驱动芯片、显示模组、显示面板与显示面板的测试方法与流程

1.本公开涉及显示技术领域，具体而言，涉及一种驱动芯片、显示模组、显示面板与显示面板的测试方法。


背景技术：

2.随着柔性amoled技术的不断发展，一方面由于其本身工艺难度较大，一方面由于用户对于画质的要求越来越高，因此要制作出具有市场竞争力的产品，就必须在实现显示的基础上增加许多增益及补偿的功能，利用这些功能实现不同应用场景下良好的显示效果。
3.目前，无论是效果增益还是画质补偿均是通过驱动ic内部的单元模块利用逻辑设计完成，在设计初期为了便于调试通常会在fpc上预留出很多测试点，且测试点的大小也必须满足一定要求，相对应的需要在ic上设置相同数量的测试管脚，从而导致ic和fpc上必须留出足够的空间放置这些测试点，增加了ic的尺寸，且对于走线空间本就有限的fpc而言，极大地增加了设计难度；尤其是随着手机等终端的主板功能模块不断增多，留给fpc的可用空间越来越小。
4.需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。


技术实现要素：

5.本公开的目的在于提供一种驱动芯片、显示模组、显示面板与显示面板的测试方法，能够减少测试管脚，有利于驱动芯片尺寸减小，降低产品成本。
6.根据本公开的一个方面，提供了驱动芯片，该驱动芯片包括：
7.第一测试管脚；
8.驱动单元，被配置为驱动显示面板进行显示；
9.数据选择单元，输入端与所述第一测试管脚连接，输出端与所述驱动芯片的驱动单元连接，所述数据选择单元被配置为接收从所述第一测试管脚输入的多个测试信号与控制信号，并根据所述控制信号选取所述多个测试信号中的目标测试信号，所述驱动单元根据选取的目标测试信号驱动所述显示面板进行测试。
10.在本公开的一种示例性实施例中，所述数据选择单元的输入端与一所述第一测试管脚连接。
11.在本公开的一种示例性实施例中，所述数据选择单元包括：
12.第一测试信号输入端、第二测试信号输入端、第一选通输入端、第二选通输入端与附加控制输入端；
13.第一非门，输入端与所述附加控制输入端连接；
14.与门，第一输入端与所述第一非门的输出端连接，输出端为所述数据选择单元的输入端；
15.第二非门，输入端与所述第一选通输入端连接；
16.第一低电平有效开关，输入端与所述第二非门输出端连接；
17.第三非门，输入端与所述第二选通输入端连接；
18.第二低电平有效开关，输入端与所述第三非门输出端连接；
19.第四非门，输入端与第一测试信号输入端连接；
20.第五非门，输入端与第二测试信号输入端连接；
21.第一传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，所述输入端与所述第四非门的输出端连接，所述第一控制端与所述第二非门的输出端连接，所述第二控制端为低电平有效控制端且与第一低电平有效开关的输出端连接；
22.第二传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，所述输入端与所述第五非门的输出端连接，所述第一控制端与第一低电平有效开关的输出端连接，所述第二控制端为低电平有效控制端且与所述第二非门的输出端连接；
23.第三低电平有效开关，输入端与所述第一传输门的输出端及所述第二传输门的输出端连接；
24.第五传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，所述输入端与所述第三低电平有效开关的输出端连接，所述第一控制端与所述第三非门的输出端连接，所述第二控制端为低电平有效控制端且与所述第二低电平有效开关的输出端连接，所述输出端与所述与门的第二输入端连接。
25.在本公开的一种示例性实施例中，所述数据选择单元还包括：
26.第三测试信号输入端；
27.第六非门，输入端与第三测试信号输入端连接；
28.第三传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，所所述输入端与所述第六非门的输出端连接，所述第一控制端与所述第二非门的输出端连接，所述第二控制端为低电平有效控制端且与第一低电平有效开关的输出端连接；
29.第四低电平有效开关，输入端与所述第三传输门的输出端连接；
30.第六传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，所述输入端与所述第四低电平有效开关的输出端连接，所述第一控制端为低电平有效控制端且与所述第二低电平有效开关的输出端连接，所述第二控制端与所述第三非门的输出端连接，所述输出端与所述与门的第二输入端连接。
31.在本公开的一种示例性实施例中，所述数据选择单元还包括：
32.第四测试信号输入端；
33.第七非门，输入端与第四测试信号输入端连接；
34.第四传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，所述，所述输入端与所述第七非门的输出端连接，所述第一控制端与第一低电平有效开关的输出端连接，所述第二控制端为低电平有效控制端且与所述第二非门的输出端连接，所述输出端与所述第四低电平有效开关的输入端连接。
35.根据本公开的另一个方面，提供了一种显示模组，该显示模组包括：
36.显示面板；
37.上述的驱动芯片，所述驱动芯片与所述显示面板连接。
38.在本公开的一种示例性实施例中，所述显示模组还包括：
39.电路板，所述电路板上设有至少一个第二测试管脚，所述第二测试管脚与所述第一测试管脚一一对应电连接，通过所述第二测试管脚向所述第一测试管脚输入信号。
