一种用于检测背光模组的电源电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电源电路，具体地说是一种安装在治具内，用于检测背光模组的电源电路。
【背景技术】
[0002]背光模组在生产过程中都会经过一系列的检测工序，确保出厂质量。然而，由于产生过程中难免会出现一些遗漏，因此，有时除了生产车间内需要对背光模组进行检测之外，还需要随时地在客户所在地进行检测，即在客户端或者其他非厂商生产所在地进行背光模组的检测。目前的对于背光模组的此种点亮检测，往往需要用到专门的治具，以及专门的输入电源，并且同时需要一个交流插座来插接电源，这就导致检测背光点亮的工作无法在各种场合进行，给技术人员带来一定的麻烦。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题是提供一种用于检测背光模组的电源电路，能够使用手机、充电宝等简便的移动电源作为电源输入，方便在各中场合点亮背光模组进行检测和确认。
[0004]为了解决上述技术问题，本发明采取以下技术方案:
一种用于检测背光模组的电源电路，包括单片机、升压电路、电流检测电路和电流输出电路，电流检测电路与单片机连接，电流输出电路包括恒流芯片，升压电路的输出端通过线路与该恒流芯片的输入端连接，该恒流芯片的输出端连接有电流输出模块，该电流输出模块包括相互连接的两个三极管及电阻，该电流输出模块的输出端与单片机连接。
[0005]所述电流输出模块包括第一模块、第二模块、第三模块和第四模块；第一模块包括PNP型三极管Q5和NPN型三级管Q7，三极管Q5的发射极与恒流芯片的输出端，三极管Q5的基板通过阻值为4.7K的电阻与三极管Q7的集电极连接，三极管Q7的发射极与单片机连接，三极管Q5的集电极连接有电阻R21、电阻17和电阻18，该电阻R21、电阻17和电阻18并联连接，三极管Q5的基极通过电阻R14与输入电压连接；第二模块包括PNP型三极管Q6和NPN型三级管Q6，三极管Q6的发射极与恒流芯片的输出端，三极管Q6的基板通过阻值为4.7K的电阻与三极管Q8的集电极连接，三极管Q8的发射极与单片机连接，三极管Q6的集电极连接有电阻R19和电阻20，该电阻R19和电阻20并联连接，三极管Q6的基极通过电阻R25与输入电压连接；第三模块包括PNP型三极管QlO和NPN型三级管Q9，三极管QlO的发射极与恒流芯片的输出端，三极管QlO的基板通过阻值为4.7K的电阻与三极管Q9的集电极连接，三极管Q9的发射极与单片机连接，三极管QlO的集电极连接有电阻R29，三极管QlO的基极通过电阻R27与输入电压连接；第四模块包括PNP型三极管Q17和NPN型三级管Q14，三极管Q17的发射极与恒流芯片的输出端，三极管Q17的基板通过阻值为4.7K的电阻与三极管Q14的集电极连接，三极管Q14的发射极与单片机连接，三极管Q17的集电极连接有电阻R32，三极管Q17的基极通过电阻R13与输入电压连接。
[0006]所述电流检测电路包括三极管PNP型Q4和NPN型三极管Q12，三极管Q4的发射极和基极分别连接输出端OUTX和0UT+，三极管Q4的集电极通过电阻RlO与三极管Q12的基极连接，三极管Q12的发射极通过电阻R12与电阻RlO连接，三极管Q12的集电极通过电阻Rll连接有光耦合器D6，三极管Q12的集电极与电阻Rll间设有测试点TEST，该测试点TEST与单片机连接，该三极管Q4的基极还连接有电阻R39和电阻R33。
[0007]所述升压电路包括升压芯片，该升压芯片的输入端连接有电阻R2、电阻R3和电阻R4，电阻R2和电阻R4还均通过线路与电感L连接，该电感L通过二极管Dl接电源输出端，该电源输出端与恒流芯片的输入端连接，电源输入端还通过电容C3接地。
