一种图像检测方法及图像检测设备与流程

文档序号:13003123阅读:352来源:国知局
一种图像检测方法及图像检测设备与流程

本发明涉及产品质量的检测领域,特别是一种图像检测方法及图像检测设备。



背景技术:

彩膜基板是用来实现彩色显示的主要器件,是液晶显示器的重要组成部分。

现有的彩膜基板一般包括:黑矩阵(bm)、彩色光阻(rgb)、绝缘覆盖层(oc)、导电层及支撑液晶盒厚的隔垫物(ps)。bm层及rgb层所形成的图形(pattern)均称为colorpattern。在制作bm及rgb工艺时,不可避免的会产生colorpattern缺失等缺陷,彩膜基板各工序产生的缺陷可通过光学检测机来检测,以及时拦截不良品流入后续工序,避免造成巨大的成本浪费。

目前光学检测机的有效检测区域有两个部分:有效显示区(即aa区)和边框区(即dummybm区,也可以称非显示区)。光学检测机应在对有效检测区域进行检测时,针对不同的产品对应有不同的检测参数。传统设计的dummybm区全部为bm膜层,因此dummybm区检测仅需设置一个参数,光学检测机根据该参数设定将整个dummybm区作为一个有效检测区域进行检测。

随着液晶显示器的技术发展,目前提出了一种在dummybm区的黑矩阵膜层中挖槽以阻止静电进入像素内部的技术方案。在具体实现时,不同产品的彩膜基板所对应的挖槽结构各式各样,且挖槽区域不设置黑矩阵膜层,这就会使得光学检测机用传统的方式对dummybm区进行检测时,将挖槽区域误检为缺陷图形,从而导致出现大量误检点。而误检的缺陷一旦达到一定程度则会认定彩膜基板无法修复,后续被报废处理,造成资源的浪费。



技术实现要素:

本发明的目的是提供一种图像检测方法及图像检测设备,能够解决光学检测机在检测dummybm区时,因黑矩阵膜层上的挖槽结构,而将黑矩阵膜层误检为缺陷图形的问题。

为实现上述目的,一方面,本发明的实施例提供一种图像检测方法,包括:

获取待检测的膜层图形,所述待检测的膜层图形包括多个不连续的膜层子图形;

从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域;

按照预定第一检测规则对所述第一检测区域的膜层子图形进行检测。

其中,所述图像检测方法还包括:

从所述膜层图形中识别出第二检测区域,所述第二检测区域为相邻的两个连续完整的膜层子图形之间的间隙区域;

按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测。

其中,识别所述膜层图形中的第一检测区域和/或第二检测区域的步骤,包括:

识别所述膜层图形中的各膜层子图形的边界线;

根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域;

和/或,

根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域。

其中,所述膜层图形包括:第一膜层子图形和第二膜层子图形,所述第一膜层子图形和第二膜层子图形相互间隔,且第二膜层子图形位于所述第一膜层子图形与显示区域之间;

识别所述膜层图形中的两个膜层子图形的边界线为四个;

根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域的步骤,包括:

根据最靠近显示区域的边界线以及次靠近显示区域的边界线,确定出第二膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为一个第一检测区域;

根据次远离显示区域的边界线以及最远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为另一个第一检测区域;

根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域的步骤,包括:

根据次靠近显示区域的边界线以及次远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形与第二膜层子图形之间的间隙区域,并将该间隙区域作为第二检测区域。

其中,按照预定第一检测规则对所述第一检测区域的膜层子图形进行检测的步骤包括:

对所述第一检测区域按照第一预设修正量,进行边缘区域的裁剪,得到第一有效检测区域;

按照预定第一检测规则对所述第一有效检测区域的膜层子图形进行检测。

其中,按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测的步骤包括:

对所述第二检测区域按照第二预设修正量,进行边缘区域的裁剪,得到第二有效检测区域;

按照预定第二检测规则对所述第二有效检测区域的膜层子图形进行检测。

另一方面,本发明的实施例还提供一种图像检测设备,包括:

获取模块,用于获取待检测的膜层图形,所述待检测的膜层图形包括多个不连续的膜层子图形;

第一识别模块,用于从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域;

第一检测模块,用于从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域。

其中,所述图像检测设备还包括:

第二识别模块,用于从所述膜层图形中识别出第二检测区域,所述第二检测区域为相邻的两个连续完整的膜层子图形之间的间隙区域;

第二检测模块,用于按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测。

其中,所述图像检测设备还包括:

