前、后足平面角度测量仪的制作方法

文档序号:28249938发布日期:2021-12-29 17:06阅读:285来源:国知局
前、后足平面角度测量仪的制作方法

1.本技术涉及测量仪领域,具体而言,涉及一种前、后足平面角度测量仪。


背景技术:

2.发明人发现,采用三维动作捕捉系统可以测得准确的前足平面相对后足的翻转角或翻转范围数据,但该系统价格很高,且需要在特定的单独的环境进行测量,存在造价高,测量时间长,不易操作等问题。另外,如果用简单的刻度尺测量,存在难以准确定位前后足平面,测量数据不准确,测量者主观因素误差大等问题。
3.针对相关技术中前足平面相对后足的翻转角或翻转范围测量的成本高,且测量效率低的问题,目前尚未提出有效的解决方案。


技术实现要素:

4.本技术的主要目的在于提供一种前、后足平面角度测量仪,以解决前足平面相对后足的翻转角或翻转范围测量的成本高,且测量效率低的问题。
5.为了实现上述目的,根据本技术的一个方面,提供了一种前、后足平面角度测量仪。
6.根据本技术的前、后足平面角度测量仪包括:后足定位件,指针组件,其一端与所述后足定位件相连;刻度盘,与所述指针组件的另一端转动连接;当所述后足定位件与跟骨平分线重合,且所述刻度盘和五个跖骨头相贴合且平行时,所述指针组件指向的刻度盘的刻度为前足平面相对后足的翻转角或翻转范围。
7.进一步的,所述后足定位件为长条框。
8.进一步的,所述指针组件包括:指针架和指针,所述指针架的一端与所述后足定位件相连,所述指针架的另一端和所述指针相连,所述指针和所述刻度盘转动连接。
9.进一步的,所述刻度盘的底部设置用于和五个跖骨头相贴合且平行的匹配平台。
10.进一步的,所述指针和所述指针架一体成型。
11.进一步的,所述指针通过转动轴和所述刻度盘转动连接。
12.进一步的,所述后足定位件可滑动的设置在所述指针架的滑动槽中。
13.进一步的,还包括:与所述后足定位件相连的滑动调节件。
14.进一步的,所述滑动调节件为滑动手柄。
15.进一步的,所述长条框上开设用于观测跟骨平分线的方形槽。
16.在本技术实施例中,采用测量前、后足平面角度的方式,通过后足定位件,指针组件,其一端与所述后足定位件相连;刻度盘,与所述指针组件的另一端转动连接;当所述后足定位件与跟骨平分线重合,且所述刻度盘和五个跖骨头相贴合且平行时,所述指针组件指向的刻度盘的刻度为前足平面相对后足的翻转角或翻转范围;达到了采用简易的结构替代三维动作捕捉系统测量前足平面相对后足的翻转角或翻转范围的目的,从而实现了降低成本且提升测量效率的技术效果,进而解决了前足平面相对后足的翻转角或翻转范围测量
的成本高,且测量效率低的技术问题。
附图说明
17.构成本技术的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解,使得本技术的其它特征、目的和优点变得更明显。本技术的示意性实施例附图及其说明用于解释本技术,并不构成对本技术的不当限定。在附图中:
18.图1是根据本技术实施例的前、后足平面角度测量仪的结构示意图之一;
19.图2是根据本技术实施例的前、后足平面角度测量仪的结构示意图之二;
20.图3是根据本技术实施例的刻度盘的结构示意图。
21.附图标记
22.1、后足定位件;2、指针组件;3、刻度盘;4、指针架;5、指针;6、匹配平台;7、转动轴;8、滑动槽;9、滑动调节件;10、方形槽。
具体实施方式
23.为了使本技术领域的人员更好地理解本技术方案,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本技术保护的范围。
24.需要说明的是,本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本技术的实施例。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
25.在本技术中,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本实用新型及其实施例,并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位,或以特定方位进行构造和操作。
26.并且,上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外,还可能用于表示其他含义,例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解这些术语在本实用新型中的具体含义。
27.此外,术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”、“套接”应做广义理解。例如,可以是固定连接,可拆卸连接,或整体式构造;可以是机械连接,或电连接;可以是直接相连,或者是通过中间媒介间接相连,又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
28.需要说明的是,在不冲突的情况下,本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
29.如图1

