OLED驱动特性检测电路及包括其的OLED显示装置的制作方法

oled驱动特性检测电路及包括其的oled显示装置
[0001]
相关申请的交叉引用
[0002]
本申请要求于2019年8月5日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请no.10-2019-0094737的优先权，所述韩国专利申请的公开内容全部包含于此。
技术领域
[0003]
本公开涉及一种有机发光二极管(oled)驱动特性检测电路以及包括oled驱动特性检测电路的oled显示装置，更具体地，涉及能够感测驱动元件的电特性的oled驱动特性检测电路以及包括该oled驱动特性检测电路的oled显示装置。


背景技术：

[0004]
有源矩阵型有机发光二极管显示装置包括可以自发光的oled，并且具有诸如快速的响应速度、优异的发光效率、高亮度和宽视角的许多优点。
[0005]
在有机发光二极管显示装置中，均包括oled和驱动薄膜晶体管(tft)的多个像素被布置成矩阵，并且由像素实现的图像的亮度根据视频数据的灰度级来控制。驱动tft根据施加在驱动tft的栅极与源极之间的电压来控制在oled中流动的驱动电流。根据驱动电流来确定从oled发射的光量，根据从oled发射的光量来确定图像的亮度。
[0006]
当驱动tft工作在饱和区时，在驱动tft的漏极与源极之间流动的像素电流根据驱动tft的电特性(诸如，阈值电压和电子迁移率)而变化。如果由于诸如工艺特性和时变特性的各种原因而在像素之间出现电特性的偏差，那么即使相同的数据电压被施加到像素，像素之间也可能出现亮度偏差。除非解决这样的偏差，否则可能难以实现期望质量的图像。
[0007]
在传统的基于电压感测的补偿方法中，不使用在驱动tft中流动的电流而是使用与该电流对应的电压来检测驱动tft的电特性，在该方法中，使用感测线上的寄生电容器将该电流转换并存储为源电压，然后感测该源电压。在这种情况下，由于寄生电容器的大小相对较大并且数据会根据显示面板的负载而变化，因此可能无法获得精确的感测数据。
[0008]
为了解决传统的基于电压感测的补偿方法的缺点，可以使用利用电流积分器的基于电流感测的补偿方法，但是由于电流积分器的偏移以及可能会影响电压的外部噪声，因此仍然难以获得精确的感测数据。


技术实现要素：

[0009]
本公开的实施例提供一种具有改善的工作特性的有机发光二极管(oled)驱动特性检测电路。
[0010]
本公开的实施例还提供一种具有改善的工作特性的oled显示装置。
[0011]
然而，本公开的实施例不限于本文所阐述的实施例。通过参照下面给出的本公开的详细描述，对于本公开所属领域的普通技术人员而言，本公开的以下以及其他实施例将变得更加明显。
[0012]
根据本发明构思的一方面，一种有机发光二极管驱动特性检测电路包括：第一电
流积分器，被配置为经由第一感测通道接收第一电流，并且基于所述第一电流输出第一采样电压；第二电流积分器，被配置为经由第二感测通道接收第二电流，并且基于所述第二电流输出第二采样电压；以及采样电路，被配置为接收所述第一采样电压和所述第二采样电压，存储和保持所述第一采样电压和所述第二采样电压，并且去除包含在所述第一采样电压和所述第二采样电压中的共同噪声成分，所述采样电路包括第一采样电容器、第二采样电容器、第三采样电容器和第四采样电容器，其中，所述第一采样电容器和所述第二采样电容器连接到所述第一电流积分器的输出端子，并且被配置为存储并保持所述第一采样电压，所述第三采样电容器和所述第四采样电容器连接到所述第二电流积分器的输出端子，并且被配置为存储并保持所述第二采样电压，并且所述采样电路还包括多个开关，所述多个开关选择性地连接所述第一采样电容器的第一端、所述第二采样电容器的第一端、所述第三采样电容器的第一端和所述第四采样电容器的第一端。
[0013]
根据本发明构思的另一方面，一种有机发光二极管驱动特性检测电路包括：第一电流积分器，被配置为经由第一感测通道接收第一电流，并且基于所述第一电流输出第一采样电压；第二电流积分器，被配置为经由第二感测通道接收第二电流，并且基于所述第二电流输出第二采样电压；以及采样电路，被配置为接收所述第一采样电压和所述第二采样电压，之后存储并保持所述第一采样电压和所述第二采样电压，并且去除包含在所述第一采样电压和所述第二采样电压中的共同噪声成分，所述采样电路包括：第一采样电容器，被配置为存储所述第一采样电压；第一采样开关，连接在所述第一电流积分器的输出端子与所述第一采样电容器之间，所述第一采样开关被配置为在第一时段内被接通，以完成将所述第一采样电压存储在所述第一采样电容器中；第二采样电容器，被配置为存储所述第一采样电压；第二采样开关，连接在所述第一电流积分器的所述输出端子与所述第二采样电容器之间，所述第二采样开关被配置为在所述第一时段之后的第二时段内被接通，以完成将所述第一采样电压存储在所述第二采样电容器中；第三采样电容器，被配置为存储所述第二采样电压；第三采样开关，连接在所述第二电流积分器的输出端子与所述第三采样电容器之间，所述第三采样开关被配置为在所述第一时段内被接通，以完成将所述第二采样电压存储在所述第三采样电容器中；第四采样电容器，被配置为存储所述第二采样电压；和第四采样开关，连接在所述第二电流积分器的所述输出端子与所述第四采样电容器之间，所述第四采样开关被配置为在所述第二时段内被接通，以完成将所述第二采样电压存储在所述第四采样电容器中。
