测量发送校准的相位补偿效果的方法、系统及处理装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及无线通信技术，更具体涉及一种测量发送校准的相位补偿效果的方 法、系统及处理装置。
【背景技术】
[0002] 当前，智能天线在无线通信系统中广泛应用。应用智能天线时，发送校准是为了消 除智能天线的多个发送通道间的不一致性。发送校准主要包含两个部分：测量和补偿。测 量工作主要是通过一定的测量方法得到多个通道的幅相特性，并根据该特性计算出相应的 补偿因子；补偿工作则负责将补偿因子与数据相乘，以达到消除通道间不一致的目的。
[0003] 对于补偿效果的传统测量方案如下：将各天线连接到耦合盘，各天线支路发送完 全相同数据，观测合路功率是否等于（P+20*logN)，其中，P为单天线支路功率，N为天线个 数，单位为dBm。以8天线系统为例，合路功率应比单天线支路功率增大18dB，如单天线支 路输出功率为40dBm，则合路功率应为58dBm。
[0004] 使用智能天线的无线通信系统中，对于发送校准的相位补偿精度有一定的要求， 但传统的测量方法无法精确验证相位补偿是否达到所要求的精度。例如在TD-LTE的 eNodeB的智能天线发送方向的校准相位补偿效果要求各天线支路的相位差异都在+/-5度 之间。但是如在8天线系统中，通过仿真发现，若发送方向各支路的相位偏差5度，则发送 方向的合路功率降低小于〇. ldB。此时如使用传统测量方法，即通过频谱仪观测合路功率的 方法，即使观测到合路功率不能满足比单支路功率大18dB的需求(如只能达到17. 9dB)，由 于测量误差的存在，也无法准确判断各天线支路的相位差异是否满足在+/-5度之间。
【发明内容】
[0005](一）要解决的技术问题
[0006] 本发明要解决的技术问题是：如何提高测量智能天线的发送校准的相位补偿效果 的精度。
[0007] (二）技术方案
[0008] 为了解决上述技术问题，根据本发明的第一方面，提供了一种测量发送校准的相 位补偿效果的方法，该方法包括：
[0009] 设定相位已知的测试数据；
[0010] 将所述测试数据进行相位补偿后由待校准智能天线系统的多个天线发送到连接 所述多个天线的耦合装置；
[0011] 耦合装置耦合所述相位补偿后的测试数据，输出合路数据；
[0012] 处理装置接收所述合路数据，将所述测试数据的相位与合路数据的相位进行比较 得到相位差。
[0013] 优选地，该方法还包括：
[0014] 所述设定的测试数据的长度为一个OFDM符号，并包括多个相位已知的测试向量， 每个测试向量都对应存放到一个OFDM符号的一个选定的子载波上；
[0015] 处理装置在所述合路数据中找到一个OFDM符号的第一个子载波所对应的数据， 从而找到该OFDM符号所有的数据，根据所述选定的子载波在该OFDM符号中的位置得到所 有对应的数据，将每个测试向量和与其对应的数据进行相位比较得到相位差。
[0016] 优选地，该方法还包括：
[0017] 所述耦合装置输出的合路数据由频谱仪获取后输入到处理装置。
[0018] 根据本发明的第二方面，提供了一种测量发送校准的相位补偿效果的系统，该系 统包括：
[0019] 耦合装置，连接到待校准智能天线系统的多个天线，接收所述多个天线发送的经 过相位补偿的相位已知的测试数据并耦合，输出合路数据；
[0020] 处理装置，接收所述合路数据，将所述测试数据的相位与合路数据的相位进行比 较得到相位差。
[0021] 优选地，所述测试数据的长度为一个OFDM符号，并包括多个相位已知的测试向 量，每个测试向量都对应存放到一个OFDM符号的一个选定的子载波上；处理装置在所述合 路数据中找到一个OFDM符号的第一个子载波所对应的数据，从而找到该OFDM符号所有的 数据，根据所述选定的子载波在OFDM符号中的位置得到所有对应的数据，将每个测试向量 和与其对应的数据进行相位比较得到相位差。
[0022] 优选地，该系统还包括：
[0023] 频谱仪，获取耦合装置输出的合路数据并输入到处理装置。
[0024] 根据本发明的第三方面，提供了一种分析发送校准的相位补偿效果的处理装置， 其特征在于，该处理装置包括：
[0025] 储存模块，储存预设的相位已知的测试数据；
