阵列基板以及显示面板的制作方法

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种阵列基板以及显示面板。

背景技术：

这里的陈述仅提供与本申请有关的背景信息，而不必然的构成现有技术。

随着科技的发展，显示技术越来越成熟，显示面板的质量也在逐步提高。显示面板通常包括阵列基板。阵列基板对各子像素进行充放电，从而实现显示面板的不同画面的显示效果。对各子像素的充电能力是衡量显示面板信赖性的一个重要指标。

由于阵列基板上实现充放电的扫描线以及数据线上具有电阻，因此会产生RC延迟效应。所以，显示面板的不同位置的子像素的充电能力有差异，从而引起信赖性问题。

相关技术中对各子像素的充电能力的评估一般是通过模拟得来，因此评估结果准确性较差。

技术实现要素：

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够准确评估充电能力差异的阵列基板以及显示面板。

一种阵列基板，包括：

扫描驱动，用于输出扫描信号；

多个扫描线，电连接所述扫描驱动，用于传输所述扫描信号；同一所述扫描线具有第一扫描部与第二扫描部，所述扫描信号由所述第一扫描部传输至所述第二扫描部；

数据驱动，用于输出数据信号；

多个数据线，电连接所述数据驱动，用于传输所述数据信号；同一所述数据线具有第一数据部与第二数据部，所述数据信号由所述第一数据部传输至所述第二数据部；

测试电极组，用于测试实际电信号；

所述测试电极组包括至少一个扫描电极组和/或至少一个数据电极组；所述扫描电极组包括第一扫描电极与第二扫描电极，所述第一扫描电极用于测试任意一个所述扫描线的第一扫描部的实际电信号，所述第二扫描电极用于测试任意一个所述扫描线的第二扫描部的实际电信号；所述数据电极组包括第一数据电极与第二数据电极，所述第一数据电极用于测试任意一个所述数据线的第一数据部的实际电信号，所述第二数据电极用于测试任意一个所述数据线的第二数据部的实际电信号。