[0014]
根据本发明构思的另一方面，一种有机发光二极管显示装置包括：显示面板，具有连接到数据线和感测线的多个像素，所述多个像素中的每个像素包括有机发光二极管(oled)和驱动薄膜晶体管(tft)，所述驱动tft被配置为控制所述oled发出的光量；以及数据驱动电路，包括数模转换器(dac)、多个感测电路和模数转换器(adc)，所述dac被配置为在感测操作期间将用于感测的数据电压施加到所述数据线，所述多个感测电路被配置为在所述感测操作期间经由连接到所述感测线的多个感测通道感测所述像素的电流信息，每个所述感测电路包括第一电流积分器、第二电流积分器、采样电路，所述第一电流积分器被配置为经由所述多个感测通道中的第一感测通道接收第一电流并且输出第一采样电压，所述第二电流积分器被配置为经由所述多个感测通道中的第二感测通道接收第二电流，并且输出第二采样电压，并且所述采样电路被配置为接收、存储并保持所述第一采样电压和所述
第二采样电压，并且去除包含在所述第一采样电压和所述第二采样电压中的共同噪声成分，所述采样电路包括第一采样电容器、第二采样电容器、第三采样电容器、第四采样电容器和多个开关，所述第一采样电容器和所述第二采样电容器连接到所述第一电流积分器的输出端子并且被配置为存储所述第一采样电压，所述第三采样电容器和所述第四采样电容器连接到所述第二电流积分器的输出电子并且被配置为存储所述第二采样电压，所述多个开关选择性地连接所述第一采样电容器的第一端、所述第二采样电容器的第一端、所述第三采样电容器的第一端和所述第四采样电容器的第一端，并且所述acd公共地连接到所述感测电路。
[0015]
根据以下详细描述、附图和权利要求，其他特征和实施例将变得明显。
附图说明
[0016]
通过参照附图详细描述本公开的示例实施例，本公开的上述以及其他实施例和特征将变得更加明显，在附图中：
[0017]
图1是以电流感测方式执行补偿的有机发光二极管显示装置的框图；
[0018]
图2a是示出应用了基于电流感测的补偿方法的像素如何连接到驱动器集成电路(ic)的电路图；
[0019]
图2b是示出图2a的电流积分器的输出的曲线图；
[0020]
图3a是示出在基于电流感测的补偿方法中如何产生噪声的示图；
[0021]
图3b是示出在由于图3a的噪声而发生错误的情况下电流积分器的输出的示图；
[0022]
图4是根据示例实施例的oled显示装置的框图；
[0023]
图5示出了根据示例实施例的在图4的显示面板中形成的像素阵列和感测电路；
[0024]
图6是根据示例实施例的包括oled驱动特性检测电路的oled显示装置的电路图；
[0025]
图7是示出根据示例实施例的oled显示装置的感测操作的流程图；
[0026]
图8a至图8d是示出根据实施例的如何去除可能在感测电流的过程中产生的噪声的电路图；
[0027]
图9是示出根据示例实施例的oled驱动特性检测电路的开关的状态的定时图；
[0028]
图10是示出根据示例实施例的如何能够通过四个电容器去除噪声的曲线图；
[0029]
图11是示出根据示例实施例的如何去除可能在感测电流的过程中产生的噪声的电路图；
[0030]
图12是示出根据示例实施例的oled驱动特性检测电路的开关的状态的定时图。
具体实施方式
[0031]
尽管在此可以使用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种元件、组件、区域、层和/或部分，但是这些元件、组件、区域、层和/或部分不受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件、组件、区域、层或部分与另一元件、组件、区域、层或部分区分开。因此，在不脱离本公开的范围的情况下，以下讨论的第一元件、组件、区域、层或部分可以被称为第二元件、组件、区域、层或部分。
[0032]
在下文中，将参照图1至图3b描述有机发光二极管(“oled”)显示装置的结构以及在传统的基于电流感测的补偿方法中出现的问题。
[0033]
图1是以电流感测方式执行补偿的有机发光二极管显示装置的框图。图2a是示出应用了基于电流感测的补偿方法的像素如何连接到驱动器集成电路(ic)的电路图，图2b是示出图2a的电流积分器的输出的曲线图。
[0034]
参照图1，oled显示装置可以包括显示面板、驱动器ic和定时控制器。驱动器ic可以包括感测块，并且感测从显示面板输入的电流信息。感测块包括多个电流积分器，并且对从显示面板输入的电流信息进行积分。显示面板的像素连接到感测线，电流积分器经由感测通道连接到感测线。由电流积分器获得的积分值(例如，积分参考电压值)通过采样和保持被输入到模数转换器(adc)。adc向定时控制器发送从模拟积分值转换为数字感测值的数字代码。定时控制器从数字感测值推导用于补偿阈值电压和迁移率偏差的补偿数据，使用补偿数据调制用于实现图像的图像数据，并将调制后的图像数据发送到驱动器ic。通过驱动器ic将调制后的图像数据转换为用于显示图像的数据电压，并将该数据电压施加到显示面板。