[0008]还包括电压极性检测电路，该电压极检测电路包括PNP型三极管Q2、PNP型三级管Q3、NPN型三极管Q13和NPN型三极管Q15，三极管Q2的基极和发射极间设有电阻R23，三极管Q3的基极和发射极间设有电阻R24，；三极管Q2的集电极与端子的第一引脚连接，然后从端子的第二引脚中出来再连接到三极管Q15的集电极；三极管Q3的集电极与端子的第二引脚连接，然后从端子的第一引脚出来再连接到三极管Q13的集电极。
[0009]所述三极管Q2的基极通过电阻R30连接NPN型三极管Qll的集电极，三极管Q13的基极连接NPN型三极管Q18的集电极，三极Q3的基极通过电阻R31连接NPN型三极管Q16的集电极，三极管Q15的基极连接NPN型三极管Q19的集电极，三极管Ql1、三极管Q18、三极管Q16和三极管Q19的基极均与单片机连接。
[0010]本发明通过设置在一个相应的PCB板上，可以装在一个较为小巧的治具内，能够利用手机、充电宝等作为电源输入，大大方便技术人员的操作，实现在各中场合都能够进行操作，无需专门的交流插座或者特定的电源，可以随时点亮背光模组进行检测和确认。
【附图说明】
[0011]附图1为本发明的电路原理框图；
附图2为本发明中的电流输出电路和电流检测原理示意图；
附图3为本发明中的升压电路原理示意图；
附图4为本发明中的电压极性检测电路原理示意图；
附图5为本发明中各电路与单片机相连接的原理示意图。
【具体实施方式】
[0012]为了便于本领域技术人员的理解，下面结合附图对本发明作进一步的描述。
[0013]如附图1?5所示，本发明揭示了一种用于检测背光模组的电源电路，包括单片机、升压电路、电流检测电路和电流输出电路，电流检测电路与单片机连接，电流输出电路包括恒流芯片，升压电路的输出端通过线路与该恒流芯片的输入端连接，该恒流芯片的输出端连接有电流输出模块，该电流输出模块包括相互连接的两个三极管及电阻，该电流输出模块的输出端与单片机连接。
[0014]所述电流输出模块包括第一模块、第二模块、第三模块和第四模块；第一模块包括PNP型三极管Q5和NPN型三级管Q7，三极管Q5的发射极与恒流芯片的输出端，三极管Q5的基板通过阻值为4.7K的电阻与三极管Q7的集电极连接，三极管Q7的发射极与单片机连接，三极管Q5的集电极连接有电阻R21、电阻17和电阻18，该电阻R21、电阻17和电阻18并联连接，三极管Q5的基极通过电阻R14与输入电压连接；第二模块包括PNP型三极管Q6和NPN型三级管Q6，三极管Q6的发射极与恒流芯片的输出端，三极管Q6的基板通过阻值为4.7K的电阻与三极管Q8的集电极连接，三极管Q8的发射极与单片机连接，三极管Q6的集电极连接有电阻R19和电阻20，该电阻R19和电阻20并联连接，三极管Q6的基极通过电阻R25与输入电压连接；第三模块包括PNP型三极管QlO和NPN型三级管Q9，三极管QlO的发射极与恒流芯片的输出端，三极管QlO的基板通过阻值为4.7K的电阻与三极管Q9的集电极连接，三极管Q9的发射极与单片机连接，三极管QlO的集电极连接有电阻R29，三极管QlO的基极通过电阻R27与输入电压连接；第四模块包括PNP型三极管Q17和NPN型三级管Q14，三极管Q17的发射极与恒流芯片的输出端，三极管Q17的基板通过阻值为4.7K的电阻与三极管Q14的集电极连接，三极管Q14的发射极与单片机连接，三极管Q17的集电极连接有电阻R32，三极管Q17的基极通过电阻R13与输入电压连接。
[0015]所述电流检测电路包括三极管PNP型Q4和NPN型三极管Q12，三极管Q4的发射极和基极分别连接输出端OUTX和0UT+，三极管Q4的集电极通过电阻RlO与三极管Q12的基极连接，三极管Q12的发射极通过电阻R12与电阻RlO连接，三极管Q12的集电极通过电阻Rll连接有光耦合器D6，三极管Q12的集电极与电阻Rll间设有测试点TEST，该测试点TEST与单片机连接，该三极管Q4的基极还连接有电阻R39和电阻R33。
[0