在其中一个实施例中，所述阵列基板具有显示区与非显示区，所述测试电极组位于所述非显示区。

在其中一个实施例中，所述非显示区包括驱动侧与非驱动侧，所述驱动侧相对于所述非驱动侧布线密集，所述测试电极组位于所述非驱动侧。

在其中一个实施例中，

所述测试电极组包括扫描电极组，同一所述扫描电极组内的所述第一扫描电极与所述第二扫描电极电连接至同一个所述扫描线。

在其中一个实施例中，

所述测试电极组包括数据电极组，同一所述数据电极组内的所述第一数据电极与所述第二数据电极电连接至同一个所述数据线。

在其中一个实施例中，

所述扫描驱动位于所述阵列基板的单侧，所述第一扫描部与所述第二扫描部位于所述扫描线的两端；

所述测试电极组包括两个扫描电极组，每个扫描电极组包括一个第一扫描电极以及一个第二扫描电极；

两个所述扫描电极组的所述第一扫描电极与所述第二扫描电极分别位于所述阵列基板的四个顶角。

在其中一个实施例中，

所述扫描驱动位于所述阵列基板的双侧，所述第一扫描部位于所述扫描线的端部，与所述第二扫描部所位于所述扫描线的中央；

所述测试电极组包括两个扫描电极组，每个扫描电极组包括两个第一扫描电极以及一个第二扫描电极；

两个所述扫描电极组的所述第一扫描电极分别位于所述阵列基板的四个顶角，所述两个所述扫描电极组的所述第二扫描电极位于所述阵列基板的中央两侧。

在其中一个实施例中，

所述数据驱动位于所述阵列基板的单侧，所述第一数据部与所述第二数据部位于所述数据线的两端；

所述测试电极组包括两个数据电极组，每个数据电极组包括一个第一数据电极以及一个第二数据电极；

两个所述数据电极组的所述第一数据电极与所述第二数据电极分别位于所述阵列基板的四个顶角。

一种阵列基板，包括：

扫描驱动，用于输出扫描信号，位于所述阵列基板的单侧；

多个扫描线，电连接所述扫描驱动，用于传输所述扫描信号；同一所述扫描线具有第一扫描部与第二扫描部，所述扫描信号由所述第一扫描部传输至所述第二扫描部；

数据驱动，用于输出数据信号，位于所述阵列基板的单侧；

多个数据线，电连接所述数据驱动，用于传输所述数据信号；同一所述数据线具有第一数据部与第二数据部，所述数据信号由所述第一数据部传输至所述第二数据部；

测试电极组，用于测试实际电信号；所述测试电极组包括两个扫描电极组和两个数据电极组；所述扫描电极组包括一个第一扫描电极与一个第二扫描电极；同一所述扫描电极组内的所述第一扫描电极用于测试一个所述扫描线的第一扫描部的实际电信号，所述第二扫描电极用于测试该扫描线的第二扫描部的实际电信号；两个所述扫描电极组分别测试两个扫描线的实际电信号；所述数据电极组包括一个第一数据电极与一个第二数据电极；同一所述数据电极组内的所述第一数据电极用于测试一个所述数据线的第一数据部的实际电信号，所述第二数据电极用于测试该数据线的第二数据部的实际电信号；两个所述数据电极组分别测试两个数据线的实际电信号；

两个所述扫描电极组的所述第一扫描电极与所述第二扫描电极分别位于所述阵列基板的四个顶角；两个所述数据电极组的所述第一数据电极与所述第二数据电极也分别位于所述阵列基板的四个顶角。

一种显示面板，包括上述任一项所述的阵列基板。

上述阵列基板，设有扫描电极组时，可以对第一扫描部的实际电信号以及第二扫描部的实际电信号进行有效测试，将测试后的实际信号波形与扫描驱动输出的扫描信号波形比对，可准确有效评估扫描线上的充电能力差异；设有数据电极组时，可以对第一数据部的实际电信号以及第二数据部的实际电信号进行有效测试，将测试后的实际信号波形与数据驱动输出的数据信号波形比对，可准确有效评估数据线上的充电能力差异。

附图说明

图1为一个实施例中显示面板示意图；

图2为一个实施例中阵列基板示意图；

图3为图2所示阵列基板沿A-A’剖面示意图；

图4为另一个实施例中阵列基板示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请提供的阵列基板，可以应用于各种类型的显示面板，例如液晶显示面板或有机发光显示面板等。

在一个实施例中，参考图1以及图2，提供一种显示面板，包括多个子像素100以及阵列基板200。多个子像素可以分别为具有多个不同颜色的子像素，例如红色子像素R、绿色子像素G、以及蓝色子像素B等。阵列基板200为各子像素100进行供电。

在一个实施例中，继续参考图1以及图2，阵列基板200包括扫描驱动210、扫描线220、数据驱动230、数据线240以及测试电极组250。扫描驱动210输出扫描信号。扫描线220具有多个。各扫描线220沿第一方向(图中的水平方向)延伸，并且多个扫描线220沿第二方向(图中的竖直方向)间隔排列。扫描线220电连接扫描驱动210，进而为显示面板的各子像素100传输扫描信号。同一扫描线220具有第一扫描部221与第二扫描部222。扫描信号由第一扫描部221传输至第二扫描部222。第一扫描部221的RC延迟最小，而第二扫描部222的RC延迟最大。

数据驱动230用于输出数据信号。数据线240也具有多个。各数据线240沿第二方向(图中的竖直方向)延伸，并且多个数据线240沿第一方向(图中的竖直方向)间隔排列。数据线240电连接数据驱动230，进而为显示面板的各子像素100传输数据信号。同一数据线240具有第一数据部241与第二数据部242。数据信号由第一数据部241传输至第二数据部242。第一数据部241的RC延迟最小，而第二数据部242的RC延迟最大。

测试电极组250用于测试实际电信号。具体地，测试电极组可以包括至少一个扫描电极组251，或者包括至少一个数据电极组252，或者同时包括至少一个扫描电极组251与至少一个数据电极组252。

扫描电极组251包括第一扫描电极2511与第二扫描电极2512。第一扫描电极2511用于测试任意一个扫描线220的第一扫描部221的实际电信号，其可以靠近被测试的第一扫描部221设置。第二扫描电极2515用于测试任意一个扫描线220的第二扫描部222的实际电信号，其可以靠近被测试的第二扫描部222设置。

由于各扫描线220上的信号延迟情况相近，因此本申请可以根据实际情况选择测试任意一个扫描线220的第一扫描部221的实际电信号以及任意一个扫描线220的第二扫描部222的实际电信号，被测试的第一扫描部221与第二扫描部222可以位于同一扫描线220上，也可位于不同扫描线220上，本申请对此并没有限制。

阵列基板设有扫描电极组251时，可以对一扫描线220的第一扫描部221的实际电信号以及一扫描线220的第二扫描部222的实际电信号进行有效测试。将测试后的实际信号波形与扫描驱动210输出的相应扫描信号波形比对，可准确有效评估各扫描线220上的充电能力差异，进而可据此有效提高显示均匀信赖性。

