显示面板及其制备方法、显示装置与流程

显示面板及其制备方法、显示装置
【技术领域】
[0001]
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其制备方法、显示装置。


背景技术：

[0002]
随着科学技术的不断发展，越来越多具有显示功能的电子设备被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。电子设备实现显示功能的主要部件是显示面板。
[0003]
显示面板的可视测试(visual test，简称vt测试)是显示面板制作过程中的一个重要环节。vt测试指的是：在显示面板制作完成之后，将显示面板中的包括数据线和扫描线在内的多种信号线连接到对应的测试焊盘(pad)上，通过测试装置向显示面板上的各测试pad加载相应的测试信号，使显示面板显示画面，以检测显示面板中包括各信号线在内的结构是否满足品质要求。通过vt测试，可以防止不良产品流入后续模组段。
[0004]
但是，目前的vt测试存在准确率较低，无法有效检测出显示面板的好坏的问题。


技术实现要素：

[0005]
有鉴于此，本发明实施例提供了一种显示面板及其制备方法、显示装置，用以提高vt测试的准确率。
[0006]
一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：
[0007]
显示部，包括多条数据线；
[0008]
测试电路，包括测试开关、测试信号线和测试控制线，所述测试开关的控制端与所述测试控制线电连接，所述测试开关的第一端与所述测试信号线电连接，所述测试开关的第二端与所述数据线电连接；
[0009]
显示控制电路，包括显示开关、显示信号线和显示控制线，所述显示开关的控制端与所述显示控制线电连接，所述显示开关的第一端与所述显示信号线电连接，所述显示开关的第二端与所述数据线电连接；
[0010]
选择电路，包括选择开关和选择控制线，所述选择开关的控制端与所述选择控制线电连接，所述选择开关的第一端与选择信号端电连接，所述选择开关的第二端与所述显示控制线电连接；所述选择信号端用于在所述测试开关和所述选择开关导通时提供使所述显示开关截止的信号。
[0011]
另一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的制备方法，包括：
[0012]
提供衬底；
[0013]
在所述衬底的一侧形成包括多条数据线的显示部；在所述衬底的同一侧形成测试电路、显示控制电路和选择电路；其中，
[0014]
所述测试电路包括测试开关、测试信号线和测试控制线，所述测试开关的控制端与所述测试控制线电连接，所述测试开关的第一端与所述测试信号线电连接，所述测试开关的第二端与所述数据线电连接；
[0015]
所述显示控制电路包括显示开关、显示信号线和显示控制线，所述显示开关的控制端与所述显示控制线电连接，所述显示开关的第一端与所述显示信号线电连接，所述显示开关的第二端与所述数据线电连接；
[0016]
所述选择电路包括选择开关和选择控制线，所述选择开关的控制端与所述选择控制线电连接，所述选择开关的第一端与选择信号端电连接，所述选择开关的第二端与所述显示控制线电连接；所述选择信号端用于在所述测试开关和所述选择开关导通时提供使所述显示开关截止的信号；
[0017]
对所述显示面板进行检测。
[0018]
再一方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括如上所述的显示面板。
[0019]
本发明实施例提供的显示面板及其制备方法、显示装置，在对显示面板进行vt测试时，可以使得与数据线电连接的显示开关截止。因此，在进行vt测试时，数据线上所传输的测试数据信号不会经显示开关漏流，保证了数据线上所传输的测试数据信号的准确性，进而能够保证显示面板的测试结果的准确性。
[0020]
除此之外，本发明实施例通过将选择电路设置为包括选择开关的电路结构，只需在显示面板中设置一定数量的选择开关即可，避免了在显示面板上设置向显示控制线提供信号的焊盘。目前，为保证焊盘与后续待绑定芯片的接触面积，通常会将焊盘的面积设置的较大，一般来说，焊盘的面积会大于选择开关的面积。因此，相较于在显示面板中设置焊盘以控制显示开关在vt测试时截止的方案来说，采用本发明实施例的设置方式，在保证显示面板的测试结果的准确性的同时，还可以减小测试用焊盘在显示面板上所占的空间。在测试用焊盘在显示面板上所占空间较小时，在vt测试完成之后，可以将所占空间较小的测试用焊盘保留在显示面板中，无需采用切割工艺将测试用焊盘去除，在简化生产工艺的同时，还可以避免过度增大显示面板中的非显示区的面积，有利于提高显示面板的屏占比。另外，在后续模组阶段若出现异常还可以利用测试用焊盘快速检测，便于异常问题的排查。
[0021]
而且，在显示面板的制作过程中，通常是先形成一面积较大的显示母板，显示母板包括多个如上所述的面积较小的显示面板。本发明实施例通过减小测试用焊盘在显示面板上所占的面积，在显示母板的面积一定的情况下，节省出的空间可以用来设置更多的显示面板。特别的，对于用于可穿戴设备的显示面板来说，其在显示母板上的集成度较高，通过采用本发明实施例的设置方式，能够提高显示母板的排版率，有利于降低生产成本。
【附图说明】
[0022]
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0023]
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的布线示意图；
[0024]
