一种显示屏残影检测系统及其方法与流程

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示屏残影检测系统及其方法。

背景技术：

在面板的设计过程中，对其进行影像残留的检测与判定是必不可少的环节，即让panel(面板)在如图1所示的棋盘格画面下点亮168～169小时后，观察某一灰阶的灰阶画面残留的棋盘格画面的严重程度。判定的标准一般为依据人眼判断的JND(Just noticeable difference,最小可觉差)模型，判断结果存在一定的主观因素。

技术实现要素：

本发明主要解决的技术问题是提供一种显示屏残影检测系统及其方法，能够解决传统基于人眼判断影像残留的主观性，准确判断、客观评价显示屏残影的严重程度。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示屏残影检测方法，包括：获得待检测残影的显示屏图像；识别出所述显示屏图像中所述显示屏的位置，进而获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分；对所述显示画面部分进行傅里叶变换，获取所述显示画面部分表征残影对应的特征频率在频域结构中的第一频谱能量值，另外获取所述显示画面部分参考频率在频域结构中的第二频谱能量值；判断所述第一频谱能量值与所述第二频谱能量值的比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出所述数据范围，则判断为不合格，否则为合格。

其中，所述识别出所述图像中所述显示屏的位置，进而获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分包括：采用与所述获得待检测残影的显示屏图像同一条件的方式，获得与所述显示屏尺寸匹配的参考框图像；通过所述参考框图像与所述显示屏图像的对比，在所述显示屏图像中获得识别出所述显示屏的位置，进而获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分。

其中，同一条件是指同一图像获取设备、同一图像获取参数、同一拍摄位置以及同一拍摄环境。

其中，所述参考频率是零频。

其中，所述识别出所述显示屏图像中所述显示屏的位置，进而获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分包括：识别出所述显示屏图像中所述显示屏的位置，采用图像剪裁算法获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示屏残影检测系统，包括：获取装置，用于获得待检测残影的显示屏图像；提取装置，用于识别出所述显示屏图像中所述显示屏的位置，进而获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分；运算装置，用于对所述显示画面部分进行傅里叶变换，获取所述显示画面部分表征残影对应的特征频率在频域结构中的第一频谱能量值，另外获取所述显示画面部分参考频率在频域结构中的第二频谱能量值；判断装置，用于判断所述第一频谱能量值与所述第二频谱能量值的比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出所述数据范围，则判断为不合格，否则为合格。

其中，提取装置包括：获取模块，采用与所述获取装置获得待检测残影的显示屏图像同一条件的方式，获得与所述显示屏尺寸匹配的参考框图像；提取模块，通过所述参考框图像与所述显示屏图像的对比，在所述显示屏图像中获得识别出所述显示屏的位置，进而获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分。

其中，同一条件是指同一图像获取设备、同一图像获取参数、同一拍摄位置以及同一拍摄环境。

其中，参考频率是零频。

其中，提取模块具体识别出所述显示屏图像中所述显示屏的位置，采用图像剪裁算法获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明提供一种显示屏残影检测系统及其方法。该方法包括以下步骤：首先获得待检测残影的显示屏图像，然后识别出显示屏图像中显示屏的位置，进而获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分，进而对显示画面部分进行傅里叶变换，获取显示画面部分表征残影对应的特征频率在频域结构中的第一频谱能量值，另外获取显示画面部分参考频率在频域结构中的第二频谱能量值，最后判断第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出数据范围，则判断为不合格，否则为合格。因此，本发明将获得的显示画面部分进行频域结构图像处理，能够解决传统基于人眼判断影像残留的主观性，准确判断、客观评价显示屏残影的严重程度。

附图说明

图1是用于显示屏残影检测的黑白棋格状图案；

图2是本发明实施方式提供的一种显示屏残影检测方法的流程图；

图3是待检测残影的显示屏图像经过IS实验后的128灰阶下的图像；

图4是与显示屏尺寸匹配的参考框图像；

图5是显示屏图像中显示屏的显示画面部分；

图6是本发明实施方式提供的一种显示屏残影检测系统的结构示意图。

具体实施方式

请参阅图2，图2是本发明实施例提供的一种显示屏残影检测方法的流程图。如图2所示，本实施例的显示屏残影检测方法包括以下步骤：

步骤S1：获得待检测残影的显示屏图像。具体为获得经过IS实验的128灰阶下显示屏图像，如图3所示。

步骤S2：识别出显示屏图像中显示屏的位置，进而获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分。

本步骤中，首先采用与步骤S1，获得待检测残影的显示屏图像同一条件的方式，获得与显示屏尺寸匹配的参考框图像，具体如图4所示，然后通过参考框图像与显示屏图像的对比，在显示屏图像中获得识别出显示屏的位置，进而获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分如图5所示。更具体的，识别出显示屏图像中显示屏的位置，采用图像剪裁算法获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分，如图5所示。

本实施例中，图像剪裁算法优选为matlab(matrix laboratory，矩阵实验室)图像剪裁算法。在其他实施例中，还可以采用其他语言及应用的图像剪裁算法获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分。

