显示面板及显示装置的制作方法

本公开实施例涉及显示技术领域，特别涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术：

随着显示面板生成技术的发展，目前已进入大规模自动化生产时代，在显示面板制成后，显示面板可能会存在缺陷，因此需要对显示面板的质量进行检测。

在显示面板(cell)制成后，在进行模组(module)组装阶段之前，通常需要先进行点灯测试(celltest，简称：et或ct)，以对显示面板进行不良判别和等级判定。如图1所示，在点灯测试阶段的显示面板中，在pad(走线)区域100，通常设置有多条用于输入点灯测试信号的测试信号走线110、以及与测试信号走线110一一对应电连接的点灯测试端子(etpad)111、以及用于向显示区输入驱动信号的多条驱动信号走线120、以及与驱动信号走线120一一对应电连接的驱动端子121，其中，驱动信号走线120与测试信号走线110一一对应电连接。在点灯测试阶段中，通过点灯测试治具向点灯测试端子111输入点灯测试信号，从而控制显示区aa进行点亮，以检测显示面板是否存在不良。

在点灯测试后，在模组组装阶段中，在进行激光倒角、异形切割中，根据如图1所示的切割线l进行切割，以将点灯测试端子111去除。之后，将驱动ic等元件进行组装。

然而，在切割过程中并不能完全将测试信号走线110去除掉，因此会残留一部分与驱动信号走线120一一对应连接的测试信号走线110，且在切割位置，残留的测试信号走线120裸露于大气环境中。这样，在模组组装阶段的信赖性测试阶段，残留的测试信号走线110中用于加载低电平信号vgl的测试信号走线110由于长时间处于低电位(如-5v至-6v)状态，在大气环境中，由于电化学作用，用于加载低电平信号vgl的测试信号走线110容易失去电子而发生氧化反应，在信赖性测试阶段的高温高湿度环境以及大气环境的水氧的作用下而形成氧化物，从而发生腐蚀现象。并且，随着水氧的不断进入，腐蚀位置也会不断延伸，当腐蚀位置延伸至测试信号走线110与驱动信号走线120的连接处时，会影响驱动信号线110中的驱动信号的传输，从而导致显示异常、无显示等问题。

技术实现要素：

本公开实施例提供了一种显示面板及显示装置，能够有效防止用于加载低电平信号的测试信号走线的腐蚀对显示面板造成的影响。

第一方面，本公开实施例提供了一种显示面板，该显示面板包括显示区和围绕所述显示区设置的非显示区，位于所述显示区的一侧的非显示区包括第一二极管、第二二极管、用于加载高电平信号的第一驱动信号走线、用于加载低电平信号的第二驱动信号走线、用于加载高电平信号的第一测试信号走线、以及用于加载低电平信号的第二测试信号走线；

所述第二测试信号走线的线路上对应配置有所述第一二极管，所述第二测试信号走线包括第一部分走线和第二部分走线，所述第一二极管的正极连接所述第一部分走线的一端，所述第一部分走线的另一端连接所述第二驱动信号走线，所述第一二极管的负极连接所述第二部分走线的一端；所述第二二极管的负极与所述第一驱动信号走线连接，所述第二二极管的正极连接所述第二部分走线的一端；所述第一测试信号走线的一端与所述第一驱动信号走线连接。

在一些实施例中，所述位于所述显示区的一侧的非显示区包括第一驱动测试子区域和第二驱动测试子区域；所述第一驱动测试子区域和所述第二驱动测试子区域中均设置有一所述第一驱动信号走线、一所述第二驱动信号走线、一所述第一测试信号走线、一所述第二测试信号走线、一所述第一二极管和一所述第二二极管；

在所述第一驱动测试子区域中，所述第一二极管的正极连接所述第二测试信号走线的第一部分走线的一端，所述第一部分走线的另一端连接所述第二驱动信号走线，所述第一二极管的负极连接所述第二测试信号走线的第二部分走线的一端，所述第二二极管的负极与所述第一驱动信号走线连接，所述第二二极管的正极连接所述第二部分走线的一端，所述第一测试信号走线的一端与所述第一驱动信号走线连接；

在所述第二驱动测试子区域中，所述第一二极管的正极连接所述第二测试信号走线的第一部分走线的一端，所述第一部分走线的另一端连接所述第二驱动信号走线，所述第一二极管的负极连接所述第二测试信号走线的第二部分走线的一端，所述第二二极管的负极与所述第一驱动信号走线连接，所述第二二极管的正极连接所述第二部分走线的一端，所述第一测试信号走线的一端与所述第一驱动信号走线连接。