图2为图1的一种等效电路示意图；
[0025]
图3为相关技术中一种显示面板的布线示意图；
[0026]
图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的布线示意图；
[0027]
图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的布线示意图；
[0028]
图6为图5的一种等效电路示意图；
[0029]
图7为本发明实施例提供的又一种显示面板的等效电路示意图；
[0030]
图8为本发明实施例提供的又一种显示面板的等效电路示意图；
[0031]
图9为本发明实施例提供的又一种显示面板的等效电路示意图；
[0032]
图10为本发明实施例提供的又一种显示面板的示意图；
[0033]
图11为本发明实施例提供的一种显示面板的制备方法的流程示意图；
[0034]
图12为本发明实施例提供的一种显示装置的示意图。
【具体实施方式】
[0035]
为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
[0036]
应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
[0037]
在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
[0038]
应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0039]
应当理解，尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述数据线，但这些数据线不应限于这些术语。这些术语仅用来将连接不同颜色的子像素的数据线彼此区分开。例如，在不脱离本发明实施例范围的情况下，第一数据线也可以被称为第二数据线，类似地，第二数据线也可以被称为第一数据线。
[0040]
本发明实施例提供了一种显示面板，如图1和图2所示，图1为本发明实施例提供的一种显示面板的布线示意图，图2为图1的一种等效电路示意图，该显示面板包括显示部1、测试电路2、显示控制电路3和选择电路4。
[0041]
其中，显示部1包括多个子像素(图1未示出)，以及多条与子像素电连接的数据线11和扫描线(图1未示出)。可选的，本发明实施例所提供的显示面板可以为液晶显示面板(liquid crystal display，简称lcd)，或者，也可以为采用自发光技术的自发光显示面板，如有机发光二极管(organic lighting diode，简称oled)显示面板或量子点发光二极管(quantum lighting diode，简称oled)显示面板等。在将显示面板设置为液晶显示面板时，上述子像素包括位于彩膜基板上的具有不同出光颜色的彩色滤光结构，以及用于控制彩膜基板和阵列基板之间的液晶偏转的像素电极和公共电极。在将显示面板设置为有机发光显示面板时，上述子像素包括能够发出不同颜色的光的有机发光器件，以及用于控制有机发光器件发光的像素驱动电路。
[0042]
测试电路2用于在显示面板制作完成后对显示面板的品质进行检测。测试电路2包括测试开关21、测试信号线22和测试控制线23。测试开关21的控制端与测试控制线23电连接，测试开关21的第一端与测试信号线22电连接，测试开关21的第二端与数据线11电连接。其中，测试信号线22的数量可以根据子像素10的颜色的种类数进行设定。例如，可以将测试
信号线22的数量设置为与子像素10的出光颜色的种类数相同。即，在子像素10包括能够出射第一颜色的光的第一颜色子像素101，出射第二颜色的光的第二颜色子像素102和出射第三颜色的光的第三颜色子像素103时，在测试电路2中可以相应设置向第一颜色子像素101提供测试数据信号的第一测试信号线221、向第二颜色子像素102提供测试数据信号的第二测试信号线222、以及向第三颜色子像素103提供测试数据信号的第三测试信号线223。可选的，上述第一颜色可以为红色，第二颜色可以为绿色，第三颜色可以为蓝色。
[0043]
显示控制电路3用于在显示面板进行显示时，控制显示部1中的子像素10的显示。显示控制电路3包括显示开关31、显示信号线32和显示控制线33。显示开关31的控制端与显示控制线33电连接，显示开关31的第一端与显示信号线32电连接，显示开关31的第二端与数据线11电连接。
[0044]
需要说明的是，上述测试电路2还包括用于向扫描线提供检测信号的扫描测试电路，显示控制电路3还包括用于向扫描线提供信号的扫描控制电路。扫描测试电路和扫描控制电路的设置方式和工作原理与现有技术相同，在此不再赘述。
[0045]
选择电路4包括选择开关41和选择控制线42。选择开关41的控制端与选择控制线42电连接。在本发明实施例中，选择控制线42所提供的信号能够使选择开关41和测试开关21同时导通。选择开关41的第一端与选择信号端430电连接。示例性的，选择开关41的第一端可通过选择信号线43与选择信号端430电连接。选择开关41的第二端与显示控制线33电连接。选择信号端430用于在测试开关21和选择开关41导通时提供使显示开关31截止的信号。
[0046]
示例性的，上述测试开关21、显示开关31和选择开关41可以为任何可实现开关功能的结构，比如，可以选择薄膜晶体管(thin film transistor，简称tft)来制作测试开关21、显示开关31和选择开关41。在选用薄膜晶体管来制作上述测试开关21、显示开关31和选择开关41时，可以采用相同的构图工艺来形成测试开关21、显示开关31、选择开关41，以及显示部1中的用于控制子像素10点亮的薄膜晶体管，以节省工艺时间，提高生产效率。