识别模块,用于识别所述膜层图形中的各膜层子图形的边界线;

其中,所述第一识别模块用于:根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域;

所述第二识别模块用于:根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域。

其中,所述膜层图形包括:第一膜层子图形和第二膜层子图形,所述第一膜层子图形和第二膜层子图形相互间隔,且第二膜层子图形位于所述第一膜层子图形与显示区域之间;

识别所述膜层图形中的两个膜层子图形的边界线为四个;

所述第一识别模块用于:根据最靠近显示区域的边界线以及次靠近显示区域的边界线,确定出第二膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为一个第一检测区域;根据次远离显示区域的边界线以及最远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为另一个第一检测区域;

所述第二识别模块用于:根据次靠近显示区域的边界线以及次远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形与第二膜层子图形之间的间隙区域,并将该间隙区域作为第二检测区域。

此外,本发明的实施例还提供一种图像检测设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序;所述处理器执行所述计算机程序时实现本发明提供的上述的图像检测方法中的步骤。

此外,本发明的实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现本发明提供的上述图像检测方法中的步骤。

本发明的上述方案具有如下有益效果:

本发明的方案可以主动识别出连续的膜层子图形的区域,并按照对应的检测规则进行检测。因此,在应用到检测彩膜基板的dummybm区时,能够避免将黑矩阵膜层之间的空隙区域也作为黑矩阵膜层的一部分进行检测,可避免彩膜基板被误检而导致无故报废。

附图说明

图1为本发明实施例提供的图像检测方法的步骤示意图;

图2为本发明实施例提供的图像检测方法应用在彩膜基板上时,获取彩膜基板上的图像的示意图;

图3为本发明实施例提供的图像检测方法将获取到的彩膜基板上的图像转换为灰度曲线的示意图;

图4为本发明实施例提供的图像检测设备的结构示意图;

图5为本发明实施例提供的图像检测设备的另一结构示意图。

具体实施方式

为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。

为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。在下面的描述中,提供诸如具体的配置和组件的特定细节仅仅是为了帮助全面理解本发明的实施例。因此,本领域技术人员应该清楚,可以对这里描述的实施例进行各种改变和修改而不脱离本发明的范围和精神。另外,为了清楚和简洁,省略了对已知功能和构造的描述。

应理解,说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本发明的至少一个实施例中。因此,在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”未必一定指相同的实施例。此外,这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。

本发明针对传统的光学检测机在检测dummybm区时,因黑矩阵膜层上的挖槽结构,而将黑矩阵膜层误检为缺陷图形的问题,提供一种解决方案。

一方面,本发明的实施例提供一种图像检测方法,如图1所示,包括:

步骤101,获取待检测的膜层图形,该待检测的膜层图形包括多个不连续的膜层子图形。

作为示例性介绍,在实际应用中,若本实施例的方法若应用在检测彩膜基板的dummybm时,则膜层子图形可以是背景技术中所介绍的黑矩阵膜层。

步骤102,从膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域。

步骤103,按照预定第一检测规则对第一检测区域的膜层子图形进行检测。

在本步骤中,上述第一检测规则可以是任何评估膜层子图形制作质量的图像检测规则,本发明并不对第一检测规则进行改进,因此不再进行举例赘述。

本实施例的方法可以主动识别出连续的膜层子图形的区域,并按照对应的检测规则进行检测。因此,在应用到检测彩膜基板dummybm区时,能够避免将黑矩阵膜层之间的空隙区域也作为黑矩阵膜层的一部分进行检测,可减小出现误检的概率。

进一步地,在上述基础之上,本实施例的图像检测方法还可以包括:

步骤104,从膜层图形中识别出第二检测区域,该第二检测区域为相邻的两个连续完整的膜层子图形之间的间隙区域;

步骤105,按照预定第二检测规则对上述第二检测区域进行检测。

显然,基于上述步骤104和步骤105,本实施例的方法还可以对膜层子图形之间的间隙区域进行图像检测,以评估膜层子图形的形成质量。

以检测彩膜基板的dummybm区为例,两个相互独立的黑矩阵膜层之间间隙也决定黑矩阵膜层的形成质量,例如间隙距离超过或低于一定标准,都可以表示黑矩阵膜层与期望的设置区域存在偏差。因此,本实施例在上述基础之上,又进一步对间隙区域进行图像检测,可以更加准确地评估膜层子图形的形成质量。