在一些实施例中，所述第二二极管的电阻值小于所述第一二极管的电阻值。

在一些实施例中，所述第一二极管包括pn结，和/或，所述第二二极管包括pn结。

在一些实施例中，所述第一二极管包括el器件，和/或，所述第二二极管包括el器件。

在一些实施例中，所述显示区包括像素电路，所述像素电路包括薄膜晶体管和存储电容，所述存储电容包括第一极板和第二极板，所述第一极板为所述薄膜晶体管的栅极层；

所述第一驱动信号走线、所述第二驱动信号走线与所述存储电容的第二极板同层设置；

所述第一测试信号走线、所述第二测试信号走线与所述薄膜晶体管的栅极层同层设置。

在一些实施例中，所述显示面板为amoled显示面板。

第二方面，本公开实施例提供了一种显示装置，该显示装置包括上述任一实施例所提供的显示面板。

附图说明

图1为现有技术中的显示面板的结构示意图；

图2为本公开实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图3为第一二极管、第二二极管的一种结构示意图；

图4为第一二极管、第二二极管的另一种结构示意图；

图5为本公开实施例所提供的另一种显示面板的结构示意图。

具体实施方式

为使本领域的技术人员更好地理解本公开实施例的技术方案，下面将结合本公开实施例的附图对本公开实施例所提供的显示面板及显示装置的技术方案进行清楚、完整地描述。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

图2为本公开实施例提供的一种显示面板的结构示意图，如图2所示，该显示面板包括：包括显示区aa和围绕显示区aa设置的非显示区，位于显示区aa的一侧的非显示区100包括第一二极管d1、第二二极管d2、用于加载高电平信号vgh的第一驱动信号走线1、用于加载低电平信号vgl的第二驱动信号走线2、用于加载高电平信号vgh的第一测试信号走线3、以及用于加载低电平信号vgl的第二测试信号走线4。

其中，第二测试信号走线4的线路上对应配置有第一二极管d1，第二测试信号走线4包括第一部分走线41和第二部分走线42，第一二极管d1的正极连接第一部分走线41的一端，第一部分走线41的另一端连接第二驱动信号走线2，第一二极管d1的负极连接第二部分走线42的一端；第二二极管d2的负极与第一驱动信号走线1连接，第二二极管d2的正极连接第二部分走线42的一端；第一测试信号走线3的一端与第一驱动信号走线1连接。

在本公开实施例中，参见图2，在点灯测试阶段，第一测试信号走线3上加载高电平信号vgh，第二测试信号走线4上加载低电平信号vgl。在信赖性测试阶段，第一驱动信号走线1上加载高电平信号vgh，第二驱动信号走线2上加载低电平信号vgl，第一二极管d1和第二二极管d2相当于是串联于第一驱动信号走线1和第二驱动信号走线2之间的两个电阻，由于串联电阻分压的作用，可以使得第二测试信号走线4上的第一二极管d1的负极的电位相比于未设置第一二极管d1时较高，即可以有效提升第二测试信号走线4上的第一二极管d1的负极的电位，从而可以有效改善第二测试信号走线4在信赖性测试阶段容易被腐蚀的现象。

本公开实施例所提供的显示面板，第二测试信号走线的线路上对应配置有第一二极管，第二测试信号走线包括第一部分走线和第二部分走线，第一二极管的正极连接第一部分走线的一端，第一部分走线的另一端连接第二驱动信号走线，第一二极管的负极连接第二部分走线的一端；第二二极管的负极与第一驱动信号走线连接，第二二极管的正极连接第二部分走线的一端；第一测试信号走线的一端与第一驱动信号走线连接。在信赖性测试阶段，借由第一二极管和第二二极管能够有效提高用于加载低电平信号的第二测试信号走线的电位，从而有效改善用于加载低电平信号的第二测试信号走线在信赖性测试阶段产生的电化学腐蚀现象，进而有效改善由于第二测试信号走线的电化学腐蚀而造成的显示异常等不良现象。