[0047]
当测试开关21、显示开关31和选择开关41为薄膜晶体管时，薄膜晶体管的栅极对应相应各个开关的控制端，薄膜晶体管的第一极对应相应开关的第一端，薄膜晶体管的第二极对应相应开关的第二端。其中，薄膜晶体管的第一极为源极，第二极为漏极，或者，薄膜晶体管的第一极为漏极，第二极为源极。
[0048]
上述选择信号端430用于在测试开关21和选择开关41导通时提供使显示开关31截止的信号，可以理解为，在显示开关31为p型晶体管时，选择信号端430用于在测试开关21和选择开关41导通时提供高电平信号。在显示开关31为n型晶体管时，选择信号端430用于在测试开关21和选择开关41导通时提供低电平信号。
[0049]
在显示面板制作完成之后，本发明实施例可以利用上述测试电路2对显示面板的品质进行测试。具体的，在对显示面板进行测试时，向测试控制线23提供使测试开关21导通的信号，以使测试开关21导通。并向测试信号线22提供测试数据信号。测试数据信号经导通的测试开关21传输至相应的数据线11，令相应的子像素10点亮。与此同时，向选择控制线42提供使选择开关41导通的信号，以使选择开关41导通。并向选择信号端430提供使显示开关31截止的信号。该信号经选择开关41传输至显示控制线33，在该信号的控制下，显示开关31截止。在此过程中，可以通过显示部1中子像素10的点亮情况来判断显示面板中包括薄膜晶
体管、扫描线和数据线等在内的结构是否存在不良。
[0050]
在测试结果表明显示面板的品质满足要求后，使测试电路2停止工作。可以在显示面板上绑定用于驱动显示面板进行正常显示工作的驱动芯片，向显示控制线33提供使显示开关31导通的信号，以使显示开关31导通。并通过驱动芯片向显示信号线32提供显示数据信号。显示数据信号经显示开关31传输至相应的数据线11，令相应的子像素10以设定灰阶点亮。
[0051]
可以看出，在数据线11上传输测试数据信号时，通过采用本发明实施例所提供的设置方式，可以使得与数据线11电连接的显示开关31截止。因此，在进行vt测试时，数据线11上所传输的测试数据信号不会经显示开关31漏流，保证了数据线11上所传输的测试数据信号的准确性，进而能够保证显示面板的测试结果的准确性。
[0052]
除此之外，本发明实施例通过将选择电路4设置为包括选择开关41的电路结构，只需在显示面板中设置一定数量的选择开关41即可，避免了在显示面板上设置向显示控制线33提供信号的焊盘(pad)。
[0053]
结合图3所示，图3为相关技术中一种显示面板的布线示意图，其中，显示面板包括第一测试控制焊盘24
’
、第二测试控制焊盘26
’
和测试信号焊盘25
’
。第一测试控制焊盘24
’
通过第一测试控制线23
’
与测试开关21
’
的控制端电连接。测试信号焊盘25
’
通过测试信号线22
’
与测试开关21
’
的第一端电连接，测试开关21
’
的第二端与数据线11
’
电连接。第二测试控制焊盘26
’
与显示控制线33
’
电连接。显示控制线33
’
与显示开关31
’
的控制端电连接。在显示面板进行vt测试时，第一测试控制焊盘24
’
提供使测试开关21
’
导通的信号，第二测试控制焊盘26
’
提供使显示开关31
’
截止的信号。
[0054]
目前，为保证焊盘与后续待绑定芯片的接触面积，通常会将上述第一测试控制焊盘24
’
、第二测试控制焊盘26
’
和测试信号焊盘25
’
的面积设置的较大，一般来说，上述各测试用焊盘的面积会大于本发明实施例所提供的选择开关41的面积。由于显示面板的下台阶区还设置有多种显示用焊盘，如图3所示的显示控制焊盘34
’
和显示信号焊盘35
’
。因此，下台阶区内留给测试用焊盘的设置空间已经非常有限。在采用图3的设置方式时，通常会将测试用焊盘放至显示用焊盘远离数据线的一侧，在vt测试完成之后，通过将测试用焊盘切掉来减小显示面板的非显示区的面积。但是，如此一来，在进入模组段的制程时，如果显示面板出现异常，排查会很麻烦。
[0055]
相较于图3所示的在显示面板中设置第二测试控制焊盘26
’
以控制显示开关31
’
在vt测试时截止的方案来说，采用本发明实施例的设置方式，在保证显示面板的测试结果的准确性的同时，还可以减小测试用焊盘在显示面板上所占的空间。在测试用焊盘在显示面板上所占空间较小时，在vt测试完成之后，可以将所占空间较小的测试用焊盘保留在显示面板中，无需采用切割工艺将测试用焊盘去除，在简化生产工艺的同时，还可以避免过度增大显示面板中的非显示区的面积，有利于提高显示面板的屏占比。另外，在后续模组阶段若出现异常还可以利用测试用焊盘快速检测，便于异常问题的排查。
[0056]
而且，在显示面板的制作过程中，通常是先形成一面积较大的显示母板，显示母板包括多个如上所述的面积较小的显示面板。本发明实施例通过减小测试用焊盘在显示面板上所占的面积，在显示母板的面积一定的情况下，节省出的空间可以用来设置更多的显示面板。特别的，对于用于可穿戴设备的显示面板来说，其在显示母板上的集成度较高，通过
采用本发明实施例的设置方式，能够提高显示母板的排版率，有利于降低生产成本。
[0057]
可选的，在本发明实施例中，可以令测试开关21和选择开关41的类型相同，即，使二者的导通信号一致，以及，使二者的截止信号也一致。如此设置可以使二者工作于同一信号下，在保证二者同时导通和同时截止的基础上，可以避免在显示面板内引入过多的工作信号。例如，二者可以同为高电平截止低电平导通的p型晶体管，或者，二者可以同为高电平导通低电平截止的n型晶体管。如图2所示的为令测试开关21和选择开关41均为p型晶体管的示意，此时，选择信号可以为恒定高电平信号vgh。
