本发明涉及LCM液晶面板电性不良的镭射修复领域，具体是一种修复液晶面板显性横向线性不良的方法。
背景技术：
部分GOP设计的LCM液晶面板，在生产阶段，由于TFT镀膜工艺制程不良导致全屏或半屏间隔性横线，此类液晶面板显性横向线性不良也称为网格粗，目前一般直接作为报废处理；但是经过调查研究发现，相当大部分的网格粗可以修复，直接报废的处理方式过于浪费材料。
因此，为解决上述问题，需要提供一种快速修复液晶面板显性横向线性不良的方法。
技术实现要素：
本发明所要解决的技术问题是：提供一种快速修复液晶面板显性横向线性不良的方法。
本发明所采用的技术方案是：提供一种修复液晶面板显性横向线性不良的方法，其特征在于，包括六个步骤，
一）鉴别网格粗：
1.将目标产品送电点亮测试；
2.在红绿蓝三色观察，全屏或高度不等处出现异常等间隔横线，间隔数量为2；
3.在下方(PCBA在上方)末端出现3~4条颜色不同的横线；
4.多重网格粗为在此类型的叠加；
5.呈现间隔横线，但间隔条数为5条横线，此类异常为非网格粗，通过更换首尾COF修复；
6.带状无间隔性横纹或有间隔性横线但伴随带状无间隔性横纹，此类异常为非网格粗，可称之为画面异常，不在此发明之内；
二）确定特征线：
1.通过红绿蓝不同颜色观察；
2.在下方(PCBA在上方)末端呈现3条颜色不同的横线；
3.在下方(PCBA在上方)末端向上数起，第二条线，就是特征线；
三）切除特征线并确认故障点查找方向：
1.显微镜5X，5X观察特征线；
2.显微镜逐级切换至5X，50X；
3.找到控制特征线的扫描线；
4.控制镭射机X，Y轴定位到该扫描线靠近信号线位置；
5.采用slit X 3um ，Y 8 um，能量85%，1064nm波长激光击打该信号线位置，切除该扫描线，至此特征线被切除；
6.切除特征线后，画面变成全屏仅剩半截横线，此半截横线即故障点查找方向；
四）查找故障点：
1.从半截横线一端开始，在显微镜10X，20X逐一像素查询；
2.找到故障点位置（圈内ITO蚀刻变形或者蚀刻异常处）；
五）修复故障点：1.在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置；
六）检查确认：修复故障点后，检测各色画面，全屏无异常，修复完毕。
上述步骤四和步骤五亦可分三种方法：
1.故障点故障表现为Com ITO与Gateline短路或者Gateline直接与commonline之Metalone短路，在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置，切除短路处，使原有功能Gateline恢复正常；
2. 故障点故障表现为Gateline与Dataline短路，会出现全屏间隔横线伴随竖渐变线，在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置，切除被确认的交叉点线路，使Gateling和Dataline信号各自恢复正常；
3.无法确认被查找到的故障点故障表现形式，则切断此半条扫描线故障点的来源端，再将末梢电路纵向进行短接，利用间隔的同组扫描线信号使半条扫描线正常显现。
采用以上方法后，本发明改变了一般的液晶面板镭射修复方法，采用了结合面板特性，在数以千计的显性横向线性不良中快速锁定特征线，再快速查明异常故障点，并有效的将故障去除，以达到去除异常，使液晶面板正常显示；修复快速方便，减少浪费。
附图说明
图1为本发明的方法步骤简图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本发明做详细的说明。
如图1所示，一种修复液晶面板显性横向线性不良的方法，其特征在于，包括六个步骤，
一）鉴别网格粗：
1.将目标产品送电点亮测试；
2.在红绿蓝三色观察，全屏或高度不等处出现异常等间隔横线，间隔数量为2；
3.在下方(PCBA在上方)末端出现3~4条颜色不同的横线；
4.多重网格粗为在此类型的叠加；
5.呈现间隔横线，但间隔条数为5条横线，此类异常为非网格粗，通过更换首尾COF修复；
6.带状无间隔性横纹或有间隔性横线但伴随带状无间隔性横纹，此类异常为非网格粗，可称之为画面异常，不在此发明之内；
二）确定特征线：
1.通过红绿蓝不同颜色观察；
2.在下方(PCBA在上方)末端呈现3条颜色不同的横线；
3.在下方(PCBA在上方)末端向上数起，第二条线，就是特征线；
三）切除特征线并确认故障点查找方向：
1.显微镜5X，5X观察特征线；
2.显微镜逐级切换至5X，50X；
3.找到控制特征线的扫描线；
4.控制镭射机X，Y轴定位到该扫描线靠近信号线位置；
5.采用slit X 3um ，Y 8 um，能量85%，1064nm波长激光击打该信号线位置，切除该扫描线，至此特征线被切除；
6.切除特征线后，画面变成全屏仅剩半截横线，此半截横线即故障点查找方向；
四）查找故障点：
1.从半截横线一端开始，在显微镜10X，20X逐一像素查询；
2.找到故障点位置（圈内ITO蚀刻变形或者蚀刻异常处）；
五）修复故障点：1.在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置；
六）检查确认：修复故障点后，检测各色画面，全屏无异常，修复完毕。
上述步骤四和步骤五亦可分三种方法：
1.故障点故障表现为Com ITO与Gateline短路或者Gateline直接与commonline之Metalone短路，在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置，切除短路处，使原有功能Gateline恢复正常；
2. 故障点故障表现为Gateline与Dataline短路，会出现全屏间隔横线伴随竖渐变线，在故障点位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波长激光击打故障点位置的Drain位置，切除被确认的交叉点线路，使Gateling和Dataline信号各自恢复正常；
3.无法确认被查找到的故障点故障表现形式，则切断此半条扫描线故障点的来源端，再将末梢电路纵向进行短接，利用间隔的同组扫描线信号使半条扫描线正常显现。
本发明是利用GOP产品扫描侧模块集成于面板两侧，通过自带逻辑电路自行扫描和传递逐行交握信息的特性，面板内部任意一条扫描线由于两侧都有信号送入，故中间部分可断开而不受影响。