单层内嵌式异方性导电胶膜结构的制作方法
【技术领域】
[0001 ] 本实用新型是有关异方性导电膜中导电粒子之结构，尤指一种单层内嵌式异方性导电胶膜结构，可有效提升导电粒子捕捉率及降低垂直电阻值。
【背景技术】
[0002]在异方性导电胶膜(ACF:Anisotropic Conductive Film)领域中，导电粒子扮演垂直导通的关键角色，于绝缘胶材中导电粒子数目越多或导电粒子的体积越大，垂直方向的接触电阻就越小，导通效果也就越好。但过多或过大的导电粒子可能会在热压合时，横向的金凸块间容易彼此接触而造成横向导通的短路，使得电气功能不正常或甚至失效。
[0003]由于相关应用的零组件精密度要求日益提高，组接部位的尺寸愈来愈细窄，在接触面积缩小的情况下，为了维持住足够的导通电量，就必须提高导电粒子的捕捉率。若以传统加工方式来制备的话，就必须增加导电粒子的添加量，如此一来，也就相对增加了制造成本，而不利于市场竞争。此外，增加导电粒子的添加量有可能因垂直加压产生横向推挤而相互接触，因而会降低横向的电气绝缘。
[0004]在中国台湾专利公告第1377240号「异方性导电膜之制造方法」发明专利案中，揭露了将导电性粒子单层排列于包含光及热硬化性树脂组成物层的一方表面侧的异方性导电膜结构；然而，其必须配合由从前述一方表面侧照射硬化用光，而形成导电性粒子含有层，而从前述导电性粒子存在侧至前述导电性粒子不存在侧，硬化度渐次降低；以及在前述导电性粒子含有层的一方表面积层以绝缘性树脂组成物形成绝缘层等制程，致使整体的制程及结构皆较繁复。
[0005]因此，如何能在不需增加导电粒子密度的前题下提高异方性导电胶膜对导电粒子捕捉率，且兼具有简易的组成结构及低廉的生产成本，乃为相关业者所亟待努力的课题。
[0006]有鉴于已见的异方性导电胶膜结构有上述缺点，设计人乃针对这些缺点研究改进之道，终于有本实用新型产生。
【实用新型内容】
[0007]本实用新型主要目的在于提供一种单层内嵌式异方性导电胶膜结构，其以多数单层排列的导电粒子分布于一绝缘胶层内部，并使各导电粒子与该绝缘胶层一表侧的基准面间形成一间隔距离，利用部分间隔距离会产生较佳的粒子捕捉率及较低垂直电阻的特性，可提升异方性导电膜使用上的掌握。
[0008]本实用新型另一目的在于提供一种单层内嵌式异方性导电胶膜结构，其整体上可以简易的结构、较低的材料成本以及较便利的加工方式生产制作，以有效提升相关产品的整体克争力。
[0009]为达成上述目的及功效，本实用新型所实行的技术手段包括:一种单层内嵌式异方性导电胶膜结构，其至少包括:
[0010]一膜片状的绝缘胶层，其一侧表面设为一基准面；
[0011]多数导电粒子，分布于该绝缘胶层内部，且各导电粒子呈单层排列，并与该基准面形成有一间隔距离。
[0012]依上述结构，其中该间隔距离至少为该绝缘胶层厚度的10%。
[0013]依上述结构，若以该基准面为基准，以绝缘胶层厚度的百分比为距离，当导电粒子位于厚度10~80%间的位置为佳，而若当导电粒子位于厚度20~65%间的位置更佳。
[0014]依上述结构，其中该各导电粒子为圆球状的颗粒体。
[0015]依上述结构，其中各导电粒子直径大小介于该绝缘胶层厚度的15~45%之间。
[0016]依上述结构，其中该绝缘胶层的厚度介于13~45um之间为佳。
[0017]依上述结构，其中该导电粒子分布的密度为500~80000/mm2。
[0018]为使本实用新型的上述目的、功效及特征可获致更具体的了解，兹依下列【附图说明】如下。