[0058]
示例性的，如图1所示，本发明实施例提供的显示面板中，测试用焊盘包括测试控制焊盘24和测试信号焊盘25。测试控制焊盘24与测试控制线23电连接。测试控制焊盘24用于接收测试控制信号。测试信号焊盘25与测试信号线22电连接。测试信号焊盘25用于接收测试数据信号。
[0059]
可选的，在本发明实施例中，测试信号焊盘25的数量可以根据所需的测试信号的种类进行设定。例如，在上述子像素10包括第一颜色子像素101、第二颜色子像素102和第三颜色子像素103时，可以将测试信号焊盘25设置为包括用于向第一颜色子像素101提供测试数据信号的第一测试信号焊盘，向第二颜色子像素102提供测试数据信号的第二测试信号焊盘，以及，向第三颜色子像素103提供测试数据信号的第三测试信号焊盘。
[0060]
继续参照图1和图2，本发明实施例提供的显示面板还包括选择控制焊盘44和选择信号焊盘45。选择控制焊盘44与选择控制线42电连接。选择控制焊盘44用于接收选择控制信号。选择信号焊盘45与上述选择信号端430连接。选择信号焊盘45用于接收选择信号。以图2所示将测试开关21和选择开关41设置为p型晶体管为例，可以将选择信号设定为恒定高电平信号vgh。此时，可以利用显示面板中已有的用于向扫描电路提供恒定高电平信号vgh的焊盘复用为选择信号焊盘45，以减少显示面板中的焊盘的数量，从而减小显示面板中的焊盘所在的非显示区的面积。类似的，在测试开关21和选择开关41均为n型晶体管时，可以利用显示面板中已有的用于向扫描电路提供恒定低电平信号vgl的焊盘复用为选择信号焊盘45。
[0061]
在对显示面板进行vt测试时，可以将提供测试信号源的测试装置的对应端子与显示面板上的测试控制焊盘24、测试信号焊盘25、选择控制焊盘44和选择信号焊盘45连接。例如，可以采用探针法将连接测试装置的多个检测探针分别与测试控制焊盘24、测试信号焊盘25、选择控制焊盘44和选择信号焊盘45连接，以向显示面板提供多种测试用信号。测试用信号包括上述测试控制信号、测试数据信号和选择控制信号等。在结束vt测试后，可以停止向测试控制焊盘24、测试信号焊盘25、选择控制焊盘44和选择信号焊盘45提供信号。
[0062]
继续参照图1所示，本发明实施例提供的显示面板中显示用焊盘包括显示控制焊盘34和显示信号焊盘35。显示控制焊盘34与显示控制线33电连接。显示控制焊盘34用于接收显示控制信号。显示信号焊盘35与显示信号线32连接。显示信号焊盘35用于接收显示数据信号。
[0063]
在本发明实施例中，包括测试控制焊盘24和测试信号焊盘25在内的测试用焊盘所占的空间较小，因此，如图1所示，在vt测试完成之后，本发明实施例可以将测试用焊盘和向选择电路4提供信号的选择控制焊盘44和选择信号焊盘45保留在显示面板中，无需将这些焊盘切割掉。在后续模组阶段若出现异常，可以利用这些焊盘快速检测，便于异常问题的排
查。
[0064]
在vt测试结束，表明显示面板的品质满足要求后，本发明实施例可以将驱动芯片与显示面板绑定(bonding)连接。具体的，可以将驱动芯片中提供显示控制信号的引脚与上述显示控制焊盘34连接，将驱动芯片中提供显示数据信号的引脚与上述显示信号焊盘35连接。在显示面板进行显示时，利用驱动芯片向显示部1提供多种显示用信号。
[0065]
基于图1的设置方式，如果将测试控制焊盘24、测试信号焊盘25、选择控制焊盘44和选择信号焊盘45保留在显示面板中，在显示面板进行显示时，可以向上述测试控制焊盘24和选择控制焊盘44分别提供使测试开关21和选择开关41截止的信号。或者，也可以使上述测试控制焊盘24、测试信号焊盘25、选择控制焊盘44和选择信号焊盘45处于不接收信号的浮置(floating)状态。此时，数据线11上的信号不受测试电路2的控制。显示控制线33上的信号不受选择电路4的控制。
[0066]
或者，如图4所示，图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的布线示意图，本发明实施例也可以将测试控制焊盘24、测试信号焊盘25、选择信号焊盘45和选择控制焊盘44设置在显示控制焊盘34远离显示部1的一侧。在vt测试结束，表明显示面板的品质满足要求后，本发明实施例可以将测试控制焊盘24、测试信号焊盘25、选择信号焊盘45和选择控制焊盘44切割掉。并将驱动芯片与显示面板绑定连接。在保证显示面板的正常显示效果的基础上，也可以减小显示面板中非显示区的面积。
[0067]
需要说明的是，图1、图3和图4所示的走线的绕线方式，以及焊盘的面积和形状等仅为示意，在实际的设计过程中，可以根据显示面板及其中各种器件的不同的性能要求进行相应的调整。
[0068]
可选的，在本发明实施例中，可以将上述测试控制线23复用为选择控制线42。如图5和图6所示，图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的布线示意图，图6为图5的一种等效电路示意图，其中，测试控制线23和选择控制线42电连接，二者所传输的信号相同。测试开关21的控制端和选择开关41的控制端接收同一信号。如此设置能够令测试控制焊盘24和选择控制焊盘44合二为一，进一步减少在显示面板上设置的焊盘的数量，从而进一步减小焊盘在显示面板上的所占空间。
[0069]
图5所示的为将测试控制焊盘24、测试信号焊盘25和选择信号焊盘45设置在显示控制焊盘34远离显示部1的一侧的示意，在vt测试完毕后，可以将测试控制焊盘24、测试信号焊盘25和选择信号焊盘45切掉，以减小显示面板中非显示区的面积。或者，在将测试控制线23复用为选择控制线42时，也可以将测试控制焊盘24、测试信号焊盘25和选择信号焊盘45按照图1所示方式进行设置，在最后的显示面板中，保留测试控制焊盘24、测试信号焊盘25和选择信号焊盘45。