其中，同一条件是指同一图像获取设备、同一图像获取参数、同一拍摄位置以及同一拍摄环境。本实施例优选取以下同一条件：

相机，相机型号为Canon600D。相机参数：ISO100；色彩空间sRGB；闪光灯关闭；自动亮度关闭；白平衡偏移或者包围：0，0/±0；减轻红眼开/关：禁用；自动对焦模式：实时模式；显示网格线：禁用；长宽比：3：2；测光定时器：16秒；低音增强：禁用；经由HDMI控制：禁用。

进一步的，拍摄距离为显示屏宽度的3倍，拍摄方向为垂直于显示屏平面，拍摄环境为暗室。

步骤S3：对显示画面部分进行傅里叶变换，获取显示画面部分表征残影对应的特征频率在频域结构中的第一频谱能量值，另外获取显示画面部分参考频率在频域结构中的第二频谱能量值。其中，参考频率是零频，第二频谱能量值即为显示面板画面背景强度对应的频谱能量值。

步骤S4：判断第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出数据范围，则判断为不合格，否则为合格。在不合格时，若比值越大，则说明显示屏残影越严重。

其中，第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值可与传统的JND模型相结合，用于确定显示屏残影产生的临界评价值，即对应检测合格的数值范围。优选的，当JND恰好处于不可见与1.8之间时，得到的第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值即为判断残影是否发生的临界值。

承前所述，本实施例进行两次标准拍照，一次用于获取待检测残影的显示屏图像，一次用于获得与显示屏尺寸匹配的参考框图像，对比两个图像，获取显示屏的显示画面部分在显示屏图像中的位置，进一步在频域结构中对显示屏的显示画面部分进行图像处理，提取IS频谱中特征频率的能量值，求得其与零频能量值的比值，从而提高显示屏残影判断的客观性。

本发明实施例还提供了一种显示屏残影检测系统，该系统适用于前文所述的方法。具体请参阅图6。

本实施例的显示屏残影检测系统10包括获取装置11、提取装置12、运算装置13以及判断装置14。

其中，获取装置11用于获得待检测残影的显示屏图像。具体为获得经过IS实验的128灰阶下显示屏图像，如图3所示。获取装置11优选为相机等可以获取图像的装置。

提取装置12用于识别出显示屏图像中显示屏的位置，进而获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分。其中，提取装置12进一步包括获取模块121和提取模块122。

获取模块121采用与获取装置11获得待检测残影的显示屏图像同一条件的方式，获得与显示屏尺寸匹配的参考框图像，具体如图4所示。其中，同一条件是指同一图像获取设备、同一图像获取参数、同一拍摄位置以及同一拍摄环境。即获取模块121与获取装置11采用同一图像获取设备。本实施例优选取以下同一条件：

相机，相机型号为Canon600D。相机参数：ISO100；色彩空间sRGB；闪光灯关闭；自动亮度关闭；白平衡偏移或者包围：0，0/±0；减轻红眼开/关：禁用；自动对焦模式：实时模式；显示网格线：禁用；长宽比：3：2；测光定时器：16秒；低音增强：禁用；经由HDMI控制：禁用。

进一步的，拍摄距离为显示屏宽度的3倍，拍摄方向为垂直于显示屏平面，拍摄环境为暗室。

提取模块122通过参考框图像与显示屏图像的对比，在显示屏图像中获得识别出显示屏的位置，进而获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分。具体的，提取模块122具体识别出显示屏图像中显示屏的位置，采用图像剪裁算法获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分，如图5所示。

本实施例中，图像剪裁算法优选为matlab(matrix laboratory，矩阵实验室)图像剪裁算法。在其他实施例中，还可以采用其他语言及应用的图像剪裁算法获得显示屏图像中显示屏的显示画面部分。

运算装置13用于对显示画面部分进行傅里叶变换，获取显示画面部分表征残影对应的特征频率在频域结构中的第一频谱能量值，另外获取显示画面部分参考频率在频域结构中的第二频谱能量值。其中，参考频率是零频，第二频谱能量值即为显示面板画面背景强度对应的频谱能量值。

判断装置14用于判断第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出数据范围，则判断为不合格，否则为合格。在不合格时，若比值越大，则说明显示屏残影越严重。

其中，第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值可与传统的JND模型相结合，用于确定显示屏残影产生的临界评价值，即对应检测合格的数值范围。优选的，当JND恰好处于不可见与1.8之间时，得到的第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值即为判断残影是否发生的临界值。

综上所述，本实施例结合拍照获取的图像以及频域结构图像处理方法来检测显示屏的残影，能够解决传统基于人眼判断影像残留的主观性，准确判断、客观评价显示屏残影的严重程度。

本发明针对面板厂需要进行的IS实验，可用于在IS实验过程中显示屏残影的即时性量化检测与评价，以及IS后显示屏残影量化检测与评价，可降低IS判断的人工成本和时间成本，减弱人眼判断的主观性影响。

以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。