[0035]
参照图2a，像素“pixel”可以包括oled“oled”、驱动晶体管t_drv、存储电容器c_st、第一开关晶体管t_sw1和第二开关晶体管t_sw2。
[0036]
oled“oled”可以包括连接到驱动晶体管t_drv的阳极、连接到低电势驱动电压evss的输入端子的阴极、以及阳极与阴极之间的有机化合物层。驱动晶体管t_drv可以被实现为薄膜晶体管(tft)。驱动晶体管t_drv可以根据驱动晶体管t_drv的栅极-源极电压来控制输入到oled“oled”的电流量。驱动晶体管t_drv可以包括栅极、连接到高电势驱动电压evdd的输入端子的漏极、以及连接到oled“oled”的阳极的源极。存储电容器c_st可以连接驱动晶体管t_drv的栅极与源极。第一开关晶体管t_sw1可以经由数据焊盘pad_y从数模转换器(dac)“dac”接收数据电压，并且可以响应于栅极脉冲(gate pulse)vscan将数据电压施加到驱动晶体管t_drv的栅极。第二开关晶体管t_sw2可以响应于栅极脉冲vscan来开关在感测线中流动的电流。当像素电流ipix响应于第一开关晶体管t_sw1和第二开关晶体管t_sw2被导通而在感测线中流动时，可以施加低于阈值电平的低电势驱动电压evss，以使得oled“oled”不会影响像素电流ipix的流动。
[0037]
电流积分器itg可以包括放大器amp。放大器amp可以包括反相输入端子(-)、非反相输入端子(+)和输出端子。反相输入端子(-)可以经由感测焊盘pad_s连接到像素“pixel”的感测线，并且接收像素电流ipix(例如，驱动晶体管t_drv的源极-漏极电流)。非反相输入端子(+)可以接收参考电压vref。电流积分器itg还可以包括积分电容器c_itg和复位开关sw_itg，积分电容器c_itg连接在放大器amp的反相输入端子(-)与输出端子之间，复位开关sw_itg连接到积分电容器c_itg的两端。
[0038]
电流积分器itg经由采样电路(例如，采样/保持电路s/h)和全差分放大器(fda)“fda”连接到模数转换器(adc)“adc”。
[0039]
采样/保持电路s/h可以包括两个采样开关sw_s1和sw_s2、采样电容器c_s1和c_s2以及保持开关sw_h1和sw_h2。采样开关sw1-s1可以对放大器amp的输出电压vs进行采样，采样开关sw_s2可以对初始电压vint进行采样。采样电容器c_s1可以存储经由采样开关sw_s1施加到其的放大器amp的输出电压vs。采样电容器c_s2可以存储经由采样开关sw_s2施加到其的初始电压vint。保持开关sw_h1和sw_h2可以将分别存储在采样电容器c_s1和c_s2中的输出电压vs和初始电压vint传输到fda“fda”。此外，采样/保持电路s/h可以包括开关sw_b
和开关sw_a，开关sw_b用于将采样参考电压vcm施加到采样电容器c_s1和c_s2，当保持开关sw_h1和/或sw_h2被接通时，可以通过接通开关sw_a来连接采样电容器c_s1和c_s2。
[0040]
参照图2b，使用电流积分器itg的驱动晶体管t_drv的驱动特性感测操作包括复位时段感测时段和传输时段
[0041]
在复位时段内，由于复位开关sw_itg接通，放大器amp可以用作增益为1的单位增益缓冲器。
[0042]
在复位时段内，放大器amp的输入端子(+)和(-)以及输出端子可以都被初始化为参考电压vref。
[0043]
在复位时段内，可以经由驱动器ic“driver ic”的数模转换器(dac)“dac”将用于感测的数据电压施加到驱动晶体管t_drv的栅极，作为结果，驱动晶体管t_drv的源极-漏极电流(例如，像素电流ipix)流动并且可以被稳定。然而，由于在复位时段期间，放大器amp持续用作单位增益缓冲器，所以放大器amp的输出电压vs可以维持在参考电压vref。
[0044]
在感测时段内，由于复位开关sw_itg被关断，放大器amp可以用作电流积分器，并且使用积分电容器c_itg对像素电流ipix进行积分。由于在感测时段期间像素电流ipix被引入到放大器amp的反相输入端子(-)，因此积分电容器c_itg的两端之间的电势差(例如，累积的电流量)随时间增加。然而，由于放大器amp的特性，放大器amp的反相输入端子(-)和非反相输入端子(+)可以通过虚拟接地短路，从而使得放大器amp的反相输入端子(-)与非反相输入端子(+)之间的电势差为零。因此，无论积分电容器c_itg的电势如何增大，在感测时段期间放大器amp的反相输入端子(-)的电势都可以维持在参考电压vref。相反，放大器amp的输出端子的电势可以根据积分电容器c_itg的两端之间的电势差的增大而减小。这样，在感测时段期间经由感测焊盘pad_s引入的像素电流ipix可以被积分电容器c_itg转换为输出电压vs。随着像素电流ipix增大，放大器amp的输出电压vs的下降斜率增加，并且输出电压vs可以减小。
