液晶电视数字解调芯片的实验板和系统的制作方法

文档序号:22296259发布日期:2020-09-23 01:20阅读:161来源:国知局
液晶电视数字解调芯片的实验板和系统的制作方法
本实用新型实施例涉及电子电路芯片级检测维修
技术领域
,具体涉及一种液晶电视数字解调芯片的实验板和系统。
背景技术
:数字电视已经普及;数字电视中,需要对信号进行调整和解调;其中,解调是通过解调芯片完成的;对于解调芯片进行单独测试、维修和实验是电子教学领域中的一个重点项目。但是目前由于数字电视解调芯片嵌入到电视中,很难单独地对数字解调芯片进行检测、实验和教学维修等工作。技术实现要素:为此,本实用新型实施例提供一种液晶电视数字解调芯片的实验板,以解决上述问题。为了实现上述目的,本实用新型实施例提供如下技术方案:一种液晶电视数字解调芯片的实验板,所述液晶电视数字解调芯片板包括:数字解调芯片和连接器;所述数字解调芯片中的需要被测试的引脚连接所述连接器中的针;所述连接器连接外部的检测平台。进一步地,还包括:第一跳线,包括第一引脚、第二引脚和第三引脚;第一引脚接地;第二引脚接芯片的引脚42;第三引脚接电源;当第一引脚和第二引脚相连时,第二引脚输出低电平;当第二引脚和第三引脚相连时,第二引脚输出高电平给芯片的第一测试引脚;第二跳线,包括第四引脚、第五引脚和第六引脚;第四引脚接地;第五引脚接芯片的第二测试引脚;第六引脚接电源;当第四引脚和第五引脚相连时,第五引脚输出低电平;当第五引脚和第六引脚相连时,第五引脚输出高电平给芯片的第二测试引脚;第三跳线,包括第七引脚、第八引脚和第九引脚;第七引脚接地;第八引脚接芯片的第三测试引脚;第九引脚接电源;当第七引脚和第八引脚相连时,第八引脚输出低电平;当第八引脚和第九引脚相连时,第八引脚输出高电平给芯片的第三测试引脚。进一步地,所述芯片设置有连接外部电源的引脚;所述实验板还包括3.3伏电源供电电路和1.2伏电源供电电路;所述3.3伏电源供电电路,将5伏电压转换为3.3伏电压输出给液晶电视数字解调芯片;所述1.2伏电源供电电路,将5伏电压转换为1.2伏电压输出给液晶电视数字解调芯片。进一步地,还包括检测点;其中,检测点与需要检测的芯片的引脚一一对应设置。进一步地,所述数字解调芯片为atbm8859。第二方面,一种液晶电视数字解调芯片的实验系统,包括如上述任一项所述的液晶电视数字解调芯片的实验板,还包括检测平台;所述检测平台与所述连接器相连。本实用新型实施例具有如下优点:本申请的液晶电视数字解调芯片的实验板,设置有对外的牛角连接器,并设置了对液晶电视数字解调芯片进行实验的跳线、测试点、可以对液晶电视数字解调芯片的一个或者多个需要被测试的引脚进行测试,并且还能够将通过对外牛角连接器将测试信号传送到外部的检测平台;以及通过测试点手动检测;从而实现了对液晶电视数字解调芯片进行检测、实验。附图说明为了更清楚地说明本实用新型的实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是示例性的,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图引申获得其它的实施附图。本说明书所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本实用新型可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容能涵盖的范围内。图1为本实用新型实施例提供的一种智能液晶电视解调电路的实验板结构示意图;图2为本实用新型实施例提供的另一种智能液晶电视解调电路的实验板;图3为本实用新型实施例提供的一种液晶电视解调电路的检测点设置示意图;图4为本实用新型实施例提供的电视数字解调芯片测试接线图;图5为跳线示意图;图6为1.2伏供电电路图;图7为3.3伏供电电路图;图8为另一种智能液晶电视解调电路的实验板的示意图;图9为一种智能液晶电视解调电路的系统示意图。