一种子像素的面积确定方法及其确定装置与流程

1.本技术涉及显示技术领域，具体涉及一种子像素的面积确定方法及其确定装置。


背景技术：

2.有机发光二极管(organic light emitting diode，oled)作为一种电流型发光器件，具有自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。在现有的oled显示面板中，每个oled皆需基于阵列基板上与其所对应的像素电路驱动以发光实现显示。
3.然而，像素电路长时间运行会导致温度升高，进而基于温度升高致使oled的驱动晶体管的迁移率升高，将进一步导致oled的驱动电流升高。基于驱动电流升高，oled的亮度升高。由于oled的红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素以及白色子像素的亮度升高比例往往不同，从而产生oled显示面板的色偏，影响显示效果。
4.故，有必要提出一种新的技术方案，以解决上述技术问题。


技术实现要素：

5.本技术就现有技术下温度升高致使像素电路的驱动电流升高，进一步导致oled显示面板产生色偏的技术缺陷，提出一种子像素的面积确定方法及其确定装置，用于有效解决像素电路因温度升高而产生的色偏问题。
6.根据本发明的一方面，提供一种子像素的面积确定方法，包括以下步骤：
7.在参考温度下获取子像素对应的第一发光亮度；
8.在不同温度下获取所述子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流，并基于预设关系式得到不同温度下所述子像素对应的第一标准系数；
9.对不同温度下所述子像素对应的第一标准系数进行拟合处理，得到所述子像素对应的查找表；以及
10.基于所述第一发光亮度、所述查找表以及所述预设关系式确定所述子像素的面积。
11.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述在不同温度下获取所述子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流，包括：
12.在相同温度下多次获取所述子像素对应的第三发光亮度，并对多个所述第三发光亮度进行处理，以得到所述子像素对应的第二发光亮度；以及
13.在相同温度下多次获取所述子像素对应的第二驱动电流，并对多个所述第二驱动电流进行处理，以得到所述子像素对应的第一驱动电流。
14.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述预设关系式为l＝1/2*a*i
ds2
，其中，l为所述子像素的发光亮度，i
ds
为所述子像素的驱动电流，a为标准系数。
15.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述基于所述第一发光亮度、所述查找表以及所述预设关系式确定所述子像素的面积，包括：
16.基于所述查找表，确定在侦测温度下所述子像素对应的第二标准系数，所述侦测温度不同于所述参考温度；
17.基于所述第一发光亮度以及所述预设关系式得到在所述侦测温度下所述子像素对应的第三驱动电流；以及
18.基于所述第二标准系数、所述第三驱动电流以及第二预设关系式，确定所述子像素的面积。
19.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述第二预设关系式为i
ds
＝ρ*s，其中，i
ds
为所述子像素的驱动电流，ρ为所述子像素的驱动电流的电流密度，s为所述子像素的面积。
20.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述子像素包括红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素或者白色子像素。
21.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述参考温度的取值范围为20℃～26℃。
22.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述在参考温度下获取子像素对应的第一发光亮度，包括：在相同参考温度下多次获取所述子像素对应的第四发光亮度，并对多个所述第四发光亮度进行处理，以得到所述子像素对应的第一发光亮度。至于处理多个相同参考温度下子像素所对应的发光亮度以减小测试误差的方法，本技术不做限制，可以为该多个发光亮度的均值，也可以为多个发光亮度的众数，或者其它。
23.根据本发明的另一方面，提供一种子像素的面积确定装置，包括：
24.第一获取模块，用于在参考温度下获取子像素对应的第一发光亮度；
