一种激光二极管芯片功率测试夹具的制作方法

1.本实用新型涉及二极管芯片检测技术领域，具体为一种激光二极管芯片功率测试夹具。


背景技术：

2.高功率半导体激光器具有体积小、重量轻、效率高、寿命长等优点，成为新世纪发展快、成果多、学科渗透广、应用范围大的核心器件，已广泛用于激光加工、激光医疗、激光显示及科学研究领域，而在半导体激光器的制作和生产的工艺过程中，激光二极管芯片的功率测试是非常重要的一个环节。
3.现有公开号为cn201974446u的专利公开一种激光二极管芯片功率测试夹具，其通过设置可以水平移动的水平位移台并且在水平位移台顶部设有夹具体，而且在夹具体两侧分别均匀设置多个载体槽和多个芯片槽，测试过程中通过旋钮水平移动水平位移台，依次对每个芯片槽内放置的芯片进行检测，可以对激光二极管芯片实现标准化、批量化功率的测量。然而，该激光二极管芯片功率测试夹具在使用时，很难保证水平位移台每次移动的距离均为标准距离，而出现误差后，会导致芯片无法正对光探测器的光敏面，影响芯片的测量精度。


技术实现要素：

4.(一)解决的技术问题
5.针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种激光二极管芯片功率测试夹具，能够提高测试夹具对芯片的测试精度，解决了原先的测试夹具对芯片检测精度不高的问题。
6.(二)技术方案
7.为实现上述能够提高测试夹具对芯片的测试精度的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种激光二极管芯片功率测试夹具，包括测试台和转动设置于所述测试台顶部的旋转板，所述旋转板顶部内凹形成有若干个定位槽，若干个所述定位槽以所述旋转板顶部中心为圆心呈阵列分布，所述旋转板上方水平设有光探测器，所述光探测器的光敏面位于所述定位槽运动轨迹的正上方，所述旋转板底部中心设有旋转轴，所述旋转板上安装有电机，所述电机与所述旋转轴之间通过间歇运动机构传送连接。
8.可选的，所述间歇运动机构包括一壳体和转动设置于所述壳体内两侧的主动轮和从动轮，所述主动轮与所述电机输出端固定，所述从动轮与所述旋转轴固定，所述主动轮一侧的边缘处设有驱动杆，所述从动轮边缘开设有与所述驱动杆位置相对应的槽口。
9.可选的，所述光探测器通过支架连接于所述测试台顶部，且所述支架呈l 型。
10.可选的，还包括安装于所述测试台顶部的加热杆及控制所述加热杆发热的温控器。
11.可选的，所述测试台顶部设有保温罩，所述光探测器、所述旋转板和所述加热杆均位于所述保温罩内侧。
12.可选的，所述测试台顶部突出有环形的凸边，所述凸边外径与所述保温罩内径一致。
13.(三)有益效果
14.与现有技术相比，本实用新型提供了一种激光二极管芯片功率测试夹具，具备以下有益效果：
15.1.本实用新型通过设置旋转板、定位槽、旋转轴、电机和间歇运动机构，芯片测试时，电机间歇运动机构带动旋转板间歇性的旋转，使得每个定位槽内的芯片都能够准确的移动至光探测器光敏面的正下方进行检测，保证了芯片的检测精度；
16.2.本实用新型通过设置支架，光探测器通过支架固定在测试台的正上方，可防止光探测器与测试台之间发生位移，进一步保证检测精度；
17.3.本实用新型通过设置保温罩，保温罩不仅可以减少检测环境内热量的散失，还能使检测环境各区域内的温度均匀，进一步保证检测精度。
附图说明
18.图1为本实用新型的整体结构示意图；
19.图2为本实用新型的主视剖面结构示意图；
20.图3为本实用新型的间歇运动机构的俯视剖面结构示意图。
21.图中：1、测试台；2、旋转板；20、定位槽；3、光探测器；4、电机；5、旋转轴；6、间歇运动机构；60、壳体；61、主动轮；62、从动轮；63、驱动杆；64、槽口；7、支架；8、加热杆；9、温控器；10、保温罩；11、凸边。
具体实施方式
22.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
23.实施例：请参阅图1至图3，本实用新型的实施例提供一种技术方案：一种激光二极管芯片功率测试夹具，包括测试台1和转动设置于测试台1顶部的旋转板2，旋转板2顶部内凹形成有若干个定位槽20，若干个定位槽20以旋转板2顶部中心为圆心呈阵列分布，旋转板2上方水平设有光探测器3，光探测器3的光敏面位于定位槽20运动轨迹的正上方，旋转板2底部中心设有旋转轴5，旋转板2上安装有电机4，电机4与旋转轴5之间通过间歇运动机构6传送连接，将多个芯片分别放入若干个定位槽20内后，在间歇运动机构 6的传动下，电机4带动旋转板2间歇性的旋转，且单次旋转角度等于相邻两个定位槽20与旋转板2旋转中心水平连线的夹角的角度，这样一来，使得每个定位槽20内的芯片都能够准确的移动至光探测器3光敏面的正下方，以保证检测精度。
24.在上述实施例的基础之上，本实施例的间歇运动机构6包括一壳体60和转动设置于壳体60内两侧的主动轮61和从动轮62，主动轮61与电机4输出端固定，从动轮62与旋转轴5固定，主动轮61一侧的边缘处设有驱动杆63，从动轮62边缘开设有与驱动杆63位置相对应的槽口64，电机4带动主动轮 61旋转，主动轮61通过驱动杆63与槽口64的配合驱动从动轮
62和旋转轴 5间歇性转动，进而使与旋转轴5连接的旋转板2间歇性转动。
25.在上述实施例的基础之上，本实施例的光探测器通过支架7连接于测试台1顶部，且支架7呈l型，通过支架7将光探测器固定在测试台1的正上方，可防止光探测器与测试台1之间发生位置变化，进一步保证检测精度。
26.在上述实施例的基础之上，本实施例还包括安装于测试台1顶部的加热杆8及控制加热杆8发热的温控器9，通过温控器9使加热杆8对检测环境合理加热，使得检测环境处于恒温状态，避免环境对检测精度造成影响。
27.在上述实施例的基础之上，本实施例的测试台1顶部设有保温罩10，光探测器3、旋转板2和加热杆8均位于保温罩10内侧，保温罩10不仅可以减少检测环境内热量的散失，还能使检测环境各区域内的温度均匀，进一步保证检测精度。
28.在上述实施例的基础之上，本实施例的测试台1顶部突出有环形的凸边 11，凸边11外径与保温罩10内径一致，凸边11起到定位作用，使得盖合在测试台1顶部的保温罩10更加稳固，为了方便观察测试，保温罩10可以采用透明材质制成，例如：亚克力透明板。
29.工作原理：首先，将多个待测试的芯片放入旋转板2顶部的定位槽20内定位，然后，将保温罩10盖合在测试台1顶部，并利用加热杆8对保温罩10 内进行合理加热，使保温罩10内温度达到最适合芯片检测的温度，最后，启动电机4，电机4通过间歇运动机构6带动旋转板2间歇性转动，从而使旋转板2顶部定位槽20内芯片能够被准确检测，检测完后，打开保温罩10，将定位槽20内芯片取出即可。
30.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。