薄片制造装置、薄片制造方法

文档序号:8426419阅读:290来源:国知局
薄片制造装置、薄片制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种薄片制造装置以及薄片制造方法。
【背景技术】
[0002]一直以来,已知一种纸再生装置,其具有将纸粉碎而解纤的干式解纤部、对由干式解纤部解纤后的解纤物进行输送的第一输送部、对由第一输送部输送的解纤物进行气流分级而使其脱墨的分级部、对由分级部脱墨后的解纤物进行输送的第二输送部、和通过由第二输送部输送的解纤物而使纸成形的纸成形部(例如,参照专利文献I)。
[0003]在上述的装置中,为了制造厚度均匀的薄片,需要将被输送的解纤物的量设为固定。但是,由于上述装置中的解纤物为纤维状,非常轻,因此对解纤物的输送重量进行测定是较为困难的。因此,无法对所投入的解纤物的输送重量进行管理,从而存在例如,不能制造厚度均匀的薄片的课题。
[0004]专利文献1:日本特开2012-144819号公报

【发明内容】

[0005]本发明是为了解决上述的课题的至少一部分而完成的,能够作为以下的方式或者应用例而实现。
[0006]本发明所涉及的薄片制造装置的特征在于,具备:输送通道,其使薄片的材料的至少一部分在空气中流过;成形部,其使用所述材料使所述薄片成形,在所述薄片制造装置中,所述输送通道具有由所述输送通道弯曲而成的弯曲部,在所述弯曲部上、或所述材料的输送方向上的与所述弯曲部相比靠下游侧的输送通道上,具备对所述材料进行检测的光学式检测器。。
[0007]根据该结构,在输送通道上具有弯曲部,在弯曲部上、或材料的输送方向上的与弯曲部相比靠下游侧的输送通道上,设置有对所述材料进行检测的光学式检测器。该输送通道通过例如气流或者重力从而在空气中输送材料。所输送的材料在弯曲部或材料的输送方向上的、与弯曲部相比靠下游侧的输送通道中,以通过离心力而偏向于输送通道一方侧的方式被输送。因此,通过光学检测器能够容易地对材料的有无的状态进行检测。而且,例如,根据该检测能够容易地对材料的输送重量进行管理。
[0008]上述发明所涉及的薄片制造装置的特征在于,所述输送通道的至少一部分供从所述光学式检测器发出的光透过。
[0009]根据该结构,由于光学式检测器所发出的光透过输送通道,因此能够准确地对材料的有无的状态进行检测。
[0010]上述发明所涉及的薄片制造装置的特征在于,具备:解纤部,其对所述材料的至少一部分进行解纤;堆积部,其使所述材料堆积,所述输送通道位于与所述解纤部相比靠所述输送方向的下游、且与所述堆积部相比靠所述输送方向的上游的位置处。
[0011]根据该结构,由于包括穿过解纤部的纤维状的材料和在堆积部之前被插入的添加物在内的材料较轻且容易受到离心力的影响,因此能够更有效地对这些材料的有无的状态进行检测。
[0012]上述发明所涉及的薄片制造装置的特征在于,所述输送通道在所述弯曲部的两侧具有直线部,所述直线部的打开角度为45度以上150度以下。
[0013]根据该结构,能够使材料通过离心力而容易地偏向于输送通道一侧。
[0014]本发明所涉及的薄片制造方法的特征在于,在具有弯曲部的输送通道中,使薄片的材料的至少一部分流过,通过被配置于所述弯曲部上、或所述材料的输送方向上的与所述弯曲部相比靠下游侧的输送通道上的光学式检测器来对所述材料进行检测。
[0015]根据该结构,在输送通道上具有弯曲部,在弯曲部或者材料的输送方向上的、与弯曲部相比靠下游侧的输送通道上,设置有光学式检测器。在该输送通道中被输送的材料,在弯曲部中或材料的输送方向上的与弯曲部相比靠下游侧的输送通道中,以通过离心力而偏向于输送通道一方侧的方式被输送。因此,能够通过光学检测器而容易地对材料的有无的状态进行检测。而且,例如,通过根据该检测而对流过输送通道的材料的重量等进行运算,从而能够容易地对材料的输送量进行管理。
[0016]但是,在使用光学式检测器进行测定的情况下,有时会产生如下的课题,S卩,由于装置的使用或者输送通道内解纤物等的附着等,从而导致光学式检测器的检测精度降低,并产生解纤物的输送重量的误差的课题。为了解决这种课题的至少一部分,可以作为以下的方式或者应用例来实现。