[0070]
示例性的，如图1和图5所示，在本发明实施例中，多条数据线11沿第一方向x排列，数据线11沿第二方向y延伸，第一方向x和第二方向y相交。沿第一方向x，选择电路4和显示控制电路3至少部分交叠，以避免包括选择电路4和显示控制电路3在内的电路结构在显示面板的第二方向y上占用过多的空间，有利于减小显示面板的非显示区沿第二方向y的宽度，实现显示面板的窄边框设计。
[0071]
可选的，在本发明实施例中，显示开关31的数量为多个。多个显示开关31可划分为多个显示开关组，其中每个显示开关组均包括m个显示开关。在同一显示开关组中，m个显示
开关31的第一端与同一条显示信号线32电连接，m为大于等于2的整数。与同一条显示信号线32电连接的m个显示开关31的第二端与m条不同的数据线11电连接。并且，与同一条显示信号线32电连接的m个显示开关31的控制端与m条不同的显示控制线33电连接。在图1、图2、图5和图6中以两个显示开关组，且每个显示开关组包括六个显示开关(即m＝6)作为示意。
[0072]
在显示面板进行显示时，扫描控制电路分时向显示部1中对应的扫描线提供扫描信号。在每一条扫描线接收扫描信号的过程中，驱动芯片依次向m条显示控制线33提供使显示开关31导通的信号。在相应的显示控制线33所传输的信号的作用下，与m条数据线11电连接的m个显示开关31依次导通，在任一个显示开关31导通的时间内，显示信号线32向相应的数据线11提供显示数据信号，控制与该数据线11电连接的子像素10发光，以使显示面板显示画面。
[0073]
本发明实施例通过将显示控制电路3设置为包括多个显示开关组，能够通过一条显示信号线32分时向m条数据线11提供显示数据信号，避免了每条数据线11直接与驱动芯片相连，能够减少驱动芯片上的引脚数量。而且，在显示面板的分辨率较高，显示部1中包括数量较多的数据线11时，采用该设置方式，可以减少连接驱动芯片和数据线11的连接线的数量，从而减小连接线所在区域的面积，能够进一步减小显示面板的非显示区的面积。
[0074]
示例性的，在本发明实施例中，子像素10的排布可以有多种不同的方式，以下分别进行说明。
[0075]
可选的，本发明实施例可以令相同颜色的子像素10沿第二方向y排成一列，并令不同颜色的子像素沿第一方向x依次交替循环排列。具体的，如图2所示，本发明实施例可以令第一颜色子像素101、第二颜色子像素102和第三颜色子像素103沿第一方向x交替循环排列。
[0076]
相应的，在设置数据线11时，如图2所示，本发明实施例可以将数据线11设置为包括沿第一方向x排列的第一数据线111，第二数据线112和第三数据线113。其中，第一数据线111、第二数据线112和第三数据线113均沿第二方向y延伸。第一数据线111与多个沿第二方向y排列的第一颜色子像素101电连接；第二数据线112与多个沿第二方向y排列的第二颜色子像素102电连接；第三数据线113与多个沿第二方向y排列的第三颜色子像素103电连接。
[0077]
在此基础上，本发明实施例可以令m≥3k，其中，k为大于等于2的整数。并且，在与同一条显示信号线32电连接的m条不同的数据线11中，令其中至少k条为第一数据线111，另外至少k条为第二数据线112，另外至少k条为第三数据线113。
[0078]
以图2和图6所示的m＝6的情况作为示意，在与同一条显示信号线32电连接的六条不同的数据线11中，本发明实施例可以令其中两条为第一数据线111，两条为第二数据线112，另外两条为第三数据线113，即，此时上述k取2。
[0079]
在设置测试电路2时，参考图2和图6所示，本发明实施例可以将测试开关21设置为包括第一测试开关211、第二测试开关212和第三测试开关213，将测试信号线22设置为包括第一测试信号线221、第二测试信号线222和第三测试信号线223。
[0080]
其中，第一测试开关211、第二测试开关212和第三测试开关213的控制端可以与同一条测试控制线23电连接。第一测试开关211的第一端与第一测试信号线221电连接，第一测试开关211的第二端与第一数据线111电连接。第二测试开关212的第一端与第二测试信号线222电连接，第二测试开关212的第二端与第二数据线112电连接。第三测试开关213的
第一端与第三测试信号线223电连接，第三测试开关213的第二端与第三数据线113电连接。
[0081]
在对显示面板进行vt检测时，可以使显示面板分别进行不同颜色的纯色画面检测。例如，在使显示面板显示第一颜色的纯色画面，检测与上述第一颜色子像素101电连接的相关结构是否正常时，本发明实施例可以向测试控制线23提供使第一测试开关211、第二测试开关212和第三测试开关213导通的信号，以及，向第一测试信号线221提供第一测试信号。第一测试信号经导通的第一测试开关211传输至第一数据线111，配合扫描测试电路的作用，可以使第一颜色子像素101点亮。在此过程中，可以不向第二测试信号线222和第三测试信号线223提供测试信号。同样的，在检测与上述第二颜色子像素电连接的相关结构是否正常时，可以向第二测试信号线222提供第二测试信号，不向第一测试信号线221和第三测试信号线223提供测试信号。
[0082]
以上是以将相同颜色的子像素10沿第二方向y排列为同一列为例对显示面板的结构进行的介绍，除此之外，本发明实施例也可以将显示部1中的子像素按照其他方式进行排列。
[0083]