[0045]
在感测时段内，采样电容器c_s1可以经由采样开关sw_s1存储输出电压vs，并且采样电容器c_s2可以经由采样开关sw_s2存储初始电压vint。
[0046]
在传输时段内，当保持开关sw_h1和sw_h2接通时，存储在采样电容器c_s1中的输出电压vs可以经由保持开关sw_h1输入到fda“fda”，存储在采样电容器c_s2中的初始电压vint可以经由保持开关sw_h2输入到fda“fda”。在下文中，fda“fda”的非反相输出端子的输出电压v1与fda“fda”的反相输出端子的输出电压v2之间的差可以输入到adc“adc”。
[0047]
可以基于输出电压vs与初始电压vint之间的差δv的fda“fda”的输出电压可以通过adc“adc”转换为数字感测值，并且数字感测值可以被传输到图1的定时控制器。定时控制器可以通过将数字感测值应用于先前存储的补偿算法来推导驱动晶体管t_drv的阈值电压偏差δvth和迁移率偏差δk，并且可以推导用于补偿阈值电压偏差δvth和迁移率偏差δk的补偿数据。
[0048]
图3a是示出在基于电流感测的补偿方法中如何产生噪声的示图，图3b是示出在由
于图3a的噪声而发生错误的情况下电流积分器的输出的示图。在下文中，将参照图2a至图3b描述在根据电流感测方法执行感测操作以确定驱动晶体管t_drv的驱动特性时可能产生的噪声。
[0049]
在减少感测的持续时间方面，使用电流积分器itg的感测方法比传统的电压感测方法更有优势，但是由于感测目标(例如，像素电流ipix或驱动晶体管t_drv的源极-漏极电流)可以非常低，所以可能容易受到噪声的影响。此外，在电流积分器itg和复位开关sw_itg中可能产生噪声。
[0050]
如图3a所示，在像素电流ipix的感测期间，可能出现在产生低电势驱动电压evss期间产生的噪声“noise(evss)”以及在产生参考电压vref期间产生的噪声“noise(vref)”的问题。此外，在初始化时段期间，由于复位开关sw_itg的耦合，可能产生噪声“coupling(sw)”，由于连接到多个像素的电流积分器itg的偏移以及由于参考电压vref的偏移，可能产生噪声“offset(itg)”和“offset(vref)”。
[0051]
如图3b所示，由于上述噪声，可能无法精确地执行感测。即，由于在初始化时段期间可能产生的噪声“coupling(sw)”、“offset(itg)”和“offset(vref)”，因此可能产生如区域p所示的电压峰值，由于噪声“noise(evss)”和“noise(vref)”，输出电压vs'可能波动(如区域q所示)，从而可能无法精确地执行感测。
[0052]
在下文中，将参照图4至图12描述根据本公开的一些实施例的oled驱动特性检测电路以及根据本公开的一些实施例的包括oled驱动特性检测电路的oled显示装置。
[0053]
图4是根据本公开的实施例的oled显示装置的框图，图5示出了根据本公开的实施例的在图4的显示面板中形成的像素阵列和感测电路。
[0054]
参照图4和图5，oled显示装置10可以包括显示面板100、数据驱动电路200、栅极驱动电路300、定时控制器400和存储器500。
[0055]
在显示面板100中，多条数据线210和多条感测线220可以与多条栅极线310相交，并且像素p可以设置在数据线210/感测线220与栅极线310之间的相交处，并且可以被布置为矩阵。
[0056]
每个像素p可以连接到一条数据线210、一条感测线220和一条栅极线310。每个像素p可以响应于经由一条栅极线310输入到其的栅极脉冲电连接到一条数据线210，以从相应的数据线210接收数据电压，并经由一条感测线220输出感测信号。
[0057]
每个像素p可以从电力发生器(未示出)接收高电势驱动电压evdd和低电势驱动电压evss。每个像素p可以包括oled“oled”、驱动晶体管t_drv、第一开关t_sw1和第二开关t_sw2以及存储电容器c_st。也就是说，像素p可以具有与图2a的像素“pixel”相同的结构。像素p的晶体管可以被实现为p型或n型晶体管。此外，像素p的晶体管的半导体层可以包括非晶硅、多晶硅或氧化物。
[0058]
像素p可以不同地操作以用于显示图像的显示操作以及用于获得感测值的感测操作。可以在显示操作之前的预定时长内执行感测操作，或者可以在显示操作期间的垂直消隐(vertical blank)时段期间执行感测操作。
[0059]
显示操作可以包括数据驱动电路200和栅极驱动电路300在定时控制器400的控制下执行的第一操作。感测操作可以包括数据驱动电路200和栅极驱动电路300在定时控制器400的控制下执行的第二操作。通过定时控制器400来执行基于感测结果数据推导用于补偿
偏差的补偿数据的操作以及使用补偿数据调制数字视频数据rgb的操作。