下面对本实施例确定第一检测区域和第二检测区域的方法进行详细介绍。

示例性地,作为一种可行方案,本实施例的图像检测方法可以根据膜层子图形的边界线来确定第一检测区域和第二检测区域。

以确定第一检测区域为例,本实施例的图像检测方法可以先识别膜层图形中的各膜层子图形的边界线。在实际应用中,膜层子图形与空隙区域具有一定的色度差,因此可以根据灰度值来确定膜层子图形的边界线。

例如,本实施例可以获取整个膜层图形的灰度曲线图,若相邻像素灰度差异值高于基准值(即阈值,依据实际产品上图像灰度值进行设定)时,则认为两像素间存在分界线,从而实现对分界线的识别、定位。

在确定各膜层子图形的边界线后,即可确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域。

同理,在确定第二检测区域时,也可以根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域。

下面结合一个实际应用,对本实施的图像检测方法的工作原理进行介绍。

以检测彩膜基板为例,参考图2,图2所示的是一个基于cameraccd设备从彩膜基板上获取到的待检测的膜层图形的图像,该图像包括显示区域a以及位于显示区域外侧的非显示区域b(即上文所指的dummybm区);

假设以检测非显示区域b上的黑矩阵膜层的形成质量为例,从图2中可以看出,获取到的图像包括两个不连续的黑矩阵膜层的子图形,本文以将这两个子图形分别以第一膜层子图形21和第二膜层子图形22进行命名。其中,第一膜层子图形21和第二膜层子图形22相互间隔形成有间隔区域23(该间隔区域可以是背景技术所介绍的挖槽结构,用于防止静电导入),且第二膜层子图形22位于第一膜层子图形21与显示区域a之间;

如图2中可以看出第一膜层子图形21和第二膜层子图形22的边界线为四个,分别为l1、l2、l3和l4。

之后生成图像的灰度曲线图。该灰度曲线图如图3所示,其中,图3纵坐标表示灰阶度,横坐标表示边界线排列方向上的不同位置,从图3可以看出,边界线l1、l2、l3和l4位置在图像上灰阶度上会具有明显幅度的变化,本实施例基于该变化幅度即可确定出边界线l1、l2、l3和l4的位置。

在确定各边界线的位置后,根据最靠近显示区域的边界线l1以及次靠近显示区域的边界线l2,确定出第二膜层子图形22的设置区域,并将该设置区域作为一个第一检测区域;

同时,根据次远离显示区域的边界线l3以及最远离显示区域的边界线l4,确定出第一膜层子图形21的设置区域,并将该设置区域作为另一个第一检测区域;

同时,根据次靠近显示区域的边界线l2以及次远离显示区域的边界线l3,确定出第一膜层子图形21与第二膜层子图形22之间的间隙区域23,并将该间隙区域23作为第二检测区域。

作为示例性介绍,本实施例可以彩膜基板扫描起始点,即彩膜基板某一边缘为零点,计算出非显示区b于各分界线在基板上的相对位置:

分界线l1,标记为m1,在彩膜基板上的相对位置=a*cameraccd像素尺寸,

分界线l2,标记为m2,在彩膜基板上的相对位置=b*cameraccd像素尺寸,

分界线l3,标记为m3,在彩膜基板上的相对位置=c*cameraccd像素尺寸,

分界线l4,标记为m4,在彩膜基板上的相对位置=d*cameraccd像素尺寸;

上述a、b、c、d分别为cameraccd设备拍摄到的图像中各分界线与零点之间的像素数量。

之后计算出分界线间的第一检测区域和第二检测区域:

分界线l1与分界线l2间的第一检测区域=∣b-a∣*cameraccd像素尺寸,

分界线l2与分界线l3间的第二检测区域=∣c-b∣*cameraccd像素尺寸,

分界线l3与分界线l4间的第一检测区域=∣d-c∣*cameraccd像素尺寸。

之后根据评估黑矩阵形成质量的图像检测规则对第一检测区域进行评估检测,并根据黑矩阵间隙形成质量的图像检测规则对第二检测区域进行评估检测。

以上是对本实施例在实际应用中的介绍,需要基于说明的是,本实施例的方法并不限于识别彩膜基板上的黑矩阵膜层,但凡是对不连续设置的膜层子图形进行图像检测的场景都可以适用于本实施例的方案。

此外,上述实际应用作为示例性介绍,仅是基于一种方向对黑矩阵膜层的形成质量进行检测。本领域人员应该能够理解的是,基于本实施例的方案,可以适用于任何方向,上述实际应用并不限制本发明的保护范围。