25.第二获取模块，用于在不同温度下获取所述子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流，并基于预设关系式得到不同温度下子像素对应的第一标准系数；
26.处理模块，用于对不同温度下所述子像素对应的第一标准系数进行拟合处理，得到子像素对应的查找表；以及
27.确定模块，用于基于所述第一发光亮度、所述查找表以及所述预设关系式确定所述子像素的面积。
28.在本技术提供的子像素的面积确定装置中，所述第二获取模块包括：
29.第一获取单元，用于在相同温度下多次获取所述子像素对应的第三发光亮度，并对多个所述第三发光亮度进行处理，以得到所述子像素对应的第二发光亮度；以及
30.第二获取单元，用于在相同温度下多次获取所述子像素对应的第二驱动电流，并对多个所述第二驱动电流进行处理，以得到所述子像素对应的第二驱动电流。
31.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述预设关系式为l＝1/2*a*i
ds2
，其中，l为所述子像素的发光亮度，i
ds
为所述子像素的驱动电流，a为标准系数。
32.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，第一确定单元，用于基于所述查找表，确定在侦测温度下所述子像素对应的第二标准系数，所述侦测温度不同于所述参考温度；
33.第二确定单元，用于基于所述第一发光亮度以及所述预设关系式得到在所述侦测温度下所述子像素对应的第三驱动电流；以及
34.第三确定单元，用于基于所述第二标准系数、所述第三驱动电流以及第二预设关系式，确定所述子像素的面积。
35.在本技术提供的子像素的面积确定方法中，所述第二预设关系为i
ds
＝ρ*s，其中，i
ds
为所述子像素的驱动电流，ρ为所述子像素的驱动电流的电流密度，s为所述子像素的面积。
36.相较于现有技术，本发明提出的子像素的面积确定方法及其确定装置，通过获取不同温度下子像素对应的发光亮度以及子像素对应的驱动电流，基于预设关系式，得到不同温度下与所述子像素对应的标准系数，并建立与温度对应的标准系数的查找表，然后基于参考温度下所述子像素对应的发光亮度、查找表以及预设关系式计算所述子像素的面积，从而不同温度下的子像素的发光面积得以确定。
37.基于本技术提供的方法及装置确定相应温度下子像素所需的面积，后续可依据该面积对所述子像素的发光面积进行调整或者控制，从而在不同温度下能够维持子像素发光亮度的均一性，避免发光亮度受温度升高的影响，有效解决色偏问题。
附图说明
38.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
39.图1是本技术一实施例提供的子像素的面积的确定方法的流程示意图；
40.图2是本技术又一实施例提供的子像素的面积的确定方法的流程示意图；
41.图3是本技术再一实施例提供的子像素的面积的确定方法的流程示意图；
42.图4是本技术实施例提供的子像素的面积的确定装置的框图；
43.图5是本技术实施例提供的子像素的面积的确定装置中第二获取模块的框图；
44.图6是本技术实施例提供的子像素的面积的确定装置中确定模块的框图。
具体实施方式
45.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本技术，并不用于限制本技术。
46.在本技术中，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本技术的描述中，“多次”的含义是两次或两次以上，除非另有明确具体的限定。
47.本技术实施例提供一种子像素的面积的确定方法，下文进行详细说明。需说明的是，以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。
48.请参见图1，图1为本技术一实施例提供的子像素的面积的确定方法的流程示意图。其包括以下步骤：
49.步骤s10：在参考温度下获取子像素对应的第一发光亮度；
50.步骤s20：在不同温度下获取所述子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流，并基于预设关系式得到不同温度下所述子像素对应的第一标准系数；其中，预设关系式为l＝1/2*a*i
ds2
，其中，l为所述子像素的发光亮度，i
ds
为所述子像素的驱动电流，a为标准系数；
51.步骤s30：对不同温度下所述子像素对应的第一标准系数进行拟合处理，得到所述子像素对应的查找表；
52.步骤s40：基于所述第一发光亮度、所述查找表以及所述预设关系式确定所述子像素的面积。