如图7所示，图7为本发明实施例提供的又一种显示面板的等效电路示意图，其中，第一颜色子像素101和第二颜色子像素102可以沿第二方向y交替排列为同一个子像素列，第三颜色子像素103可以单独排列为另一个子像素列。相应的，在设置数据线11时，如图7所示，本发明实施例可以将数据线11设置为包括沿第一方向x排列的第一数据线111和第二数据线112，第一数据线111和第二数据线112均沿第二方向y延伸。第一数据线111与多个沿第二方向y交替循环排列的第一颜色子像素101和第二颜色子像素102电连接。第二数据线112与多个沿第二方向y排列的第三颜色子像素103电连接。任意相邻两条第一数据线111之间设置有一条第二数据线112，任意相邻两条第二数据线112之间设置有一条第一数据线111。即，令第一数据线111和第二数据线112沿第一方向x交替排列。
[0084]
如图7所示的排布方式可以称为子像素渲染(sub pixel rendered,简称spr)排布。在显示面板进行显示时，与第一数据线111电连接的第一颜色子像素101和第二颜色子像素102可以和相邻的第三颜色子像素103组成一个像素单元用于显示。通过采用spr排布，同时匹配相应的像素驱动算法，可以在不增加工艺复杂度的同时，在子像素的物理密度不变的情况下提升感官分辨率。
[0085]
在此基础上，在设置显示控制电路3时，本发明实施例可以令m≥2k，其中，k为大于等于1的整数。并且，令其中至少k条为第一数据线111，另外至少k条为第二数据线112。
[0086]
例如，如图7所示，本发明实施例可以令m＝2。在图7中，将属于同一个显示开关组的两个显示开关分别标记为311和312。与两个显示开关的控制端一一对应连接的两条显示控制线分别标记为331和332。与同一条显示信号线32电连接的两条不同的数据线11中，令其中一条为第一数据线111，另外一条为第二数据线112。即，此时上述k取1。
[0087]
在扫描线的扫描时间一定的情况下，如此设置，可以保证第一数据线111和第二数据线112接收数据信号的时间不会过短，能够保证子像素10的充电时间，保证子像素10的显示效果。
[0088]
在设置测试电路2时，参考图7所示，本发明实施例可以将上述测试开关21设置为包括第一测试开关211、第二测试开关212和第三测试开关213，将测试控制线23设置为包括第一测试控制线231、第二测试控制线232和第三测试控制线233，将测试信号线22设置为包
括第一测试信号线221、第二测试信号线222和第三测试信号线223。
[0089]
其中，第一测试开关211的控制端与第一测试控制线231电连接，第一测试开关211的第一端与第一测试信号线221电连接，第一测试开关211的第二端与第一数据线111电连接。
[0090]
第二测试开关212的控制端与第二测试控制线232电连接，第二测试开关212的第一端与第二测试信号线222电连接，第二测试开关212的第二端与第一数据线111电连接。
[0091]
第三测试开关213的控制端与第三测试控制线233电连接，第三测试开关213的第一端与第三测试信号线223电连接，第三测试开关213的第二端与第二数据线112电连接。
[0092]
在对显示面板进行vt检测时，同样可以使显示面板分别进行不同颜色的纯色画面检测。例如，在使显示面板显示第二颜色的纯色画面，检测与上述第二颜色子像素102电连接的相关结构是否正常时，本发明实施例可以向第二测试控制线232提供使第二测试开关212导通的信号，以及，向第一测试控制线231和第三测试控制线233分别提供使第一测试开关211和第三测试开关213截止的信号。第二测试信号经导通的第二测试开关212传输至第一数据线111。配合扫描测试控制电路的工作，可以使第二颜色子像素102点亮。
[0093]
在设置选择电路4时，本发明实施例在选择电路4中设置与第一条显示控制线331电连接的第一选择开关411，以及，与第二条显示控制线332电连接的第二选择开关412。其中，第一选择开关411包括第一子选择开关4111和第二子选择开关4112。第一子选择开关4111的控制端与第一测试控制线231电连接。第一子选择开关4111的第一端与选择信号线43电连接，第一子选择开关4111的第二端与第一条显示控制线331电连接。第二子选择开关4112的控制端与第二测试控制线232电连接。第二子选择开关4112的第一端与选择信号线43电连接，第二子选择开关4112的第二端与第一条显示控制线331电连接。
[0094]
第二选择开关412的控制端与第三测试控制线233电连接。第二选择开关412的第一端与选择信号线43电连接。第二选择开关412的第二端与第二条显示控制线332电连接。
[0095]
在对显示面板进行vt测试时，在令与第一数据线111连接的第一测试开关211或第二测试开关212导通，以向第一数据线111提供第一测试信号或第二测试信号时，第一选择开关411中的第一子选择开关4111或第二子选择开关4112相应导通，以向第一条显示控制线331提供使显示开关311截止的信号，以避免第一数据线111上的测试数据信号漏流。在令与第二数据线112连接的第三测试开关213导通，以向第二数据线112提供第三测试信号时，第二选择开关412导通，以向第二条显示控制线332提供使显示开关312截止的信号，以避免第二数据线112上的测试数据信号漏流。如此设置保证了显示面板的vt测试的准确性。而且，本发明实施例通过令第一子选择开关4111和第二子选择开关4112的控制端分别与第一测试控制线231和第二测试控制线232连接，令第二选择开关412的控制端与第三测试控制线233连接，可以减少显示面板中的焊盘数量。
[0096]
