一种图像坏点的检测方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及图像处理领域，尤其涉及一种图像坏点的检测方法及装置。
【背景技术】
[000引图像传感器包含一个彩色滤波阵列（colorfilterarray)，即拜耳滤镜，使传感器 上每一点采集的光线通过拜耳滤镜滤波后只能采集到一种波长的光，传感器上每一点采集 的光线通过滤波处理后通过的对应颜色的光线为红色、藍色或者绿色。图像传感器中的感 光阵列将采集到的光信号转化为电信号；图像传感器再将电信号，转化为数字信号，转化的 数字信号就是当前传感器上每一光线采集的点对应的像素值。图像传感器通过传感器上每 一光线采集的点形成的阵列对应的像素组成一幅对应的原始图像。图像传感器获得的原始 图像需要进行降低噪声与修正图像坏点等相关前置处理，W提高图像显示质量。由于在目 前的传感器的制造工艺中，若图像传感器中的传感器上每一光线采集的点形成的阵列工艺 存在缺陷，或光信号进行转化的过程中出现错误，会造成所揃取的图像上有些像素的信息 有误，导致图像中的像素值不准确，送些有缺陷的像素即为图像坏点度adpixel)。
[0003] 如附图I所示，为现有技术中进行图像坏点检测的示意图，其中虚线部分为检测 窗口，检测窗口中阴影部分的像素为待检测像素，首先确定待检测像素的像素值，W及与待 检测像素周围的同种颜色的同色像素的像素值；然后确定待检测像素的像素值与周围的同 色像素的像素值之差是否在设定的像素值阔值范围内，若不在设定的阔值范围内，则确定 该待检测像素为图像坏点；将与该图像坏点周围的同色像素的像素值求和取平均值作为该 图像坏点校正后的像素值。
[0004]传统的图像坏点检测方法，适用于随机分布的散列图像坏点，即常规图像坏点，但 无法检测出特殊类型的图像坏点，如行列坏点；行列坏点是指由于传感器工艺缺陷，导致采 集得到的图像出现某一整行或整列都是图像坏点，送些图像坏点位置要么全亮，要么全暗， 或者由于光信号转化的过程中，某一行或某一列的转化出现错误，导致一行或一列的像素 都成为图像坏点；采用传统方法进行检测时，当出现行列坏点时，由于同一行或同一列的同 种颜色的像素的像素值差异不大，无法判断出该待检测像素为图像坏点。
[0005]综上所述，当检测图像中出现行列坏点时，现有的图像坏点检测技术无法检测出 行列坏点。
【发明内容】
[0006]本发明的目的是提供一种图像坏点的检测方法，W避免根据检测窗口中单一的阔 值信息判断待检测像素是否为图像坏点，无法检测出行列坏点的问题，既实现了检测图像 中是否存在行列坏点，又提高了检测图像坏点的准确性。
[0007]本发明实施例提供了一种图像坏点的检测方法，该方法包括：
[0008]针对检测图像，将待检测像素作为检测窗口的中必，获取检测窗口内所述待检测 像素W及与所述待检测像素颜色相同的同色像素的像素值，并分别确定所述待检测像素与 检测窗口内每一个同色像素的像素差值；统计所述像素差值大于第一像素差值阔值的同色 像素的数量，作为第一数量值；
[0009] 确定所述检测窗口内所述待检测像素W及与所述待检测像素在同一行、且位于所 述待检测像素右侧的同色像素的像素值均不在设定的像素值阔值范围内，且所述确定的待 检测像素与所述待检测像素右侧的同色像素的像素差值的绝对值均小于设定的绝对值阔 值，则确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似行坏点；
[0010] 确定所述检测窗口内所述待检测像素W及与所述待检测像素在同一列、且位于所 述待检测像素下方的同色像素的像素值均不在设定的像素值阔值范围内，且所述确定的待 检测像素与所述待检测像素下方的同色像素的像素值的差值的绝对值小于设定的绝对值 阔值，则确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似列坏点；
[0011] 确定所述第一数量值大于设定的第一数量阔值，且确定所述待检测像素为所述检 测图像的疑似行坏点，则确定所述待检测像素为所述检测图像的行坏点；确定所述第一数 量值大于设定的第一数量阔值，且确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似列坏点，贝U 确定所述待检测像素为所述检测图像的列坏点。
[0012] 上述实施例中通过检测窗口中待检测像素W及待检测像素的同色像素的像素值， W及待检测像素与同色像素的像素差值确定检测窗口中是否存在疑似行列坏点；根据待检 测像素与检测窗口内每一个同色像素的像素差值确定该待检测像素是否为行列坏点，避免 了根据检测窗口中单一的阔值信息判断待检测像素是否为图像坏点，既实现了检测图像中 是否存在行列坏点，又提高了检测图像坏点的准确性。
[0013] 本发明实施例中该方法还包括：
[0014] 确定所述第一数量值不大于设定的第一数量阔值；和/或，确定所述待检测像素 不是疑似行坏点，也不是疑似列坏点；
[0015] 触发对所述待检测像素进行常规坏点检测。
[0016] 本发明实施例中所述对待检测像素进行常规坏点检测，具体包括：
[0017] 统计所述待检测像素与检测窗口内每一个同色像素的像素差值大于第二像素差 值阔值的同色像素的数量，作为第二数量值，若所述第二数量值大于设定的第二数量阔值， 则确定所述待检测像素为常规坏点，否则确定所述待检测像素为正常像素，触发检测窗口 移动。
