光功率的监控方法及装置与流程

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光功率的监控方法及装置。

背景技术：

无源光网络通常包括一个安装于局端的光线路终端(opticallineterminal，简称olt)，以及配套安装在各个用户场所的光网络单元(opticalnetworkunit，onu)。图1为无源光网络的示意图。如图1所示，因为onu在与olt对接业务中，1个olt要对接多个onu，由于所有onu的光纤通过分光器接到一起进入olt，所以采用时分复用的带宽控制方法，在同一个时刻olt只允许一个onu可以发光。onu一旦发过光，后面长时间不发光，光功率值也会保持不变，即保持为最后一次发光的光功率值，此现象被称为锁存。

现有的onu的发射光功率的锁存功能，会导致一旦发过光，即使之后发生注册后掉线、光纤被拔下来、光纤被折断等异常情况，通过本地网管接口读取的光功率值也仍然为最后一次记录的正常发光的光功率值，使得维护人员根据所读取到的onu光功率值对onu设备的工作状态做出误判，通过onu所提供的光功率值无法正常反馈onu的工作状态，容易给维护人员造成误导。

技术实现要素：

本发明提供一种光功率的监控方法及装置，以克服现有技术中发射光功率的锁存功能，容易给维护人员造成误导的问题。

第一方面，本发明提供一种光功率的监控方法，包括：

每隔第一预设时长根据光网络单元onu的发光指示端口的电平变化，确定所述onu在所述第一预设时长内是否发过光；

若所述onu在所述第一预设时长内未发过光，将未发过光的次数加一；其中，所述未发过光的次数的初始值为0；

统计第二预设时长内的所述未发过光的次数；

若所述未发过光的次数大于预设阈值，则将所述onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值。

第二方面，本发明提供一种光功率的监控装置，包括：

微控制单元mcu和存储器；

其中，存储器，用于存储程序；

所述mcu，用于调用所述存储器存储的程序，执行如下操作：

每隔第一预设时长根据光网络单元onu的发光指示端口的电平变化，确定所述onu在所述第一预设时长内是否发过光；

若所述onu在所述第一预设时长内未发过光，将未发过光的次数加一；其中，所述未发过光的次数的初始值为0；

统计第二预设时长内的所述未发过光的次数；

若所述未发过光的次数大于预设阈值，则将所述onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值。

本发明提供的光功率的监控方法及装置，每隔第一预设时长，确定onu在第一预设时长内是否发过光，若否，则将未发过光的次数加一，统计第二预设时长内的未发过光的次数，若该未发过光的次数大于预设阈值，将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值，即在onu长时间不发光的情况下把锁存的光功率值修改为无光状态对应的光功率值，在掉线等情况下发射光功率的监控和实际情况更一致，使得维护人员更容易定位问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为无源光网络的示意图；

图2为本发明方法一实施例的onu突发部分的结构示意图；

图3为本发明光功率的监控方法一实施例的流程示意图；

图4为本发明方法一实施例的mcu部分的结构示意图；

图5为本发明光功率的监控装置一实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

现有的onu的发射光功率的锁存功能，会导致一旦发过光，而后如果发生注册后掉线、光纤被拔下来、光纤被折断等异常情况，通过本地网管接口读取的光功率值也仍然为最后一次记录的正常发光的光功率值，极易给维护人员造成误导，维护人员无法根据监测到的光功率值确定是否发生异常情况。

