一种显示面板测试组、母板及显示面板的制作方法

1.本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板测试组、母板及显示面板。


背景技术：

2.近几年来，智能穿戴设备发展迅速，它是全球范围内增速最快的高科技产品之一，具有巨大的发展潜力。
3.对于智能穿戴设备的显示面板生产来说，每张玻璃基板上可以排布1000左右显示面板，这对于检测画面品质的人员来说工作量极大。
4.为了减少检测画面品质的人员的工作量，通常需进行组(group)模式点灯，如将玻璃基板上的显示面板按2
×
2个或2
×
4切割为一组，对每个显示面板组进行点灯检测，以此来减少检测画面品质的人员的工作量。
5.然而，由于玻璃基板的有效利用率不断在增加，使得布置了众多显示面板的母板上的线路排布越来越紧密，在group点灯过程中容易存在测试焊盘扎偏的问题，从而导致测试焊盘与附近的线路短路，进而造成点灯测试结果为显示面板出现显示不良。


技术实现要素：

6.本发明实施例提供一种显示面板测试组、母板及显示面板，用以解决现有技术中存在上述问题。
7.第一方面，为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种显示面板测试组，包括：
8.呈阵列排布的多个显示面板，所述显示面板中具有多条驱动线；
9.至少一组测试电压线，设置在所述多个显示面板的至少一侧，沿第一方向延伸；其中，一组测试电压线用于为所述多个显示面板中沿所述第一方向排列的一组显示面板提供测试电压；
10.多个测试焊盘，设置在所述多个显示面板与所述一组测试电压线之间，且与所述多个显示面板中的多条驱动线一一电连接，所述测试焊盘用于与点灯测试设备的探针接触；
11.多个静电释放单元，设置在所述多个测试焊盘远离所多个显示面板的一侧，且与所述多个测试焊盘一一电连接；
12.其中，所述一组测试电压线中具有一条位于所述多个测试焊盘与所述多个静电释放单元之间的第一测试电压线，所述多个测试焊盘与所述多个静电释放单元关于所述第一测试电压线错位排列，且所述第一测试电压线的布线为避让所述测试焊盘的绕线设置。
13.一种可能的实施方式，所述第一测试电压线为方波形的折线。
14.一种可能的实施方式，所述第一测试电压线，包括：
15.沿所述第一方向延伸的多条第一线段和多条第二线段，所述多条第一线段与所述多个静电释放单元一一对应，所述多条第二线段与所述多个测试焊盘一一对应；在第二方向上，所述第一线段到所述测试焊盘的距离小于所述第二线段到所述测试焊盘的距离，所
述第二方向与所述第一方向相交；
16.多条连接线，每条连接线连接于所述第一线段和所述第二线段之间。
17.一种可能的实施方式，所述第一线段的长度大于或等于所述静电释放单元在所述第一方向上的长度；
18.所述第二线段的长度大于所述测试焊盘在所述第一方向上的长度。
19.一种可能的实施方式，所述第一线段与所述第二线段之间的距离大于所述探针与对应测试焊盘的最大对位误差。
20.一种可能的实施方式，每组测试电压线包括相互平行的所述第一测试电压线和第二测试电压线；
21.其中，所述第二测试电压线设置在所述多个静电释放单元远离所述第一测试电压线的一侧，且所述第二测试电压线为直线。
22.一种可能的实施方式，在所述显示面板测试组具有两行或两列显示面板时，所述至少一组测试电压线由两组测试电压线组成，且所述两组测试电压线关于所述多个显示面板对称设置。
23.一种可能的实施方式，所述静电释放单元，包括：
24.相对设置的第一子单元和第二子单元；所述第一子单元靠近所述第一测试电压线，所述第二子单元靠近所述第二测试电压线；
25.所述第一子单元和所述第二子单元的输入端与一个测试焊盘电连接；
26.所述第一子单元的输出端与所述第一测试电压线电连接，所述第二子单元的输出端与所述第二测试电压线电连接。
27.第二方面，本发明实施例提供了一种母板，包括呈阵列排布的多个如第一方面所述的显示面板测试组。
28.第三方面，本发明实施例提供了一种显示面板，该显示面板由如第一方面的显示面板测试组制得。