【附图说明】
[0019]图1系本实用新型第一实施例的侧视结构示意图。
[0020]图2系本实用新型第二实施例的侧视结构示意图。
[0021]图3系本实用新型第三实施例的侧视结构示意图。
[0022]图4系本实用新型第四实施例的侧视结构示意图。
[0023]图5系本实用新型第五实施例的侧视结构示意图。
[0024]图6系本实用新型第六实施例的侧视结构示意图。
[0025]图7系一已见异方性导电胶膜的侧视结构示意图。
[0026]符号说明:
[0027]1......绝缘胶层；
[0028]11____基准面；
[0029]2......导电粒子；
[0030]X……绝缘胶层的厚度；
[0031]Y.....导电粒的直径；
[0032]Z.....间隔距离。
【具体实施方式】
[0033]请参图1至图6所示，可知本实用新型较佳实施例结构包括:绝缘胶层I及导电粒子2等部分，其中该绝缘胶层I为一厚度X的膜片，于该绝缘胶层I 一侧表面设为基准面I I O
[0034]多数导电粒子2分别为直径Y的颗粒体，这些多数导电粒子2分布于该绝缘胶层I内部，且各导电粒子2单层排列地与该基准面I I形成一间隔距离Z。
[0035]参图1所示，在第一实施例中，绝缘胶层I的厚度X为18um，导电粒子2的直径Y为3um (可为圆球体)，于导电粒子分布密度为80000/mm2的条件下(当绝缘胶层I的面积为1000um2时，导电粒子2百分之百的捕捉数量为800个)，若该间隔距离Z为2um时；实际测得的导电粒子2捕捉数量为353个，因此其捕捉率约为43，而实际测得的垂直电阻的导通阻值为2.8。
[0036]参图2所示，在第二实施例中，绝缘胶层I的厚度X为18um，导电粒子2直径Y为3um (可为圆球体)，于导电粒子分布密度为80000/mm2的条件下(当绝缘胶层I的面积为1000um2时，导电粒子2百分之百的捕捉数量为800个)，若间隔距离Z为4um时；实际测得的导电粒子2捕捉数量为487个，因此其捕捉率约为60，而实际测得的垂直电阻的导通阻值为2.5。
[0037]参图3所示，在第三实施例中，绝缘胶层I的厚度X为18um，导电粒子2直径Y为3um (可为圆球体)，于导电粒子分布密度为80000/mm2的条件下(当绝缘胶层I的面积为1000um2时，导电粒子2百分之百的捕捉数量为800个)，若间隔距离Z为6um时；实际测得的导电粒子2捕捉数量为453个，因此其捕捉率约为56，而实际测得的垂直电阻的导通阻值为2.5。
[0038]参图4所示，在第四实施例中，绝缘胶层I的厚度X为18um，导电粒子2直径Y为3um (可为圆球体)，于导电粒子分布密度为80000/mm2的条件下(当绝缘胶层I的面积为1000um2时，导电粒子2百分之百的捕捉数量为800个)，若间隔距离Z为Sum时；实际测得的导电粒子2捕捉数量为320个，因此其捕捉率为40，而实际测得的垂直电阻的导通阻值为 2.8o
[0039]参图5所示，在第五实施例中，绝缘胶层I的厚度X为18um，导电粒子2直径Y为3um (可为圆球体)，于导电粒子分布密度为80000/mm2的条件下(当绝缘胶层I的面积为1000um2时，导电粒子2百分之百的捕捉数量为800个)，若间隔距离Z为1um时；实际测得的导电粒子2捕捉数量为252个，因此其捕捉率约为31，而实际测得的垂直电阻的导通阻值为3.0。
[0040]参图6所示，在第六实施例中，绝缘胶层I的厚度X为18um，导电粒子2直径Y为3um (可为圆球体)，于导电粒子