53.本技术该实施例设置步骤s10的目的在于，将获取的参考温度下子像素对应的第一发光亮度作为本实施例后续步骤中确定该子像素的面积的标准亮度。因为，像素电路长时间运行会导致像素电路温度升高，温度升高进一步导致驱动晶体管的驱动电流增大，而驱动电流增大会进而导致oled的发光亮度改变，但是同一个像素单元中的各色子像素受温度影响而产生的亮度变化是不同的，从而产生色偏。当像素电路的温度恢复至原态时，oled的发光亮度也恢复至原态，色偏现象消失。是故本技术实施例中，将像素电路温度变化之前，子像素对应的发光亮度作为标准亮度，也即本技术实施例所指的第一发光亮度，通过本技术实施例步骤s10的后续步骤，子像素对应的发光亮度维持在第一发光亮度，而不受温度变化的影响，从而解决色偏问题。
54.本技术该实施例设置步骤s20的目的在于，获取不同温度下的同一子像素的实际发光亮度以及实际驱动电流并得到不同温度下的同一子像素的实际发光亮度与实际驱动电流对应的系数。子像素的实际发光亮度也即本技术实施例步骤s20所指的第二发光亮度，子像素的实际驱动电流也即本技术实施例步骤s20所指的第一驱动电流，实际发光亮度与实际驱动电流对应的系数也即本技术实施例步骤s20所指的第一标准系数。故步骤s20中，当子像素对应的第二发光亮度为l2，子像素对应的第一驱动电流为i
ds1
时，可根据预设关系式l＝1/2*a*i
ds2
，得到子像素对应得第一标准系数a1＝2*l2/i
ds12
。
55.本技术该实施例设置步骤s30的目的在于，建立子像素对应的温度与第一标准系数之间的查找表。
56.本技术该实施例设置步骤s40的目的在于，基于像素电路的温度为原态温度时的子像素对应的发光亮度、步骤s30中的查找表以及步骤s20中的预设关系式确定该子像素的面积。
57.由此，本技术该实施例通过以上四个步骤，从而子像素的面积得以确定。后续可依据该发光面积对所述子像素的面积进行调整或者控制，在不同温度下维持子像素发光亮度的均一性，避免发光亮度受温度升高的影响，有效解决色偏问题。
58.需要说明的是，本技术该实施例中的步骤s20和步骤s30可以位于步骤s10之前，也可以位于步骤s10之后，本技术该实施例仅以步骤s20和步骤s30位于步骤s10之后为例进行说明，但并不限于此。
59.请参见图2，图2为本技术又一实施例提供的子像素的面积的确定方法的流程示意图。其包括以下步骤：
60.步骤s10：在参考温度下获取子像素对应的第一发光亮度；
61.步骤s201：在相同温度下多次获取所述子像素对应的第三发光亮度，并对多个所
述第三发光亮度进行处理，以得到所述子像素对应的第二发光亮度；
62.步骤s202：在相同温度下多次获取所述子像素对应的第二驱动电流，并对多个所述第二驱动电流进行处理，以得到所述子像素对应的第一驱动电流；
63.步骤s203：在不同温度下获取所述子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流，并基于预设关系式得到不同温度下所述子像素对应的第一标准系数；其中，预设关系式为l＝1/2*a*i
ds2
，其中，l为所述子像素的发光亮度，i
ds
为所述子像素的驱动电流，a为标准系数；
64.步骤s30：对不同温度下所述子像素对应的第一标准系数进行拟合处理，得到所述子像素对应的查找表；
65.步骤s40：基于所述第一发光亮度、所述查找表以及所述预设关系式确定所述子像素的面积。
66.本技术又一实施例与前一实施例的区别在于，本实施例还包括了步骤s201以及步骤s202。
67.本技术又一实施例设置步骤s201的目的在于，通过多次测试以确定子像素在同一温度下所对应的实际发光亮度为准确值，即第二发光亮度为准确值，减小误差，提高数据的准确性。至于处理多个同一温度下子像素所对应的发光亮度以减小测试误差的方法，本技术不做限制，可以为该多个发光亮度的均值，也可以为多个发光亮度的众数，或者其它。
68.本技术又一实施例设置步骤s202的目的在于，通过多次测试以确定子像素在同一温度下所对应的实际驱动电流为准确值，即第一驱动电流为准确值，减小了误差，提高数据的准确性。至于处理多个同一温度下子像素所对应的驱动电流以减小测试误差的方法，本技术不做限制，可以为该多个驱动电流的均值，也可以为多个驱动电流的众数，或者其它。
69.需要说明的是，本技术该实施例中的步骤s201、步骤s202、步骤s203和步骤s30可以位于步骤s10之前，也可以位于步骤s10之后，本技术该实施例仅以步骤s201、步骤s202、步骤s203和步骤s30位于步骤s10之后为例进行说明，但并不限于此。