在本公开实施例中，位于显示区aa的一侧的非显示区100为pad(走线)区域。

在本公开实施例中，在pad区域100，显示面板设置有多条用于输入点灯测试信号的测试信号走线、用于向显示区aa输入驱动信号的多条驱动信号走线。其中，驱动信号走线与测试信号走线一一对应电连接。而在显示区aa，显示面板中还设置有多条栅线(图中未示出)、多条数据线(图中未示出)以及栅线和数据线限定的像素单元(图中未示出)。其中，栅线与栅极驱动电路电连接，以通过栅极驱动电路(图中未示出)向栅线输入栅极扫描信号，控制每条栅线连接的像素单元打开。数据线与源极驱动电路(图中未示出)电连接，以通过源极驱动电路输入数据信号，以使显示面板实现显示效果。

在一些实施例中，栅极驱动电路可以包括goa(gatedriveronarray，阵列基板行驱动技术)驱动电路。在一些实施例中，栅极驱动电路还可以包括eoa驱动电路。其中，goa驱动电路和eoa驱动电路可以分别位于显示区aa沿图2所示的横向方向的两侧。

其中，在显示面板的点灯测试阶段，各测试信号走线用于加载对应的点灯测试信号，控制显示面板点亮，以对显示面板进行点灯测试，检测显示面板是否存在不良。其中，点灯测试信号通过各测试信号走线输入到显示面板的显示区aa中，点灯测试信号可以包括向栅线输入的时钟(clock)信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv、高电平信号vgh以及低电平信号vgl等信号，以及向数据线输入的数据信号。当然，在实际应用中，向栅线输入的信号与向数据线输入的信号还可以包括其他现有技术中的信号，在此不作限定。

在显示面板的信赖性测试阶段，各驱动信号走线用于加载对应的驱动信号，控制显示面板点亮，以对显示面板进行信赖性检测。其中，驱动信号通过驱动信号走线输入到显示面板的显示区aa中，驱动信号可以包括向栅极驱动电路输入的时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv、高电平信号vgh以及低电平信号vgl等信号，以及向数据线输入的数据信号。换言之，一部分驱动信号线可以用于传输向栅极驱动电路输入的时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv、高电平信号vgh以及低电平信号vgl等信号，以控制栅极驱动电路向栅线输出栅极扫描信号，进行扫描驱动；另一部分驱动信号线可以用于传输向源极驱动电路输入的数据控制信号，以控制源极驱动电路向数据线输出数据信号。一般采用pcb(printedcircuitboard，印制电路板)上的电路(图中未示出)或驱动ic(integratedcircuit，集成电路)(图中未示出)通过驱动信号走线向栅极驱动电路输入时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv、高电平信号vgh以及低电平信号vgl等信号，以控制栅极驱动电路向栅线输出栅极扫描信号；以及通过驱动信号走线向源极驱动电路输入信号，以控制源极驱动电路向数据线输出数据信号。当然，在实际应用中，向栅极驱动电路输入的信号与向源极驱动电路输入的信号还可以包括其他现有技术中的信号，在此不作限定。

可以理解的是，在本公开实施例中，驱动信号走线与测试信号走线一一对应电连接指的可以是在点灯测试阶段和信赖性测试阶段输入相同信号的驱动信号走线和测试信号走线电连接。例如，在点灯测试阶段用于加载高电平信号vgh的第一测试信号走线3和在信赖性测试阶段用于加载高电平信号vgh的第一驱动信号走线1电连接，在点灯测试阶段用于加载低电平信号vgl的第二测试信号走线4和在信赖性测试阶段用于加载低电平信号vgl的第二驱动信号走线2电连接，依此类推，此处不再具体赘述。

需要说明的是，在本公开实施例中，图2仅示出了多条驱动信号走线中用于加载高电平信号vgh的第一驱动信号走线1、用于加载低电平信号vgl的第二驱动信号走线2，且多条测试信号走线中用于加载高电平信号vgh的第一测试信号走线3、以及用于加载低电平信号vgl的第二测试信号走线4的情况。但可以理解的是，显示面板的多条驱动信号走线还可以包括用于加载时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv等信号的驱动信号走线，多条测试信号走线还可以包括用于加载时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv等信号的测试信号走线。

在本公开实施例中，显示面板还包括与驱动信号走线一一对应电连接的驱动端子，以及与测试信号走线一一对应电连接的点灯测试端子。在点灯测试阶段中，通过点灯测试治具向各点灯测试端子输入对应的点灯测试信号，以对显示面板进行点灯测试；在信赖性测试阶段，通过驱动ic向各驱动端子输入对应的驱动信号，以对显示面板进行信赖性测试。