3所示,本技术涉及一种前、后足平面角度测量仪,该测量仪包括:后足定位件1,指针5组件2,其一端与所述后足定位件1相连;刻度盘3,与所述指针5组件2的另一端转动连接;当所述后足定位件1与跟骨平分线重合,且所述刻度盘3和五个跖骨头相贴合且平行时,所述指针5组件2指向的刻度盘3的刻度为前足平面相对后足的翻转角或翻转范围。
30.具体的,后足定位件1具有贴紧后足平面且与跟骨平分线重合的作用;优选的,所述后足定位件1为长条框;使用时,将长条框与跟骨平分线重合设置即可,应当注意长条框不要偏离该跟骨平分线,以免测量出现较大误差的情况。指针5组件2具有指向刻度盘3上的某个刻度的作用;优选的,所述指针5组件2包括:指针架4和指针5,所述指针架4的一端与所述后足定位件1相连,所述指针架4的另一端和所述指针5相连,所述指针5和所述刻度盘3转动连接;本实施例中,长条框垂直设置在指针架4的上侧,且位于指针架4的一端,从而可以有效适配人体的足部;指针架4的另一端,设置指针5,指针5垂直设置于指针架4的下侧,为与刻度盘3配合进行刻度读取提供保障。刻度盘3具有展示刻度以及与前足五个跖骨头相贴合且平行的作用;刻度盘3也垂直设置在指针架4的下侧,且和该指针5相贴合,从而保证指针5可以直接指向刻度盘3的某个刻度,提升读取刻度时的直观性。该装置工作原理如下所述:在使用本实用新型中的测量仪测量翻转角时,人员将长条框贴合至后足平面,且使其与足跟平分线相重合,同时将刻度盘3的底部贴合至五个跖骨头且保持平行,此时由于前足平面相对后足存在内翻或外翻的情况,指针5相对于刻度盘3会产生偏转,该偏转的角度即为前足平面相对后足的内翻角或外翻角;另外,还可以使用本实用新型中的测量仪测量活动范围,需要测量三次,测量的方式和上述方式相同,首先测得前足平面相对后足的内翻角或外翻角,再让被测人员的足部最大限度的内翻,测得最大内翻角,最后让被测人员的足部最大限度的外翻,测得最大外翻角;内翻角与最大内翻角的角度范围即为内翻活动范围,外翻角与最大外翻角的角度范围为外翻活动范围。本实用新型的测量仪,测量简单,相对于三维动作捕捉系统成本得到有效降低,仅需定位、测量角度数值或读取角度数值即可,测量效率也很高。
31.从以上的描述中,可以看出,本技术实现了如下技术效果:
32.在本技术实施例中,采用测量前、后足平面角度的方式,通过后足定位件1,指针5组件2,其一端与所述后足定位件1相连;刻度盘3,与所述指针5组件2的另一端转动连接;当所述后足定位件1与跟骨平分线重合,且所述刻度盘3和五个跖骨头相贴合且平行时,所述指针5组件2指向的刻度盘3的刻度为前足平面相对后足的翻转角或翻转范围;达到了采用简易的结构替代三维动作捕捉系统测量前足平面相对后足的翻转角或翻转范围的目的,从而实现了降低成本,且提升测量效率的技术效果,进而解决了前足平面相对后足的翻转角或翻转范围测量的成本高,且测量效率低的技术问题。
33.优选的,所述刻度盘3的底部设置用于和五个跖骨头相贴合且平行的匹配平台6。通过匹配平台6可以很容易的就实现与五个跖骨头的贴合,便于人员进行贴合的操作。
34.优选的,所述指针5和所述指针架4一体成型;省却了固定件,有效保证结构的稳定性。
35.优选的,所述指针5通过转动轴7和所述刻度盘3转动连接。保证测量的正常实现,采用转动轴7连接接单,转动灵敏度高。
36.优选的,所述后足定位件1可滑动的设置在所述指针架4的滑动槽8中。后足定位件
1可以在滑动中滑动,如此使后足定位件1可以前后移动,从而能够适配不同大小的足部,进而保证不同大小的足部都可以正常测量。
37.优选的,还包括:与所述后足定位件1相连的滑动调节件9。优选的,所述滑动调节件9为滑动手柄。采用滑动手柄前后滑动以带动后足定位件1的前后移动,从而能够便于人员进行调节操作,提升了便利性。
38.优选的,所述长条框上开设用于观测跟骨平分线的方形槽10。透过方形槽10可以直观的查看长条框是否与跟骨平分线重合,进而提升了用户的使用便利性。
39.以上所述仅为本技术的优选实施例而已,并不用于限制本技术,对于本领域的技术人员来说,本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。
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