此外,一般情况下,分界线的位置在图像上会存在灰度过渡问题,即分界线的位置灰度变化不明显,导致分界线处位置不准确。为避免上述问题发生,本实施例还可以需对非显示区b的检测设定合适的修正值,以进行修正。

即,本实际应用在确定第一检测区域后,对第一检测区域按照第一预设修正量,进行边缘区域的裁剪,得到第一有效检测区域,之后按照预定的第一检测规则对所述第一检测区域进行检测;

同理,在确定第二检测区域后,对第二检测区域按照第二预设修正量,进行边缘区域的裁剪,得到第二有效检测区域;并按照预定的第二检测规则对第二检测区域进行检测。

基于上述设计,以第一检测区域为例。在确定出分界线后,即可进一步通过分界线确定出第一检测区域,而由于灰阶过渡问题,可能会出现分解线定位存在误差的问题,使得第一检测区域不够准确,例如确定出的第一检测区域涵盖了一部分空隙区域,为避免这一问题发生。本实施例可以使用第一预设修正量,对第一检测区域进行裁剪修正,以剔除出一部分可能涵盖空袭区域的边缘部分。

经过多次实践后发现,上述第一预设修正量和第二预设修正量优选为1~2cameraccd像素,约为6um~12um,该设定值较小,能够在有效剔除检测区域所涵盖的空隙区域的基础上,避免检测区域裁剪过小而增加漏检的风险。

另一方面,如图4所示,本发明的另一实施例还提供一种图像检测设备400,包括:

获取模块401,用于获取待检测的膜层图形,所述待检测的膜层图形包括多个不连续的膜层子图形;

第一识别模块402,用于从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域;

第一检测模块403,用于从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域。

本实施例的制作可以主动识别出膜层子图形的区域,并只对膜层子图形的区域按照对应的检测规则进行检测。在应用到检测彩膜基板dummybm区时,能够避免将黑矩阵膜层之间的空隙区域也进行检测,可避免将黑矩阵膜层误检为缺陷图形。

具体地,参考图4,本实施的图像检测设备还包括:

第二识别模块404,用于从所述膜层图形中识别出第二检测区域,所述第二检测区域为相邻的两个连续完整的膜层子图形之间的间隙区域;

第二检测模块405,用于按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测。

其中,在上述基础之上,本实施例的图像检测设备还包括:

识别模块,用于识别所述膜层图形中的各膜层子图形的边界线;

上述第一识别模块用于:根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域;

上述第二识别模块用于:根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域。

作为示例性介绍,假设本实施例的膜层图形包括:第一膜层子图形和第二膜层子图形,所述第一膜层子图形和第二膜层子图形相互间隔,且第二膜层子图形位于所述第一膜层子图形与显示区域之间;

识别所述膜层图形中的两个膜层子图形的边界线为四个;

第一识别模块用于:根据最靠近显示区域的边界线以及次靠近显示区域的边界线,确定出第二膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为一个第一检测区域;根据次远离显示区域的边界线以及最远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为另一个第一检测区域;

第二识别模块用于:根据次靠近显示区域的边界线以及次远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形与第二膜层子图形之间的间隙区域,并将该间隙区域作为第二检测区域。

显然,本实施例的图像检测装置是本发明上述提供的图像检测方法的执行主体,因此该图像检测方法所能实现的技术效果,本实施例的图像检测装置同样也能够实现。

此外,如图5所示,本发明的另一实施例还提供一种图像检测设备500,包括存储器501、处理器502及存储在存储器503上并可在处理器502上运行的计算机程序5011;该处理器502执行该计算机程序5011时实现本发明提供的上述图像检测方法中的步骤,包括:

获取待检测的膜层图形,所述待检测的膜层图形包括多个不连续的膜层子图形;

从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域;

按照预定第一检测规则对所述第一检测区域的膜层子图形进行检测。

其中,本实施例的处理器502执行上述计算机程序5011时,还可以实现:

从所述膜层图形中识别出第二检测区域,所述第二检测区域为相邻的两个连续完整的膜层子图形之间的间隙区域;

按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测。

其中,本实施例的处理器502执行上述计算机程序5011时,识别所述膜层图形中的第一检测区域和/或第二检测区域的步骤包括:

识别所述膜层图形中的各膜层子图形的边界线;

根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域;

和/或,

根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域。

此外,上述膜层图形包括:第一膜层子图形和第二膜层子图形,第一膜层子图形和第二膜层子图形相互间隔,且第二膜层子图形位于第一膜层子图形与显示区域之间;

识别膜层图形中的两个膜层子图形的边界线为四个;