数据电极组252包括第一数据电极2521与第二数据电极2522。第一数据电极2521用于测试任意一个数据线240的第一数据部241的实际电信号，其可以靠近被测试的第一数据部241设置。第二数据电极2522用于测试任意一个数据线240的第二数据部242的实际电信号，其可以靠近被测试的第二数据部242设置。参考图3，为第二扫描电极2512以及第二数据电极2522的剖视图。第一扫描电极2511以及第一数据电极2521的剖视图类似。

由于各数据线240上的信号延迟情况相近，因此本申请可以根据实际情况选择测试任意一个数据线240的第一数据部241的实际电信号以及任意一个数据线240的第二数据部242的实际电信号，被测试的第一数据部241与第二数据部242可以位于同一数据线240上，也可位于不同数据线240上，本申请对此并没有限制。

阵列基板设有数据电极组252时，可以对一数据线240的第一数据部241的实际电信号以及一数据线240的第二数据部242的实际电信号进行有效测试。将测试后的实际信号波形与数据驱动230输出的相应数据信号波形比对，可准确有效评估各数据线240上的充电能力差异，进而可据此有效提高显示均匀信赖性。

在一个实施例中，参考图2，阵列基板200具有显示区200a与非显示区200b。设置测试电极组250位于非显示区200b，既使得阵列基板200即可有效测试各扫描线220与各数据线240上的充电能力差异，又不影响显示区200a的布线，进而不影响显示区200a的有效显示。

在一个实施例中，继续参考图2，进一步地，非显示区200b包括驱动侧200c与非驱动侧200d。驱动侧200c由于靠近扫描驱动210或数据驱动230，因此其相对于非驱动侧200d布线密集(例如驱动侧200c要布设扇出线，为了图示清晰，图中非显示区200b的布线并未完全显示)。本实施例将测试电极组250设置于非驱动侧200d(参考图2下侧一组251)，非驱动侧200d由于布线相对稀疏，因此，可以为测试电极组250更广阔的放置空间，进而便于工艺设计以及实施。

当然本申请并不以上述方式为限制，在工艺条件可以达到的情况下，也可将测试电极组250设置在显示区200a，或者将测试电极组250设置在非显示区200b的驱动侧200c。

如前，被测试的第一扫描部221与第二扫描部222可以位于同一扫描线220上，也可位于不同扫描线220上。在一个实施例中，如图2所示，为了进一步提高测试精确度，可以设置扫描电极组251内的第一扫描电极2511与第二扫描电极2512电连接至同一个扫描线220。此时，进一步屏蔽了各个扫描驱动210至各扫描线220之间的传输路径上的电阻差异，可以更加精确的测试出扫描线220自身电阻引起的扫描线220上的充电能力差异，进而可据此进一步提高显示均匀信赖性。

与之同理，在一个实施例中，为了进一步提高测试精确度，如图2所示，可以设置数据电极组252内的第一数据电极2521与第二数据电极2522电连接至同一个数据线240。此时，进一步屏蔽了各个数据驱动210至各数据线240之间的传输路径上的电阻差异，可以更加精确的测试出数据线240自身电阻引起的数据线240上的充电能力差异，进而可据此进一步提高显示均匀信赖性。

在一个实施例中，参考1以及图2，扫描驱动210位于阵列基板200的单侧，即显示面板的扫描采用单侧驱动。此时，一个扫描线220只接收一个扫描驱动210的扫描信号，扫描信号由同一扫描线220的一端传输至另一端。所以，第一扫描部221与第二扫描部222位于扫描线220的两端。

同时，本实施例设置测试电极组250包括两个扫描电极组251。每个扫描电极组251包括一个第一扫描电极2511以及一个第二扫描电极2512。两个扫描电极组251的第一扫描电极2511与第二扫描电极2512分别位于阵列基板的四个顶角，进而便于外接探针进行测试。同时，两组测试电极组250互相验证进而可以进一步提高测试精准度。

在一个实施例中，参考图4，扫描驱动210位于阵列基板的双侧，即显示面板的扫描采用双侧驱动。此时，同一个扫描线220接收两侧的扫描驱动210的扫描信号。其中一侧的一个扫描驱动210的扫描信号由一扫描线220的一端(假设为第一端)传输至另一端。另一侧的相应扫描驱动210的扫描信号由该扫描线220的另一端传输至上述第一端，进而实现该扫描线220上的扫描信号的施加，使得该扫描线220上的子像素接收扫描信号而打开。此时，扫描线220的端部RC延迟作用最小，第一扫描部221位于扫描线220的端部。而扫描线220的中央收到两端的扫描驱动210的RC延迟作用均较大，因此RC延迟作用最大，第二扫描部222位于扫描线220的中央。