[0060]
数据驱动电路200可以包括至少一个数据驱动器ic“sdic”。数据驱动器ic“sdic”可以包括连接到数据线210的多个dac，经由感测通道可以包括连接到数据线210的多个dac，经由感测通道连接到感测线220的多个感测电路su0、su1和su2，以及公共地连接到感测电路su0、su1和su2的adc。
[0061]
在显示操作期间，数据驱动器ic“sdic”的dac可以将数字视频数据rgb转换为用于显示图像的数据电压，并根据从定时控制器400施加到其的数据定时控制信号ddc，将用于显示图像的数据电压提供给数据线210。
[0062]
在感测操作期间，数据驱动器ic“sdic”的dac可以根据从定时控制器400施加到其的数据定时控制信号ddc，产生用于感测的数据电压，并将用于感测的数据电压提供给数据线210。这里，用于感测的数据电压可以包括用于产生高于0的像素电流ipix(或每个驱动晶体管t_drv的源极-漏极电流)的灰度数据电压以及用于抑制像素电流ipix的产生的黑色数据电压。在感测操作期间，数据驱动器ic“sdic”可以将灰度数据电压和黑色数据电压交替地供应给数据线210，从而灰度数据电压和黑色数据电压可以被交替地供应给通道，具体地，可以被交替地供应给连接到通道的成列的像素p。例如，如果将灰度数据电压供应给连接到第一通道ch1的第一列像素，则可以将黑色数据电压施加到连接到第二通道ch2的第二列像素。在另一示例中，如果将黑色数据电压提供给连接到第一通道ch1的第一列像素，则可以将灰度数据电压施加到连接到第二通道ch2的第二列像素。
[0063]
数据驱动器ic“sdic”的感测电路su0、su1和su2均可以包括：第一电流积分器ci1，其可以连接到奇数编号的感测通道(例如，第一通道ch1、第三通道ch3和第五通道ch5)之一；第二电流积分器ci2，其连接到偶数编号的感测通道(例如，第二通道ch2、第四通道ch4和第六通道ch6)之一；以及四个采样电容器cs，其连接在第一电流积分器ci1的输出端子与第二电流积分器ci2的输出端子之间。可以如图6所示的那样实现图5的第一电流积分器ci1和第二电流积分器ci2。数据驱动器ic“sdic”的adc可以顺序地将感测电路su0、su1和su2的输出数字化，并且将数字化的输出发送到定时控制器400。稍后将参照图6至图12详细描述感测电路su0、su1和su2的操作。
[0064]
在显示操作期间，栅极驱动电路300基于栅极控制信号gdc产生用于显示图像的栅极脉冲，并且以行顺序的方式(l#1、l#2
…
)将用于显示图像的栅极脉冲顺序地提供给栅极线310。在感测操作期间，栅极驱动电路300基于栅极控制信号gdc产生用于感测的栅极脉冲，并且以行顺序的方式(l#1、l#2...)将用于感测的栅极脉冲顺序地提供给栅极线310。用于感测的栅极脉冲可以比用于显示图像的栅极脉冲具有更宽的导通脉冲部分。用于感测的栅极脉冲的导通脉冲部分对应于“单线感测导通时间(one-line sensing on-time)”。这里，术语“单线感测导通时间”是指同时感测每行像素p(即，l#1、l#2
…
)所需的扫描时长。
[0065]
定时控制器400可以根据定时信号(例如，垂直同步信号vsync、水平同步信号hsync、点时钟信号dclk和数据使能信号de)，产生用于控制数据驱动电路200的操作定时的数据定时控制信号ddc以及用于控制栅极驱动电路300的操作定时的栅极控制信号gdc。定时控制器400可以基于预定参考信号(例如，驱动电源使能信号、垂直同步信号vsync和数据使能信号de)识别显示操作和感测操作，并且产生适用于显示操作和感测操作中的每一者的数据定时控制信号ddc和栅极控制信号gdc。
[0066]
在感测操作期间，定时控制器400可以将与用于感测的数据电压相对应的数字数
据发送到数据驱动电路200。数字数据可以包括与灰度数据电压相对应的第一数字数据以及与黑色数据电压相对应的第二数字数据。在感测操作期间，定时控制器400可以通过将从数据驱动电路200接收到的数字感测值sd应用于先前存储的补偿算法来推导每个驱动晶体管t_drv的阈值电压偏差δvth和迁移率偏差δk，并且在存储器500中存储用于补偿推导出的偏差的补偿数据。
[0067]
在显示操作期间，定时控制器400可以参考存储在存储器500中的补偿数据来调制数字视频数据rgb，并将调制后的数字视频数据发送到数据驱动电路200。
[0068]
图6是根据示例实施例的包括oled驱动特性检测电路的oled显示装置的电路图。
[0069]
参照图6，oled驱动特性检测电路可以包括第一电流积分器itg1、第二电流积分器itg2、第一采样/保持电路s/h1、第二采样/保持电路s/h2和fda“fda”。
[0070]