其中,本实施例的处理器502执行上述计算机程序5011时,根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域的步骤,包括:

根据最靠近显示区域的边界线以及次靠近显示区域的边界线,确定出第二膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为一个第一检测区域;

根据次远离显示区域的边界线以及最远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为另一个第一检测区域。

其中,本实施例的处理器502执行上述计算机程序5011时,根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域的步骤,包括:

根据次靠近显示区域的边界线以及次远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形与第二膜层子图形之间的间隙区域,并将该间隙区域作为第二检测区域。

其中,本实施例的处理器502执行上述计算机程序5011时,按照预定第一检测规则对所述第一检测区域的膜层子图形进行检测的步骤包括:

对所述第一检测区域按照第一预设修正量,进行边缘区域的裁剪,得到第一有效检测区域;

按照预定第一检测规则对所述第一有效检测区域的膜层子图形进行检测。

其中,本实施例的处理器502执行上述计算机程序5011时,按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测的步骤包括:

对所述第二检测区域按照第二预设修正量,进行边缘区域的裁剪,得到第二有效检测区域;

按照预定第二检测规则对所述第二有效检测区域的膜层子图形进行检测。

可以理解的是,本施例中的存储器501可以是易失性存储器或非易失性存储器,或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中,非易失性存储器可以是只读存储器(read-onlymemory,rom)、可编程只读存储器(programmablerom,prom)、可擦除可编程只读存储器(erasableprom,eprom)、电可擦除可编程只读存储器(electricallyeprom,eeprom)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(randomaccessmemory,ram),其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明,许多形式的ram可用,例如静态随机存取存储器(staticram,sram)、动态随机存取存储器(dynamicram,dram)、同步动态随机存取存储器(synchronousdram,sdram)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(doubledataratesdram,ddrsdram)、增强型同步动态随机存取存储器(enhancedsdram,esdram)、同步连接动态随机存取存储器(synchlinkdram,sldram)和直接内存总线随机存取存储器(directrambusram,drram)。本文描述的无线链路监测的方法的存储器501旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。

对应地,本发明的另一实施例还提供一种计算机可读存储介质,该计算程序被处理器执行时本发明提供的上述图像检测方法中的步骤,包括:

获取待检测的膜层图形,所述待检测的膜层图形包括多个不连续的膜层子图形;

从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域;

按照预定第一检测规则对所述第一检测区域的膜层子图形进行检测。

其中,本实施例的计算程序被处理器执行时,还可以实现如下步骤:

从所述膜层图形中识别出第二检测区域,所述第二检测区域为相邻的两个连续完整的膜层子图形之间的间隙区域;

按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测。

其中,本实施例的计算程序被处理器执行时,识别所述膜层图形中的第一检测区域和/或第二检测区域的步骤,包括:

识别所述膜层图形中的各膜层子图形的边界线;

根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域;

和/或,

根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域。

其中,上述膜层图形包括:第一膜层子图形和第二膜层子图形,第一膜层子图形和第二膜层子图形相互间隔,且第二膜层子图形位于第一膜层子图形与显示区域之间;

本实施例的计算程序被处理器执行时,识别所述膜层图形中的两个膜层子图形的边界线为四个,且根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形的设置区域,并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域的步骤,包括:

根据最靠近显示区域的边界线以及次靠近显示区域的边界线,确定出第二膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为一个第一检测区域;

根据次远离显示区域的边界线以及最远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形的设置区域,并将该设置区域作为另一个第一检测区域;

本实施例的计算程序被处理器执行时,根据各膜层子图形的边界线,确定各膜层子图形之间的间隙区域,并将间隙区域作为第二检测区域的步骤,包括:

根据次靠近显示区域的边界线以及次远离显示区域的边界线,确定出第一膜层子图形与第二膜层子图形之间的间隙区域,并将该间隙区域作为第二检测区域。

其中,本实施例的计算程序被处理器执行时,按照预定第一检测规则对所述第一检测区域的膜层子图形进行检测的步骤包括:

对所述第一检测区域按照第一预设修正量,进行边缘区域的裁剪,得到第一有效检测区域;

按照预定第一检测规则对所述第一有效检测区域的膜层子图形进行检测。

其中,本实施例的计算程序被处理器执行时,按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测的步骤包括:

对第二检测区域按照第二预设修正量,进行边缘区域的裁剪,得到第二有效检测区域;

按照预定第二检测规则对第二有效检测区域的膜层子图形进行检测。

以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明所述原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

当前第1页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1