具体实施方式以下由特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点及功效,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。本申请提出了一种液晶电视数字解调芯片实验板,参见附图1所示的一种液晶电视数字解调芯片的实验板的结构示意图;该实验板包括:液晶电视的数字解调芯片101和连接器102;其中,液晶电视数字解调芯片101和连接器102电连接;其中,连接器102可以为牛角连接器;液晶电视数字解调芯片101中的需要被检测的引脚连接牛角连接器102中的针;如果液晶电视数字解调芯片101有40个引脚需要被测试,则牛角连接器102中的针的个数至少具有40个;一个引脚连接一个针,一一对应;该牛角连接器102,还与外部的检测平台相连;外部的检测平台通过该牛角连接器102获取所述数字解调芯片101的每一个引脚的电参数;其中电参数包括电流或者电压。本申请的技术方案,把现有技术中的液晶电视主板中的数字解调芯片单独提取出来,设置在一块实验板上,通过牛角连接器,外部的检测平台实现对于数字解调芯片的测试,从而可以实现单独对数字解调芯片进行实验、教学、研究、测试和维修等工作。值得强调的是,除了牛角连接器,也可以采用其他形式的连接器,本申请不做具体限定。在一种实施方式中,除了通过牛角连接器连接外部测试平台,还可以设置检测点,供学生用万用表来进行手工检测;因为芯片的引脚比较密集,空间狭小,不方便学生使用万用表来进行检测,为了方便对需要进行检测的芯片的引脚进行检测,设置检测点;检测点与需要被检测的芯片的引脚一一对应设置。参加附图2所示的另一种液晶电视数字解调芯片的实验板的结构示意图;液晶电视数字解调芯片的一个需要被测试的引脚连接的是牛角连接器中的一个针,通过牛角连接器连接外部的测试平台,在外部的测试平台上可以观察该引脚的电参数的数值,电参数包括电压或者电流。该芯片的另一个需要被测试的引脚连接的是检测点103;学生可以用万用表的表笔触碰检测点103来对该引脚进行测试。检测点与需要被检测的引脚相连,可以设置在需要被检测的引脚附近。参见附图3所示的一种液晶电视解调电路的检测点设置示意图;对于ts0,芯片的引脚10,设置了检测点tp7;对于ts1,芯片的引脚9,设置了检测点tp8;对于ts2,芯片的引脚8,设置了检测点tp9;对于ts3,芯片的引脚6,设置了检测点tp12;对于ts4,芯片的引脚5,设置了检测点tp13;对于ts5,芯片的引脚4,设置了检测点tp14;对于ts6,芯片的引脚2,设置了检测点tp15;对于ts7,芯片的引脚1,设置了检测点tp16。关于液晶电视解调电路芯片,参见附图4所示的一种液晶电视解调电路芯片的示意图,该芯片采用地面数字电视解调晶片atbm8859;引脚1输出信号记为ts7;引脚2输出信号记为ts6;引脚3连接电源3v3;引脚4输出信号记为ts5;引脚5输出记为ts4;引脚6输出记为ts3;引脚7接1.2伏电源,记为asic_1v2;引脚8输出记为ts2;引脚9输出记为ts1;引脚10输出记为ts0;引脚11输出记为pwm0;引脚12接1.2伏电源,记为asic_1v2;引脚13、14连接时钟电路;引脚15连接电感l12的一端,电感l12的另一端接3.3伏电源,记为asic_3v3;引脚16悬空;引脚17连接电感l13的一端;电感l13的另一端接3.3伏电源,记为asic_3v3;引脚18悬空;引脚19悬空;引脚20连接电容c508的第一端,c508的第二端连接电阻r46的