技术总结
本发明公开了一种贝尔态测量系统及测量方法，主要解决现有技术不能对纠缠光子对进行非破坏性的贝尔态测量的问题。其步骤为：1.产生纠缠光子对和前两个辅助单光子(X，Y)，并将这四个光子依次通过第一前置和后置测量子模块得到前两个光探测器(D1，D2)的响应结果；2.产生后两个辅助单光子(M，N)，并将纠缠光子和这后两个光子依次通过第二前置和后置测量子模块得到后两个光探测器(D3，D4)的响应结果；3.根据这四个光探测器的响应结果，得出纠缠光子对所处的贝尔态。本发明利用光学器件和量子逻辑运算，能在不破坏纠缠光子对的情况下，准确测量出纠缠光子对的贝尔态。
技术研发人员：权东晓;杨会科;朱畅华;陈娜;赵楠;易运晖;陈南;裴昌幸
受保护的技术使用者：西安电子科技大学
文档号码：201611149683
技术研发日：2016.12.13
技术公布日：2017.05.31