40.在本公开的一种示例性实施例中，所述驱动芯片设于所述显示面板上；或者，
41.所述显示模组还包括覆晶薄膜，所述覆晶薄膜与所述显示面板连接，所述驱动芯片设于所述覆晶薄膜上。
42.根据本公开的再一个方面，提供了一种显示装置，该显示装置包括上述的显示模组。
43.根据本公开的又一个方面，提供了一种显示面板的测试方法，该测试方法包括：
44.提供显示面板与驱动芯片；所述驱动芯片包括第一测试管脚、驱动单元与数据选择单元，所述驱动单元被配置为驱动所述显示面板进行显示；所述数据选择单元方荣输入端与所述第一测试管脚连接，输出端与所述驱动芯片的驱动单元连接；
45.通过所述第一测试管脚向所述数据选择单元输入的多个测试信号与控制信号，所述数据选择单元根据所述控制信号选取所述多个测试信号中的目标测试信号，所述驱动单元根据选取的目标测试信号驱动所述显示面板进行测试。
46.本公开提供的驱动芯片，能够利用同一测试点通过自定义的方式，手动进行测试信号的切换，这样就可以将不需要同时测量的信号测点合并为同一个，减少了自留测试管脚，从而能够大幅度降低设计难度，提高设计效率，而且有利于驱动芯片尺寸减小，降低产品成本。
47.应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
48.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
49.图1为本公开的一种实施例提供的显示模组的示意图；
50.图2为本公开的一种实施例提供的数据选择单元的逻辑电路示意图；
51.图3为本公开的一种实施例提供的数据选择单元的示意图；
52.图4为本公开的一种实施例提供的数据选择单元的逻辑真值表；
53.图5为本公开的一种实施例提供的显示面板的测试方法的流程图。
具体实施方式
54.现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本发明将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。
55.虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另
一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。
56.用语“一个”、“一”、“该”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等；用语“第一”、“第二”仅作为标记使用，不是对其对象的数量限制。
57.本公开的实施例提供了一种该驱动芯片，该驱动芯片包括：第一测试管脚、驱动单元与数据选择单元；驱动单元被配置为驱动显示面板进行显示；数据选择单元的输入端与第一测试管脚连接，输出端与驱动芯片的驱动单元连接，数据选择单元被配置为接收从第一测试管脚输入的多个测试信号与控制信号，并根据控制信号选取多个测试信号中的目标测试信号，驱动单元根据选取的目标测试信号驱动显示面板进行测试。能够减少测试管脚，有利于驱动芯片尺寸减小，降低产品成本
58.本公开提供的驱动芯片(ic)，能够利用同一测试点通过自定义的方式，手动进行测试信号的切换，这样就可以将不需要同时测量的信号测点合并为同一个，减少了自留测试管脚(pin)，从而能够大幅度降低设计难度，提高设计效率，而且有利于驱动芯片尺寸(ic size)减小，降低产品成本。
59.在本公开的一种实施例中，数据选择单元的输入端与一个第一测试管脚连接，即可通过一个测试管脚实现测试信号的输入，大大减少了自留测试管脚。当然，也可设置多个第一测试管脚，数据选择单元的输入端与多个第一测试管脚连接，可以将不需要同时测量的信号测点合并为同一个，将不需要同时测量的信号通过一个测试管脚输入数据选择单元进行择一选取后进行测试。
60.在本公开的一种实施例中，同时通入两种测试信号，择一进行选取进行测试；具体地，数据选择单元包括：
61.第一测试信号输入端、第二测试信号输入端、第一选通输入端、第二选通输入端与附加控制输入端；
62.第一非门，输入端与附加控制输入端连接；
63.与门，第一输入端与第一非门的输出端连接，输出端为数据选择单元的输入端；
64.第二非门，输入端与第一选通输入端连接；
65.第一低电平有效开关，输入端与第二非门输出端连接；
66.第三非门，输入端与第二选通输入端连接；
67.第二低电平有效开关，输入端与第三非门输出端连接；
68.第四非门，输入端与第一测试信号输入端连接；
69.第五非门，输入端与第二测试信号输入端连接；
70.第一传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第四非门的输出端连接，第一控制端与第二非门的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第一低电平有效开关的输出端连接；
71.第二传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第五非门的输出端连接，第一控制端与第一低电平有效开关的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第二非门的输出端连接；
72.第三低电平有效开关，输入端与第一传输门的输出端及第二传输门的输出端连接；