[0026] 接收模块，接收由频谱仪获取的、耦合装置耦合待校准智能天线系统的多个天线 发送的进行相位补偿后的测试数据而输出的合路数据；
[0027] 比较模块，将所述测试数据的相位与合路数据的相位进行比较得到相位差。
[0028] 优选地，该处理装置还包括查找模块；
[0029] 所述测试数据的长度为一个OFDM符号，并包括多个相位已知的测试向量，每个测 试向量都对应存放到一个OFDM符号的一个选定的子载波上；
[0030] 查找模块在所述合路数据中找到一个OFDM符号的第一个子载波所对应的数据， 从而找到该OFDM符号所有的数据，根据所述选定的子载波在OFDM符号中的位置找到所有 对应的数据；
[0031] 比较模块将每个测试向量和与其对应的数据进行相位比较得到相位差。
[0032] (三）有益效果
[0033] 本发明中，利用在待校准智能天线系统中发送相位特性已知的测试数据，通过耦 合装置耦合经过相位补偿后的发送数据而输出合路数据，将这两者的相位进行比较，与现 有技术的仅根据合路功率的大小来判断补偿精度相比，避免了功率测量误差带来的难以判 断补偿效果是否满足要求的问题，可以精确得到智能天线发送校准的相位补偿效果。
【附图说明】
[0034] 图1是根据本发明一个较佳实施例的测量发送校准的相位补偿效果的方法的流 程图。
[0035] 图2是测量8天线RRU发送校准的相位补偿效果的设备连接示意图。
[0036] 图3是一个OFDM符号内合路数据与测试向量的相位相比较的一个结果。
【具体实施方式】
[0037] 下面结合附图和实例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例 仅用来说明本发明，但不用以限制本发明的范围。
[0038] 图1是根据本发明一个较佳实施例的测量发送校准的相位补偿效果的方法，该方 法的流程如下：
[0039] 在步骤S1，设定相位已知的测试数据。相位已知的测试数据可以由处理装置设定 然后输入到待校准的智能天线系统。
[0040] 在步骤S2,将所述测试数据进行相位补偿后由待校准智能天线系统的多个天线发 送到连接所述多个天线的耦合装置。待校准智能天线系统包括多个天线，在下行时隙循环 发送经过相位补偿的所述测试数据，耦合装置的每一个接收端连接到每一个天线支路，接 收测试数据。
[0041] 在步骤S3,耦合装置耦合所述相位补偿后的测试数据，输出合路数据。比较常见的 耦合装置例如为耦合盘，具有将测试数据耦合为合路数据的功能。
[0042] 在步骤S4,处理装置接收所述合路数据，将所述测试数据的相位与合路数据的相 位进行比较得到相位差。处理装置例如为一般的计算机，能够读取合路数据并与之前存储 的测试数据进行相位比较得到相位差，如果得到的相位差都在+/-5度之间，说明发送校准 的补偿效果符合要求，反之则需要重新进行发送校准。
[0043] 优选地，所述设定的测试数据的长度为一个OFDM符号，并包括多个相位已知的测 试向量，每个测试向量都对应存放到一个OFDM符号的一个选定的子载波上；处理装置在所 述合路数据中找到一个OFDM符号的第一个子载波所对应的数据，从而找到该OFDM符号所 有的数据，根据所述选定的子载波在OFDM符号中的位置得到所有对应的数据，将每个测试 向量和与其对应的数据进行相位比较得到相位差。而且，所述多个测试向量中，由相邻天线 发送的测试向量之间的相位差例如都为90度。这样，测量过程比较简易且测量结果比较简 单。
[0044] 还可以将所述耦合装置输出的合路数据通过频谱仪输入到处理装置，这样通过频 谱仪可以抓取一定长度的数据，例如大于一个OFDM符号的合路数据，以便于处理装置进行 分析。
[0045] 本发明还提出了一种测量发送校准的相位补偿效果的系统，在一个较佳实施例 中，该系统包括：
[0046] 耦合装置，连接到待校准智能天线系统的多个天线，接收所述多个天线发送的经 过相位补偿的相位已知的测试数据并耦合，输出合路数据；
[0047] 处理装置，接收所述合路数据，将所述测试数据的相位与合路数据的相位进行比 较得到相位差。
[0048] 耦合装置和处理装置不限于具体的硬件结构，只要能实现其各自的功能即可，它 们的功能可以通过硬件、软件或两者相结合来实现。
[0049] 优选地，所述测试数据的长度为一个OFDM符号，并包括多个相位已知的测试向 量，每个测试