本申请针对上述问题进行改进，每间隔一预设时长，确定onu在某一预设时长内是否发过光，若在onu长时间不发光的情况下把锁存的光功率值修改为无光状态对应的光功率值。

下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。

图2为本发明方法一实施例的onu突发部分的结构示意图。图3为本发明光功率的监控方法一实施例的结构示意图。如图3所示，本实施例的光功率的监控方法包括：

步骤301、每隔第一预设时长根据光网络单元onu的发光指示端口的电平变化，确定onu在第一预设时长内是否发过光；

步骤302、若onu在第一预设时长内未发过光，将未发过光的次数加一；其中，未发过光的次数的初始值为0；

步骤303、统计第二预设时长内的未发过光的次数；

步骤304、若未发过光的次数大于预设阈值，则将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值。

如图2所示，本发明实施例所涉及的onu的突发部分包括微控制单元(microcontrollerunit，简称mcu)、驱动器、监控采样保持及数字闭环控制电路、激光器、激光器发光监控电路等部分。其中驱动器提供激光器正常发光所需要的驱动电流，根据输入的突发使能信号、高速信号、驱动强度信号来驱动激光器；数字闭环控制电路根据mcu设定的发光目标和反馈的实际发光信号(即监控电流)来动态调节驱动器的驱动强度；激光器发光监控电路用来监控并锁存发光时候的光功率值；突发光指示txsd用来指示当前是否发光；mcu负责数字闭环的发光目标设定、突发光功率的监控以及对外的网管接口通讯，mcu根据txsd和激光器发光监控电路的光功率值来更新mcu内部发射光功率寄存器。可以通过网管接口读取mcu内部发射光功率寄存器的值。

上述各个部分可以位于一个芯片中，也可以是独立的。

具体来说，onu的mcu每隔第一预设时长确定一次在该第一预设时长内是否发过光，具体可以根据发光指示端口的电平变化确定是否发过光，例如若发光指示端口的电平由原来的低电平变化到高电平，则认为发过光，若发光指示端口的电平一直为低电平，则认为是未发过光。发光指示端口txsd如图2所示，当onu发光的时候txsd的电平为高电平，不发光的时候txsd的电平为低电平。

若在第一预设时长内未发过光，则将未发过光的次数加一，该未发过光的次数的初始值为0。

统计第二预设时长内的未发过光的次数。第二预设时长可以为第一预设时长的倍数，例如第一预设时长为40ms，第二预设时长为20s。或者，第二预设时长仅仅是远大于第一预设时长的一时长。

即统计一段时间内的未发过光的次数。

若统计的未发过光的次数大于一预设阈值，则将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值。预设阈值可以为小于第二预设时长和第一预设时长的比值的一整数。

即经过第二预设时长，判断未发过光的次数是否大于一预设阈值，若是，则将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值。

示例性的，mcu每隔40ms检查一次onu是否发过光；若onu在40ms内未发过光，则将未发过光的次数加一；如果在20s内，每一次的40ms内都未发过光，即未发过光的次数为500次，大于某一预设阈值，则将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值。

示例性的，mcu每隔40ms检查一次onu是否发过光；若onu在40ms内未发过光，则将未发过光的次数加一；如果在20s内，只有一次的40ms内发过光，其余每次的40ms内均为发过光，则未发过光的次数为499次，大于某一预设阈值，则将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值。

第一预设时长、第二预设时长和预设阈值可以根据实际情况确定，本发明实施例对此并不限定。

可选地，步骤c之前，还可以包括：

若onu在第一预设时长内发过光，则将未发过光的次数清零。

为了避免未发过光的次数一直累加，例如某些时候第二预设时长内的最后一个第一预设时长内发过光，但是之前的n个第一预设时长内均未发过光，例如20s内的最后40ms发过光，其余的每一个40ms内均未发过光，这样未发过光的次数也会累加到一定值，也可能将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值，这样导致维护人员形成错误的判断，即认为onu长时间未发光，认为onu发生故障。

因此onu在某一第一预设时长内一旦发过光，则将未发过光的次数清零。

示例性的，mcu每隔40ms检查一次onu是否发过光；若onu在40ms内未发过光，则将未发过光的次数加一；若onu在40ms内发过光，则将上述未发过光的次数清零，并从激光器发光监控电路获取监控的光功率值，更新mcu内部的发射光功率寄存器的光功率值。如果在20s内，每一次的40ms内都未发过光，即未发过光的次数为500次，大于某一预设阈值，则将mcu内部的发射光功率寄存器的光功率值为无光状态对应的光功率值。