第一电流积分器itg1可以经由第一焊盘p1接收施加到其的第一电流ia，并且可以产生第一积分输出电压vs1。例如，第一焊盘p1可以是连接到图5的第一通道ch1的焊盘。即，第一电流积分器itg1可以接收连接到第一焊盘p1的像素的驱动晶体管的源极-漏极电流(例如，像素电流ipix1)，但是会接收到其中反映了噪声的第一电流ia，所述噪声是在产生低电势驱动电压evss的过程中在寄生电容器cprs1的影响下产生的。第一电流ia可以是基于灰度数据电压产生的电流。该操作可以是用于感测连接到第一焊盘p1的像素的驱动晶体管的驱动特性的感测操作。
[0071]
第一电流积分器itg1可以包括第一放大器amp1、第一积分电容器c_itg1和第一积分开关sw_itg1。第一放大器amp1、第一积分电容器c_itg1和第一积分开关sw_itg1可以分别执行与图2a的放大器amp、积分电容器c_itg和复位开关sw_itg相同的操作。即，第一积分电容器c_itg1两端的电压可以由第一积分开关sw_itg1初始化，并且第一放大器amp1可以基于第一电流ia执行积分以产生并输出第一积分输出电压vs1。
[0072]
第二电流积分器itg2可以经由第二焊盘p2接收施加到其的第二电流ib，并且可以产生第二积分输出电压vs2。例如，第二焊盘p2可以是连接到图5的第二通道ch2的焊盘。即，第二电流积分器itg2可以接收连接到第二焊盘p2的像素的驱动晶体管的源极-漏极电流(即，像素电流ipix2)，但是会接收到其中反映了噪声的第二电流ib，所述噪声是在产生低电势驱动电压evss的过程中在寄生电容器cprs2的影响下产生的。第二电流ib可以是基于黑色数据电压产生的电流。
[0073]
第二电流积分器itg2的第二放大器amp2、第二积分电容器c_itg2和第二积分开关sw_itg2可以分别执行与第一放大器amp1、第一积分电容器c_itg1和第一积分开关sw_itg1相同的操作。即，第二积分电容器c_itg2两端的电压可以由第二积分开关sw_itg2初始化，并且第二放大器amp2可以基于第二电流ib执行积分，以产生并输出第二积分输出电压vs2。
[0074]
采样电路可以包括第一采样/保持电路s/h1和第二采样/保持电路s/h2。第一采样/保持电路s/h1可以包括第一采样开关sw_sp1、第二采样开关sw_sn1、采样传输开关sw_st、第一采样电容器c
s
1、第二采样电容器c
s
2、两个采样复位开关sw_rst和两个保持开关sw_h。
[0075]
在第一感测时段内，第一采样开关sw_sp1可以被接通以将第一积分输出电压vs1存储在第一采样电容器c
s
1中。第一感测时段可以是早期感测时段。
[0076]
在第一感测时段之后的第二感测时段内，第二采样开关sw_sn1可以被接通以将第
一积分输出电压vs1存储在第二采样电容器c
s
2中。
[0077]
当第一积分输出电压vs1被存储在第一采样电容器c
s
1和第二采样电容器c
s
2中时，第一采样/保持电路s/h1的采样复位开关sw_rst可以被接通以将采样参考电压vcm施加到第一采样电容器c
s
1的第二端和第二采样电容器c
s
2的第二端。通过将采样参考电压vcm固定到第一采样电容器c
s
1的第二端和第二采样电容器c
s
2的第二端，可以将第一积分输出电压vs1存储在第一采样电容器c
s
1和第二采样电容器c
s
2中。
[0078]
在第二感测时段之后的传输时段内，第一采样/保持电路s/h1的第一采样开关sw_sp1和第二采样开关sw_sn1以及采样复位开关sw_rst可以被关断，并且第一采样/保持电路s/h1的采样传输开关sw_st和保持开关sw_h可以被接通。响应于采样传输开关sw_st被接通，第一采样电容器c
s
1的第一端和第二采样电容器c
s
2的第一端以及第三采样电容器c
s
3的第一端和第四采样电容器c
s
4的第一端可以彼此连接。另外，响应于第一采样/保持电路s/h1的保持开关sw_h被接通，存储在第一采样电容器c
s
1中的电压可以被施加到fda“fda”的反相输入端子(-)，并且存储在第二采样电容器c
s
2中的电压可以被施加到fda“fda”的非反相输入端子(+)。
[0079]
第二采样/保持电路s/h2可以包括第三采样开关sw_sp2、第四采样开关sw_sn2、采样传输开关sw_st、第三采样电容器c
s
3、第四采样电容器c
s
4、两个采样复位开关sw_rst和两个保持开关sw_h。
[0080]
在第一感测时段内，第三采样开关sw_sp2可以被接通以将第二积分输出电压vs2存储在第三采样电容器c
s
3中。在第二感测时段内，第四采样开关sw_sn2可以被接通以将第二积分输出电压vs2存储在第四采样电容器c
s
4中。
[0081]
第二采样/保持电路s/h2的采样复位开关sw_rst可以以与第一采样/保持电路s/h1的采样复位开关sw_rst相同的方式操作。即，在第一感测时段和第二感测时段内，第二采样/保持电路s/h2的采样复位开关sw_rst可以被接通以将采样参考电压vcm施加到第三采样电容器c
s
3的第二端和第四采样电容器c
s
4的第二端。
[0082]
在传输时段内，第二采样/保持电路s/h2的第三采样开关sw_sp2和第四采样开关sw_sn2以及采样复位开关sw_rst可以被关断，并且第二采样/保持电路s/h2的采样传输开关sw_st和保持开关sw_h可以被接通。响应于第二采样/保持电路s/h2的采样传输开关sw_st被接通，第一采样电容器c
