有机发光显示装置及其驱动方法
【技术领域】
[0001]本发明的实施例涉及一种有机发光显示装置，更特别地，涉及一种有机发光显示装置，其能够减少由于像素特性变化所导致的缺陷并通过减少感测误差而改善外部补偿的可靠性，本发明还涉及所述有机发光显示装置的驱动方法。
【背景技术】
[0002]当前，由于有机发光显示装置的各种优点，对其兴趣正在不断增加。相比液晶显示(LCD)装置，有机发光显示装置可以实现更宽的视角以及更好的亮度和对比度。此外，有机发光显示装置自身可以发光，即，有机发光显示装置无需额外的背光单元。所以，有机发光显示装置可以被制造得纤薄且轻量，并且有机发光显示装置可以具有功耗低和响应速度快的优点。
[0003]有机发光显示装置的像素特性根据驱动时间和温度而变化。按照用于补偿像素特性变化的补偿电路的位置，可以存在外部或内部补偿方法。在内部补偿方法中，补偿电路位于像素内部。同时，在外部补偿方法中，补偿电路位于像素外部。
[0004]由于制造薄膜晶体管(TFT)基板过程中的偏差，像素间驱动TFT(DT)的迀移率(k)和阈值电压可能变化。据此，即使向现有技术的有机发光显示装置中每个像素的驱动TFT施加同样的数据电压(Vdata)，但由于流经有机发光二极管(OLED)的电流偏差，难以实现均匀的图像质量。
[0005]为了克服这一问题，可以感测每个像素中驱动TFT的迀移率(k)和阈值电压(Vth)变化，并随后对其补偿，从而将驱动电压(k*Vdata+Vth)提供到驱动TFT的栅极，其中按照视频信号将补偿电压(Vth，k)添加到数据电压(Vdata)上从而获得所述驱动电压(k*Vdata+Vth)。
[0006]图1和图2图示了现有技术的有机发光显示装置中用于外部补偿的像素特性感测方法。
[0007]参照图1和图2，测量有机发光显示装置中OLED面板的特性的方法可以大致分为基于施加电压的电流测量法以及基于施加电压的电压测量法。由于基于施加电压的电压测量法相比较基于施加电压的电流测量法具有更短的测量时间，因此其更为广泛的使用。这些方法均基于对驱动TFT的源极端充电。
[0008]如图1的〈SI〉中所示，在基于施加电压的电压测量法中，将电压施加给驱动晶体管(Tr3)的栅极。流经驱动TFT源极端的电流被充入到线端。之后，如图1的<S2>中所示，由显示装置中提供的模拟数字转换器(ADC)测量通过关断开关晶体管“Trl”而充入的电压，从而感测驱动TFT的特性。
[0009]假设按照驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)的电流变化在饱和区内相同，那么通过充入驱动TFT的源极电压并测量所充入的值来执行现有技术的像素特性感测方法。驱动TFT的源极电压是驱动TFT源极端的电压，驱动TFT的漏极电压是驱动TFT漏极端的电压。驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)是驱动TFT源极端和漏极端之间的电压。
[0010]然而，现实中，通过沟道的调制效应，流经驱动TFT的电流值变化根据漏极-源极电压(Vds)的变化而变化，这将可能导致现有技术的基于施加电压的电压测量法所测得的电流值不准确。
[0011]而且，由于驱动TFT漏极电压被驱动的方式，现有技术中如果驱动TFT的源极电压增加，那么驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)减少。因此，由于驱动TFT变化的特性，很难精确地感测所述OLED面板的特性。
[0012]在按照现有技术的基于施加电压的电流测量法中，假设驱动TFT的漏极固定到高功率线(Vdd)，并且驱动TFT是恒流源。在该情况下，如果驱动TFT的源极端处于高阻抗(high-z)状态，那么流经驱动TFT的电流将对电容完全充电，因此增加驱动TFT的源极电压。
[0013]如图2所示(参见S2区)，通过在时刻Tl和T2 (采样时刻)两次测量驱动TFT源极端处的电流，可以按照如下数学公式I计算流经驱动TFT的电流量(iTFT)。