70.由此，本技术又一实施例通过以上步骤，从而不同温度下子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流得以确定，不同温度下的子像素的面积得以确定。后续可依据该面积对所述子像素的面积进行调整或者控制，在不同温度下维持子像素发光亮度的均一性，避免发光亮度受温度升高的影响，有效解决色偏问题。
71.请参阅图3，图3为本技术再一实施例提供的子像素的面积的确定方法的流程示意图。其包括以下步骤：
72.步骤s10：在参考温度下获取子像素对应的第一发光亮度；
73.步骤s20：在不同温度下获取所述子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流，并基于预设关系式得到不同温度下所述子像素对应的第一标准系数；其中，预设关系式为l＝1/2*a*i
ds2
，其中，l为所述子像素的发光亮度，i
ds
为所述子像素的驱动电流，a为标准系数；
74.步骤s30：对不同温度下所述子像素对应的第一标准系数进行拟合处理，得到所述子像素对应的查找表；
75.步骤s401：基于所述查找表，确定在侦测温度下所述子像素对应的第二标准系数，所述侦测温度不同于所述参考温度；
76.步骤s402：基于所述第一发光亮度以及所述预设关系式得到在所述侦测温度下所述子像素对应的第三驱动电流；
77.步骤s403：基于所述第二标准系数、所述第三驱动电流以及第二预设关系式，确定所述子像素的面积；其中第二预设关系式为i
ds
＝ρ*s，其中，i
ds
为所述子像素的驱动电流，ρ为所述子像素的驱动电流的电流密度，s为所述子像素的面积。
78.本技术再一实施例与前述实施例的区别在于，步骤s401、步骤s402以及步骤s403。以下对步骤s401、步骤s402以及步骤s403进行详细说明。
79.本技术另一实施例设置步骤s401的目的在于，先确定某一时刻像素电路的实际温度，即本步骤s401所指的侦测温度，接着基于侦测温度以及查找表，找到与侦测温度所对应的第二标准系数a2。由于像素电路的温度升高会引起驱动电流变化，因此，当像素电路的温度没有升高时，驱动电流维持稳定，子像素也无色偏问题，也不需确定子像素的面积。故本技术实施例中侦测温度不同于参考温度。
80.本技术另一实施例设置步骤s402的目的在于，基于步骤s401得到的第二标准系数a2，预设关系式l＝1/2*a*i
ds2
以及第一发光亮度l1,得到侦测温度下所述子像素对应的第三驱动电流
81.本技术另一实施例设置步骤s403的目的在于，基于第二标准系数a2、第三驱动电流i
ds3
以及第二预设关系式i
ds
＝ρ*s，得到相应子像素的面积s＝i
ds3
/ρ，也即
82.需要注意的是，当驱动电流增大时，可理解为各个子像素的电流增大值是一致的，即电场是相对恒定的，基于电场恒定，则电流密度恒定，ρ为定值。
83.由此，本技术该实施例通过以上步骤，从而子像素的面积通过确定参考温度下子像素所对应的发光亮度以及不同温度所对应的第一标准系数即可确定。且子像素的发光面积后续可依据该方法确定的子像素的面积进行调整或者控制，以在不同温度下维持子像素发光亮度的均一性，避免发光亮度受温度升高的影响，有效解决色偏问题。
84.本技术提供的实施例中，子像素包括红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素或者白色子像素。
85.本技术提供的实施例中，参考温度的取值范围为20℃～26℃；参考温度优选为25℃。
86.本技术提供的实施例中，在参考温度下获取子像素对应的第一发光亮度可为，在相同参考温度下多次获取所述子像素对应的第四发光亮度，并对多个所述第四发光亮度进行处理，以得到所述子像素对应的第一发光亮度。至于处理多个相同参考温度下子像素所对应的发光亮度以减小测试误差的方法，本技术不做限制，可以为该多个发光亮度的均值，也可以为多个发光亮度的众数，或者其它。
87.请参阅图4，图4是本技术实施例提供的子像素的面积的确定装置的框图。在本技术一些实施例中，提供了一种子像素的面积的确定装置，该子像素的面积的确定装置100包括：
88.第一获取模块1000，用于在参考温度下获取子像素对应的第一发光亮度；其中，参考温度的取值范围为20℃～26℃。
89.具体的，第一获取模块1000可在相同参考温度下多次获取所述子像素对应的第四发光亮度，并对多个所述第四发光亮度进行处理，以得到所述子像素对应的第一发光亮度。至于处理多个相同参考温度下子像素所对应的发光亮度以减小测试误差的方法，本技术不做限制，可以为该多个发光亮度的均值，也可以为多个发光亮度的众数，或者其它。
90.第二获取模块2000，用于在不同温度下获取所述子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流，并基于预设关系式得到不同温度下子像素对应的第一标准系数；其中，预设关系式为l＝1/2*a*i