第一端,r46的第二端输出记为i_if+;引脚21连接电容c506的第一端,c506的第二端连接电阻r45的第一端,电阻r45的第二端输出记为i_if-;引脚22连接电阻r47的第一端,电阻r47的第二端接地;引脚23接1.2伏电源,记为asic_1v2;引脚24、25悬空;引脚26连接电阻r42的一端,另一端输出记为t_i2c_scl;引脚27连接电阻r36的一端,另一端输出记为t_i2c_sda;引脚28输出记为asic_1v2;引脚29连接电阻r35的一端,另一端输出记为m_scl;引脚30连接电阻r34的一端,另一端输出记为m_sda;引脚31连接3.3伏的电源;引脚32连接3.3伏的电源;引脚33接1.2伏电源,记为asic_1v2;引脚34输出记为dbug_bus13;引脚35、36接地;引脚37接1.2伏电源,记为asic_1v2;引脚38连接3.3伏的电源;引脚39输出记为dbug_bus10;引脚40连接3.3伏的电源;引脚41接1.2伏电源,记为asic_1v2;引脚42分别连接了电阻r43、电阻r44和电容c507的一端;电容c507的另一端接地;电阻r43的另一端信号记为m_demo_rst;电阻r44的另一端连接3.3伏的电源;引脚43、44、45接地;引脚46,记为tsclk;引脚47,记为tsbvld;引脚48,记为tssync;引脚49接地。值得强调的是,本申请只是以上述的芯片来进行举例说明,不限于上述的该型号的芯片,也可以采用其他型号的芯片。为了实现对于该芯片的实验,本申请还设计了3个跳线;实验板还包括:第一跳线,包括第一引脚、第二引脚和第三引脚;第一引脚接地;第二引脚接芯片的引脚42;第三引脚接电源;当第一引脚和第二引脚相连时,第二引脚输出低电平;当第二引脚和第三引脚相连时,第二引脚输出高电平给芯片的第一测试引脚;其中,第一测试引脚为引脚42;第二跳线,包括第四引脚、第五引脚和第六引脚;第四引脚接地;第五引脚接芯片的引脚20;第六引脚接电源;当第四引脚和第五引脚相连时,第五引脚输出低电平;当第五引脚和第六引脚相连时,第五引脚输出高电平给芯片的第二测试引脚,其中,第二测试引脚为引脚20;第三跳线,包括第七引脚、第八引脚和第九引脚;第七引脚接地;第八引脚接芯片的第三测试引脚;其中,第三测试引脚为引脚21;第九引脚接电源;当第七引脚和第八引脚相连时,第八引脚输出低电平;当第八引脚和第九引脚相连时,第八引脚输出高电平给芯片的第三测试引脚。值得强调的是,上述的三个测试引脚,也可以是其他的引脚,本申请并不限定具体是哪一个引脚,只要是需要被测试的引脚,都可以用跳线连接,进行测试。参见附图5,其中,跳线16、17、18;引脚1接地;引脚3接3.3伏的电源;引脚2接芯片中的需要被测试的引脚;引脚1、2相连,2输出低电平;从而为需要被测试的引脚输送低电平;引脚2、3相连,2输出高电平,从而为需要被测试的引脚输送高电平;对于跳线16,引脚2连接的是上述的电阻r43的另一端,最终连接到了芯片的引脚42;对于跳线17,引脚2连接的是上述的电阻r46的第二端;通过电容c508连接到芯片的引脚20;对于跳线18,引脚2连接的是上述的电阻r45的第二端;通过电容c506连接到芯片的引脚21。液晶电视数字解调芯片需要电源;所以设置有连接外部电源的引脚;在一种形式的芯片中,需要3.3伏电源和1.2伏电源两种;所以该实验板还包括3.3伏电源供电电路和1.2伏电源供电电路;所述3.3伏电源供电电路,将5伏电压转换为3.3伏电压输出给液晶电视数字解调芯片;所述1.2伏电源供电电路,将5伏电压转换为1.2伏电压输出给液晶电视数字解调芯片。所述3.3伏电源供电电路采用芯片ld1117a33实现;所述1.2伏电源供电电路采用芯片ld1117a12实现。