一种具有功率优化器的光伏组件的el测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及光伏组件测试技术领域，尤其涉及一种具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法。
【背景技术】
[0002]目前，功率优化器开始大规模应用于太阳能光伏系统中，其目的是解决光伏组串输出的“木桶效应”，即光伏组串中最差的光伏组件决定整个光伏系统的发电量。所述功率优化器本质上是一个直流到直流的电流控制降压/升压转换器，即根据阻抗匹配原理来调整每个光伏组件的输出电压和电流，使得组串中部分组件即使受到了不利因素(如制造公差、阴影遮挡、组件污染、组件老化等)的影响，也能使组件以最大的功率输出，从而提升光伏系统的整体收益率。
[0003]目前，功率优化器面向单个组件应用，无论是以集成芯片的形式层压在组件中，还是嵌在接线盒内连接于组件外，安装有功率优化器的光伏组件在工业化生产的EL(缺陷检测)测试工序中均存在极大的风险。
【发明内容】
[0004]为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法，以降低安装有功率优化器的光伏组件在工业化生产的EL测试工序中的风险。
[0005]为解决上述问题，本发明实施例提供了如下技术方案:
[0006]一种具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法，包括:
[0007]步骤1:电连接电源、EL测试仪和参考组件；
[0008]步骤2:在标准测试条件下，打开并调节所述EL测试仪，直至获取所述参考组件的色界分明、层次清晰的图像；
[0009]步骤3:将所述参考组件替换为待测组件，并在所述待测组件与所述EL测试仪之间电连接限流器；
[0010]步骤4:打开所述EL测试仪，获取并保存所述待测组件的图像；
[0011]其中，所述参考组件与所述待测组件具有相同尺寸和数量的电池片，且标有其短路电流。
[0012]优选的，打开并调节所述EL测试仪，直至获取所述参考组件的色界分明、层次清晰的图像包括:
[0013]步骤201:打开所述EL测试仪，调节所述EL测试仪的输出电流至预设电流；
[0014]步骤202:调节所述EL测试仪，获取所述参考组件的图像；
[0015]步骤203:判断所获取的图像是否清晰，若不清晰，则继续调节所述EL测试仪，直至获取所述参考组件的图像为色界分明、层次清晰的图像。
[0016]优选的，打开所述EL测试仪，调节所述EL测试仪的输出电流至预设电流包括:
[0017]打开所述EL测试仪，判断所述EL测试仪的当前输出电流是否为预设电流；
[0018]如果所述EL测试仪的当前输出电流为预设电流，则直接执行步骤202 ;
[0019]如果所述EL测试仪的当前输出电流不是预设电流，则调节所述EL测试仪，直至所述EL测试仪的输出电流为预设电流，再执行步骤202。
[0020]优选的，所述预设电流与所述参考组件短路电流之间的偏差范围为【_5%，5%】。[0021 ] 优选的，该方法还包括:
[0022]步骤5:判断待测组件是否均已测试完毕，如果没有，用待测组件替换已测组件，重复步骤4 ;如果均已测试完毕，则关闭所述EL测试仪和电源，结束测试。
[0023]优选的，所述标准测试条件包括:辐照度为1000W.m_2、电池温度为25°C、GB/T6495.3的标准太阳光谱福照度分布。
[0024]优选的，所述限流器包括多个防浪涌保护器。
[0025]与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点:
[0026]本发明实施例所提供的具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法，包括:步骤1:电连接电源、EL测试仪和参考组件；步骤2:在标准测试条件下，打开并调节所述EL测试仪，直至获取所述参考组件的色界分明、层次清晰的图像；步骤3:将所述参考组件替换为待测组件，并在所述待测组件与所述EL测试仪之间电连接限流器；步骤4:打开所述EL测试仪，获取并保存所述待测组件的图像；其中，所述参考组件与所述待测组件具有相同尺寸和数量的电池片，且标有其短路电流。
[0027]由此可见，本发明实施例所提供的测试方法，先利用参考组件调节所述EL测试仪，以避免利用所述EL测试仪测试待测组件时，所述EL测试仪的输出电流不合适，导致待测组件被损坏的现象，而且，本发明实施例所提供的测试方法，在所述待测组件与所述EL测试仪之间增加了限流器，从而避免了热插拔过程中，由于浪涌电流的产生，而对待测组件造成损坏的现象。
【附图说明】
[0028]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0029]图1为本发明一个实施例所提供的具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法的流程示意图；
[0030]图2为本发明一个实施例所提供的具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法中，待测组件测试结构电连接示意图；
[0031]图3为本发明另一个实施例所提供的具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法的流程示意图。
【具体实施方式】
[0032]正如【背景技术】部分所述，安装有功率优化器的光伏组件在工业化生产的EL (缺陷检测)测试工序中存在极大的风险。
[0033]发明人研宄发现，基于工业化生产的效率性原则，光伏组件在EL测试环节始终采用热插拔操作来替换不同的待测组件，而热插拔过程中会产生浪涌电流，易烧毁功率优化器内部数十甚至数百个元件器，导致安装有功率优化器的光伏组件在工业化生产的EL(缺陷检测)测试工序中存在极大的风险。其中，热插拔是指不关闭EL测试仪、不切断电源的情况下，断开当前待测组件与EL测试仪的连接，更换待测组件，重新连接新的待测组件和EL测试仪；浪涌电流是指电源接通瞬间或是电路出现异常情况时，产生的远大于稳态电流的峰值电流或过载电流。
[0034]有鉴于此，本发明实施例提供了一种具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法，包括:
[0035]步骤1:电连接电源、EL测试仪和参考组件；
[0036]步骤2:在标准测试条件下，打开并调节所述EL测试仪，直至获取所述参考组件的色界分明、层次清晰的图像；
[0037]步骤3:将所述参考组件替换为待测组件，并在所述待测组件与所述EL测试仪之间电连接限流器；
[0038]步骤4:打开所述EL测试仪，获取并保存所述待测组件的图像；
[0039]其中，所述参考组件与所述待测组件具有相同尺寸和数量的电池片，且标有其短路电流。
[0040]本发明实施例所提供的测试方法，先利用参考组件调节所述EL测试仪，以避免利用所述EL测试仪测试待测组件时，所述EL测试仪的参数设置不合适，导致待测组件被损坏的现象，而且，本发明实施例所提供的测试方法，在所述待测组件与所述EL测试仪之间增加了限流器，从而避免了热插拔过程中，由于浪涌电流的产生，而对待测组件造成损坏的现象。
[0041]为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的【具体实施方式】做详细的说明。
[0042]在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广。因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
[0043]如图1所示，本发明实施例提供了一种具有功率优化器的光伏组件的EL测试方法，包括:
[0044]步骤1:电连接电源、EL测试仪和参考组件，其中，所述参考组件与待测组件具有相同尺寸和数量的电池片，且标有其短路电流。
[0045]需要说明的是，EL测试是指利用晶体硅的电致发光原理，通过直流电源给光伏组件通正向偏压，使组件内部电池片发