在本公开实施例中，如图2所示，第一驱动信号走线1对应的驱动端子为第一驱动端子10，其与驱动ic电连接，用于接收驱动ic加载的高电平信号vgh；第二驱动信号走线2对应的驱动端子为第二驱动端子20，其与驱动ic电连接，用于接收驱动ic加载的低电平信号vgl。

在本公开实施例中，如图2所示，第二驱动信号走线2的一端从显示区aa延伸出，第二驱动信号走线2的另一端与对应第二驱动端子20电连接；第一驱动信号走线1的一端从显示区aa延伸出，第一驱动信号走线1的另一端与对应第一驱动端子10电连接。

在本公开实施例中，如图2所示，第一测试信号走线3对应的点灯测试端子为第一点灯测试端子30，其与点灯测试治具电连接，用于接收点灯测试治具加载的高电平信号vgh；第二测试信号走线4对应的点灯测试端子为第二点灯测试端子40，其与点灯测试治具电连接，用于接收点灯测试治具加载的低电平信号vgl。

在本公开实施例中，如图2所示，第二测试信号走线4被其线路上对应配置的第一二极管d1分割成第一部分走线41和第二部分走线42。其中，第一二极管d1的正极与第一部分走线41的一端电连接，第一部分走线41的另一端与第二驱动信号走线2电连接，第一二极管d1的负极与第二部分走线42的一端电连接，第二部分的另一端与对应的第二点灯测试端子40电连接；第二二极管d2的正极与第二测试信号走线4的第二部分走线42的一端电连接，第二二极管d2的负极与第一驱动信号走线电连接；第一测试信号走线3的一端与第一驱动信号走线1电连接，第一测试信号走线3的另一端与对应的第一点灯测试端子30电连接。

在本公开实施例中，如图2所示，pad区域100可以分为切割区和非切割区，其中，沿切割线l被切割掉的部分称为切割区，其余未被切割的部分称为非切割区，第一二极管d1、第二二极管d2和第一部分走线41均位于非切割区。

在一些实施例中，在显示区aa中，像素单元可以包括像素电路(图中未示出)，像素电路包括薄膜晶体管(图中未示出)和存储电容(图中未示出)，其中，存储电容包括第一极板(图中未示出)和第二极板(图中未示出)，第一极板可以为薄膜晶体管的栅极层，第二极板的材料与第一极板的材料相同。位于pad区域100的多条驱动信号走线可以与存储电容的第二极板同层同材料设置，位于pad区域100的多条测试信号走线可以与薄膜晶体管的栅极层同层同材料设置。可以理解的是，第一驱动信号走线1、第二驱动信号走线2均与存储电容的第二极板同层设置，第一测试信号走线3、第二测试信号走线4均与薄膜晶体管的栅极层同层设置。

在一些实施例中，驱动信号走线和测试信号走线之间还设置有层间介质层(ild)(图中未示出)，驱动信号走线和对应电连接的测试信号走线可以通过层间介质层中的过孔电连接，该过孔中设置导电结构，即驱动信号走线和对应的测试信号走线可以通过过孔中的导电结构电连接，导电结构的材料可以与薄膜晶体管的源漏极(sd)的材料相同。可以理解的是，第一驱动信号走线1通过层间介质层(ild)中的过孔与第一测试信号走线3电连接，第二驱动信号走线2通过层间介质层(ild)中的过孔与第二测试信号走线4电连接。

图3为第一二极管、第二二极管的一种结构示意图，如图3所示，在一些实施例中，第一二极管d1包括pn结，和/或，第二二极管d2包括pn结。其中，如图3所示，pn结包括p层、耗尽层和n层，其中，p层为正极，n层为负极。由于pn结具有单向导通的特点，可以实现电流从左到右导通，从右到左阻断的效果。

图4为第一二极管、第二二极管的另一种结构示意图，如图4所示，在一些实施例中，第一二极管d1包括电致发光(el)器件，和/或，第二二极管d2包括电致发光(el)器件。其中，如图4所示，el器件包括阳极(anode)、阴极(cathode)以及位于阳极和阴极之间的电致发光层，阳极为正极，阴极为负极。由于el器件反向不导通，因此在模组(module)组装完成状态下驱动显示面板显示时，el器件处于反向不导通状态，el器件的位置处不会出现额外亮点的情况。

