金属区段作为接着垫及ic装置中的区域互连件的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明一般而言涉及设计及制造集成电路(IC)装置。本发明可应用于在通孔与接触件之间的连接及在一 IC装置中接触件之间的区域互连件，尤其是用于7纳米(nm)技术节点及更先进者。
【背景技术】
[0002]—般而言，IC装置可包括各种方形接触件，其连接至一或多个晶体管。此外，IC装置可包括多个金属层，其可经利用以将该等接触件连接至各种讯号来源或目标。在某些情况下，可利用通孔将上方金属层连接至一或多个该等接触件。例如，可利用一通孔以将金属-1(Ml)层的区段连接至晶体管上的栅极接触件。然而，在某些情况下，通孔实质上可能未与目标接触件的小方形表面区域对准，这在该通孔及该目标接触件之间可能造成不可靠的连接(例如:小接触面积)。因此，该目标接触件及该上方Ml层的区段之间不可靠的连接结果可导致该装置无法适当地作用或通过某些IC制造品质/可靠度测试，其接着可能不利地影响该IC装置的制造产量。此外，在IC装置中某些金属层的布局可影响IC装置的节点扩展技术(node scaling technologies)的进展。
[0003]图1A及图1B分别是一实例IC装置的横截面及三维图。关于图1A，说明一习知静态随机存取记忆体(SRAM)装置的横截面，其包括硅基板101及浅沟槽绝缘层103。此外，在该硅基板101的上表面上有多个栅极电极(PC) 105及多个沟槽硅化物(TS) 107，其中，栅极接触件(CB)109连接至PC 105的上表面，且源极/漏极接触件(CA)Ill连接至TS 107的上表面。进一步地，通孔113将Ml层115的一或多个区段连接至CB接触件109及/或CA接触件111的上表面。然而，一通孔(例如通孔113a)的底表面可不与一CB接触件(例如接触件109a)(或其它CA或CB接触件)的上表面完全地对准，其对于可靠的功能及该等两元件之间功率或讯号的适当的转移可能造成不足的接触面积。
[0004]图1B说明图1A中的IC装置的3D图，其中，该通孔113a未平行地对准该CB接触件109a。通孔113a与CB接触件109a之间的未对准仅示例性;未对准的更多情况可存在于一 IC装置中通孔与CB接触件及CA接触件两者之间。如所示，在设计与制造IC装置时所考量者是用于提供充足及有效的接触件布局设计以供该等IC装置的可靠及经济的制造产量的步骤。
[0005]因此需要能够改善在IC装置中接触件与通孔之间的连接的方法及所得装置。
【发明内容】
[0006]本发明的一态样是一IC装置，其利用额外金属层的金属区段作为通孔的接着垫及亦作为接触件间的区域互连件。
[0007]本发明的另一态样是一种用于利用额外的金属层的金属区段作为通孔的接着垫及亦作为IC装置中接触件之间的区域互连件的方法。
[0008]在以下的实施方式中将提出本发明的额外态样及其它特征且部份地在检视下文后本领域技术人员将明显得知或可自本发明的实践习得。如在随附的权利要求书中特别指出可了解并得知本发明的优点。
[0009]根据本发明，某些技术效果可部份地通过一方法实现，该方法包括:形成源极/漏极接触件及栅极接触件，其连接至位于集成电路装置中的基板上的晶体管，每一接触件具有具第一面积的上表面;在该等接触件的上表面于一平面上形成金属区段，每一金属区段与一或多个该等接触件接触并具有大于该第一面积的第二面积;及在一或多个该等金属区段与第一金属层的一或多个第一区段之间形成一或多个通孔。
[0010]另一态样包括在一或多个该等金属区段与一或多个该等源极/漏极接触件及栅极接触件之间形成一或多个区域连接。某些态样包括形成与该栅极接触件及该第一金属层的一或多个第一区段垂直的第二金属层的第二区段。
[0011]另一态样包括形成将一或多个该等金属区段或该第一金属层的一或多个第一区段连接至该第二金属层的通孔。在一态样中，该方法包括形成第一及第二层间介电(ILD)层;形成通过该等层间介电(ILD)层的通孔;及在该第一层间介电(ILD)层中形成该等金属区段及第一金属层，以及在该第二层间介电(ILD)层中形成第二金属层。
[0012]进一步的态样包括将该第二金属层的一或多个第二区段连接至电源层、接地层、及位线(bit line)。额外的态样包括基于工艺变异(PV)带(其包括内缘及外缘)形成该等金属区段。在一态样中，相邻金属区段的工艺变异(PV)带以一临限距离分开。
