一种光场调控光刻中的涡旋光剪切干涉调焦方法与流程

文档序号:14155236阅读:来源:国知局
技术特征:

1.一种光场调控光刻中的涡旋光剪切干涉调焦方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

(1)、写入光束(6)和涡旋光束(4)经合束器(5)合束后,依次经分束器(3)和物镜(2),入射到基片(1)。

(2)、涡旋光束(4)经基片(1)反射后,经物镜(2)透射,分束器(3)反射,入射到光学平行平板(8)上,并在其表面产生剪切干涉,然后在面阵探测器(7)上形成干涉图案。

(3)、若干涉图案呈现成对的分叉条纹且左支分叉开口向上、右支分叉开口向下时,减小基片(1)和物镜(2)之间的距离;若干涉图案呈现成对的分叉条纹且左支分叉开口向下、右支分叉开口向上时,增大基片(1)和物镜(2)之间的距离;若干涉图案呈现完全对称的双月形图案,表明基片(1)的表面位于物镜(2)的焦点处,实现光场调控光刻中的涡旋光剪切干涉调焦。

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