如可以是飞秒激光器的开关机次数，例如，在飞秒激光器投入使用后，总共开关机次数为1000次。
66.在一些实施例中，计算总使用量可以采用以下方式进行计算：其中，代表总使用量，z1代表总使用时长, z2代表总使用次数，k5代表z1的权重，k6代表z2的权重，为常数。优选的，k5的权重值可以大于k6，以提高总使用时长z1对总使用量u的影响。例如，k5可以是0.8，k6可以是0.2。可以理解的是，总使用时长对总使用量的影响要大于总使用次数对总使用量的影响。当然，也不限于以上对权重值所做的限定。
67.s202，根据时间序列模型对所述剩余时长、所述总使用量、所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值，生成预测测试次数。
68.本步骤可以具体包括：
基于总使用时长和总使用次数获取所述谐波分离器的总使用量，并根据所述总使用量和预设使用量生成调整值；根据所述调整值对用于指示检测间隔的预设损耗间隔进行调整，生成实时损耗间隔；基于所述实时损耗间隔和剩余损伤量，生成预测测试次数。
69.其中，基于所述实时损耗间隔和剩余损伤量，生成预测测试次数，包括：其中，代表预测测试次数，j代表每检测一次的所隔的预设损耗间隔，代表j的调整值，y代表预设使用量，z1代表总使用时长, z2代表总使用次数，k5代表z1的权重，k6代表z2的权重，为常数，为小于1的常数，b2为大于1的常数。
70.需要说明的是，其中，所表示的含义是对运算结果进行求整处理，例如， 的运算结果是3.4，那么c最后的结果为3。
71.可以理解的是，本方案可以设定一个用于指示检测间隔的预设损耗间隔，例如可以是预设每损耗2%需要对谐波分离器进行检测一次。
72.需要说明的是，本步骤通过算出谐波分离器的总使用量，来对预设损耗间隔进行实时调整，将其调整为实时损耗间隔。
73.示例性的，为预设损耗间隔，利用权重k4来对，可以理解的是，当总使用量较大，权重k4为，为小于1的常数，就会导致变小，以让用户可以在飞秒激光器的最后使用阶段能够多次测量，以达到精准提示用户控制飞秒激光器的目的。
74.s203，根据所述预测测试次数和所述剩余时长，生成多个测试时间点，基于所述测试时间点触发所述检测设备工作。
75.本方案可以在得到预测测试次数后，来算出测试时间点，从而控制检测设备来自动对飞秒激光器中的谐波分离器进行检测。需要说明的是，步骤s203需要将检测设备和飞秒激光器结合到一起，才可以实现自动测试，否则得到多个测试时间点后，可以传输给用户，指示用户使用检测设备来对谐波分离器进行测试即可。
76.示例性的，预测测试次数为2次，剩余时长为4天，那么就可以得到测试时间点为，在2天时对谐波分离器进行测试一次，并在4天时对谐波分离器进行测试第二次。
77.在上述实施例的基础上，本方案还包括：
在前一时间点获取所述谐波分离器待检测表面的第一图像信息，并在当前时间点获取所述谐波分离器待检测表面的第二图像信息，其中，前一时间点和当前时间点的采集环境一致；获取所述第一图像信息的第一亮度值，以及第二图像信息的第二亮度值，基于所述第一亮度值和所述第二亮度值生成亮度差值；根据所述亮度差值和预设阈值，生成待检测表面的老化结果信息。
78.可以理解的是，本方案还可以通过判断谐波分离器的第一图像信息的亮度值和第二图像信息的亮度值来判断该谐波分离器是否老化了，或者说是否还能正常使用，以配合上述实施例实现对谐波分离器的精准检测。
79.在一些实施例中，获取所述第一图像信息的第一亮度值，以及第二图像信息的第二亮度值，包括：将所述第一图像信息和所述第二图像信息中预先标记的使用区域标记第一区域，并将其余区域作为第二区域；根据以下公式获取第一亮度值和第二亮度值，其中，l1代表第一区域的亮度值，k7代表l1的权重，l2代表第二区域的亮度值，k8代表l2的权重，为常数。
80.可以理解的是，预先标记的使用区域可以是谐波分离器经常使用的区域，而第二区域为不常使用的区域，本方案将经常使用的区域的亮度值的权重调大，可以更加精准的实现对亮度值的计算，使得最后的比对结果比较精准。
81.参见图3，是本发明实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制装置的结构示意图，该多种波长的飞秒激光器的控制装置30包括：检测模块31，用于根据检测设备分别获取前一时间点和当前时间点经过谐波分离器后的透过光的光束质量，并基于所述光束质量和基准光束质量值分别获取前一时间点和当前时间点的光束质量损伤值；初步时长模块32，用于根据时长预测模型对预设极限损伤值、前一时间点和当前时间点之间的间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长；偏移模块33，用于获取在所述间隔时长内所述谐波分离器的实际使用时长和预设使用时长，根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值；结果模块34，用于基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长；控制模块35，用于基于所述谐波分离器的剩余时长控制所述飞秒激光器的运行时长。
82.图3所示实施例的装置对应地可用于执行图1所示方法实施例中的步骤，其实现原
理和技术效果类似，此处不再赘述。
83.参见图4，是本发明实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制设备的硬件结构示意图，该多种波长的飞秒激光器的控制设备40包括：处理器41、存储器42和计算机程序；其中存储器42，用于存储所述计算机程序，该存储器还可以是闪存（flash）。所述计算机程序例如是实现上述方法的应用程序、功能模块等。
84.处理器41，用于执行所述存储器存储的计算机程序，以实现上述方法中设备执行的各个步骤。具体可以参见前面方法实施例中的相关描述。
85.可选地，存储器42既可以是独立的，也可以跟处理器41集成在一起。
86.当所述存储器42是独立于处理器41之外的器件时，所述设备还可以包括：总线43，用于连接所述存储器42和处理器41。
87.本发明还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现上述的各种实施方式提供的方法。
88.其中，可读存储介质可以是计算机存储介质，也可以是通信介质。通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。计算机存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。例如，可读存储介质耦合至处理器，从而使处理器能够从该可读存储介质读取信息，且可向该可读存储介质写入信息。当然，可读存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和可读存储介质可以位于专用集成电路(application specific integrated circuits，简称：asic)中。另外，该asic可以位于用户设备中。当然，处理器和可读存储介质也可以作为分立组件存在于通信设备中。可读存储介质可以是只读存储器（rom）、随机存取存储器（ram）、cd-rom、磁带、软盘和光数据存储设备等。
89.本发明还提供一种程序产品，该程序产品包括执行指令，该执行指令存储在可读存储介质中。设备的至少一个处理器可以从可读存储介质读取该执行指令，至少一个处理器执行该执行指令使得设备实施上述的各种实施方式提供的方法。
90.在上述设备的实施例中，应理解，处理器可以是中央处理单元（英文：central processing unit，简称：cpu），还可以是其他通用处理器、数字信号处理器（英文：digital signal processor，简称：dsp）、专用集成电路（英文：application specific integrated circuit，简称：asic）等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成，或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
91.最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。