参见附图6所示的1.2伏供电电路;该供电电路包括:芯片ld1117a12;引脚3接5伏电源;引脚4和引脚2为电压输出端;输出电压为1.2伏;并且输出端分别通过电容c139和电容c140接地;输出端还连接电阻db15的第一端;电阻db15第二端连接测试点;输出记为v1.2v_ok。参见附图7所示的3.3伏供电电路;该供电电路包括:芯片ld1117a33;该芯片的引脚3接5伏电源;引脚4和引脚2为电压输出端;输出电压为3.3伏;并且输出端分别通过电容c138和电容c137接地;输出端还连接电阻db14的第一端;电阻db14第二端连接测试点;输出记为v3.3v_ok;下面详细介绍一种液晶电视数字解调芯片的实验板,参见附图8所示的另一种液晶电视数字解调芯片的实验板的示意图,其中,该实验板包括第一牛角连接器201和第二牛角连接器202;其中,每一个牛角连接器分别设置了40个针;上排20针,下排20针;还包括电源插口204,用于连接外部电源;还包括电源指示灯203,如果电源插口204连接外部电源,则电源指示灯203亮;如果电源插口204断开外部电源,则电源指示灯203灭;输入电源为9伏。跳线单元205包括了j16、j17和j18三个跳线。本发明将液晶电视主板的数字解调部分单独设计,形成智能液晶电视数字解调芯片的实验板,针对数字解调原理进行电路实现和功能模拟,并且对各主要元器件提供测试接口。在进行测试实验时,需要先进行故障点的设置,参见表1所示的一种故障点设置的方法。序号故障点设置方法1u135损坏2r43损坏表1其中,u135是1.2伏电源的芯片ld1117a12;具体实施时可以设置多个故障点,参见表2所示的不同的故障点设计方案。表2下面描述一下如何将故障点进行破坏;1.击穿设置方法:取下芯片加热或用高压将芯片击穿;2.断路,可以有两种方式,一种是在焊接的时候,对某一个引脚进行虚焊,从而产生断路的效果;另一种是挑起一个芯片或者电阻的引脚使得该引脚断路。3.芯片本身损坏:人为挑起一个芯片的引脚击穿;4.短路:有两种方式,一种方式是连锡接地;另一种方式是加高电压。与第一方面对应,本申请还提出了一种液晶电视数字解调芯片实验系统,参见附图9所示的一种液晶电视数字解调芯片实验系统示意图;该系统包括上述的液晶电视数字解调芯片实验板31,还包括检测平台32;所述检测平台32与所述液晶电视数字解调芯片实验板31相连。在一种可能的实施方式中,所述检测平台32具备和所述牛角连接器对应的接口。其中,液晶电视数字解调芯片实验板上的牛角连接器如果是两个,每个接口是40针;则检测平台上的接口也应该是两个,每个接口是40针,并且排列方式也相同。在一种可能实施方式中,所述检测平台32还具备显示屏幕,用于显示检测结果。参见表3所示的在检测平台上显示的一种通过牛角连接器的检测结果;其中,第1个针连接了该芯片的3.3伏的电源输入引脚;第1个针的电压为3.3伏特;表明该芯片的连接3.3伏的电源引脚正常。表3具体实施时,可以对液晶电视数字解调芯片实验板31中的数字解调芯片11中的芯片进行各种实验,包括击穿实验、芯片本身损坏实验、短路实验等,用在教学的场景中,提高了教学的效果。在一种可能的实施方式中,检测平台32可以采用现有技术中的一种市场上流行的产品,即型号为sol-monitor的智能检测平台实现。虽然,上文中已经用一般性说明及具体实施例对本实用新型作了详尽的描述,但在本实用新型基础上,可以对之作一些修改或改进,这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此,在不偏离本实用新型精神的基础上所做的这些修改或改进,均属于本实用新型要求保护的范围。当前第1页12
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