29.本发明实现的有益效果如下：
30.在本发明提供的实施例中，通过将显示面板测试组中的多个测试焊盘与多个静电释放单元关于第一测试电压线错位排列，且使第一测试电压线的布线为避让测试焊盘的绕线设置，可以使一组测试电压线中靠近测试焊盘的第一测试电压线与测试焊盘保持相对安全的距离(即不被扎到的距离)，而将多个测试焊盘与多个静电释放单元关于第一测试电压线错位排列，同样可以使测试焊盘与邻近的静电释放单元保持相对安全的距离，从而防止点灯测试设备的探针扎偏时扎到第一测试电压线、静电释放单元而短路，进而可以使点灯测试设备准确的检测出显示面板测试组中每个显示面板的真实画质，提高检测的准确率，同时还能防止因短路而损坏显示面板，提高显示面板的良率。
附图说明
31.图1为相关技术中测试焊盘与相关线路器件的位置示意图；
32.图2为本发明实施例提供的一种显示面板测试组的结构示意图；
33.图3为本发明实施例提供的一种显示面板测试组的结构示意图；
34.图4为本发明实施例提供的第一测试电压线的结构示意图；
35.图5为本发明实施例提供的第一线段与静电释放单元、第二线段与测试焊盘之间的长度关系示意图；
36.图6为本发明实施例提供的第一线段与第二线段间的距离示意图；
37.图7为本发明实施例提供的一组测试电压线的结构示意图；
38.图8为本发明实施例提供的静电释放单元的结构示意图；
39.图9为本发明实施例提供的静电释放单元的原理图。
具体实施方式
40.本发明实施例提供一种显示面板测试组、母板及显示面板，用以解决现有技术中存在上述问题。
41.为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面将结合附图和实施例对本发明做进一步说明。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本发明更全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。本发明中所描述的表达位置与方向的词，均是以附图为例进行的说明，但根据需要也可以做出改变，所做改变均包含在本发明保护范围内。本发明的附图仅用于示意相对位置关系不代表真实比例。
42.需要说明的是，在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广。因此本发明不受下面公开的具体实施方式的限制。说明书后续描述为实施本技术的较佳实施方式，然所述描述乃以说明本技术的一般原则为目的，并非用以限定本技术的范围。本技术的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。
43.请参见图1为相关技术中测试焊盘与相关线路器件的位置示意图。
44.图1中示出了一个显示面板1对应的多个测试焊盘3和测试电压线vgh和vgl，以及多个静电释放(electro-static discharge，esd)单元4，多个测试焊盘3与显示面板1中的数据线、扫描线(图1中未示出)一一电连接，多个测试焊盘3与多个静电释放单元4一一电连接，静电释放单元4具有一个输入端和2个输出端，静电释放单元4的输入端与对应的测试焊盘3电连接，静电释放单元4的2个输出端分别与vgh和vgl电连接。
45.当需要对显示面板1进行点灯测试时，需要先建点灯测试设备的探针与对应的测试焊盘3对位，然而对位往往存在一定的误差，导致探针因未完全对齐测试焊盘3而扎偏。当探针出现扎偏的情况变容易扎到旁边的线路或静电释放单元，从而使线路短路或静电释放单元短路，进而造成测试结果为显示面板出现显示不良，从而导致测试结果不够准确，甚至还可能损坏显示面板。
46.为解决上述问题，本发明实施例提供了一种显示面板测试组、母板及显示面板，具体如下：
47.请参见图2和图3，图2为本发明实施例提供的一种显示面板测试组的结构示意图，图3为本发明实施例提供的一种显示面板测试组的结构示意图，该显示面板测试组包括：