或者，如图8所示，图8为本发明实施例提供的又一种显示面板的等效电路示意图，其中，m＝6，同属于一个显示开关组的六个显示开关分别标记为311、312、313、314、315、316。与六个显示开关的控制端一一对应连接的六条显示控制线分别标记为331、332、333、334、335、336。与同一条显示信号线32电连接的六条不同的数据线11中，本发明实施例可以令其中三条为第一数据线111，另外三条为第二数据线112。即，此时上述k取3。
[0097]
在设置测试电路2时，与图7所示设置方式相同，本发明实施例可以将上述测试开
关21设置为包括第一测试开关211、第二测试开关212和第三测试开关213，将测试控制线23设置为包括第一测试控制线231、第二测试控制线232和第三测试控制线233，将测试信号线22设置为包括第一测试信号线221、第二测试信号线222和第三测试信号线223。
[0098]
其中，第一测试开关211的控制端与第一测试控制线231电连接，第一测试开关211的第一端与第一测试信号线221电连接，第一测试开关211的第二端与第一数据线111电连接。
[0099]
第二测试开关212的控制端与第二测试控制线232电连接，第二测试开关212的第一端与第二测试信号线222电连接，第二测试开关212的第二端与第一数据线111电连接。
[0100]
第三测试开关213的控制端与第三测试控制线233电连接，第三测试开关213的第一端与第三测试信号线223电连接，第三测试开关213的第二端与第二数据线112电连接。
[0101]
在设置选择电路4时，本发明实施例在选择电路4中设置与第一条显示控制线331电连接的第一选择开关411、与第三条显示控制线333电连接的第三选择开关413，以及，与第五条显示控制线335电连接的第五选择开关415。其中，第一选择开关411、第三选择开关413和第五选择开关415均包括第一子选择开关和第二子选择开关。第一子选择开关的控制端与第一测试控制线231电连接。第二子选择开关的控制端与第二测试控制线232电连接。以及，设置与第二条显示控制线332电连接的第二选择开关412、与第四条显示控制线334电连接的第四选择开关414，以及，与第六条显示控制线336电连接的第六选择开关416。
[0102]
在第一选择开关411中：第一子选择开关4111的控制端与第一测试控制线231电连接，第一子选择开关4111的第一端与选择信号线43电连接，第一子选择开关4111的第二端与第一条显示控制线331电连接。第二子选择开关4112的控制端与第二测试控制线232电连接，第二子选择开关4112的第一端与选择信号线43电连接，第二子选择开关4112的第二端与第一条显示控制线331电连接。
[0103]
在第三选择开关413中：第一子选择开关4131的控制端与第一测试控制线231电连接，第一子选择开关4131的第一端与选择信号线43电连接，第一子选择开关4111的第二端与第三条显示控制线333电连接。第二子选择开关4132的控制端与第二测试控制线232电连接，第二子选择开关4132的第一端与选择信号线43电连接，第二子选择开关4132的第二端与第三条显示控制线333电连接。
[0104]
在第五选择开关415中：第一子选择开关4151的控制端与第一测试控制线231电连接，第一子选择开关4151的第一端与选择信号线43电连接，第一子选择开关4151的第二端与第五条显示控制线335电连接。第二子选择开关4152的控制端与第二测试控制线232电连接，第二子选择开关4152的第一端与选择信号线43电连接，第二子选择开关4152的第二端与第五条显示控制线335电连接。
[0105]
第二选择开关412、第四选择开关414和第六选择开关416的控制端均与第三测试控制线233电连接。第二选择开关412、第四选择开关414和第六选择开关416的第一端均与选择信号线43电连接。第二选择开关412的第二端与第二条显示控制线332电连接；第四选择开关414的第二端与第四条显示控制线334电连接；第六选择开关416的第二端与第六条显示控制线336电连接。
[0106]
在对显示面板进行vt测试时：
[0107]
在令第一条第一数据线111(图8中沿自左向右方向上数起)连接的第一测试开关
211或第二测试开关212导通，以向第一条第一数据线111提供第一测试信号或第二测试信号时，第一选择开关411中的第一子选择开关4111或第二子选择开关4112相应导通，以向第一条显示控制线331提供使显示开关311截止的信号，以避免第一条第一数据线111上的测试数据信号漏流。
[0108]
在令第三条第一数据线111(图8中沿自左向右方向上数起)连接的第一测试开关211或第二测试开关212导通，以向第三条第一数据线111提供第一测试信号或第二测试信号时，第三选择开关413中的第一子选择开关4131或第二子选择开关4132相应导通，以向第三条显示控制线333提供使显示开关313截止的信号，以避免第三条第一数据线111上的测试数据信号漏流。
[0109]
在令第五条第一数据线111(图8中沿自左向右方向上数起)连接的第一测试开关211或第二测试开关212导通，以向第五条第一数据线111提供第一测试信号或第二测试信号时，第五选择开关415中的第一子选择开关4151或第二子选择开关4152相应导通，以向第五条显示控制线335提供使显示开关315截止的信号，以避免第五条第一数据线111上的测试数据信号漏流。
[0110]