s
1至第四采样电容器c
s
4的第一端可以彼此连接。此外，响应于第二采样/保持电路s/h2的保持开关sw_h被接通，存储在第三采样电容器c
s
3中的电压可以被施加到fda“fda”的非反相输入端子(+)，存储在第四采样电容器c
s
4中的电压可以被施加到fda“fda”的反相输入端子(-)。
[0083]
fda“fda”可以经由fda“fda”的反相输入端子(-)和非反相输入端子(+)从第一采样/保持电路s/h1和第二采样/保持电路s/h2接收采样电压，并且可以将非反相输出电压vop和反相输出电压von分别输出到adc“adc”的非反相输入端子(+)和反相输入端子(-)。在一些实施例中，传输到adc“adc”的电压可以是与非反相输出电压vop和反相输出电压von之间的差(即，输出电压“vop-von”)相对应的电压。在下文中，将假设并描述输出电压“vop-von”被输入到adc“adc”。
[0084]
adc“adc”从fda“fda”接收输出电压“vop-von”，并将通过对输出电压“vop-von”进行模数转换而获得的数字值sd输出到定时控制器400，定时控制器400可以基于数字值sd产
生补偿数据，如上面已经参照图4所描述的。
[0085]
图7是示出根据示例实施例的oled显示装置的感测操作的流程图。图8a至图8d是示出根据一些实施例的如何去除可能在感测电流的过程中产生的噪声的电路图。图9是示出根据示例实施例的oled驱动特性检测电路的开关的状态的定时图。图10是示出根据示例实施例的如何能够通过四个电容器去除噪声的曲线图。在下文中将参照图7至图9描述根据本公开的一些实施例的oled驱动特性检测电路如何感测驱动晶体管的操作特性。将省略对上面已经参照图6描述的特征或元件的详细描述。
[0086]
参照图7至图9，在s100中，可以复位第一电流积分器itg1的第一积分电容器c_itg1和第二电流积分器itg2的第二积分电容器c_itg2。即，在从t1到t2的复位时段内，第一积分开关sw_itg1和第二积分开关sw_itg2可以接通，并且可以执行复位操作，使得第一积分电容器c_itg1两端的电压和第二积分电容器c_itg2两端的电压可以变为相同。在一些实施例中，在从t1到t2的复位时段内，第一采样开关sw_sp1、第二采样开关sw_sn1、第三采样开关sw_sp2和第四采样开关sw_sn2以及采样复位开关sw_rst可以被接通，以跟踪第一电流积分器itg1的输出和第二电流积分器itg2的输出。
[0087]
在从t1到t2的复位时段之后，第一积分开关sw_itg1和第二积分开关sw_itg2可以被关断，并且从t3到t5的感测时段可以开始。图9示出了在复位时段与感测时段的开始之间存在延迟，但是本公开不限于此。即，作为备选方案，复位时段的结束和感测时段的开始可以彼此一致。
[0088]
在s200中，第一积分输出电压vs1可以存储在第一采样电容器c
s
1中，第二积分输出电压vs2可以存储在第三采样电容器c
s
3中。即，在从t3到t4的第一感测时段内，第一采样开关sw_sp1和第三采样开关sw_sp2可以被接通，作为结果，可以完成将第一电流积分器itg1的第一积分输出电压vs1和第二电流积分器itg2的第二积分输出电压vs2分别存储在第一采样电容器c
s
1和第三采样电容器c
s
3中。在从t3到t4的第一感测时段内存储在第一采样电容器c
s
1中的第一积分输出电压vs1被定义为第一采样电压va，在第一感测时段内存储在第三采样电容器c
s
3中的第二积分输出电压vs2被定义为第三采样电压vc。
[0089]
在从t3到t5的感测时段内，第一采样/保持电路s/h1的采样复位开关sw_rst和第二采样/保持电路s/h2的采样复位开关sw_rst可以被接通，以将采样参考电压vcm提供到第一采样电容器cs1至第四采样电容器cs4的第一端。
[0090]
在s300中，第一积分输出电压vs1可以存储在第二采样电容器c
s
2中，第二积分输出电压vs2可以存储在第四采样电容器c
s
4中。即，在从t4到t5的第二感测时段内，第二采样开关sw_sn1和第四采样开关sw_sn2可以被接通，作为结果，可以完成将第一积分输出电压vs1和第二积分输出电压vs2分别存储在第二采样电容器c
s
2和第四采样电容器c
s
4中。在从t4到t5的第二感测时段内存储在第二采样电容器c
s
2中的第一积分输出电压vs1被定义为第二采样电压vb，并且在第二感测时段内存储在第四采样电容器c
s
4中的第二积分输出电压vs2被定义为第四采样电压vd。
[0091]
如上面已经参照图3a和图3b所描述的，在从t1到t2的复位时段以及从t3到t5的感测时段期间，可能在第一电流积分器itg1和第二电流积分器itg2中产生噪声“coupling(sw)”、“offset(itg)”、“offset(vref)”、“noise(evss)”和“noise(vref)”，这些噪声可以统称为共同噪声成分，并且其中反映了这些噪声的第一采样电压va至第四采样电压vd可以