[0018] 上述实施例中当确定待检测像素不满足行列坏点确定条件时，对待检测像素进行 常规坏点检测，使待检测像素的检测更准确。
[0019] 本发明实施例中确定所述待检测像素为行坏点之后，则将所述检测窗口内所述待 检测像素的纵向方向梯度值、左对角线方向梯度值、右对角线方向梯度值进行比较，确定梯 度值最小的方向为参考方向；将确定的参考方向上与所述待检测像素相距化个像素单位 的一对同色像素的像素值取平均值，将确定的平均值作为待检测像素校正后的像素值，其 中P为正整数；
[0020] 或，确定所述待检测像素为列坏点之后，则将所述检测窗口内所述待检测像素的 横向方向梯度值、左对角线方向梯度值、右对角线方向梯度值进行比较、确定梯度值最小的 方向为参考方向；将确定的参考方向上与所述待检测像素相距化个像素单位的一对同色 像素的像素值取平均值，将确定的平均值作为待检测像素校正后的像素值，其中P为正整 数；
[0021] 或，确定所述待检测像素是行坏点，也是列坏点之后，则将所述检测窗口内所述待 检测像素的左对角线方向梯度值、右对角线方向梯度值进行比较，确定梯度值最小的方向 为参考方向；将确定的参考方向上与所述待检测像素相距化个像素单位的一对同色像素 的像素值取平均值，将确定的平均值作为待检测像素校正后的像素值，其中P为正整数；
[0022] 或，确定所述待检测像素不是行坏点，也不是列坏点之后，则将所述检测窗口内所 述待检测像素的横向方向梯度值、纵向方向梯度值、左对角线方向梯度值、右对角线方向梯 度值进行比较，确定梯度值最小的方向为参考方向；将确定的参考方向上与所述待检测像 素相距化个像素单位的一对同色像素的像素值取平均值，将确定的平均值作为待检测像 素校正后的像素值，其中P为正整数。
[0023] 上述实施例中当确定待检测像素为图像坏点后，根据图像坏点类型对待检测像素 进行校正，使校正后的待检测像素的像素值与待检测像素的实际像素值更加接近。
[0024] 本发明实施例中确定方向梯度值的方法包括：
[0025] 确定所述检测窗口中与待检测像素在同一行、且与待检测像素相距化个像素单 位的一对同色像素的像素值，将确定的两个像素值作差取绝对值，将所述绝对值作为待检 测像素的横向方向梯度值；
[0026] 确定所述检测窗口中与待检测像素在同一列、且与待检测像素相距化个像素单 位的一对同色像素的像素值，将确定的两个像素值作差取绝对值，将所述绝对值作为待检 测像素的纵向方向梯度值；
[0027] 确定所述检测窗口中左对角线上、且与所述待检测像素相距化个像素单位的一 对同色像素的像素值，将确定的两个像素值作差取绝对值，将所述绝对值作为待检测像素 的左对角线方向梯度值；
[0028] 确定所述检测窗口中右对角线上、且与所述待检测像素相距化个像素单位的一 对同色像素的像素值，将确定的两个像素值作差取绝对值，将所述绝对值作为待检测像素 的右对角线方向梯度值。
[0029] 上述实施例中根据待检测像素确定的方向梯度值中的最小方向梯度进行修正，有 利于保留图像边缘细节。
[0030] 本发明实施例提供了一种图像坏点的检测装置，该装置包括：
[0031] 像素值统计单元，用于针对检测图像，将待检测像素作为检测窗口的中必，获取检 测窗口内所述待检测像素W及与所述待检测像素颜色相同的同色像素的像素值，并分别确 定所述待检测像素与检测窗口内每一个同色像素的像素差值；统计所述像素差值大于第一 像素差值阔值的同色像素的数量，作为第一数量值；
[0032] 疑似行坏点确定单元，用于确定所述检测窗口内所述待检测像素W及与所述待检 测像素在同一行、且位于所述待检测像素右侧的同色像素的像素值均不在设定的像素值阔 值范围内，且所述确定的待检测像素与所述待检测像素右侧的同色像素的像素差值的绝对 值均小于设定的绝对值阔值，则确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似行坏点；
[0033] 疑似列坏点确定单元，确定所述检测窗口内所述待检测像素W及与所述待检测像 素在同一列、且位于所述待检测像素下方的同色像素的像素值均不在设定的像素值阔值范 围内，且所述确定的待检测像素与所述待检测像素下方的同色像素的像素值的差值的绝对 值小于设定的绝对值阔值，则确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似列坏点；
[0034] 行列坏点确定单元，用于确定所述第一数量值大于设定的第一数量阔值，且确定 所述待检测像素为所述检测图像的疑似行坏点，则确定所述待检测像素为所述检测图像的 行坏点；确定所述第一数量值大于设定的第一数量阔值，且确定所述待检测像素为所述检 测图像的疑似列坏点，则确定所述待检测像素为所述检测图像的列坏点。
[0035] 上述实施例中通过检测窗口中待检测像素W及待检测像素的同色像素的像素值， W及待检测像素与同色像素的像素差值确定检测窗口中是否存在疑似行列坏点；根据待检 测像素与检测窗口内每一个同色像素的像素差值确定该待检测像素是否为行列坏点，避免 了根据检测窗口中单一的阔值信息判断待检测像素是否为坏点，既实现了检测图像传感器 中是否存在行列坏点，又提高了检测图像中坏点的准确性。
[0036] 本发明实施例中所述行列坏点确定单元，还用于：
[0037] 确定所述第一数