导电性糊剂和陶瓷电子部件的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及导电性糊剂和陶瓷电子部件。
【背景技术】
[0002] 近年来，电子设备的小型化、高功能化在急速地发展，对于电子设备所搭载的层叠 陶瓷电容器，也在要求其小型化。例如，在层叠陶瓷电容器的情况下，由于薄层化技术和多 层化技术的发展，可W代替侣电解电容器的、具有高静电电容的电容器得W商品化。
[0003] 随着运种层叠陶瓷电容器的薄层化、多层化，作为用于形成内部电极的金属成分 Ni粉末的粒径，0. 5 Jim W下正成为主流。
[0004] 然而，对于使用微细的Ni粉末的内部电极而言，在层叠体的高溫烧成时，其与电 介质相比，在低溫下开始烧结，因此产生了如下问题：引起内部电极的不连续性，或者由于 热收缩比电介质大，故引起了电介质层与内部电极层之间的剥离。
[00化]因此，为了解决运种问题，已经提出了在用于形成内部电极的导电性糊剂中，包含 在Ni粉末的表面部分含有硫、且大部分为硫化物形态的Ni粉末的技术方案。
[0006] 现有技术文献
[0007] 专利文献
[0008] 专利文献1 :日本特开2010 - 43339号公报
【发明内容】
[0009] 发明要解决的问题
[0010] 然而，对于专利文献1中的含有Ni粉末的导电性糊剂来说，作为烧结抑制而添加 了共有材料，但由于硫对Ni粉末的包覆状态并非最佳，因此具有如下的问题：认为是烧结 过程中Ni粉末的烧成不稳定性所致的因素，从而内部电极的电极连续性下降，进而层叠陶 瓷电容器的容量发生降低。
[0011] 因此，本发明的目的在于，提供一种导电性糊剂，其通过使陶瓷电子部件的内部电 极的烧结过程中的Ni粉末的烧结性和粘合剂分解性最佳化，从而确保内部电极的电极连 续性，得到可靠性高的陶瓷电子部件。
[0012] 用于解决问题的方法
[0013] 本发明的导电性糊剂，其特征在于，至少含有金属成分、氧化物、和树脂成分，金属 成分是被硫包覆的Ni粉末，对于在Ni粉末的表面上通过法测定的S化窄谱，在将归属 于S 2和SO 42的峰面积的总和设为100时，SO42的峰面积的比例为95% W上且100% W下， 硫对Ni粉末的包覆率为91% W上且100% W下，Ni粉末中含有的硫的含量为0. 05wt% W 上且0. 45wt % W下，此外，树脂成分/Ni的比率为1. 5w% W上且8. Owt % W下。
[0014] 另外，本发明的陶瓷电子部件，其特征在于，使用前述的导电性糊剂制作导体图 案。
[0015] 本发明的导电性糊剂，至少含有金属成分、氧化物、和树脂成分，并且金属成分是 被硫包覆的Ni粉末，对于在Ni粉末的表面上通过XI^法测定的S化窄谱，在将归属于S2和 S〇42的峰面积的总和设为100时，SO 42的峰面积的比例为95% W上且100% W下，硫对 Ni粉末的包覆率为91 % W上且100% W下，Ni粉末中含有的硫的含量为0. 05wt % W上且 0. 45wt % W下，此外，树脂成分/Ni的比率为1. 5w% W上且8. Owt % W下，因此，在使用运种 导电性糊剂形成内部电极时，在陶瓷电子部件的内部电极的烧结过程中，Ni粉末的烧结性 和粘合剂分解性实现最佳化。因此，可W得到如下的导电性糊剂，其能够用于得到内部电极 的电极连续性获得改善、并且结构缺陷被抑制的可靠性高的陶瓷电子部件。
[0016] 另外，在将本发明的导电性糊剂用于内部电极的形成时，能够W高效率得到内部 电极的电极连续性获得改善、且结构缺陷被抑制的可靠性高的陶瓷电子部件。
[0017] 发明效果
[001引根据本发明，可W得到一种导电性糊剂，其通过使陶瓷电子部件的内部电极的烧 结过程中Ni粉末的烧结性和粘合剂分解性最佳化，从而确保内部电极的电极连续性，得到 可靠性高的陶瓷电子部件。
[0019] 本发明的上述目的、其他目的、特征W及优点，通过参照附图而进行的、W下用于 实施发明的方式的说明而进一步明确。
【附图说明】
[0020] 图1是表示使用本发明的导电性糊剂而形成内部电极的层叠陶瓷电容器的一个 实施方式的外观侧视图。 阳021] 图2是表示图1的A - A线的剖面的剖面图解图。
[0022] 图3是为了说明电极有效比率的计算方法而示出的基于层叠陶瓷电容器的LT面 的SIM图像的示意剖面图。