ds2
，其中，l为所述子像素的发光亮度，i
ds
为所述子像素的驱动电流，a为标准系数。
91.故基于第二获取模块2000，子像素对应的第二发光亮度为l2，子像素对应的第一驱动电流为i
ds1
时，可根据预设关系式l＝1/2*a*i
ds2
，得到子像素对应得第一标准系数a1＝2l2/i
ds12
。
92.处理模块3000，用于对不同温度下所述子像素对应的第一标准系数进行拟合处理，得到子像素对应的查找表；
93.确定模块4000，用于基于所述第一发光亮度、所述查找表以及所述预设关系式确定所述子像素的面积。
94.由此，本技术该实施例通过以上四个步骤，从而子像素的面积得以确定。后续可依据该发光面积对所述子像素的面积进行调整或者控制，在不同温度下维持子像素发光亮度的均一性，避免发光亮度受温度升高的影响，有效解决色偏问题。
95.请参阅图5，图5是本技术实施例提供的子像素的面积的确定装置中第二获取模块的框图。在本技术一些实施例中，提供了一种子像素的面积的确定装置，与前述确定装置的区别在于，本实施例的第二获取模块2000包括：
96.第一获取单元2001，用于在相同温度下多次获取所述子像素对应的第三发光亮度，并对多个所述第三发光亮度进行处理，以得到所述子像素对应的第二发光亮度；
97.第二获取单元2002，用于在相同温度下多次获取所述子像素对应的第二驱动电流，并对多个所述第二驱动电流进行处理，以得到所述子像素对应的第二驱动电流。
98.本技术实施例第二获取模块2000设置第一获取单元2001的目的在于，通过多次测试以确定子像素在同一温度下所对应的实际发光亮度为准确值，即第二发光亮度为准确值，减小误差，提高数据的准确性。至于处理多个同一温度下子像素所对应的发光亮度以减小测试误差的方法，本技术不做限制，可以为该多个发光亮度的均值，也可以为多个发光亮度的众数，或者其它。
99.本技术实施例第二获取模块2000设置第二获取单元2002的目的在于，通过多次测试以确定子像素在同一温度下所对应的实际驱动电流为准确值，即第一驱动电流为准确值，减小误差，提高数据的准确性。至于处理多个同一温度下子像素所对应的驱动电流以减小测试误差的方法，本技术不做限制，可以为该多个驱动电流的均值，也可以为多个驱动电流的众数，或者其它。
100.由此，本技术实施例通过以上单元的设置，从而不同温度下子像素对应的第二发光亮度以及第一驱动电流得以确定，不同温度下的子像素的面积得以确定。后续可依据该面积对所述子像素的面积进行调整或者控制，在不同温度下维持子像素发光亮度的均一性，避免发光亮度受温度升高的影响，有效解决色偏问题。
101.请参阅图6，图6是本技术实施例提供的子像素的面积的确定装置中确定模块的框图。在本技术一些实施例中，提供了一种子像素的面积的确定装置，与前述确定装置的区别在于，本实施例的确定模块4000包括：
102.第一确定单元4001，用于基于所述查找表，确定在侦测温度下所述子像素对应的第二标准系数，所述侦测温度不同于所述参考温度。
103.本技术实施例确定模块4000设置第一确定单元4001的目的在于，先确定某一时刻像素电路的实际温度，即第一确定单元4001中所指的侦测温度，接着基于侦测温度以及查找表，找到与侦测温度所对应的第二标准系数a2。由于像素电路的温度升高会引起驱动电流变化，因此，当像素电路的温度没有升高时，驱动电流维持稳定，子像素也无色偏问题，也不需确定子像素的面积。故本技术实施例中侦测温度不同于参考温度。
104.第二确定单元4002，用于基于所述第一发光亮度以及所述预设关系式得到在所述侦测温度下所述子像素对应的第三驱动电流；
105.本技术实施例确定模块4000设置第二确定单元4002目的在于，基于第一确定单元4001得到的第二标准系数a2，预设关系式l＝1/2*a*i
ds2
以及第一发光亮度l1,得到侦测温度下所述子像素对应的第三驱动电流
106.第三确定单元4003，用于基于所述第二标准系数、所述第三驱动电流以及第二预设关系式，确定所述子像素的面积。
107.本技术实施例确定模块4000设置第三确定单元4003目的在于，基于第二标准系数a2、第三驱动电流i
ds3
以及第二预设关系式i
ds
＝ρ*s，得到相应子像素的面积s＝i
ds3
/ρ，也即
108.由此，本技术实施例通过上述装置，从而子像素的面积通过确定参考温度下子像素所对应的发光亮度以及不同温度所对应的第一标准系数即可确定。且子像素的发光面积后续可依据该方法确定的子像素的面积进行调整或者控制，以在不同温度下维持子像素发光亮度的均一性，避免发光亮度受温度升高的影响，有效解决色偏问题。
109.以上对本技术实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。