73.第五传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第三低电平有效开关的输出端连接，第一控制端与第三非门的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第二低电平有效开关的输出端连接，输出端和与门的第二输入端连接。
74.在本公开的另一种实施例中，同时通入三种测试信号，择一进行选取进行测试；数据选择单元包括：
75.第一测试信号输入端、第二测试信号输入端、第三测试信号输入端、第一选通输入端、第二选通输入端与附加控制输入端；
76.第一非门，输入端与附加控制输入端连接；
77.与门，第一输入端与第一非门的输出端连接，输出端为数据选择单元的输入端；
78.第二非门，输入端与第一选通输入端连接；
79.第一低电平有效开关，输入端与第二非门输出端连接；
80.第三非门，输入端与第二选通输入端连接；
81.第二低电平有效开关，输入端与第三非门输出端连接；
82.第四非门，输入端与第一测试信号输入端连接；
83.第五非门，输入端与第二测试信号输入端连接；
84.第一传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第四非门的输出端连接，第一控制端与第二非门的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第一低电平有效开关的输出端连接；
85.第二传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第五非门的输出端连接，第一控制端与第一低电平有效开关的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第二非门的输出端连接；
86.第三低电平有效开关，输入端与第一传输门的输出端及第二传输门的输出端连接；
87.第五传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第三低电平有效开关的输出端连接，第一控制端与第三非门的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第二低电平有效开关的输出端连接，输出端与与门的第二输入端连接；
88.第六非门，输入端与第三测试信号输入端连接；
89.第三传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，所输入端与第六非门的输出端连接，第一控制端与第二非门的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第一低电平有效开关的输出端连接；
90.第四低电平有效开关，输入端与第三传输门的输出端连接；
91.第六传输门，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第四低电平有效开关的输出端连接，第一控制端为低电平有效控制端且与第二低电平有效开关的输出端连接，第二控制端与第三非门的输出端连接，输出端和与门的第二输入端连接。
92.在本公开的另一种实施例中，如图2
‑
图4所示，同时通入四种测试信号，择一进行选取进行测试；数据选择单元包括：
93.第一测试信号输入端d
00
、第二测试信号输入端d
01
、第三测试信号输入端d
10
、第四测试信号输入端d
11
、第一选通输入端a0、第二选通输入端a1与附加控制输入端s
′
；
94.第一非门c1，输入端与附加控制输入端s
′
连接；
95.与门d0，第一输入端与第一非门c1的输出端连接，输出端为驱动单元的输入端；
96.第二非门c2，输入端与第一选通输入端a0连接；
97.第一低电平有效开关b1，输入端与第二非门c2输出端连接；
98.第三非门c3，输入端与第二选通输入端a1连接；
99.第二低电平有效开关b2，输入端与第三非门c3输出端连接；
100.第四非门c4，输入端与第一测试信号输入端d
00
连接；
101.第一传输门tg1，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第四非门c4的输出端连接，第一控制端与第二非门c2的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第一低电平有效开关b1的输出端连接；
102.第五非门c5，输入端与第二测试信号输入端d
01
连接；
103.第二传输门tg2，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第五非门c5的输出端连接，第一控制端与第一低电平有效开关b1的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第二非门c2的输出端连接；
104.第三低电平有效开关b3，输入端与第一传输门tg1的输出端及第二传输门tg2的输出端连接；
105.第五传输门tg5，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第三低电平有效开关b3的输出端连接，第一控制端与第三非门c3的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第二低电平有效开关b2的输出端连接，输出端和与门d0的第二输入端连接；
106.第六非门c6，输入端与第三测试信号输入端d
10
连接；