【具体实施方式】
[0023] 将本发明的导电性糊剂、化及使用该导电性糊剂而形成内部电极的陶瓷电子部件 的一个实施方式，与其制造方法一同进行说明。陶瓷电子部件例如为，层叠陶瓷电容器或层 叠陶瓷电感器等无源元件、形成有将元件间电连接的配线导体的多层陶瓷基板等。在本实 施方式中，作为陶瓷电子部件，W层叠陶瓷电容器为例进行说明。
[0024] 1.导电性糊剂
[0025] 导电性糊剂含有作为金属成分的Ni粉末、作为共有材料的氧化物、和树脂成分。 此外，导电性糊剂含有分散剂和溶剂。 阳0%] 作为金属成分的Ni粉末被硫包覆。对于在Ni粉末的表面上通过X射线光电子能 谱法OffS法）测定的S化窄谱，在将归属于S2和SO42的峰面积的总和设为100时，SO 42的 峰面积的比例为95% W上且100% W下。
[0027] XPS法是分析作为被测定试样的Ni粉末的表面组成、化学状态的电子能谱法的一 种，其通过测定在对Ni粉末的表面照射X射线时因光电效应而由原子放出的光电子的能量 分布，具体而言，通过测定被X射线激发的光电子的动能，而求出X射线能量与前述动能的 差、即结合能，由此可W对元素的鉴定和化学状态进行分析。 阳02引另外，硫对Ni粉末的包覆率为91% W上且100% W下。硫对Ni粉末的包覆率如 下所述而算出。首先，对Ni粉末进行FIB处理，并通过TEM -邸X灯ransmission Electron Microscope Elnergy Dispersive X - ray Spectroscopy:透射型电子显微镜一能量分散型 X射线光谱法）对Ni粉末表面的多个位置进行硫的点分析。接着，通过下述式（1)算出硫 的包覆率。
[0029] 硫的包覆率=检测到硫的位置/全部测定位置（1)
[0030] 此处，所谓全部测定位置是指，被测定的多个位置的所有位置，例如，作为全部测 定位置，选择100个位置，对运些位置进行测定。
[0031] Ni粉末中含有的硫为0. 05wt%W上且0. 45wt%W下。关于Ni粉末中含有的硫的 含量，使用碳硫分析仪对Ni粉末测定硫的含量。该硫的含量例如可W使用多个试样的平均 值。
[0032] 作为Ni粉末的平均粒径，优选使用0.1 ym W上且0.4 ym W下的粒径，并且可W 在此之间适当选择。
[0033] 对于作为共有材料的氧化物而言，使用含有Ba、Ti的巧铁矿型氧化物。作为含有 Ba、Ti的巧铁矿型氧化物的平均粒径，优选使用Inm W上且IOOnm W下的粒径，并且可W在 此之间适当选择。其原因在于，应对层叠陶瓷电容器内部电极的薄层化?多层化的要求。
[0034] 需要说明的是，在含有Ba、Ti的巧铁矿型氧化物W外，还可W适当使用含有Zr、 Ca、Dy、Mg、Si等的氧化物。
[0035] 关于树脂成分，例如，可W使用将作为粘合剂树脂的乙基纤维素树脂溶解在下基 卡必醇中的树脂溶液。需要说明的是，作为溶解于下基卡必醇的粘合剂树脂，例如，可W适 当使用丙締酸类树脂、缩下醒树脂、聚氨醋树脂。树脂成分/Ni的比率，通过增减溶解了粘 合剂树脂的下基卡必醇的量来调整。树脂成分/Ni的比率优选为1. 5wt% W上且8. Owt% W下，并且可W在此之间适当选择。
[0036] 分散剂例如可W使用聚簇酸系分散剂。
[0037] 而且，在该导电性糊剂中，作为余量而含有作为溶剂的下基卡必醇。 阳03引 2.层叠陶瓷电容器
[0039] 图1是表示使用前述的导电性糊剂而形成内部电极的层叠陶瓷电容器的一个实 施方式的外观侧视图，图2是表示图1的A - A线的剖面的剖面图解图。
[0040] 层叠陶瓷电容器1具备陶瓷本体10、和形成在陶瓷本体10左右的端部的外部电极 20、22。
[0041] 陶瓷本体10具有长方体形状的层叠体结构，该层叠体结构由多个内层用陶瓷层 11、 配设在多个内层用陶瓷层11彼此的界面上的多个内部电极12、13、和配设在上下方W 夹持多个内层用陶瓷层11的外层用陶瓷层15a、15b构成。
[0042] 内部电极12和内部电极13,在高度T方向上隔着内层用陶瓷层11而对置。该内 部电极12和内部电极13,在隔着内层用陶瓷层11而对置的部分形成静电电容。内部电极 12、 13是使用前述导电性糊剂而制作的。内部电极12、13是含有Ni的贱金属电极。
[0043] 内部电极12的左侧端部被引出