在一些实施例中，第二二极管d2的电阻值小于第一二极管d1的电阻值。

在本公开实施例中，显示面板可以为液晶显示面板。或者，显示面板也可以为电致发光显示面板，进一步地，电致发光显示面板可以包括：有机发光二极管(organiclight-emittingdiode，oled)显示面板或量子点发光二极管(quantumdotlightemittingdiodes，qled)显示面板，在此不作限定。进一步地，有机发光二极管(organiclight-emittingdiode，oled)显示面板可以包括有源矩阵有机发光二极体(activematrixorganiclightemittingdiode，amoled)显示面板。进一步地，电致发光显示面板可以为柔性电致发光显示面板或刚性电致发光显示面板。

下面以图2所示的显示面板为例进行说明其检测过程，但应当了解，其具体过程不局限于此。

结合图2，在点灯测试阶段中，在点灯测试阶段中，通过点灯测试治具向各点灯测试端子输入点灯测试信号，从而控制显示区aa进行点亮，以检测显示面板是否存在不良。其中，第一测试信号走线3对应的第一点灯测试端子30上加载高电平信号vgh，第二测试信号走线4对应的第二点灯测试端子40上加载低电平信号vgl，在第一二极管d1的作用下，第二测试信号走线4上的电流由显示区aa流向第二点灯测试端子40，第一测试信号走线3上的电流由第一点灯测试端子30流向显示区aa，而由于第二二极管d2的反向阻断的作用，第一测试信号走线3和第二测试信号走线4之间存在大电阻，不会出现短接导致大电流灼伤的现象。

若点灯检测阶段未发现不良，则进入模组(module)组装阶段，在模组组装阶段，对显示面板进行激光倒角、异形切割工艺，根据图2中的切割线cg对显示面板进行切割，以将显示面板上的各点灯测试端子去除，此时，第一点灯测试端子30和第二点灯测试端子40被去除。

之后，将显示面板与驱动ic、fpc(flexibleprintedcircuit，柔性电路板)、pcb等元件进行组装。在组装完成后进入信赖性测试阶段，以对显示面板进行信赖性测试(例如在85湿度85温度或者90湿度60温度下进行信赖性测试)。在信赖性检测阶段，通过pcb上的电路或驱动ic对显示面板的各驱动信号走线对应的驱动端子加载对应的驱动信号，以控制显示面板点亮，以对显示面板进行信赖性测试。

其中，第一驱动信号走线1对应的第一驱动端子10上加载高电平信号vgh，第二驱动信号走线2对应的第二驱动端子20上加载低电平信号vgl。第二驱动信号走线2上的电流由显示区aa流向第二驱动端子20，第一驱动信号走线1上的电流由第一驱动端子10流向显示区aa。

由于第一二极管d1的反向阻断作用，第一驱动信号走线3和第二驱动信号走线4之间相当于串联了两个大电阻，因而切割后残留的第二测试信号走线4上的电位可以由d1和d2的分压决定，从而可以通过设计d1和d2的分压使得残留的第二测试信号走线4上的电位能够得到提升，甚至可以使得残留的第二测试信号走线4上的电位从低电位状态提升至高电位状态，例如，可以使得d2电阻值小于d1电阻值，从而使得d1上的分压较大，提高第二测试信号走线4上的电位，进而能够有效改善用于加载低电平信号vgl的第二测试信号走线4在被切割后在信赖性测试阶段产生的电化学腐蚀现象，有效改善由于第二测试信号走线4的电化学腐蚀而造成的显示异常等不良现象。

此外，需要说明的是，在本公开实施例中，高电平信号vgh是指直流高电平信号，低电平信号vgl是指直流低电平信号，因此，用于加载如高低电平方波信号的测试信号走线、驱动信号走线均不属于本公开实施例所描述的“第一测试信号走线”、“第二测试信号走线”、“第一驱动信号走线”和“第二驱动信号走线”的范围。

图5为本公开实施例所提供的另一种显示面板的结构示意图，图5所示实施例所提供的显示面板与前述实施例所提供的显示面板的区别在于，如图5所示，在一些实施例中，第一驱动信号走线1、第二驱动信号走线2的数量均为两个，第一测试信号走线3、第二测试信号走线4的数量均为两个，第一二极管d1、第二二极管d2的数量均为两个，位于显示区aa的一侧的非显示区100即pad区域100包括第一驱动测试子区域m和第二驱动测试子区域n。