[0017]本发明所涉及的薄片制造装置的特征在于,具备:使薄片的材料的至少一部分在空气中流过并具备使光透过的透过部的输送通道和使用所述材料使所述薄片成形的成形部,所述薄片制造装置具备:光学式检测器其具有对着所述透过部发光的发光部;受光部,其接受穿过所述透过部的光,所述薄片制造装置具有控制部,所述控制部在所述受光部所接受的光大于预先确定的阈值时,判断为所述材料未流过,当所述薄片制造装置的累计使用时间更长时,所述阈值更小。
[0018]通过薄片制造装置的使用而在输送通道上输送薄片的材料。此时,被输送的材料的一部分附着于输送通道的透过部。此时,薄片制造装置的使用时间越长,材料的一部分附着于输送通道的透过部的量将变得越多。如此,在光学式检测器中接受发光部所发出的光的受光部的受光量将变少。另一方面,用于对输送通道上的材料的有无进行判断的阈值根据受光部的受光量而被规定。即,由于阈值不与受光量的变动对应,因此在由于材料的附着等而导致受光部的受光量减少的情况下,即使在材料未流过输送通道时,也会判断为材料流过输送通道。因此,根据上述结构,被设定为,当薄片制造装置的累计使用时间更长时,阈值变得更小。即,能够通过薄片装置的累计使用时间来适当地调整阈值。由此,能够适当地保持光学式检测器的检测精度,并减小解纤物的输送重量的检测误差。
[0019]上述发明所涉及的薄片制造装置的特征在于,所述控制部在所述薄片制造装置于所述材料未流过的状态下发光时的所述受光部的受光量更小时,与该受光量更大时相比,减小所述阈值。
[0020]根据该结构,通过当薄片制造装置在所述材料未流过的状态下发光时的受光量更小时,与该受光量更大时相比,减小阈值,从而对材料未流过输送通道但认识为受光量低于阈值且存在材料的情况进行抑制。
[0021]上述发明所涉及的薄片制造装置的特征在于,所述控制部在如下的情况下减小所述阈值,即,所述薄片制造装置在所述材料未流过的状态下发光时的所述受光部的受光量,小于所述薄片制造装置的开始使用时的受光量的情况。
[0022]根据该结构,由于在薄片制造装置的开始使用时,材料未附着于输送通道内,因此受光量较大。当使用薄片制造装置时,材料就会附着于输送通道的透过部从而使受光量减少。因此,通过在小于开始使用时的受光量的受光量的情况下减小阈值,从而能够对材料未流过但认识为受光量低于阈值且存在材料的情况进行抑制。
[0023]本发明所涉及的薄片制造方法的特征在于,通过如下的薄片制造装置来制造薄片,所述薄片制造装置具备:输送通道,其使所述薄片的材料的至少一部分在空气中流过,并具有使光透过的透过部;成形部,其使用所述材料使所述薄片成形,光学式检测器,其具有对着所述透过部发光的发光部和接受穿过所述透过部的光的受光部,在所述薄片制造方法中,在所述受光部所接受的光大于预先确定的阈值时,判断为所述材料未流过的情况下,使所述薄片制造装置的累计使用时间更长时,所述阈值变得更小累计累计。
[0024]通过薄片制造装置的使用而在输送通道上输送薄片的材料。此时,被输送的材料的一部分附着于输送通道的透过部。此时,薄片制造装置的使用时间越长,材料附着于输送通道的透过部的量将变得越多。如此,在光学式检测器中接受发光部所发出的光的受光部的受光量将减少。另一方面,用于对输送通道上的材料的有无状态进行判断的阈值根据受光部的受光量而被规定。即,由于不与阈值与受光量的变动对应,因此在由于材料的附着等而导致受光部的受光量减少的情况下,即使在材料未流过输送通道时,也会判断为材料流过输送通道。因此,根据上述结构,被设定为,当薄片制造装置的累计使用时间更长时,阈值变得更小。即,能够通过薄片装置的累计使用时间来适当地调整阈值。由此,能够适当地保持光学式检测器的检测精度,并减小解纤物的输送重量的误差检测。
【附图说明】
[0025]图1为表示薄片制造装置的结构的概要图。
[0026]图2表示光学式检测器及其周围部的结构的结构图。
[0027]图3为表示薄片制造装置的工作方法的说明图。
[0028]图4为表示光学式检测器中的阈值的设定方法的说明图。
[0029]图5为表示改变例所涉及的光学式检测器及其周围部的结构的结构图。
【具体实施方式】
[0030]以下,参照附图对本发明的实施方式进行说明。此外,由于在以下各图中将各部件设为能够识别的程度的大小,因此以使各部件等尺寸与实际不同的方式来进行表示。
[0031]首先,对薄片制造装置的结构进行说明。薄片制造
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