在令第二数据线112连接的第三测试开关213导通，以向第二数据线112提供第三测试信号时，第二选择开关412、第四选择开关414和第六选择开关416相应导通，以向第二条显示控制线332、第四条显示控制线334和第六条显示控制线336提供使显示开关312、314和316截止的信号，以避免第二数据线112上的测试数据信号漏流。
[0111]
在布置显示面板时，其中的测试电路2，显示部1和显示控制电路3的位置设置可以有多种方式。例如，如图2、图6、图7和图8所示，沿数据线11的延伸方向y，本发明实施例可以将测试电路2设置于显示控制电路3和显示部1之间。如此设置，能够减小测试电路2和数据线11之间的距离，降低连接测试电路2和数据线11的连接线的负载，降低测试数据信号传输至数据线11的衰减，保证传输至数据线11的测试数据信号的准确性。而且，如此设置，测试电路2所提供的测试数据信号在传输至显示部1的过程中无需经过显示控制电路3，可以避免测试数据信号与显示控制电路3中的走线发生耦合，也能够进一步保证测试数据信号的准确性。
[0112]
或者，如图9所示，图9为本发明实施例提供的又一种显示面板的等效电路示意图，即，沿数据线11的延伸方向，本发明实施例也可以将显示部1设置于测试电路2和显示控制电路3之间。如此设置，同样能够减小连接测试电路2和数据线11之间的距离，以及，避免使测试电路2所提供的测试数据信号在传输至显示部1的过程中经过显示控制电路3，保证测试信号的准确性。而且，如此设置，在测试结束后，本发明实施例还可以采取切割或其他分割方式将测试电路2与显示部1分离，使最后出厂的产品上不保留测试电路，以形成如图10所示结构，图10为本发明实施例提供的又一种显示面板的示意图。通过将测试电路2与显示部1分离，能够减小显示面板中的非显示区的面积，有利于提高显示面板的屏占比。
[0113]
可选的，在不影响显示控制电路3的前提下，本发明实施例也可以将选择电路4切割掉，使最后出厂的显示面板上不保留选择电路4，以进一步提高显示面板的屏占比。
[0114]
示例性的，根据不同的应用场景及显示需求，本发明实施例可以将显示部1的形状设计为多种不同的形状。例如，可以将显示面板设计为圆形或多边形。
[0115]
本发明实施例还提供了一种显示面板的制备方法，结合图1、图2和图11所示，图11
为本发明实施例提供的一种显示面板的制备方法的流程示意图，该制备方法包括：
[0116]
步骤s1：提供衬底5。
[0117]
步骤s2：在衬底5的一侧形成包括多条数据线11的显示部1；在衬底5的同一侧形成测试电路2、显示控制电路3和选择电路4。
[0118]
其中，测试电路2包括测试开关21、测试信号线22和测试控制线23，测试开关21的控制端与测试控制线23电连接，测试开关21的第一端与测试信号线22电连接，测试开关21的第二端与数据线11电连接。
[0119]
显示控制电路3包括显示开关31、显示信号线32和显示控制线33，显示开关31的控制端与显示控制线33电连接，显示开关31的第一端与显示信号线32电连接，显示开关31的第二端与数据线11电连接。
[0120]
选择电路4包括选择开关41和选择控制线42，选择开关41的控制端与选择控制线42电连接，选择开关41的第一端与选择信号端430电连接，选择开关41的第二端与显示控制线33电连接；选择信号端430用于在测试开关21和选择开关41导通时提供使显示开关31截止的信号。
[0121]
步骤s3：对显示面板进行检测。可选的，上述对显示面板进行检测的方法包括：
[0122]
向测试控制线42提供使测试开关21和选择开关41导通的信号，同时，向选择信号端430提供使显示开关31截止的信号。
[0123]
本发明实施例提供的制备方法，在对显示面板进行vt测试时，可以使得与数据线11电连接的显示开关31截止。因此，在进行vt测试时，数据线11上所传输的测试数据信号不会经显示开关31漏流，保证了数据线11上所传输的测试数据信号的准确性，进而能够保证显示面板的测试结果的准确性。
[0124]
除此之外，本发明实施例通过将选择电路4设置为包括选择开关41的电路结构，只需在显示面板中设置一定数量的选择开关41即可，避免了在显示面板上设置向显示控制线33提供信号的焊盘(pad)。目前，为保证焊盘与后续待绑定芯片的接触面积，通常会将焊盘的面积设置的较大，一般来说，焊盘的面积会大于选择开关的面积。因此，相较于在显示面板中设置焊盘以控制显示开关31在vt测试时截止的方案来说，采用本发明实施例的设置方式，在保证显示面板的测试结果的准确性的同时，还可以避免过度增大显示面板中的非显示区的面积，有利于提高显示面板的屏占比。
[0125]
示例性的，如图11所示，上述制备方法还包括：
[0126]
步骤s4：在测试结束后，向测试控制线42提供使测试开关21和选择开关41截止的信号。以避免在显示面板进入正常显示阶段时，显示控制线33上的信号受到影响，保证显示面板的正常显示效果。
[0127]
可选的，如图9，在沿数据线11的延伸方向，本发明实施例可以将显示部1设置于测试电路2和显示控制电路3之间，在此情况下，上述制备方法还包括：在测试结束后，将测试电路2与显示部1分离，以形成图10所示结构。示例性的，分离方法可以采用激光切割。
[0128]
本发明实施例还提供了一种显示装置，如图12所示，图12为本发明实施例提供的一种显示装置的示意图，该显示装置包括前述的显示面板100。其中，显示面板100的具体结构已经在上述实施例中进行了详细说明，此处不再赘述。当然，图12所示的显示装置仅仅为示意说明，该显示装置可以是例如手表等可穿戴式设备、手机、平板计算机、笔记本电脑、电
纸书或电视机等任何具有显示功能的电子设备。
[0129]
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。