[0014]公式1:
[0015][数学公式I]
[0016]iTFT = O (V2-V1) /At
[0017]其中C是存储电容的电容值，V2和Vl是T2和Tl时分别感测的驱动TFT源极端电压，以及At等于T2减去Tl。
[0018]图3图示出按照现有技术，恒定电流(Id)按照驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)的变化。
[0019]通常，假设驱动TFT是恒流源，那么如果驱动TFT的源极电压增加，则驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)成比例减小。然而如图3所示，现实中，随着驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)的减小，驱动TFT的电流(Id)并不保持恒定甚至在饱和区也减小。S卩，驱动TFT并不作为恒流源而被驱动。
[0020]S卩，与理论不同的是，如图3所示的驱动TFT的饱和区电流(Id)根据漏极-源极电压(Vds)的小变化而变化，且当漏极-源极电压(Vds)等于或大于7V时，电流(Id)对于漏极-源极电压(Vds)的变化更为敏感。当施加固定的漏极电压时，驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)水平根据驱动TFT的源极电压的增加而减小。在该情况下，流向驱动TFT的电流量也发生变化，使得难以正确测量流经驱动TFT的电流量。
【发明内容】
[0021]本发明的实施例涉及一种有机发光显示装置及其驱动方法，其基本上能够克服现有技术的限制和缺点所导致的一个或多个问题。
[0022]本发明实施例的一方面，提供一种有机发光显示装置及其驱动方法，所述有机发光显示装置能够通过减少感测误差而改善外部补偿的可靠性。
[0023]本发明实施例的另一方面，提供一种有机发光显示装置及其驱动方法，所述有机发光显示装置能够通过对像素特性的精确感测步骤来减少由像素特性变化导致的缺陷。
[0024]本发明的其它优点和特征，部分地将在下面的说明书部分中进行阐述并且部分地将在审阅下文后对于本领域技术人员显而易见，或者可以从本发明的实践中获知。本发明的目的和其它优点，可以由说明书和权利要求书中所书面描述的以及所附附图中所指出的特定结构而实现或达到。
[0025]为了实现这些目的和其它优点并且按照本发明的目的，如本文中实例化和广义化描述的，一方面提供一种有机发光显示装置的驱动方法，其可以包括:通过对有机发光显示装置的多个像素施加电压而感测驱动TFT的特性，其中驱动TFT的漏极电压基于在对多个像素中所形成的驱动TFT的特性进行感测期间，有机发光二极管的阳极电压变化而改变。
[0026]此时，可以感测驱动TFT的栅极-源极电压(Vgs)。而且，驱动电压(Vdd)可以基于有机发光二极管的阳极电压的反馈而变化。而且，有机发光二极管的阳极电压可以在感测驱动TFT的漏极电压期间变化。可以同时改变多个驱动TFT的漏极电压。作为一个变形例，驱动TFT的漏极电压可以按照时间以步进式方法变化。
[0027]在另一实例中，可以基于有机发光二极管阳极电压的反馈，通过阳极电压的变化而改变驱动TFT的漏极电压。
[0028]应理解的是，前述一般性描述以及后续详细性说明均是典型性的和解释性的，并旨在提供所要求保护的本发明进一步解释。
【附图说明】
[0029]附图提供对本发明的进一步理解并且并入说明书而组成说明书的一部分。所述附图示出本发明的实施方式，并且与说明书文字一起用于解释本发明的原理。在附图中:
[0030]图1和2图示了现有技术的有机发光显示装置中用于外部补偿的像素特性感测方法;
[0031]图3图示出按照现有技术，恒定电流(Id)按照驱动TFT的漏极-源极电压(Vds)的变化；
[0032]图4图示出按照本发明实施例的有机发光显示装置的驱动方法，其示出了电流