同时，本实施例设置测试电极组250包括两个扫描电极组251。每个扫描电极组251包括两个第一扫描电极2511以及一个第二扫描电极2512。两个第一扫描电极2511可以分别测试扫描线220两端的第一扫描部221的实际电信号。一个第二扫描电极2512可以测试扫描线220中央的第二扫描部222的实际电信号。因此，本实施例不但可以精准有效评估扫描线220上的充电能力差异，而且还可以验证双侧驱动的对称性是否良好。并且，两组测试电极组250互相验证进而可以进一步提高测试精准度。

并且，本实施例设置两个扫描电极组251的四个第一扫描电极2511分别位于阵列基板200的四个顶角，两个扫描电极组251的第二扫描电极2512位于阵列基板200的中央两侧，进而便于外接探针进行测试。

当然本申请其他实施例中，扫描采用双侧驱动时，也可与上述设置方式不同，例如，只测试扫描线220一端的第一扫描部221与扫描线220中央的第二扫描部222。

在一个实施例中，参考图2，数据驱动230位于阵列基板200的单侧，即显示面板的数据充电采用单侧驱动进行。此时，一个数据线240只接收一个数据驱动230的数据信号，数据信号由同一数据线240的一端传输至另一端。所以，第一数据部221与第二数据部222位于数据线240的两端。

同时，本实施例设置测试电极组250包括两个数据电极组252。每个数据电极组252包括一个第一数据电极2521以及一个第二数据电极2522。两个数据电极组252的第一数据电极2521与第二数据电极2522分别位于阵列基板的四个顶角，进而便于外接探针进行测试。同时，两组测试电极组250互相验证进而可以进一步提高测试精准度。

上述单侧数据驱动210的设置方式与单侧扫描驱动210的设置方式同理。当然，在更大尺寸的显示面板中，数据驱动230也可位于阵列基板200的双侧。此时，数据驱动的设置方式也可与双侧扫描驱动210的设置方式同理，再此不再赘述。

在一个实施例中，如图2所示，提供一种阵列基板，包括扫描驱动210、多个扫描线220、数据驱动230、多个数据线240以及测试电极组250。扫描驱动210用于输出扫描信号，位于阵列基板200的单侧。扫描线220电连接扫描驱动210，用于传输扫描信号。同一扫描线220具有第一扫描部221与第二扫描部222。扫描信号由第一扫描部221传输至第二扫描部222。数据驱动230用于输出数据信号，位于阵列基板200的单侧。数据线240电连接数据驱动230，用于传输数据信号。同一数据线240具有第一数据部241与第二数据部242。数据信号由第一数据部241传输至第二数据部242。

测试电极组250用于测试实际电信号。测试电极组250包括两个扫描电极组251和两个数据电极组252。每个扫描电极组251包括一个第一扫描电极2511与一个第二扫描电极2512。同一扫描电极组251内的第一扫描电极2511用于测试一个扫描线220的第一扫描部221的实际电信号，第二扫描电极220用于测试该扫描线220的第二扫描部222的实际电信号。两个扫描电极组251分别测试两个扫描线220的实际电信号。

每个数据电极组252包括一个第一数据电极2521与一个第二数据电极2522。同一数据电极组252内的第一数据电极2521用于测试一个数据线240的第一数据部241的实际电信号，第二数据电极2522用于测试该数据线240的第二数据部241的实际电信号。

两个扫描电极组251的第一扫描电极2511与第二扫描电极2512分别位于阵列基板200的四个顶角。同时，两个数据电极组252的第一数据电极2521与第二数据电极2522也分别位于阵列基板200的四个顶角。

本实施例中的一个扫描电极组251可以测试一个扫描线220两端的实际电信号波形，进而通过两端的实际信号波形的对比可以准确评估该扫描线220自身阻值引起的两端充电能力差异。并且两个扫描电极组251可以相互验证，进而提高测试准确性。同时，本实施例中的一个数据电极组252可以测试一个数据线240两端的实际电信号波形，进而通过两端的实际信号波形的对比可以准确评估该数据线240自身阻值引起的两端充电能力差异。并且两个数据电极组252可以相互验证，进而提高测试准确性。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。