分别由下面的式(1)至式(4)来表示。
[0092]
[式1]
[0093][0094]
[式2]
[0095][0096]
[式3]
[0097][0098]
[式4]
[0099][0100]
这里，noise(evss
s1
)表示在从t3到t4的第一感测时段期间由低电势驱动电压evss产生的噪声，noise(evss
s2
)表示在从t4到t5的第二感测时段期间由低电势驱动电压evss产生的噪声，noise(vref
s1
)表示在从t3到t4的第一感测时段期间由参考电压vref产生的噪声，noise(vref
s2
)表示在从t4到t5的第二感测时段期间由参考电压vref产生的噪声，offset(itg1)表示在感测操作期间由存在于第一电流积分器itg1中的偏移引起的噪声，offset(itg2)表示在感测操作期间由存在于第二电流积分器itg2中的偏移引起的噪声，ia(s1)表示在从t3到t4的第一感测时段期间经由第一焊盘p1引入的第一电流ia，ia(s2)表示在从t4到t5的第二感测时段期间经由第一焊盘p1引入的第一电流ia，ib(s1)表示在从t3到t4的第一感测时段期间经由第二焊盘p2引入的第二电流ib，ib(s2)表示在从t4到t5的第二感测时段期间经由第二焊盘p2引入的第二电流ib。
[0101]
在s400中，可以基于存储在第一至第四采样电容器c
s
1至c
s
4中的第一至第四采样电压va、vb、vc和vd，将输出电压“vop-von”传输到adc“adc”。
[0102]
在从t6到t7的传输时段内，传输开关sw_st和保持开关sw_h被接通，并且第一采样开关sw_sp1、第二采样开关sw_sn1、第三采样开关sw_sp2和第四采样开关sw_sn2以及采样复位开关sw_rst被关断。因此，第一采样电容器c
s
1至第四采样电容器c
s
4彼此连接，第一采样电容器c
s
1的第一端和第四采样电容器c
s
4的第一端连接到fda“fda”的反相输入端子(-)，第二采样电容器c
s
2的第一端和第三采样电容器c
s
3的第一端连接到fda“fda”的非反相输入端子(+)。
[0103]
作为结果，fda“fda”的输出电压“vop-von”可以由下面的式(5)来表示。
[0104]
[式5]
[0105][0106]
如上所述，像素电流ipix2是通过施加黑色数据电压而获得的电流，因此低得可忽略不计，作为结果，第二电流ib也可以是低得可忽略不计的电流。因此，输出电压“vop-von”也可以由下面的式(6)表示。
[0107]
[式6]
[0108][0109]
根据图7至图10的实施例，设置两个采样电容器以分别存储两个电流积分器的输出电压，并且可以通过对存储在采样电容器中的采样电压执行计算来产生fda的输出电压。因此，可以去除可能在复位时段期间产生的噪声“coupling(sw)”、“offset(itg)”、“offset(vref)”以及可能在感测时段期间产生的噪声“noise(evss)”、“noise(vref)，因此可以精确地执行用于检测每个驱动晶体管的驱动特性的感测。
[0110]
图11是示出根据本公开的示例实施例的如何去除可能在感测电流的过程中产生的噪声的电路图。图12是示出根据示例实施例的oled驱动特性检测电路的开关的状态的定时图。将省略对上面已经参照图7至图10描述的特征或元件的详细描述。
[0111]
参照图11和图12，根据本公开的一些实施例的oled驱动特性检测电路和根据本公开的一些实施例的oled显示装置可以通过施加参考电流iref来精确地检测第一积分电容器c_itg1的电容和第二积分电容器c_itg2的电容，因此可以基于检测结果执行用于检测每个驱动晶体管的驱动特性的感测操作。
[0112]
感测操作所需的电流积分器可以包括连接到各个像素的多个电流积分器，并且包括在每个电流积分器中的积分电容器的电容可以不同。另外，随着感测操作的继续，第一积分电容器c_itg1的电容和第二积分电容器c_itg2的电容可能由于外部影响或内部噪声而变化，在这种情况下，无法精确地检测每个驱动晶体管的驱动能力。
[0113]
因此，可以通过施加任意固定的参考电流iref作为第一积分电容器itg1的输入来执行感测操作。在这种情况下，如下面的式(7)所示，可以精确地检测第一积分电容器c_itg1的电容(即，积分电容c
itg1
)。
[0114]
[式7]
[0115][0116]
在使用积分电容c
itg1
执行感测操作的情况下，可以检测到更精确的第一电流ia，并且定时控制器400可以通过对基于第一电流ia产生的感测值sd应用补偿算法，适当地产生、存储和应用补偿数据。
[0117]
尽管以上描述了实施例，但并不意味着这些实施例描述了本公开的发明构思的所有可能形式。相反，说明书中使用的词语是描述性的词语而不是限制性的词语，并且应当理解，可以在不脱离本公开的发明构思的精神和范围的情况下进行各种改变。另外，可以组合各种实施例的特征以形成本公开的其他实施例。