[0013]本发明的另一态样包括一装置，其包括:源极/漏极接触件及栅极接触件，其连接至位于集成电路装置中的基板上的晶体管，每一接触件具有具第一面积的上表面;在该等接触件的上表面于一平面上的金属区段，每一金属区段与一或多个该等接触件接触并具有大于该第一面积的第二面积;及在一或多个该等金属区段与第一金属层的一或多个第一区段之间的一或多个通孔。
[0014]在本装置的某些态样中，一或多个该等金属区段与一或多个该等源极/漏极接触件及栅极接触件形成一或多个区域互连件。该装置的其它态样包括与该栅极接触件及该第一金属层的一或多个第一区段垂直的第二金属层的第二区段。该装置的一态样包括将一或多个该等金属区段或该第一金属层的一或多个第一区段连接至该第二金属层的通孔。
[0015]该装置的更多态样包括第一及第二ILD层，其中，该等通孔贯通该等ILD层，且其中，该等金属区段及该第一金属层在第一ILD层中，且第二金属层在第二ILD层中。该装置的某些态样包括第二金属层的一或多个该等第二区段，其连接至电源层、接地层、及位线。该装置的一态样包括基于PV带的该等金属区段，该等PV带包括内缘及外缘。在该装置的额外态样中，相邻金属区段的PV带以一临限距离分开。
[0016]由以下实施方式对于熟习本技术者可立即了解本发明的额外态样及技术效果，其中，本发明的实施例简单地通过说明经设想以实施本发明的最佳模式的方式来描述。如所了解，本发明可实施其它及不同的实施例，且其数个细节可在不同明显的态样下进行修改，其全部未背离本发明。因此，该等图式及描述本质上视为说明，而非作为限制。
【附图说明】
[0017]在随附图式的图形中通过实例的方式(且非以限制的方式)说明本发明，且其中，相同的元件符号指类似元件，且其中:
[0018]图1A及图1B分别是实例IC装置的横截面图及三维(3D)图；
[0019]图2A、图2B及图2C分别是根据一示例性实施例的一IC装置的横截面、三维(3D)及布局图，该IC装置利用额外金属层的金属区段;及
[0020]图2D是根据一示例性实施例，说明一布局图，其包括在一IC装置中的接触点及相关工艺变异带。
[0021 ]附图标记说明:
[0022]101硅基板
[0023]103浅沟槽绝缘层
[0024]105栅极电极(PC)
[0025]107沟槽硅化物(TS)
[0026]109、109a栅极接触件(CB)
[0027]111源极/漏极接触件(CA)
[0028]113、113a通孔
[0029]115Ml层
[0030]115a、115b、115c区段[0031 ]201、201a、201b、201c、201d、201e金属区段
[0032]203a、203b、203c、203dCB 接触件
[0033]205a、205b、205c、205dCA 接触件
[0034]207、207a、207b、207c通孔
[0035]209a 至 209n接触点
[0036]211a、211b、211c金属区段。
【具体实施方式】
[0037]在以下描述中，为用于解释，提出数字特定细节以提供对示例性实施例的全面了解。然而，应了解可在不具此等特定细节下或以一等效配置下实施示例性实施例。在其它情况下，为避免不必要地模糊示例性实施例，以方块图形式显示人所熟知的结构及装置。此夕卜，除非另外指明，否则本说明书及权利要求书所用的所有表示量、比例、及成份的数值性质的数字、反应条件等等应了解在所有情况下以术语“约”修正。
[0038]本发明针对并解决在通孔与一IC装置中的接触表面之间的未对准的问题。本发明针对并解决此等间题，例如尤其通过利用额外的金属层的金属区段作为用于通孔的接着垫及亦作为在IC装置中的接触件之间的区域连接件。
[0039]图2A说明IC装置的横截面图，其中，额外金属层(例如:金属-零(MO)层)的多个金属区段(例如:201a至201e)可在中段(MOL)IC工艺中实施。尽管仅说明五个区段，但区段的数目仅作为示例。可利用MO层的该等多个金属区段201a至201e以提供在IC装置中二或多个CB接触件203a至203d及/或二或多个CA接触件205a至205d之间的区域互连件。例如，MO金属区段201a互连CB接触件203a及203b，M0金属区段201b互连CB接触件203c及CA接触件205a，且MO金属区段201c互连CA接触件205