无光状态对应的光功率值可以为-40dbm。

本实施例提供的方法，每隔第一预设时长，确定onu在第一预设时长内是否发过光，若否，则将未发过光的次数加一，统计第二预设时长内的未发过光的次数，若该未发过光的次数大于预设阈值，将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值，即onu在长时间不发光的情况下把锁存的光功率值修改为无光状态对应的光功率值，在掉线等情况下发射光功率的监控和实际情况更一致，使得维护人员更容易定位问题。

图4为本发明方法一实施例的mcu部分的结构示意图。在图3所示的实施方式的基础上，进一步的，在实际应用中，本实施例的方法中，步骤a具体可以通过如下方式实现：

根据onu的发光指示端口的标志位的变化，确定onu在预设时长内是否发过光。

具体来说，发光指示端口可以是上述图2中的txsd，当onu发光的时候txsd为高电平，不发光的时候txsd为低电平。此发光指示端口的指示信号可以接入到mcu有电平变化中断功能的外设，例如8051内核的mcu的外部中断，并配置为上升沿触发，但是关闭其中断使能功能。当发生过上升沿事件后，其中断标志位会置1。mcu读取该标志位的值，根据该标志位的值的变化确定onu在预设时长内是否发过光。

上述标志位在mcu读取之后清零。

如图4所示，mcu可以包括发射光功率寄存器、超时计数器、记录电平变化的硬件(记录发光指示端口的电平变化)以及定时执行的程序，其中定时执行的程序为上述方法步骤a-步骤c对应的程序代码。其中外部网管可以在任意时刻读取mcu内部发射光功率寄存器的光功率值；记录电平变化的硬件在本发明的具体实现中可以采用mcu的电平变化中断功能的外设，一旦发生过电平变化，其标志位就会变为1，mcu的定时程序读取后将该标志位清空为0。

示例性的，mcu每隔40ms检查一次onu是否有上升沿事件，即检查中断标志位是否为1，如果有记录的上升沿事件则清空硬件的记录的上升沿事件、清空超时计数器记录的次数、从激光器发光监控电路读取监控的光功率值，更新mcu内部的发射光功率寄存器的光功率值，否则超时计数器记录的次数自增。经过第二预设时长后，判断超时计数器记录的次数是否超过预设阈值，若是，则将mcu内部的发射光功率寄存器的光功率值为无光状态对应的光功率值。

图5为本发明光功率的监控装置一实施例的结构示意图。如图5所示，本实施例的光功率的监控装置，可以包括：

微控制单元mcu501、存储器502；

其中，存储器502，用于存储程序；具体地，程序可以包括程序代码，所述程序代码包括计算机操作指令。

mcu501，用于调用存储器存储的程序，执行如下操作：

每隔第一预设时长根据光网络单元onu的发光指示端口的电平变化，确定所述onu在所述第一预设时长内是否发过光；

若所述onu在所述第一预设时长内未发过光，将未发过光的次数加一；其中，所述未发过光的次数的初始值为0；

统计第二预设时长内的所述未发过光的次数；

若所述未发过光的次数大于预设阈值，则将所述onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值。

可选地，所述mcu501，还用于执行如下操作：

若所述onu在所述第一预设时长内发过光，则将所述未发过光的次数清零。

可选地，所述mcu501，具体用于：

根据所述onu的发光指示端口的标志位的变化，确定所述onu在第一预设时长内是否发过光。

本实施例提供的光功率的监控装置，mcu每隔第一预设时长，确定onu在第一预设时长内是否发过光，若否，则将未发过光的次数加一，mcu统计第二预设时长内的未发过光的次数，若该未发过光的次数大于预设阈值，mcu将onu的光功率值设为无光状态对应的光功率值，即mcu在onu长时间不发光的情况下把锁存的光功率值修改为无光状态对应的光功率值，在掉线等情况下发射光功率的监控和实际情况更一致，使得维护人员更容易定位问题。

需要说明的是，对于装置实施例而言，由于其基本相应于方法实施例，其实现原理和技术效果类似，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可，此处不再赘述。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。