如图5所示，在第一驱动测试子区域m中设置有一第一驱动信号走线1、一第二驱动信号走线2、一第一测试信号走线3、一第二测试信号走线4、一第一二极管d1和一第二二极管d2；在第一驱动测试子区域m中，第一二极管d1的正极连接第二测试信号走线4的第一部分走线41的一端，第一部分走线41的另一端连接第二驱动信号走线2，第一二极管d1的负极连接第二测试信号走线4的第二部分走线42的一端，第二二极管d2的负极与第一驱动信号走线1连接，第二二极管d2的正极连接第二部分走线42的一端，第一测试信号走线3的一端与第一驱动信号走线1连接。

如图5所示，在第二驱动测试子区域n中设置有一第一驱动信号走线1、一第二驱动信号走线2、一第一测试信号走线3、一第二测试信号走线4、一第一二极管d1和一第二二极管d2；在第二驱动测试子区域n中，第一二极管d1的正极连接第二测试信号走线4的第一部分走线41的一端，第一部分走线41的另一端连接第二驱动信号走线2，第一二极管d1的负极连接第二测试信号走线4的第二部分走线42的一端，第二二极管d2的负极与第一驱动信号走线1连接，第二二极管d2的正极连接第二部分走线42的一端，第一测试信号走线3的一端与第一驱动信号走线1连接。

在一些实施例中，如图5所示，在第一驱动测试子区域m中设置有多条用于输入点灯测试信号的测试信号走线、用于向显示区aa输入驱动信号的多条驱动信号走线，驱动信号走线与测试信号走线一一对应电连接。其中，多条测试信号走线包括第一测试信号走线3和第二测试信号走线，多条驱动信号走线包括第一驱动信号走线1和第二驱动信号走线2。需要说明的是，图5仅示出了第一驱动测试子区域m中多条测试信号走线中的第一测试信号走线3和第二测试信号走线4、以及多条驱动信号走线包括第一驱动信号走线1和第二驱动信号走线2的情况，但应当了解，第一驱动测试子区域m中的多条测试信号走线还可以包括用于加载时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv等信号的测试信号走线，多条驱动信号走线还可以包括用于加载时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv等信号的驱动信号走线。

如图5所示，在第二驱动测试子区域n中设置有多条用于输入点灯测试信号的测试信号走线、用于向显示区aa输入驱动信号的多条驱动信号走线，驱动信号走线与测试信号走线一一对应电连接。其中，多条测试信号走线包括第一测试信号走线3和第二测试信号走线，多条驱动信号走线包括第一驱动信号走线1和第二驱动信号走线2。需要说明的是，图5仅示出了第一驱动测试子区域m中多条测试信号走线中的第一测试信号走线3和第二测试信号走线4、以及多条驱动信号走线包括第一驱动信号走线1和第二驱动信号走线2的情况，但应当了解，第一驱动测试子区域m中的多条测试信号走线还可以包括用于加载时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv等信号的测试信号走线，多条驱动信号走线还可以包括用于加载时钟信号ck/cb、初始复位信号vint、帧触发信号stv等信号的驱动信号走线。

在一些实施例中，显示面板采用双边驱动方式驱动，即显示区aa沿图5所示的横向方向的两侧分别设置有栅极驱动电路。如图5所示，第一驱动测试子区域m中的多条测试信号走线可以用于在点灯测试阶段向位于显示区aa的左侧的栅极驱动电路传输点灯测试信号，第一驱动测试子区域m中的多条驱动信号走线可以用于向位于显示区aa的左侧的栅极驱动电路传输驱动信号；第二驱动测试子区域n中的多条测试信号走线可以用于在点灯测试阶段向位于显示区aa的右侧的栅极驱动电路传输点灯测试信号，第二驱动测试子区域n中的多条驱动信号走线可以用于向位于显示区aa的右侧的栅极驱动电路传输驱动信号。

此外，本公开实施例还提供一种显示装置，该显示装置包括上述任一实施例所提供的显示面板。

在本公开实施例中，显示装置还包括驱动电路，驱动电路位于绑定区，显示面板上的各驱动信号走线分别与驱动电路电连接。在一些实施例中，驱动电路可以包括pcb上的电路或驱动ic。

本公开实施例提供的显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本公开的限制。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本公开的原理而采用的示例性实施方式，然而本公开并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本公开的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本公开的保护范围。