48.呈阵列排布的多个显示面板1，显示面板1中具有多条驱动线(图2和图3中未示出)；驱动线包括显示面板1中控制各个像素进行显示的数据线和扫描线；一个显示面板测
试组中可以具有2
×
2或2
×
4阵列的显示面板，也可以是n
×
m阵列的显示面板，n、m为自然数，如还可以是4
×
1等，具体不一一例举，可根据实际需要自由设定。
49.至少一组测试电压线2，设置在多个显示面板1的至少一侧，沿第一方向x延伸；其中，一组测试电压线2用于为多个显示面板1中沿第一方向x排列的一组显示面板1提供测试电压；
50.多个测试焊盘3，设置在多个显示面板与一组测试电压线2之间，且与多个显示面板1中的多条驱动线一一电连接，测试焊盘3用于与点灯测试设备的探针接触；点灯测试设备用于检测显示面板的画质，在使用点灯测试设备进行测试前，通常需要先将点灯测试设备中的探针与对应的测试焊盘3进行对位，但受限于对位精度，探针往往容易出现扎偏的情况。
51.多个静电释放单元4，设置在多个测试焊盘3远离所多个显示面板的一侧，且与多个测试焊盘3一一电连接；静电释放单元4用于释放显示面板1中驱动线路上的静电，防止损坏显示面板。
52.其中，一组测试电压线2中具有一条位于多个测试焊盘3与多个静电释放单元4之间的第一测试电压线21，多个测试焊盘3与多个静电释放单元4关于第一测试电压线21错位排列，且第一测试电压线21的布线为避让测试焊盘3的绕线设置。
53.在本发明提供的实施例中，通过将显示面板测试组中的多个测试焊盘3与多个静电释放单元4关于第一测试电压线21错位排列，且使第一测试电压线21的布线为避让测试焊盘3的绕线设置，可以使一组测试电压线2中靠近测试焊盘3的第一测试电压线21与测试焊盘3保持相对安全的距离(即不被扎到的距离)，而将多个测试焊盘3与多个静电释放单元4关于第一测试电压线21错位排列，同样可以使测试焊盘3与邻近的静电释放单元4保持相对安全的距离，从而防止点灯测试设备的探针扎偏时扎到第一测试电压线21、静电释放单元而短路，进而可以使点灯测试设备准确的检测出显示面板测试组中每个显示面板的真实画质，提高检测的准确率，同时还能防止因短路而损坏显示面板，提高显示面板的良率。
54.如图2或3所示，第一测试电压线21可以为方波形的折线。
55.通过将第一测试电压线21设置为方波形的折线，可以让第一测试电压线21避开测试焊盘3，使第一测试电压线21与测试焊盘3之间保持安全距离，同时，可以利用方波形的折线的凹凸特性，将静电释放单元4与测试焊盘3分别对应第一测试电压线21的凹、凸位置，实现静电释放单元4与测试焊盘3关于第一测试电压线21错位排列；并且，还可以使每组测试电压线1与其对应的多个测试焊盘3、多个静电释放单元4占用的面积保持不变，使包含上述显示面板测试组的母板中显示面板的排片率不降低。
56.请参见图4为本发明实施例提供的第一测试电压线的结构示意图。
57.第一测试电压线21，包括：
58.沿第一方向x延伸的多条第一线段211和多条第二线段212，多条第一线段211与多个静电释放单元4一一对应，多条第二线段212与多个测试焊盘3一一对应；在第二方向y上，第一线段211到测试焊盘4的距离d1小于第二线段212到测试焊盘d2的距离，第二方向y与第一方向x相交；
59.多条连接线213，每条连接线213连接于第一线段211和第二线段212之间。
60.在本发明提供的实施例中，通过将第一测试电压线21中与测试焊盘4对应的第二
线段212在第二方向y的距离设为大于与静电释放单元4对应的第一线段211在第二方向y的距离，可以使第一测试电压线21在于测试焊盘3对应的位置避开测试焊盘3，从而减少因点灯设备的探针扎偏而使第一测试电压线与测试焊盘3短路。
61.请参见图5为本发明实施例提供的第一线段与静电释放单元、第二线段与测试焊盘之间的长度关系示意图。
62.第一线段211的长度l2大于或等于静电释放单元4在第一方向上的长度l1，即，l2≥l1；
63.第二线段212的长度l4大于测试焊盘3在第一方向上的长度l3，即，l4》l3。