107.第三传输门tg3，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，所输入端与第六非门c6的输出端连接，第一控制端与第二非门c2的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第一低电平有效开关b1的输出端连接；
108.第七非门c7，输入端与第四测试信号输入端d
11
连接；
109.第四传输门tg4，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，，输入端与第七非门c7的输出端连接，第一控制端与第一低电平有效开关b1的输出端连接，第二控制端为低电平有效控制端且与第二非门c2的输出端连接；
110.第四低电平有效开关b4，输入端与第三传输门tg3的输出端及第四传输门tg4的输出端连接；
111.第六传输门tg6，包括输入端、第一控制端、第二控制端和输出端，输入端与第四低电平有效开关b4的输出端连接，第一控制端为低电平有效控制端且与第二低电平有效开关b2的输出端连接，第二控制端与第三非门c3的输出端连接，输出端和与门d0的第二输入端连接。
112.其中，可通过一个测试管脚实现四种测试信号的选取，整个实现过程为数字信号，
数据选择单元的真值表参见图4，根据真值表最终选择出的测试信号y的计算式：
113.y＝s(d
00
×
a0′
a1′
+d
01
×
a0a1′
+d
10
×
a0′
a1+d
11
×
a0a1)
114.其中，a0代表为高电平1，a0′
代表为低电平0，s代表为高电平1。
115.此外，发明人发现，为了解决背景技术指出的fpc的可用空间越来越小的问题，fpc采用多层板设计，但同时fpc的整体厚度增加，即便如此，厚度的增加也越来越受限，所以如何在现有设计方案下尽可能节省fpc的走线空间成为业内亟待解决的难题。通常情况下，为了验证理论与实际的一致性，除了timing相关信号，其他信号并不需要同时进行测量。
116.针对上述技术问题，本公开的实施例提供了一种显示模组，如图1所示，该显示模组包括：显示面板10与上述的驱动芯片(ic)30，驱动芯片30与显示面板10连接，驱动芯片(ic)30中设有数据选择单元310。
117.在本公开的一种实施例中，如图1所示，该显示模组还包括：电路板(fpc)20，电路板上设有至少一个第二测试管脚50，第二测试管脚50与第一测试管脚40一一对应电连接，通过第二测试管脚40向第一测试管脚40输入信号。利用同一测试点通过自定义的方式，手动进行测试信号的切换，这样就可以将不需要同时测量的信号测点合并为同一个，减少了电路板上的自留测试管脚(pin)，很大程度上节省fpc的空间方便走线。
118.在本公开的一种实施例中，驱动芯片(ic)设于显示面板(pln)上，显示面板10包括显示区域围绕显示区的非显示区，非显示区包括绑定区，驱动芯片30可通过绑定区设置在显示面板上。
119.在本公开的另一种实施例中，显示模组还包括覆晶薄膜(cof)，覆晶薄膜与显示面板(pln)连接，驱动芯片(ic)设于覆晶薄膜上。电路板可与覆晶薄膜连接。
120.在本公开的一种实施例中，如图1所示，电路板20设有用于指纹识别的通孔，电路板20连接有连接器，与显示装置的主板进行扣接，电路板20与显示面板10可通过导电胶贴合。
121.本公开的实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述的显示模组。该显示装置的具体细节及有益效果参照上述关于制造方法中的论述，在此不再赘述。
122.本公开的实施例还提供了一种显示面板的测试方法，如图5所示，该测试方法包括：
123.步骤s100、提供显示面板与驱动芯片；驱动芯片包括第一测试管脚、驱动单元与数据选择单元，驱动单元被配置为驱动显示面板进行显示；数据选择单元方荣输入端与第一测试管脚连接，输出端与驱动芯片的驱动单元连接；
124.步骤s200、通过第一测试管脚向数据选择单元输入的多个测试信号与控制信号，数据选择单元根据控制信号选取多个测试信号中的目标测试信号，驱动单元根据选取的目标测试信号驱动显示面板进行测试。
125.本公开提供的显示面板的测试方法，能够利用同一测试点通过自定义的方式，手动进行测试信号的切换，这样就可以将不需要同时测量的信号测点合并为同一个，减少了自留测试管脚(pin)，从而能够大幅度降低设计难度，提高设计效率，而且有利于驱动芯片尺寸(ic size)减小，降低产品成本。
126.在本公开的一种实施例中，步骤s100中还可提供电路板(fpc)，电路板上设有至少一个第二测试管脚，第二测试管脚与第一测试管脚一一对应电连接，通过第二测试管脚向
第一测试管脚输入信号。利用同一测试点通过自定义的方式，手动进行测试信号的切换，这样就可以将不需要同时测量的信号测点合并为同一个，减少了电路板上的自留测试管脚(pin)，很大程度上节省fpc的空间方便走线。
127.其中，本测试方法中提供的显示面板、驱动芯片与电路板可为上述实施例中的显示面板、驱动芯片与电路板，具体细节参见上述关于显示面板、驱动芯片与电路板的论述，在此不再赘述。
128.需要说明的是，尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。
129.本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本技术旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。
130.应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。