抑制浪涌雷电波干扰的方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及电子设备信号处理技术领域，特别是设及一种抑制浪涌雷电波干扰的 方法。
【背景技术】
[000引雷电波具有幅值范围大（0~10KV或更高）、功率大、时间短、峰值高W及波头睹 (瞬时就造成损害）的特点，对于电子设备（例如电力系统继电保护装置）来说，只要其中 一个该样的波形进入到电子设备，将有可能造成内部元器件的损坏或者保护装置的误动， 给系统的安全稳定运行带来很大威胁。因此，电子设备抗浪涌雷电波干扰一直是困扰设计 师的难题。
[0003] 传统的方法往往采取错位限幅的方法防止元器件被打坏，却很难阻止干扰波进入 装置并对有效信号进行干扰。由于雷电波极性不确定，可正可负，一个很大幅值的雷电波形 被微机系统捕捉到就会瞬间放大或者缩小有效信号（模拟量信号）的幅值，从而造成继电 保护装置误动作。故，错位限幅的方法只能挡住幅值过高的波形避免元器件的损坏，却无法 防止干扰波形随有用信号进入装置而被采集到，无法防止保护装置误动。采用多方接地技 术和屏蔽技术将干扰波挡在装置外也是传统的抗干扰措施，但由于雷击干扰是多方位的， 该些措施往往效果都不是太好，很多保护装置实际运行中仍然无法经受住该种干扰波的考 验。由于雷电波不是高频或低频信号，传统的硬件滤波电路对其也很难能起到作用。
【发明内容】
[0004] 基于此，有必要针对上述问题，提供一种抗干扰性强的抑制浪涌雷电波干扰的方 法。
[0005] 一种抑制浪涌雷电波干扰的方法，用于抑制浪涌雷电波对电子设备内的模拟量信 号的干扰，包括W下步骤：按预设采样频率对所述模拟量信号进行采样；获取目标采样点 的采样值A。;获取与所述目标采样点相邻的两个采样点的采样值Aw、Aw;判断目标采样点 是否受到浪涌雷电波的干扰；具体为，判断采样值A"、A"_iW及Aw是否满足k|A"-A"_i| >A"_i 和kIA"-AwI>Aw，其中k的范围为2.0~5.0龙采样值A。、A"_山及Aw满足kIA。-八。_1 >八。_1和k|A"-Aw| >Aw，则目标采样点受到浪涌雷电波的干扰；若所述目标采样点受到 浪涌雷电波的干扰，则对目标采样点进行滤波处理。
[0006] 在其中一个实施例中，所述对目标采样点进行滤波处理的步骤具体为：根据与目 标采样点相邻的两个采样点的采样值确定目标采样点的数据值；将所述数据值赋给所述目 标采样点。
[0007] 在其中一个实施例中，所述根据与目标采样点相邻的两个采样点的采样值确 定目标采样点的数据值的步骤中确定所述目标采样点的数据值A。'的公式为；A。'= 0. 5X (An_i+Aw)。
[000引在其中一个实施例中，所述判断目标采样点是否受到浪涌雷电波的干扰的步骤 中，若所述目标采样点未受到浪涌雷电波的干扰，则不对所述目标采样点进行操作。
[0009] 在其中一个实施例中，按预设采样频率对所述模拟量信号进行采样的步骤中，采 样周期大于所述浪涌雷电波的宽度。
[0010] 在其中一个实施例中，所述预设采样频率为1200赫兹。
[0011] 在其中一个实施例中，所述获取目标采样点的采样值A。的步骤之后还包括步骤： 判断所述目标采样点的采样值A。是否大于或等于保护阔值；若否，则执行所述获取目标采 样点的采样值A。的步骤之后的步骤。
[0012] 在其中一个实施例中，所述判断所述目标采样点的采样值A。是否大于或等于保护 阔值的步骤中，若所述采样值A。大于或等于所述保护阔值，则执行所述对所述目标采样点 进行滤波处理的步骤。
[0013] 在其中一个实施例中，还包括步骤：将所述电子设备接地。
[0014] 上述抑制浪涌雷电波干扰的方法可W根据目标采样点W及与目标采样点相邻的 两个采样点的采样值之间关系判断目标采样点是否受到浪涌雷电波的干扰，从而在目标采 样点受到干扰后对该目标采样点进行滤波处理，从而避免电子设备因干扰而带来误动作， 系统的抗干扰性强。
【附图说明】
[0015] 图1为一实施例中的抑制浪涌雷电波干扰的方法的流程图；
[0016] 图2为雷电流波形图；
[0017] 图3为雷电压波形图；
[0018] 图4~图7为雷电波干扰模拟量信号并叠加到模拟量信号的示意图；
[0019] 图8为目标采样点采样误差计算示意图；
[0020] 图9为另一实施例中的抑制浪涌雷电波干扰的方法的流程图。
【具体实施方式】
[0021] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，W下结合附图及实施例，对 本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用W解释本发明，并 不用于限定本发明。
[0022] 一种抑制浪涌雷电波干扰的方法，用于抑制浪涌雷电波对电子设备内模拟量信号 的干扰。电子设备可W为电力系统继电保护装置等与户外设备有直接电缆联系的微机控制 和保护设备。本实施例中，W电力系统继电保护装置为例进行说明。图1为一实施例中的 抑制浪涌雷电波干扰的方法的流程图，包括W下步骤。
[0023] S110,按预设采样频率对模拟量信号进行采样。
[0024] 为避免相邻的两个采样点都采样到干扰波形，采样周期设定为大于浪涌雷电波的 宽度。由于，浪涌雷电波的特点是尖峰脉冲，幅值非常大但脉冲宽度很小，如图2和图3所 示。其中，波前时间T1为1. 2微秒而半峰值时间T2也仅为50微秒，即整个浪涌雷电波的 宽度也就只有50微秒（脉冲宽度很小）。在本实施例中，采样频率为1. 2KHZ，其采样周期 约为0. 833毫秒，大于浪涌雷电波的宽度。
[0025]S120,获取目标采样点的采样值。
[0026] 目标采样点可W为任意采样点，获取到目标采样点的采样值A。，其中A用于表示采 样获得的数据值，n则用于表示对应的采样点。采样值可W为模拟量信号的电压幅值或者 电流幅值等能够反映模拟量信号特性且具有连续变化特性的参数。
[0027] S130,获取与目标采样点相邻的两个采样点的采样值。
[002引获取与目标采样点相邻的两个采样点的采样值，分别为采样值Aw和Aw。步骤S130与步骤S120的先后顺序可W进行互换，也可W同时进行，并没有严格的限定。
[0029] S140,判断目标采样点是否受到浪涌雷电波的干扰。
[0030] 电子设备的采样周期大于浪涌雷电波的宽度，并且雷电波发生的频率不高，同一 地点不太可能在1秒内发生两次W上的雷电。因此一个工频周期内最多只可能出现一个干 扰点，即采样过程中不大可能会在连续的两个采样点都采样到干扰波形，故只需要将干扰 采样点进行识别并滤除即可。
[0031] 由于浪涌雷电波可正可负，其方向可能与模拟量信