64.通过将第一线段211的长度l2设置为大于或等于静电释放单元4在第一方向上的长度l1，将第二线段212的长度l4设置为大于测试焊盘3在第一方向上的长度l3，可以使第一测试电压线21绕开测试焊盘3，同时使静电释放单元4避开测试焊盘3，避免因探针扎偏而使第一测试电压线21和/或静电释放单元4短路。
65.在另一些实施例中，假设探针与对应测试焊盘3的最大对位误差为δ，第二线段212的长度l4≥l3+2δ，第二线段212与对应的测试焊盘3在第二方向y上的中心线的延长线重合。
66.通过将第二线段212的长度设置为大于或等于测试焊盘3在第一方向x上的长度与探针与对应测试焊盘3的最大对位误差为δ的2倍之和，可以让第二线段212始终位于探针扎偏测试焊盘3的扎偏范围之外，从而防止因探针扎偏而使第一测试电压线21短路。
67.请参见图6为本发明实施例提供的第一线段与第二线段间的距离示意图，第一线段211与第二线段212之间的距离d5大于探针与对应测试焊盘的最大对位误差δ。
68.通过将第一线段211与第二线段212之间的距离d5，设置为大于探针与对应测试焊盘的最大对位误差δ，可以让第二线段212位于探针扎偏测试焊盘3的扎偏范围之外，从而防止因探针扎偏而使第一测试电压线21短路。
69.请参见图7为本发明实施例提供的一组测试电压线的结构示意图。
70.每组测试电压线2包括相互平行的第一测试电压线21和第二测试电压线22；
71.其中，第二测试电压线21设置在多个静电释放单元4远离第一测试电压线21的一侧，且第二测试电压线22为直线。
72.通过让每组测试电压线2第一测试电压线21和第二测试电压线22平行设置，且将第二测试电压线22设置为直线，可以尽量减少对每组测试电压线2的改动，便于布线。
73.如图3所示，在显示面板测试组具有两行或两列显示面板1时，至少一组测试电压线2由两组测试电压线2组成，且两组测试电压线2关于多个显示面板对称设置。
74.通过将两组测试电压线2对称设置在具有两行或两列显示面板1的两侧，便于布置测试焊盘3及静电释放单元4，同时便于布线。
75.请参见图8为本发明实施例提供的静电释放单元的结构示意图。
76.静电释放单元4包括：
77.相对设置的第一子单元41和第二子单元42；第一子单元41靠近第一测试电压线21，第二子单元42靠近第二测试电压线22；
78.第一子单元41和第二子单元42的输入端与一个测试焊盘3电连接；
79.第一子单元41的输出端与第一测试电压线21电连接，第二子单元42的输出端与第
二测试电压线22电连接。
80.请参见图9为本发明实施例提供的静电释放单元的原理图。
81.第一子单元41包括：第一薄膜晶体管tft1和第二薄膜晶体管tft2；第一薄膜晶体管tft1的栅极和第一极与测试焊盘3电连接，第一薄膜晶体管tft1的第二极与第二薄膜晶体管tft2的栅极和第一极电连接，第二薄膜晶体管tft2的第二极与第一测试电压线21电连接；
82.第二子单元42包括第三薄膜晶体管tft3和第四薄膜晶体tft4；第三薄膜晶体管tft3的第一极与测试焊盘3电连接，第三薄膜晶体管的栅极和第二极与第四薄膜晶体tft4的第一极电连接，第四薄膜晶体管tft4的栅极和第二极与第二测试电压线22电连接。
83.第一薄膜晶体tft1～第四薄膜晶体管为同种类型的薄膜晶体管，如都为n型薄膜晶体或都为p型薄膜晶体，图9中示出的是都为n型薄膜晶体管的原理图，当都为p型薄膜晶体管时连接关系可做适应性调整。
84.基于同一发明构思，本发明实施例提供一种母板，包括：呈阵列排布的多个如上所述的显示面板测试组。
85.基于同一发明构思，本发明实施例提供一种显示面板，该显示面板由如上所述的显示面板测试组制得。
86.该显示面板可以为液晶显示面板或oled显示面板，上述显示面板可以应用于智能穿戴设备、小型智能设备等。
87.尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
88.显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。